CN115426318B - 优化数据传输方法及相关装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种优化数据传输方法及相关装置,方法包括:人机接口设备在接收由测试设备发送的测试数据时,将测试数据存入固定大小的缓冲区中,当存储的数据达到存储空间上限时,对当前存储的测试数据进行求和、求平均分别得到第一集合和第二集合;在存入下一组测试数据之前,删除最先存入缓冲区的一组测试数据,并根据下一组测试数据迭代更新第一集合和第二集合,每间隔预设时长,人机接口设备从缓冲区当前存储的测试数据中选择目标数据,并向上位机发送编码处理后的目标数据。如此可以实现,通过固定大小的缓冲区实现对测试数据的存储、更新和迭代计算,进而实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
Description
技术领域
本申请涉及数据处理技术领域,具体涉及一种优化数据传输方法及相关装置。
背景技术
测试设备对被测电路板进行电压测试时,被测电路板上的线材线芯越多,产生的测试数据也越多。现有技术中,人机接口设备等待测试设备完成全部测试后,才开始向上位机传输测试数据,且人机接口设备每隔10mS内才有1笔事务,因此需要分批接收测试数据分批传输,直到结束传输,此种方法传输效率较低。
因此,亟需一种优化数据传输方法解决上述问题。
发明内容
本申请实施例提供了一种优化数据传输方法及相关装置,人机接口设备通过固定大小的缓冲区实现对测试数据的存储、更新和迭代计算,进而实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
第一方面,本申请实施例提供一种优化数据传输方法,应用于数据传输系统的人机接口设备,所述数据传输系统包括:测试设备、所述人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;所述方法包括:
接收来自所述测试设备发送的至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据包括所述测试设备对被测电路板上至少一个测试节点进行至少一次电压测试所得到至少一组电压值,并根据所述至少一组电压值所确定的所述至少一组电压值中每组电压值所对应的第一差值集合和第二差值集合,所述每组电压值包括所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的电压值,所述每一测试节点分别对应所述被测电路板上的一条线材线芯,所述每组电压值所对应的第一差值集合包括标准电压与所述每一测试节点对应的电压值计算得到的第一电压差值,所述每组电压值所对应的第二差值集合包括多个测试节点中两两测试节点之间的第二电压差值;
按照接收时间依次将所述至少一组测试数据存入缓冲区,其中,所述缓冲区为所述人机接口设备中固定大小的存储空间,用于临时存放待传输数据;
若所述缓冲区达到存储上限,则根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,其中,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据,所述第一集合包括所述历史测试数据中所述第一电压差值对应的第一平均值和所述第二电压差值对应的第二平均值,所述第二集合包括所述历史测试数据中每组测试数据中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和;
按照接收时间将所述历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;
每间隔预设时长,从所述缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,其中,所述目标数据为所述第三集合中的一个或多个平均值;
向所述上位机发送所述编码数据,其中,所述编码数据用于所述上位机进行数据校验,并根据所述数据校验确认是否存在误差测试节点。
第二方面,本申请实施例提供一种优化数据传输方法,应用于数据传输系统的测试设备,所述数据传输系统包括:所述测试设备、人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;所述方法包括:
对至少一个测试节点进行电压测试,得到至少一组电压值,其中,所述至少一个测试节点中每一测试节点对应被测电路板上的一根线材线芯,所述至少一组电压值中每组电压值对应一次所述电压测试,所述每组电压值中的每一电压值由所述测试设备对所述被测电路板上的每根线材线芯进行所述电压测试得到;
根据标准电压与所述每组电压值中的每一电压值计算第一电压差值,得到所述每组电压值对应的第一差值集合,其中,所述第一电压差值用于表征所述每一测试节点的电压变化情况;
根据所述每组电压值计算第二电压差值,得到所述每组电压值对应的第二差值集合,其中,所述第二电压差值用于表征多个测试节点中两两测试节点之间电压差值的变化;
组合所述每组电压值对应的所述第一差值集合和所述第二差值集合,得到至少一组测试数据后,依次向所述人机接口设备发送所述至少一组测试数据;
接收所述上位机通过所述人机接口设备发送的反馈指令,并根据所述反馈指令对所述被测电路板的误差测试节点进行重新测试。
第三方面,本申请实施例提供一种优化数据传输装置,应用于数据传输系统的人机接口设备,所述数据传输系统包括:测试设备、所述人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;
所述装置包括接收单元、存储单元、计算单元、编码单元和传输单元,其中,
所述接收单元,用于接收来自所述测试设备发送的至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据包括所述测试设备对被测电路板上至少一个测试节点进行至少一次电压测试所得到至少一组电压值,并根据所述至少一组电压值所确定的所述至少一组电压值中每组电压值所对应的第一差值集合和第二差值集合,所述每组电压值包括所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的电压值,所述每一测试节点分别对应所述被测电路板上的一条线材线芯,所述每组电压值所对应的第一差值集合包括标准电压与所述每一测试节点对应的电压值计算得到的第一电压差值,所述每组电压值所对应的第二差值集合包括多个测试节点中两两测试节点之间的第二电压差值;
所述存储单元,用于按照接收时间依次将所述至少一组测试数据存入缓冲区,其中,所述缓冲区为所述人机接口设备中固定大小的存储空间,用于临时存放待传输数据;
所述计算单元,用于若所述缓冲区达到存储上限,则根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,其中,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据,所述第一集合包括所述历史测试数据中所述第一电压差值对应的第一平均值和所述第二电压差值对应的第二平均值,所述第二集合包括所述历史测试数据中每组测试数据中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和;以及用于,按照接收时间将所述历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;
所述编码单元,用于每间隔预设时长,从所述缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,其中,所述目标数据为所述第三集合中的一个或多个平均值;
