CN115421274A - 一种基于曲线拟合的自动检焦方法 - Google Patents

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CN115421274A CN202211012611.9A CN202211012611A CN115421274A CN 115421274 A CN115421274 A CN 115421274A CN 202211012611 A CN202211012611 A CN 202211012611A CN 115421274 A CN115421274 A CN 115421274A
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CN202211012611.9A
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夏诗烨
王志文
于学刚
罗一涵
陈科
刘雅卿
马浩统
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Institute of Optics and Electronics of CAS
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

本发明提供一种基于曲线拟合的自动检焦方法,针对反射式光学系统离焦,导致成像清晰度下降而影响后续处理的问题,通过采集实际像方焦面附近的光斑图像,提取光斑的特征信息,进行曲线拟合,再依据拟合曲线计算出次镜的最佳位置,其所对应的像方焦面作为光学系统的实际像方焦面。其有益效果在于:不仅可以突破图像分辨率的限制找到实际像方焦面,而且方法操作简单,适应性强,不需要借助其它的设备,即能实现对光学系统实际像方焦面位置的检测工作。

Description

一种基于曲线拟合的自动检焦方法
技术领域
本发明属于基于图像处理的自动调焦领域,具体涉及一种基于曲线拟合的自动检焦方法。
背景技术
当目标在无穷远时,由于光学系统的口径是有限的,在这部分区域内,无穷远轴上物点视为发出平行光线进入光学系统。根据理想光学系统的性质,这束平行光与光轴交于像方焦点,过焦点作光轴的垂面,即为像方焦面。然而在实际应用中,成像系统的工作环境往往复杂多变,在成像过程中,受温度、大气压力、成像距离等因素影响,光学系统会发生离焦,导致成像清晰度下降,不便于后续图像识别、配准和定位等操作。因此,需要使用检焦技术检测系统的实际像方焦面位置,并将探测器成像面移动至实际像方焦面。
目前经常使用的检焦方法有程序控制法、光电自准直法和图像处理法。程序控制法是一种开环控制方法,检焦精度和场景适应性较差;光电准直法的机械结构复杂度高,检焦时无法对外界景物成像,检焦实时性差;图像处理法由于分辨率的限制,在一定的范围内,无法反映出光斑的变化。因此本文提出一种基于曲线拟合的自动检焦方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题为:针对反射式光学系统离焦,导致成像清晰度下降的问题,提供一种基于曲线拟合的自动检焦方法。
本发明的采用的技术方案为:本发明一种基于曲线拟合的自动检焦方法,具体实现步骤为:
步骤1、移动次镜,确定有效次镜位置区间;
步骤2、在有效次镜位置区间内,以固定距离L移动N次次镜位置,在每个次镜位置采集M张图像;
步骤3、提取图像中光斑的特征信息;
步骤4、利用多个次镜位置信息及其对应的光斑特征信息进行曲线拟合;
步骤5、计算各次镜位置的拟合残差,并判断拟合残差是否大于固定值δ:在大于固定值δ的次镜位置处,重新采集图像,重复步骤3~4;若所有残差均小于δ,则转入步骤6;
步骤6、根据拟合曲线,确定最佳次镜位置。
进一步地,所述步骤1中,有效次镜位置区间的确定方法为:通过实时提取光斑面积,确定最小光斑图像所对应的次镜位置区间
Figure BDA0003811501600000021
然后向前和向后移动次镜,确定光斑发散不明显图像的极限位置
Figure BDA0003811501600000022
Figure BDA0003811501600000023
则有效次镜位置区间为:
Figure BDA0003811501600000024
进一步地,所述步骤4中曲线拟合的公式为:
areai=αtan2(β|xi-x0|)+γ
式中,x0为所求次镜位置,xi是第i个次镜位置,areai是次镜位于xi时所对应的图像光斑面积,α、β、γ均为待定系数。
本发明与现有技术相比的有益效果在于:不仅可以突破图像分辨率的限制找到实际像方焦面,而且方法操作简单,适应性强,不需要借助其它的设备,即能实现对光学系统实际像方焦面位置的检测工作。
附图说明
图1是实施例中采集图像的示例;
图2是实施例中从采集图像中提取的光斑面积示意图;
图3是实施例中初次曲线拟合的结果图;
图4是实施例中最终曲线拟合的结果图;
图5是实施例中本发明的流程图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明提供的技术方案进行详述,以下的实施例仅限于解释本发明,但不作为本发明的限制,发明的保护范围应包括权利要求的全部内容,凡通过基本相同的方法达到相同效果的类似实施方式,均落入本发明的保护范围。通过以下实施例,该领域的技术人员即可以实现本发明权利要求的全部内容。
如附图5所示,本发明实施例包括以下步骤:
步骤1、移动次镜,确定有效次镜位置区间。
本实施例以某个自动检焦实验设备为例,经过移动次镜,确定有效次镜位置区间为[283390,289603]∪[291598,297364],这些数值为光栅数。
步骤2、在有效次镜位置区间内,以固定距离L移动N次次镜位置,在每个次镜位置采集M张图像。
本实施例在有效的次镜位置区间,以相同的步长,即600个光栅数移动次镜,一共在20个次镜位置采集图像,且每个次镜位置采集约200张图像,如图1所示,图1仅为实验中采集的4000张图片中的一张。
步骤3、提取图像中光斑的特征信息。
本实施例提取图像中的光斑面积用于后续拟合,如图2所示,为经过图像处理后的光斑二值图,该光斑面积为139,每个次镜位置采集图像的光斑面积取平均值,如表1所示。
表1各次镜位置采集图像光斑面积平均值
Figure BDA0003811501600000031
步骤4、利用各次镜位置信息及其对应的光斑特征信息进行曲线拟合。
本实施例中,根据光斑面积和次镜位置间的映射关系,即:
areai=αtan2(β|xi-x0|)+γ
利用表1中各次镜位置信息和对应的面积均值通过最小二乘法,即可求得待定系数α、β、γ以及所求次镜位置x0。拟合结果如图3所示,所求次镜位置x0为290235。
步骤5、计算各次镜位置的拟合残差,并判断拟合残差是否大于固定值δ:在大于固定值δ的次镜位置处,重新采集图像,重复步骤3~4;若所有残差均小于δ,则转入步骤6。
计算各次镜位置的拟合残差,如表2所示,本实施例中,采用固定值δ=4,而在297000次镜位置处的拟合残差为4.73,大于δ,不符合拟合条件,有可能是受到了环境因素突变或面积提取误差的影响,故为了消除这些误差给拟合精度带来的负面影响,需在该次镜位置重新采集图像。
表2各次镜位置的拟合残差
Figure BDA0003811501600000032
重新计算在次镜位置297000处重新采集的图像光斑面积,其平均值为203,再重新进行拟合,结果如图4所示,最佳次镜位置为290230。然后计算各次镜位置的拟合残差,如表3所示,各次镜位置的拟合残差均不大于4,满足拟合条件。
表3各次镜位置的拟合残差
Figure BDA0003811501600000041
步骤6、根据拟合曲线,确定最佳次镜位置。
由拟合曲线公式可知,当且仅当xi=x0时,光斑面积达到最小值,即:
areamin=αtan2(β|x0-x0|)+γ=αtan2(0)+γ=γ
因此,可以认为,当光斑面积达到最小值时的次镜位置,为最佳次镜位置。本实施例中,如图4所示,拟合曲线的最小值为(290230,56),所以,最佳次镜位置为290230。
本发明未详细阐述部分属于本领域技术人员的公知技术。

