CN115374008A - 基于决策树的信息系统缺陷测试方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法、装置及电子设备。该方法包括：基于原始测试案例，确定测试特征，测试特征用于表示影响原始测试案例的原因；基于测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，联动特征包括关联特征和/或上级特征；其中，关联特征与测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，上级特征与测试特征位于同一决策树分支上；基于测试特征和联动特征，生成特征集合，并基于特征集合生成至少一个不同于原始测试案例的联动测试案例；信息系统的测试基于原始测试案例及联动测试案例进行。本申请的方法，有利于一些特征联动异常导致的缺陷事件在信息系统的测试阶段就被发现，从而有利于信息系统投产后的稳定运行。

Description

基于决策树的信息系统缺陷测试方法、装置及电子设备

技术领域

本申请涉及机器学习技术，尤其涉及一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法、装置及电子设备。

背景技术

信息系统数量日益增多、规模巨大、系统之间的关系错综复杂。大型项目通常改造点众多，牵一发而动全身。在需求迭代多、项目时间紧迫以及人力资源紧张的情况下很容易产生缺陷。

因此，信息系统开发完毕后需要进行测试，投产后的系统升级或修复后也需要进行测试，测试的目的是为了尽可能多的发现缺陷。在测试过程中，经过测试案例的全面设计和执行后，大部分的缺陷很容易被发现，少数缺陷则是偶然被发现，而有的缺陷并没有在测试中发现，例如一些特征联动异常引起的缺陷，直到投产或重新投产后，在生产环境中引发了生产事件才被知晓，从而不利于信息系统的稳定运行。

发明内容

本申请提供一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法、装置及电子设备，用以降低信息系统测试时，一些特征联动异常引起的缺陷发生逃逸的风险，从而有利于提升信息系统的稳定性。

一方面，本申请提供一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法，该方法包括：

基于原始测试案例，确定测试特征，其中，所述原始测试案例用于表示信息系统需求测试的案例，所述测试特征用于表示影响所述原始测试案例是否发生缺陷的原因；

基于所述测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，所述联动特征包括关联特征和/或上级特征；其中，所述关联特征与所述测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，所述上级特征与所述测试特征位于同一决策树分支上；

基于所述测试特征和所述联动特征，生成特征集合，并基于所述特征集合生成至少一个不同于所述原始测试案例的联动测试案例；所述信息系统的测试基于所述原始测试案例及所述联动测试案例进行。

在另一种可能实现的方式中，所述基于所述测试特征和所述联动特征，生成特征集合，包括：

若存在所述关联特征及所述上级特征，则针对每个测试特征，根据所述测试特征以及任意的所述关联特征和所述上级特征，生成所述特征集合；

若存在所述关联特征，则针对每个所述测试特征，根据所述测试特征和所述关联特征，生成所述特征集合；

若存在所述上级特征，则针对每个所述测试特征，根据所述测试特征和所述上级特征，生成所述特征集合。

在另一种可能实现的方式中，所述根据所述测试特征以及任意的所述关联特征和所述上级特征，生成所述特征集合，包括：

若所述关联特征和所述上级特征为不同的特征，则根据所述测试特征和所述关联特征生成第一特征集合，根据所述测试特征和所述上级特征生成第二特征集合，以及根据所述测试特征、所述关联特征和所述上级特征，生成第三特征集合；

若所述关联特征和所述上级特征为相同的特征，则根据所述测试特征和所述上级特征，生成所述特征集合。

在另一种可能实现的方式中，所述基于所述特征集合生成至少一个不同于所述原始测试案例的联动测试案例，包括：

基于所述特征集合中所包括的特征，获取每个特征对应的预置环境；所述预置环境包括用于完成所述信息系统测试所需的硬件、软件、网络及数据；

根据每个特征对应的预置环境，生成所述联动测试案例。

在另一种可能实现的方式中，所述决策树模型是通过如下方式训练得到的：

获取测试缺陷案例及生产缺陷案例，并基于所述测试缺陷案例建立测试缺陷库，基于所述生产缺陷案例建立生产缺陷库；其中，所述测试缺陷案例在测试过程中产生，所述生产缺陷案例在历史应用过程中产生；