所述传输单元,用于向所述上位机发送所述编码数据,其中,所述编码数据用于所述上位机进行数据校验,并根据所述数据校验确认是否存在误差测试节点。
第四方面,本申请实施例提供一种电子设备,包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序,其中,上述一个或多个程序被存储在上述存储器中,并且被配置由上述处理器执行,上述程序包括用于执行本申请实施例第一方面或第二方面中任一方法中的步骤的指令。
第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其中,上述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序,其中,上述计算机程序使得计算机执行如本申请实施例第一方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。
第五方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,其中,上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第一方面或第二方面中任一方法中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。
可以看出,本申请实施例中,通过接收来自测试设备发送的至少一组测试数据;按照接收时间依次将至少一组测试数据存入人机接口设备固定大小的缓冲区;若缓冲区达到存储上限,则根据缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合;按照接收时间将历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据下一组测试数据,对第一集合和第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;每间隔预设时长,从缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对目标数据进行编码处理,得到编码数据,向上位机发送编码数据。如此可以实现,人机接口设备通过固定大小的缓冲区进行测试数据的存储和更新,且数据计算过程是在原计算结果的基础上进行不断迭代,实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种数据传输系统的架构图;
图2是本申请实施例提供的一种优化数据传输方法的流程示意图;
图3A是本申请实施例提供的另一种优化数据传输方法的流程示意图;
图3B是本申请实施例提供的一种测试设备对被测电路板进行电压测试的结构示意图;
图4是本申请实施例提供的一种优化数据传输的整体流程示意图;
图5是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图;
图6是本申请实施例提供的一种优化数据传输装置的功能单元结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。此外,术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
为了更好地理解本申请实施例的方案,下面先对本申请实施例可能涉及的电子设备、相关术语、概念和相关背景进行介绍。
服务器可以是还包含其它功能诸如个人数字助理和/或音乐播放器功能的便携式电子设备,诸如手机、平板电脑、具备无线通讯功能的可穿戴电子设备(如智能手表)等。便携式电子设备的示例性实施例包括但不限于搭载IOS系统、Android系统、Microsoft系统或者其它操作系统的便携式电子设备。上述便携式电子设备也可以是其它便携式电子设备,诸如膝上型计算机(Laptop)等。还应当理解的是,在其他一些实施例中,上述电子设备也可以不是便携式电子设备,而是台式计算机。在一些示例中,上述服务器还可以是虚拟服务器、物理服务器、云端服务器、或者用于优化数据传输的服务器等。
人机接口设备(humaninterfacedevice,HID)HID设备是基于USB协议的一类设备,HID设备,用于控制计算机操作的某些方面。另外,使用HID设备的一个好处就是操作系统自带了HID类的驱动程序,用户无需开发很麻烦的驱动程序,只有直接使用API调用即可完成通信。上位机的操作系统中内置的HID驱动程序对硬件的访问分为两种:一种是通过USB规范中所定义的控制传输方式,一种是通过中断传输方式。但是这两种传输方式只适用于小批量数据传输,对于需要大批量进行传输的数据,效率较低。
为解决上述问题,本申请提出了一种优化数据传输方法,人机接口设备通过固定大小的缓冲区实现对测试设备上传的测试数据的存储、更新和迭代计算,进而实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
具体地,请参阅图1,图1是本申请实施例提供的一种数据传输系统的架构图。如图1所述,数据传输系统包括上位机110、人机接口设备120以及测试设备130。其中,上位机110和测试设备130通过人机接口设备120建立通信连接,如此实现数据传输。测试设备130用于对被测电路板进行电压测试,被测电路板包括一个或多个测试节点,每个测试节点对应被测电路板上的一条线材线芯,测试设备130每次对被测电路板140的一个或多个测试节点进行电压测试,就会得到一组电压数据,进而根据所得到的电压数据进行差值计算得到测试数据,其中,被测电路板140可以是任意一个包含电路板的电子设备;人机接口设备120用于接收来自测试设备上传的测试数据,并将测试数据临时存放在缓存区中,每间隔预设时长,人机接口设备从缓冲区中获取当前存放的测试数据,通过对测试数据的编码处理得到编码数据后,向上位机110发送;上位机110在接收到编码数据后,通过数据解码和数据分析获取编码数据中的目标数据。
为更好地理解上述过程,下面结合具体实施例,对本申请进行详细说明。
请参阅图2,图2是本申请实施例提供了一种优化数据传输方法的流程示意图,应用于数据传输系统的人机接口设备,所述数据传输系统包括:测试设备、所述人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;如图2所示,本优化数据传输方法具体包括以下步骤:
S201、接收来自所述测试设备发送的至少一组测试数据。
其中,所述至少一组测试数据包括所述测试设备对被测电路板上至少一个测试节点进行至少一次电压测试所得到的至少一组电压值,并根据所述至少一组电压值所确定的所述至少一组电压值中每组电压值所对应的第一差值集合和第二差值集合,所述每组电压值包括所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的电压值,所述每一测试节点分别对应所述被测电路板上的一条线材线芯,所述每组电压值所对应的第一差值集合包括标准电压与所述每一测试节点对应的电压值计算得到的第一电压差值,所述每组电压值所对应的第二差值集合包括多个测试节点中两两测试节点之间的第二电压差值。
具体地,如图1所述的测试设备130,用于对经过被测电路板上至少一个测试节点进行电压测试。其中,电路板上包括一根或多个线材线芯,每根线材线芯对应一个测试节点。测试设备对被测电路板进行一次电压测试时,就会产生一组数据,该一组数据其实质是测试经过至少一个测试节点中每一测试节点对应的线材线芯的电压值。测试设备进行至少一次电压测试操作后,就会产生至少一组电压值。