Claims (3)

1.一种基于曲线拟合的自动检焦方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
步骤1、移动次镜,确定有效次镜位置区间;
步骤2、在有效次镜位置区间内,以固定距离L移动N次次镜位置,在每个次镜位置采集M张图像;
步骤3、提取图像中光斑的特征信息;
步骤4、利用多个次镜位置信息及其对应的光斑特征信息进行曲线拟合;
步骤5、计算各次镜位置的拟合残差,并判断拟合残差是否大于固定值δ:在大于固定值δ的次镜位置处,重新采集图像,重复步骤3~4;若所有残差均小于δ,则转入步骤6;
步骤6、根据拟合曲线,确定最佳次镜位置。
2.根据权利要求1所述的一种基于曲线拟合的自动检焦方法,其特征在于:所述步骤1中,有效次镜位置区间的确定方法为:通过实时提取光斑面积,确定最小光斑图像所对应的次镜位置区间
Figure FDA0003811501590000011
然后向前和向后移动次镜,确定光斑发散不明显图像的极限位置
Figure FDA0003811501590000012
Figure FDA0003811501590000013
则有效次镜位置区间为:
Figure FDA0003811501590000014
3.根据权利要求1所述的一种基于曲线拟合的自动检焦方法,其特征在于:所述步骤4中,曲线拟合的公式为:
areai=αtan2(β|xi-x0|)+γ
式中,x0为所求次镜位置,xi是第i个次镜位置,areai是次镜位于xi时所对应的图像光斑面积,α、β、γ均为待定系数。
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