基于所述测试缺陷库以及所述生产缺陷库，训练原始的决策树模型。

在另一种可能实现的方式中，所述基于所述测试缺陷库以及所述生产缺陷库，训练原始的决策树模型，包括：

基于所述测试缺陷库及所述生产缺陷库，建立训练集，所述训练集中包括所述测试缺陷案例及测试缺陷类型，以及所述生产缺陷案例及生产缺陷类型；

根据预先设定的缺陷特征，分别对所述测试缺陷案例及所述生产缺陷案例进行分析，获取每个所述测试缺陷案例所包括的第一缺陷特征以及每个所述生产缺陷案例所包括的第二缺陷特征；其中，所述缺陷特征用于表示影响所述测试缺陷案例或所述生产缺陷案例是否发生缺陷的原因，所述第一缺陷特征和所述第二缺陷特征为所述预先设定的缺陷特征中的特征；

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练所述原始的决策树模型。

在另一种可能实现的方式中，所述根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练所述原始的决策树模型，包括：

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，构建缺陷矩阵；

将所述缺陷矩阵作为所述决策树模型的输入，训练所述原始的决策树模型；

其中，所述缺陷矩阵的每行对应一个测试缺陷案例或生产缺陷案例，所述测试缺陷案例或生产缺陷案例所包括的缺陷特征对应第一值，不包括的缺陷特征对应第二值，所述生产缺陷类型对应第一值，所述测试缺陷类型对应第二值。

另一方面，本申请提供一种基于决策树的信息系统缺陷测试装置，包括第一确定模块、第二确定模块及生成模块，其中，

第一确定模块，用于基于原始测试案例，确定测试特征，其中，所述原始测试案例用于表示信息系统需求测试的案例，所述测试特征用于表示影响所述原始测试案例是否发生缺陷的原因；

第二确定模块，用于基于所述测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，所述联动特征包括关联特征和/或上级特征；其中，所述关联特征与所述测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，所述上级特征与所述测试特征位于同一决策树分支上；

生成模块，用于基于所述测试特征和所述联动特征，生成特征集合，并基于所述特征集合生成至少一个不同于所述原始测试案例的联动测试案例；所述信息系统的测试基于所述原始测试案例及所述联动测试案例进行。

在另一种可能实现的方式中，所述生成模块具体用于：

若存在所述关联特征及所述上级特征，则针对每个测试特征，根据所述测试特征以及任意的所述关联特征和所述上级特征，生成所述特征集合；

若存在所述关联特征，则针对每个所述测试特征，根据所述测试特征和所述关联特征，生成所述特征集合；

若存在所述上级特征，则针对每个所述测试特征，根据所述测试特征和所述上级特征，生成所述特征集合。

在另一种可能实现的方式中，所述根据所述缺陷特征以及任意的所述关联特征和所述上级特征，生成所述特征集合，包括：

若所述关联特征和所述上级特征为不同的特征，则根据所述测试特征和所述关联特征生成第一特征集合，根据所述测试特征和所述上级特征生成第二特征集合，以及根据所述测试特征、所述关联特征和所述上级特征，生成第三特征集合；

若所述关联特征和所述上级特征为相同的特征，则根据所述测试特征和所述上级特征，生成所述特征集合。

在另一种可能实现的方式中，所述生成模块还用于：

基于所述特征集合中所包括的特征，获取每个特征对应的预置环境；所述预置环境包括用于完成所述信息系统测试所需的硬件、软件、网络及数据；

根据每个特征对应的预置环境，生成所述联动测试案例。

在另一种可能实现的方式中，所述决策树模型是通过如下方式训练得到的：

获取测试缺陷案例及生产缺陷案例，并基于所述测试缺陷案例建立测试缺陷库，基于所述生产缺陷案例建立生产缺陷库；其中，所述测试缺陷案例在测试过程中产生，所述生产缺陷案例在历史应用过程中产生；

基于所述测试缺陷库以及所述生产缺陷库，训练原始的决策树模型。

在另一种可能实现的方式中，所述基于所述测试缺陷库以及所述生产缺陷库，训练原始的决策树模型，包括：

基于所述测试缺陷库及所述生产缺陷库，建立训练集，所述训练集中包括所述测试缺陷案例及测试缺陷类型，以及所述生产缺陷案例及生产缺陷类型；

根据预先设定的缺陷特征，分别对所述测试缺陷案例及所述生产缺陷案例进行分析，获取每个所述测试缺陷案例所包括的第一缺陷特征以及每个所述生产缺陷案例所包括的第二缺陷特征；其中，所述缺陷特征用于表示影响所述测试缺陷案例或所述生产缺陷案例是否发生缺陷的原因，所述第一缺陷特征和所述第二缺陷特征为所述预先设定的缺陷特征中的特征；