进一步地,人机接口设备所接收到的至少一组测试数据,是由测试设备根据至少一组电压值,进行差值计算得到每组电压值对应的第一差值集合和第二差值集合共同构成。具体地,差值计算包括:确定每组电压值中每一电压值与标准电压值之间的差值,即经过每根线材线芯的电压值与标准电压值之间的差值;确定每组电压值中多个测试节点中两两测试节点之间的电压差值,即经过两两线材线芯的电压差值。需要说明的是,标准电压是作为参考电压评估经过每根线材线芯电压的差值变化,该电压值可以是以测试设备的上电电压作为参考,也可以是预设一个参考电压值,在此不做具体限定。
S202、按照接收时间依次将所述至少一组测试数据存入缓冲区。
其中,所述缓冲区为所述人机接口设备中固定大小的存储空间,用于临时存放待传输数据。
具体地,人机接口设备按测试设备数据上传的时间,依次接收每组测试数据,并将所接收到的每组测试数据存入缓冲区中。需要说明的是,缓冲区由于大小固定只能存放符合固定存储空间大小的一组或几组数据。
S203、若所述缓冲区达到存储上限,则根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合。
其中,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据,所述第一集合包括所述历史测试数据中所述第一电压差值对应的第一平均值和所述第二电压差值对应的第二平均值,所述第二集合包括所述历史测试数据中每组测试数据中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和。
具体地,当缓冲区达到上限时,人机接口设备对当前已经存入缓冲区的数据进行数据处理。为便于更好地理解该数据处理过程,下面将结合表1进行描述:
示例性地,表1中存在五组测试数据,将该五组数据作为上述历史测试数据为例进行展开描述。每组测试数据包括第一差值集合和第二差值集合。其中,第一差值集合包括表1所示的1-5组中的ΔV1、ΔV2和ΔV3分别对应的每一第一电压差值,ΔV1、ΔV2和ΔV3分别表示标准电压与第1/2/3根线材线芯对应的电压之间的第一电压差值;第二差值集合包括表1所示的1-5组中的ΔV12、ΔV13和ΔV23分别对应的每一第二电压差值,ΔV12、ΔV13和ΔV23分别表示第1/2/3根线材线芯两两线材线芯之间的第二电压差值。
进一步地,以列为单位,分别对ΔV1、ΔV2和ΔV3对应的第一电压差值进行求和、求平均计算,得到AnΔV1、AnΔV2和AnΔV3以及SnΔV1、SnΔV2和SnΔV3,即第一电压差值对应的第一平均值以及总和;对ΔV12、ΔV13和ΔV23对应的第二电压差值进行求和、求平均计算,得到AnΔV12、AnΔV13和AnΔV23以及SnΔV12、SnΔV13和SnΔV23,即第二电压差值对应的第二平均值以及总和。
进一步地,上述AnΔV1、AnΔV2和AnΔV3以及AnΔV12、AnΔV13和AnΔV23构成历史测试数据对应的第一集合;SnΔV1、SnΔV2和SnΔV3和SnΔV12、SnΔV13和SnΔV23构成历史测试数据对应的第二集合。
S204、按照接收时间将所述历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合。
示例性地,为更好地理解数据删除和迭代计算过程,下面将结合表2进行进一步描述,如表2所示:
示例性地,如上述对表1的描述,假设此时缓冲区中存入五组测试数据已经达到缓冲上限,此时,历史测试数据为1-5组数据,且1-5组数据的存放顺序为按接收时间顺序依次存入。表2中的第6组数据即为下一组测试数据待存入缓冲区中,为保证下一组测试数据顺利存入,此时人接机口设备删除最先存入的一组测试数据,即第一组测试数据。当删除第一组测试数据后,缓冲区就会出现能够存入下一组测试数据即第6组数据的缓冲空间。
示例性地,假设历史测试数据对应的总和以及平均值分别为Sn-1和An-1,本次存入的测试数据为Bn,平均值为An,对应的数据迭代计算的公式为:Sn=Sn-1-An-1+Bn,即在历史测试数据计算结果的基础上,将每一个Bn数据迭代计算,而无需重新对缓冲区中每一组测试数据进行运算求和、求平均。
示例性地,人机接口设备根据上述结合表2所述的迭代计算过程,得到第三集合和第四集合。
需要说明的是,人机接口设备的缓冲区大小需要根据实际设备的可用存储空间确定,上表2所示的存储上限对应的测试数据组数是为了便于更直观描述和理解,实际应用中可能允许存入的测试数据组数小于或大于五组,但是其数据处理和迭代计算的基本逻辑不变,在此不做具体赘述。
S205、每间隔预设时长,从所述缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据。
其中,所述目标数据为所述第三集合中的一个或多个平均值。
示例性地,人机接口设备每间隔预设时长,产生一次事务,向上位机发送一次数据。其中,间隔预设时长可以是上述每10ms一次,也可以通过预先设置时长,再次不做具体限定。
具体地,人机接口设备从缓冲区当前所存储的测试数据中,获取目标数据,其中,目标数据包括第三集合中任一平均值,即表2所示的An所在行对应的任一平均值。需要说明的是,此过程中描述的从第三集合中获取任一平均值,是指当前缓冲区中所存储的最新迭代计算的结果集合,第三集合在此处是为了便于理解。
进一步地,人机接口设备根据所获取的目标数据,进行编码处理,得到编码数据。
S206、向所述上位机发送所述编码数据。
其中,所述编码数据用于所述上位机进行数据校验,并根据所述数据校验确认是否存在误差测试节点。
可以看出,通过接收来自测试设备发送的至少一组测试数据;按照接收时间依次将至少一组测试数据存入人机接口设备固定大小的缓冲区;若缓冲区达到存储上限,则根据缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合;按照接收时间将历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据下一组测试数据,对第一集合和第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;每间隔预设时长,从缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对目标数据进行编码处理,得到编码数据,向上位机发送编码数据。如此可以实现,人机接口设备通过固定大小的缓冲区进行测试数据的存储和更新,且数据计算过程是在原计算结果的基础上进行不断迭代,实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
在一个可能的示例中,所述历史测试数据包括所述一组或多组测试数据中每组测试数据分别对应的第一差值集合和第二差值集合;所述根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,可包括如下步骤:对所述历史测试数据中所述第一差值集合进行分组处理,分别得到所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的全部所述第一电压差值;根据所述每一测试节点对应的全部所述第一电压差值,分别确定所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值;对所述历史测试数据中所述第二差值集合进行所述分组处理,分别得到所述至少一个测试节点中两两测试节点对应的全部所述第二电压差值;根据所述两两测试节点对应的全部所述第二电压差值,分别确定所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值;根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值对应的平均值和所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的平均值,得到所述第一集合;根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和,得到所述第二集合。
示例性地,结合上表1所述的过程,以列为单位,分别计算每一列所对应的总和以及平均值。分别得到每一测试节点对应的第一电压差值对应的平均值以及两两测试节点对应的第二电压差值对应的平均值,构成第一集合;根据每一测试节点对应的第一电压差值对应的总和以及两两测试节点对应的第二电压差值的总和,得到所述第二集合。
可见,本示例中,人接机口设备在当前缓冲区达到存储上限时,即根据缓冲区已有的历史测试数据来分别确定第一集合和第二集合后,即可删除最先存入的第一组测试数据。进而,将当前计算得到的第一集合和第二集合的结果直接用于下一次迭代计算中,而无需每一次都需要对所有数据进行一次计算,增加计算量,影响数据传输效率。
在一个可能的示例中,所述根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合,所述方法可包括如下步骤:根据所述第一集合中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值、所述下一组测试数据中每一测试节点对应的所述第一电压差值,迭代计算所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值;根据所述第二集合中所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值、所述下一组测试数据中所述两两测试节点对应的所述第二电压差值,迭代计算所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值;根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值对应的平均值和所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的平均值,得到所述第三集合;根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和,得到所述第四集合。
示例性地,人机接口设备根据历史测试数据对应的第一集合和第二集合,以及下一组测试数据进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合的详细过程,可结合步骤S204以及表2的内容进行理解。
示例性地,将第一集合中的平均值作为An-1,将第二集合中的总和作为Sn-1,将下一组测试数据作为Bn,根据上述公式Sn=Sn-1-An-1+Bn即可得到第三集合和第四集合。
可见,本示例中,可知人机接口设备根据时间顺序对历史测试数据中的一组数据删除后,接收并存入下一组测试数据,并根据历史测试数据所计算的第一集合和第二集合,以及下一组测试数据迭代计算,更新当前缓冲区中的数据,如此实现,每一次存入的测试数据计算过程只需在上一次计算结果的基础上进行迭代,极大的减少了数据计算量,降低了数据处理的时间,有利于后续提高数据传输效率。
在一个可能的示例中,所述编码数据包括码头和数据,所述对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,可包括如下步骤:从所述缓冲区当前存储的测试数据中依次获取所述目标数据,其中,所述目标数据包括所述缓冲区中所存储的所述第三集合中任一所述平均值,所述平均值包括所述第一电压差值对应的平均值和所述第二电压差值对应的平均值;对所述目标数据进行求和运算,得到第一结果;对所述第一结果和0xFF进行逻辑与运算,得到第二结果;根据所述第一结果和所述第二结果,得到所述码头;对所述目标数据中每一目标数据分别对应的每一所述第一电压差值或所述第二电压差值,按获取顺序排序,得到所述数据;根据所述码头和所述数据,得到所述编码数据。
示例性地,结合表2所示的当前缓冲区存储的测试数据为例进行展开描述。
具体地,若人机接口设备从缓冲区中依次选择的目标数据为An所在行对应的平均值:6、12、21、15、31以及44;即AnΔV1、AnΔV2和AnΔV3以及AnΔV12、AnΔV13和AnΔV23。
进一步地,人机接口设备对所获取的目标数据进行数据求和,得到编码数据码头的第一部分;然后,根据数据求和结果与0xFF进行逻辑与运算,得到编码数据码头的第二部分。其中,码头部分用于上位机进行地址校验,确定测试数据所对应的被测电路板。
进一步地,按照数据获取的顺序,即AnΔV1、AnΔV2和AnΔV3以及AnΔV12、AnΔV13和AnΔV23,依次将对应的数值进行数据排序,作为编码数据的数据部分。
进一步地,根据码头部分和数据部分拼接,构成最终的编码数据部分。具体的可参照下表3所示的编码数据结构示例:
表3
码头 | 数据 |
可见,本示例中,人机接口设备通过从缓冲区中获取目标数据并根据所获取的目标数据以及获取顺序进行编码操作,得到向上位机传输的编码数据。
在一个可能的示例中,所述向所述上位机发送所述编码数据之后,可包括如下步骤:接收来自所述上位机发送的反馈指令,其中,所述反馈指令用于指示所述测试设备对所述被测电路板的所述误差测试节点进行重新测试,所述反馈指令由所述上位机对所述编码数据进行数据解码和数据分析确定;向所述测试设备发送所述反馈指令。
示例性地,人机接口设备除了用于接收测试设备发送的测试数据,并向上位机发送编码数据外。还会接收来自上位机返回的针对编码数据的反馈指令。其中,反馈指令是由上位机对编码数据进行解码,根据码头部分进行数据解析后,结合数据部分进行测试数据校验,若发现存在误差数据,则根据误差数据所在位置确定对应的误差测试节点;根据码头部分进行地址校验,确定被测电路板。根据误差测试节点以及对应的被测电路板,生成反馈指令。进一步地,通过人机接口设备发送至测试设备,测试设备根据反馈指令对误差测试节点进行重新测试。
可见,本示例中,人机接口设备通过接收上位机发送的反馈指令,并将反馈指令发送至测试设备。进而实现测试设备根据反馈指令对误差测试节点重新测试,如此能够提高测试的准确性。
请参阅图3A,图3A是本申请实施例提供的另一种优化数据传输方法的流程示意图,应用于数据传输系统的测试设备,所述数据传输系统包括:所述测试设备、人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;如图3A所示,所述方法可包括如下步骤:
S301、对至少一个测试节点进行电压测试,得到至少一组电压值。
其中,所述至少一个测试节点中每一测试节点对应被测电路板上的一根线材线芯,所述至少一组电压值中每组电压值对应一次所述电压测试,所述每组电压值中的每一电压值由所述测试设备对所述被测电路板上的每根线材线芯进行所述电压测试得到。
S302、根据标准电压与所述每组电压值中的每一电压值计算第一电压差值,得到所述每组电压值对应的第一差值集合。
其中,所述第一电压差值用于表征所述每一测试节点的电压变化情况;
S303、根据所述每组电压值计算第二电压差值,得到所述每组电压值对应的第二差值集合。
其中,所述第二电压差值用于表征多个测试节点中两两测试节点之间电压差值的变化。
S304、组合所述每组电压值对应的所述第一差值集合和所述第二差值集合,得到至少一组测试数据后,依次向所述人机接口设备发送所述至少一组测试数据。