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练所述原始的决策树模型。

在另一种可能实现的方式中，所述根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练所述原始的决策树模型，包括：

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，构建缺陷矩阵；

将所述缺陷矩阵作为所述决策树模型的输入，训练所述原始的决策树模型；

其中，所述缺陷矩阵的每行对应一个测试缺陷案例或生产缺陷案例，所述测试缺陷案例或生产缺陷案例所包括的缺陷特征对应第一值，不包括的缺陷特征对应第二值，所述生产缺陷类型对应第一值，所述测试缺陷类型对应第二值。

第三方面，本发明提供一种电子设备，包括：

至少一个处理器和存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如上第一方面任一项所述的基于决策树的信息系统缺陷测试方法。

第四方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如上第一方面任一项所述的基于决策树的信息系统缺陷测试方法。

本申请提供一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法、装置及电子设备，通过本申请，工作人员在对信息系统进行测试时，对于任一个原始测试案例，首先分别通过电子设备确定出其包含的测试特征。对于每个测试特征，电子设备首先根据训练好的决策树模型，确定其联动特征；其次根据测试特征和联动特征，生成特征集合。最后可以根据特征集合得到至少一个不同于原始测试案例的联动测试案例。工作人员基于原始测试案例及其对应的联动测试案例，对信息系统进行测试，以最终得到信息系统的缺陷测试结果。

在上述过程中，根据测试特征及基于测试特征得到的联动特征，生成联动测试案例，使得工作人员可以在基于原始测试案例对信息系统进行测试的基础上，基于联动测试案例再对信息系统进行测试，从而有利于发现测试过程中不易被发现的一些因不同联动异常而导致的缺陷事件，进而有利于进一步保障信息系统投产后的稳定运行。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请实施例提供的一种信息系统的缺陷测试流程图；

图2为本申请实施例提供的一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法的流程示意图一；

图3为本申请实施例提供的一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法的流程示意图二；

图4为本申请实施例提供的一种训练决策树模型的方法示意图；

图5为本申请实施例提供的一种基于决策树的信息系统缺陷测试装置的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的一种电子设备。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

信息系统是由计算机硬件、网络和通信设备、计算机软件、信息资源、信息用户和规章制度组成的以处理信息流为目的的人机一体化系统，其主要有五个基本功能，即对信息的输入、存储、处理、输出和控制。为保证信息系统投产后的稳定运行，信息系统在开发完成或升级修复后，需进行系统测试，以在投产前尽可能多的发现缺陷，从而有利于信息系统及时针对缺陷进行完善。

信息系统的测试一般包括恢复测试、安全测试及压力测试，其中，恢复测试主要关注导致信息系统运行失败的各种条件，并验证其恢复过程能否正确执行。安全测试用来验证信息系统内部的保护机制，以防止非法入侵。压力测试是指在正常资源下使用异常的访问量、频率或数据量来执行信息系统。

图1为本申请实施例提供的一种信息系统的缺陷测试流程图。如图1所示，信息系统的测试流程包括步骤S101、步骤S102、步骤S103及步骤S104，其中，

步骤S101，制定信息系统的测试计划；其中，测试计划包括测试特征、测试方法、测试环境与辅助工具、测试完成准则及人员与任务表。

其中，测试环境包括用于完成信息系统测试所需的硬件、软件、网络及数据。

步骤S102，根据测试计划设计信息系统测试用例。

示例性地，测试特征为信息系统的代码规范时，测试实例则为围绕代码设计产生的一系列场景实例。

步骤S103，基于测试计划及测试测试用例，执行信息系统测试。

步骤S104，使用指定的缺陷管理工具，记录所有缺陷的状态信息，并生成缺陷管理报告。

在一些已知的技术中，工作人员在完成如图1所示的测试流程后，基于测试后得到的缺陷管理报告，消除已经发现的缺陷。

银行信息系统作为信息系统的一种，其规模日益庞大，且系统之间各部分的关系错综复杂，容易导致当某一部分指标发生缺陷时，通常会引起其他部分指标产生联动异常。此时，若仍基于如图1所示的测试流程对银行信息系统进行测试，即仅依据某一测试特征设计测试用例，则会导致在存在一些因联动异常而发生的缺陷事件时，无法在测试中被发现，从而不利于信息系统投产后的稳定运行。