S305、接收所述上位机通过所述人机接口设备发送的反馈指令,并根据所述反馈指令对所述被测电路板的误差测试节点进行重新测试。
需要说明的是,上述步骤S301-S305的具体下位实现逻辑,在上述步骤S201-S206中,均存在对应的下为解释和说明,在此不做具体赘述。
可见,本示例中,通过测试设备对至少一个测试节点进行电压测试,得到至少一组电压值;根据标准电压与每组电压值中的每一电压值计算第一电压差值,得到每组电压值对应的第一差值集合,其中,第一电压差值用于表征每一测试节点的电压变化情况;根据每组电压值计算第二电压差值,得到每组电压值对应的第二差值集合,其中,第二电压差值用于表征多个测试节点中两两测试节点之间电压差值的变化;组合每组电压值对应的第一差值集合和第二差值集合,得到至少一组测试数据后,依次向人机接口设备发送至少一组测试数据;接收上位机通过人机接口设备发送的反馈指令,并根据反馈指令对被测电路板的误差测试节点进行重新测试。如此可以实现,测试设备在获取测试数据后实时存入人机接口设备的缓冲区,并有人机接口设备上传至上位机。并根据上位机的反馈指令对误差测试节点重新校验,以保证测试的准确性和数据上传的及时性。
在一个可能的示例中,所述至少一个测试节点中每个测试节点对应一条测试线路,每条测试线路包括一个开关;所述对至少一个测试节点进行电压测试,得到至少一组电压值,所述方法可包括如下步骤:在所述测试设备上电完成后,接收测试信号指令,其中,所述测试信号指令用于指示所述测试设备对所述被测电路板中所述至少一个测试节点进行所述电压测试,所述至少一个测试节点包括一个或多个目标测试节点;根据所述测试信号指令,控制所述一个或多个目标测试节点对应的目标线路的开关同时闭合后,对所述一个或多个目标测试节点执行多次所述电压测试,得到所述至少一组电压值。
示例性地,请参阅图3B,图3B是本申请实施例提供的一种测试设备对被测电路板进行电压测试的结构示意图。如图3B 所示,一个被测电路板上包括1-n根线材线芯,每根线材线芯与一个开关相连接构成一条线路。测试设备可通过对每条线路对应的开关闭合与否的控制,实现线路导通通电。
进一步地,测试设备对通过开关闭合线路对应的测试节点进行电压测试,分别得到每个测试节点对应的电压值,即图示的第1根线材线芯对应的电压分压V1、第2根线材线芯对应的电压分压V2、第3根线材线芯对应的电压分压V3以及第n根线材线芯对应的电压分压Vn,以及每根线材线芯所在线路分别包括对应的开关,如图3B所示的第1根线材线芯对应的开关1、第2根线材线芯对应的开关2、第3根线材线芯对应的开关3以及第n根线材线芯对应的开关n。其中,开关可以是普通的控制开关,也可以是光耦合开光或是其他的控制开关。
进一步地,根据每个测试节点对应的电压值与标准电压,确定每个测试节点在每组测试数据中对应的第一电压差值ΔV1、ΔV2、ΔV3和ΔVn;根据两两测试节点对应的电压之间的电压差值,确定第二电压差值ΔV12、ΔV13和ΔV1n等等依此类推计算。
可见,本示例中,测试设备可通过控制每个测试节点对应的线路开关的闭合,选择对一个或多个测试节点对应的线路进行电压测试,每次测试能够得到一组电压值,进而根据每组电压值得到对应的第一电压差值和第二电压差值。
为了更好地理解上述过程,下面将结合图4本申请实施例提出的一种优化数据传输的整体流程示意图,进行讲解。
具体地,请参阅图4所示具体包括如下步骤:
S401、测试设备开始测试。
S402、测试设备对至少一个测试节点进行电压测试。
S403、测试设备计算第一电压差值和第二电压差值,得到第一差值集合和第二差值集合。
S404、测试设备组合第一差值集合和第二差值集合,得到至少一组测试数据。
S405、人机接口设备依次接收测试设备发送的至少一组测试数据。
S406、人机接口设备利用平均值算法对数据进行迭代计算和数据更新。
S407、人机接口设备向上位机发送编码数据。
具体地,上述步骤S401-S407的具体过程均可参阅步骤S201-S206以及S301-S305过程描述,在此不做赘述。
具体地,上述平均值算法具体计算过程对应到表1和表2对应的详细描述,在此不做赘述。
可以看出,本申请实施例所描述的优化数据传输方法,通过测试设备进行电压测试得到至少一组电压值,并根据至少一组电压值计算得到第一差值集合和第二差值集合;进而将第一差值集合和第二差值集合组合得到的至少一组测试数据存入人机接口设备的缓冲区中,人机接口设备对所接收的至少一组测试数据进行平均值计算和数据更新,并在每间隔预设时长后,从缓冲区现有数据中获取目标数据并进行数据编码后,将编码数据发送到上位机。如此可以实现,人机接口设备通过固定大小的缓冲区进行测试数据的存储和更新,且数据计算过程是在原计算结果的基础上进行不断迭代,实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
请参阅图5,图5是一种电子设备的结构示意图,如图5所示,该电子设备包括处理器、存储器、通信接口,以及一个或多个程序,所述一个或多个程序被存储在所述存储器中,并且被配置由所述处理器执行,该电子设备应用于优化数据传输系统的人机接口设备,上述程序包括用于执行以下步骤的指令:
接收来自所述测试设备发送的至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据包括所述测试设备对被测电路板上至少一个测试节点进行至少一次电压测试,得到至少一组电压值,并根据所述至少一组电压值所确定的所述至少一组电压值中每组电压值所对应的第一差值集合和第二差值集合,所述每组电压值包括所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的电压值,所述每一测试节点分别对应所述被测电路板上的一条线材线芯,所述每组电压值所对应的第一差值集合包括标准电压与所述每一测试节点对应的电压值计算得到的第一电压差值,所述每组电压值所对应的第二差值集合包括多个测试节点中两两测试节点之间的第二电压差值;
按照接收时间依次将所述至少一组测试数据存入缓冲区,其中,所述缓冲区为所述人机接口设备中固定大小的存储空间,用于临时存放待传输数据;
若所述缓冲区达到存储上限,则根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,其中,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据,所述第一集合包括所述历史测试数据中所述第一电压差值对应的第一平均值和所述第二电压差值对应的第二平均值,所述第二集合包括所述历史测试数据中每组测试数据中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和;
按照接收时间将所述历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;
每间隔预设时长,从所述缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,其中,所述目标数据为所述第三集合中的一个或多个平均值;
向所述上位机发送所述编码数据,其中,所述编码数据用于所述上位机进行数据校验,并根据所述数据校验确认是否存在误差测试节点。
可以看出,本申请实施例所描述的优化数据传输方法,通过接收来自测试设备发送的至少一组测试数据;按照接收时间依次将至少一组测试数据存入人机接口设备固定大小的缓冲区;若缓冲区达到存储上限,则根据缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合;按照接收时间将历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据下一组测试数据,对第一集合和第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;每间隔预设时长,从缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对目标数据进行编码处理,得到编码数据,向上位机发送编码数据。如此可以实现,人机接口设备通过固定大小的缓冲区进行测试数据的存储和更新,且数据计算过程是在原计算结果的基础上进行不断迭代,实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
在一个可能的示例中,所述历史测试数据包括所述至少一个测试节点中每一测试节点分别对应的第一差值集合和第二差值集合;
所述根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,上述程序包括用于执行以下步骤的指令:
对所述历史测试数据中所述第一差值集合进行分组处理,分别得到所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的全部所述第一电压差值;
根据所述每一测试节点对应的全部所述第一电压差值,分别确定所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值;
对所述历史测试数据中所述第二差值集合进行所述分组处理,分别得到所述至少一个测试节点中两两测试节点对应的全部所述第二电压差值;
根据所述两两测试节点对应的全部所述第二电压差值,分别确定所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值对应的平均值和所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的平均值,得到所述第一集合;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和,得到所述第二集合。
在一个可能的示例中,所述根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合,上述程序包括用于执行以下步骤的指令:
根据所述第一集合中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值、所述下一组测试数据中每一测试节点对应的所述第一电压差值,迭代计算所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值;
根据所述第二集合中所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值、所述下一组测试数据中所述两两测试节点对应的所述第二电压差值,迭代计算所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值对应的平均值和所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的平均值,得到所述第三集合;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和,得到所述第四集合。
在一个可能的示例中,所述编码数据包括码头和数据,所述对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,上述程序包括用于执行以下步骤的指令:
从所述缓冲区当前存储的测试数据中依次获取所述目标数据,其中,所述目标数据包括所述缓冲区中所存储的所述第三集合中任一所述平均值,所述平均值包括所述第一电压差值对应的平均值和所述第二电压差值对应的平均值;
对所述目标数据进行求和运算,得到第一结果;
对所述第一结果和0xFF进行逻辑与运算,得到第二结果;
根据所述第一结果和所述第二结果,得到所述码头;
对所述目标数据中每一目标数据分别对应的每一所述第一电压差值或所述第二电压差值,按获取顺序排序,得到所述数据;
根据所述码头和所述数据,得到所述编码数据。
在一个可能的示例中,所述向所述上位机发送所述编码数据之后,上述程序包括用于执行以下步骤的指令:
接收来自所述上位机发送的反馈指令,其中,所述反馈指令用于指示所述测试设备对所述被测电路板的误差测试节点进行重新测试,所述反馈指令由所述上位机对所述编码数据进行数据解码和数据分析确定;
向所述测试设备发送所述反馈指令。
上述主要从方法侧执行过程的角度对本申请实施例的方案进行了介绍。可以理解的是,服务器为了实现上述功能,其包含了执行各个功能相应的硬件结构和/或软件模块。本领域技术人员应该很容易意识到,结合本文中所提供的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,本申请能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
本申请实施例可以根据上述方法示例对服务器进行功能单元的划分,例如,可以对应各个功能划分各个功能单元,也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。需要说明的是,本申请实施例中对单元的划分是示意性的,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式。
在采用对应各个功能划分各个功能模块的情况下,图6示出了一种优化数据传输装置的功能单元结构示意图,如图6所示,该优化数据传输装置600应用于服务器,该优化数据传输装置600可以包括接收单元、存储单元、计算单元和传输单元,其中,
所述接收单元601,可以用于支持服务器执行上述步骤S201,和/或用于本文所描述的技术的其他过程。
所述存储单元602,可以用于支持服务器执行上述步骤S202,和/或用于本文所描述的技术的其他过程。
所述计算单元603,可以用于支持服务器执行上述步骤S203-S204,和/或用于本文所描述的技术的其他过程。
所述编码单元604,可以用于支持服务器执行上述步骤S205,和/或用于本文所描述的技术的其他过程。
所述传输单元605,可以用于支持服务器执行上述步骤S206,和/或用于本文所描述的技术的其他过程。
可以看出,本申请实施例提供的优化数据传输装置,通过接收单元接收来自测试设备发送的至少一组测试数据;通过存储单元按照接收时间依次将至少一组测试数据存入人机接口设备固定大小的缓冲区;通过计算单元若缓冲区达到存储上限,则根据缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合;以及,按照接收时间将历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据下一组测试数据,对第一集合和第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;每间隔预设时长,从缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并通过编码单元对目标数据进行编码处理,得到编码数据,通过传输单元向上位机发送编码数据。如此可以实现,人机接口设备通过固定大小的缓冲区进行测试数据的存储和更新,且数据计算过程是在原计算结果的基础上进行不断迭代,实现减少数据计算量和数据传输量,达到优化数据传输效率的目的。
需要说明的是,上述方法实施例涉及的各步骤的所有相关内容均可以援引到对应功能模块的功能描述,在此不再赘述。
本实施例提供的服务器,用于执行上述优化数据传输方法,因此可以达到与上述实现方法相同的效果。
在采用集成的单元的情况下,服务器可以包括处理模块、存储模块和通信模块。其中,处理模块可以用于对服务器的动作进行控制管理,例如,可以用于支持服务器执行上述计算单元603执行的步骤。存储模块可以用于支持服务器执行存储程序代码和数据等。通信模块,可以用于支持服务器与其他设备的通信。
其中,处理模块可以是处理器或控制器。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框,模块和电路。处理器也可以是实现计算功能的组合,例如包含一个或多个微处理器组合,数字信号处理(digitalsignalprocessing,DSP)和微处理器的组合等等。存储模块可以是存储器。通信模块具体可以为射频电路、蓝牙芯片、Wi-Fi芯片等与其他服务器交互的设备。
本申请实施例还提供一种计算机存储介质,其中,该计算机存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序,该计算机程序使得计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤,上述计算机包括服务器。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品,上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,上述计算机程序可操作来使计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包,上述计算机包括服务器。
需要说明的是,对于前述的各方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本申请并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本申请,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置,可通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如上述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储器中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例上述方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括:U盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccessMemory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一计算机可读存储器中,存储器可以包括:闪存盘、只读存储器(英文:Read-OnlyMemory,简称:ROM)、随机存取器(英文:RandomAccessMemory,简称:RAM)、磁盘或光盘等。
以上对本申请实施例进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (10)
1.一种优化数据传输方法,其特征在于,应用于数据传输系统的人机接口设备,所述数据传输系统包括:测试设备、所述人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;所述方法包括:
接收来自所述测试设备发送的至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据包括所述测试设备对被测电路板上至少一个测试节点进行至少一次电压测试所得到至少一组电压值,并根据所述至少一组电压值所确定的所述至少一组电压值中每组电压值所对应的第一差值集合和第二差值集合,所述每组电压值包括所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的电压值,所述每一测试节点分别对应所述被测电路板上的一条线材线芯,所述每组电压值所对应的第一差值集合包括标准电压与所述每一测试节点对应的电压值计算得到的第一电压差值,所述每组电压值所对应的第二差值集合包括多个测试节点中两两测试节点之间的第二电压差值;
按照接收时间依次将所述至少一组测试数据存入缓冲区,其中,所述缓冲区为所述人机接口设备中固定大小的存储空间,用于临时存放待传输数据;
若所述缓冲区达到存储上限,则根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,其中,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据,所述第一集合包括所述历史测试数据中所述第一电压差值对应的第一平均值和所述第二电压差值对应的第二平均值,所述第二集合包括所述历史测试数据中每组测试数据中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和;
按照接收时间将所述历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;
每间隔预设时长,从所述缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,其中,所述目标数据为所述第三集合中的一个或多个平均值;
向所述上位机发送所述编码数据,其中,所述编码数据用于所述上位机进行数据校验,并根据所述数据校验确认是否存在误差测试节点。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述历史测试数据包括所述一组或多组测试数据中每组测试数据分别对应的第一差值集合和第二差值集合;
所述根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,包括:
对所述历史测试数据中所述第一差值集合进行分组处理,分别得到所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的全部所述第一电压差值;
根据所述每一测试节点对应的全部所述第一电压差值,分别确定所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值;
对所述历史测试数据中所述第二差值集合进行所述分组处理,分别得到所述至少一个测试节点中两两测试节点对应的全部所述第二电压差值;
根据所述两两测试节点对应的全部所述第二电压差值,分别确定所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值对应的平均值和所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的平均值,得到所述第一集合;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和,得到所述第二集合。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合,包括:
根据所述第一集合中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值、所述下一组测试数据中每一测试节点对应的所述第一电压差值,迭代计算所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及平均值;
根据所述第二集合中所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值、所述下一组测试数据中所述两两测试节点对应的所述第二电压差值,迭代计算所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和以及平均值;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值对应的平均值和所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的平均值,得到所述第三集合;
根据所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和,得到所述第四集合。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述编码数据包括码头和数据,所述对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,包括:
从所述缓冲区当前存储的测试数据中依次获取所述目标数据,其中,所述目标数据包括所述缓冲区中所存储的所述第三集合中任一所述平均值,所述平均值包括所述第一电压差值对应的平均值和所述第二电压差值对应的平均值;
对所述目标数据进行求和运算,得到第一结果;
对所述第一结果和0xFF进行逻辑与运算,得到第二结果;
根据所述第一结果和所述第二结果,得到所述码头;
对所述目标数据中每一目标数据分别对应的每一所述第一电压差值或所述第二电压差值,按获取顺序排序,得到所述数据;
根据所述码头和所述数据,得到所述编码数据。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述向所述上位机发送所述编码数据之后,所述方法还包括:
接收来自所述上位机发送的反馈指令,其中,所述反馈指令用于指示所述测试设备对所述被测电路板的所述误差测试节点进行重新测试,所述反馈指令由所述上位机对所述编码数据进行所述数据校验确定;
向所述测试设备发送所述反馈指令。
6.一种优化数据传输方法,其特征在于,应用于数据传输系统的测试设备,所述数据传输系统包括:所述测试设备、人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;所述方法包括:
对至少一个测试节点进行电压测试,得到至少一组电压值,其中,所述至少一个测试节点中每一测试节点对应被测电路板上的一根线材线芯,所述至少一组电压值中每组电压值对应一次所述电压测试,所述每组电压值中的每一电压值由所述测试设备对所述被测电路板上的每根线材线芯进行所述电压测试得到;
根据标准电压与所述每组电压值中的每一电压值计算第一电压差值,得到所述每组电压值对应的第一差值集合,其中,所述第一电压差值用于表征所述每一测试节点的电压变化情况;
根据所述每组电压值计算第二电压差值,得到所述每组电压值对应的第二差值集合,其中,所述第二电压差值用于表征多个测试节点中两两测试节点之间电压差值的变化;
组合所述每组电压值对应的所述第一差值集合和所述第二差值集合,得到至少一组测试数据;
依次将所述至少一组测试数据存入所述人机接口设备固定大小的缓冲区,其中,所述缓冲区用于临时存放待传输数据,若所述缓冲区达到存储上限,则由所述人机接口设备根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理操作得到目标数据,并对所述目标数据进行编码处理后,依次将所述编码处理所得到的编码数据上传至所述上位机,所述数据处理操作包括:存储操作、更新操作和迭代计算操作,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据;
接收所述上位机通过所述人机接口设备发送的反馈指令,并根据所述反馈指令对所述被测电路板的误差测试节点进行重新测试。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述至少一个测试节点中每个测试节点对应一条测试线路,每条测试线路包括一个开关;
所述对至少一个测试节点进行电压测试,得到至少一组电压值,包括:
在所述测试设备上电完成后,接收测试信号指令,其中,所述测试信号指令用于指示所述测试设备对所述被测电路板中所述至少一个测试节点进行所述电压测试,所述至少一个测试节点包括一个或多个目标测试节点;
根据所述测试信号指令,控制所述一个或多个目标测试节点对应的目标线路的开关同时闭合后,对所述一个或多个目标测试节点执行多次所述电压测试,得到所述至少一组电压值。
8.一种优化数据传输装置,其特征在于,应用于数据传输系统的人机接口设备,所述数据传输系统包括:测试设备、所述人机接口设备和上位机,所述测试设备和所述上位机通过所述人机接口设备建立通信连接;
所述装置包括接收单元、存储单元、计算单元、编码单元和传输单元,其中,
所述接收单元,用于接收来自所述测试设备发送的至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据包括所述测试设备对被测电路板上至少一个测试节点进行至少一次电压测试所得到至少一组电压值,并根据所述至少一组电压值所确定的所述至少一组电压值中每组电压值所对应的第一差值集合和第二差值集合,所述每组电压值包括所述至少一个测试节点中每一测试节点对应的电压值,所述每一测试节点分别对应所述被测电路板上的一条线材线芯,所述每组电压值所对应的第一差值集合包括标准电压与所述每一测试节点对应的电压值计算得到的第一电压差值,所述每组电压值所对应的第二差值集合包括多个测试节点中两两测试节点之间的第二电压差值;
所述存储单元,用于按照接收时间依次将所述至少一组测试数据存入缓冲区,其中,所述缓冲区为所述人机接口设备中固定大小的存储空间,用于临时存放待传输数据;
所述计算单元,用于若所述缓冲区达到存储上限,则根据所述缓冲区的历史测试数据,进行数据处理,得到第一集合和第二集合,其中,所述历史测试数据为已经存入所述缓冲区的一组或多组测试数据,所述第一集合包括所述历史测试数据中所述第一电压差值对应的第一平均值和所述第二电压差值对应的第二平均值,所述第二集合包括所述历史测试数据中每组测试数据中所述每一测试节点对应的所述第一电压差值的总和以及所述两两测试节点对应的所述第二电压差值的总和;以及用于,按照接收时间将所述历史测试数据中最先存入的一组测试数据删除后,继续接收下一组测试数据,并根据所述下一组测试数据,对所述第一集合和所述第二集合进行数据迭代计算,得到第三集合和第四集合;
所述编码单元,用于每间隔预设时长,从所述缓冲区当前存储的测试数据中获取目标数据,并对所述目标数据进行编码处理,得到编码数据,其中,所述目标数据为所述第三集合中的一个或多个平均值;
所述传输单元,用于向所述上位机发送所述编码数据,其中,所述编码数据用于所述上位机进行数据校验,并根据所述数据校验确认是否存在误差测试节点。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器、通信接口,以及一个或多个程序,所述一个或多个程序被存储在所述存储器中,并且被配置由所述处理器执行,所述程序包括用于执行如权利要求1-5或6-7中任一项所述的方法中的步骤的指令。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储用于电子数据交换的计算机程序,其中,所述计算机程序使得计算机执行如权利要求1-5或6-7中任一项所述的方法。
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