本申请实施例在图1所示的实施例基础上，在根据测试计划设计信息系统测试用例时，根据最初的测试用例所包含的测试特征，分析出一些的可能会导致缺陷的隐蔽缺陷案例，即由测试特征及其联动特征得到的联动测试用例，以尽可能在测试中及时发现缺陷案例，降低缺陷逃逸的风险，从而有利于提高信息系统的稳定性。

图2为本申请实施例提供的一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法的流程示意图一。如图2所示，本实施例中的方法可以包括步骤S201、步骤S202及步骤S203，其中，

步骤S201，基于原始测试案例，确定测试特征。

其中，原始测试案例用于表示信息系统需求测试的案例，对应前述实施例中的根据测试计划设计的测试案例。测试特征用于表示影响原始测试案例是否发生缺陷的原因，测试特征可以包括改造特征或缺陷特征。

具体地，当信息系统发生改造升级或发生生产事件时，需要对改造升级后或修复后的信息系统进行测试。因此，原始测试案例可以是信息系统对于某一特征进行升级改造后，基于改造特征设计得到的；也可以是信息系统发生的某一次缺陷后，基于缺陷特征设计得到的。

步骤S202，基于测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，联动特征包括关联特征和/或上级特征。

具体地，关联特征与测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，上级特征与测试特征位于同一决策树分支上。其中，关联特征与上级特征可能为同一个特征。

示例性地，预设数量设为3，测试特征为任一特征C，其为决策树的二级划分属性。若某一特征B与特征C同时存在的决策树分支超过3个，则说明特征B为特征C的关联特征。若某一特征A为决策树的一级划分属性，且与特征C位于同一分支上，则说明特征A为特征C的上级特征。其中一级划分属性为第一次计算信息增益时得出的最优划分属性，二级划分属性为基于一级划分属性进行第二次计算信息增益时得出的最优划分属性。

步骤S203，基于测试特征和联动特征，生成特征集合，并基于特征集合获取至少一个不同于原始测试案例的联动测试案例，信息系统基于原始测试案例及联动测试案例进行测试。

具体地，对于本实施例，电子设备在确定出联动特征后，可以对测试特征和联动特征进行组合运算，以得到至少两个不同于原始测试案例对应的集合的特征集合。其中，以下内容中原始测试案例对应的集合称作原始集合，原始集合＝(测试特征)。

示例性地，当基于测试特征得到两个联动特征时，对测试特征及两个联动特征进行组合运算，一共可以得到集合1＝(联动特征1)、集合2＝(联动特征2)、集合3＝(测试特征，联动特征1)、集合4＝(测试特征，联动特征2)、集合5＝(联动特征1、测试特征2)、集合6＝(测试特征，联动特征1、测试特征2)六个不同于原始集合的特征集合。

本实施例提供的方法，在需要对原始测试案例进行测试时，工作人员首先将原始测试案例输入电子设备，电子设备首先确定原始测试案例包含的测试特征，并基于测试特征及训练好的决策树模型，确定测试特征的联动特征。其次，电子设备通过对测试特征及联动特征进行组合运算，得到至少两个不同于原始结合的特征集合。最后，电子设备基于至少两个特征集合，生成不同于原始测试案例的联动测试案例。工作人员根据电子设备生成的联动测试案例对信息系统进行测试，并在信息系统发生缺陷的时候，及时解决缺陷。

通过本实施例提供的方法，使得工作人员在基于原始测试案例对信息系统进行测试前，可以先通过本申请提供的电子设备生成原始测试案例的联动测试案例，基于这些联动测试案例对信息系统进行测试，尽可能使得一些隐蔽的联动异常在测试过程中被发现，从而使得工作人员在信息系统投产前就对这些问题进行修复，进而有利于信息系统投产后的稳定运行。

图3是本申请实施例提供的一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法的流程示意图二。下面结合图3，对本申请实施例的具体实现过程进行详细说明。具体地，本实施例在上述实施例的基础上，详细限定了生成联动测试案例的方式。

如图3所示，该方法包括步骤S301～步骤S308，其中，

步骤S301，基于原始测试案例，确定测试特征。

步骤S302，基于测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，联动特征包括关联特征和/或上级特征。其中，关联特征与缺陷特征同时存在的决策树分支超过预设数量，上级特征与缺陷特征位于同一决策树分支上。

具体地，对于步骤S301以及步骤S302的限定，可以参见前述实施例中对于步骤S201以及步骤S202的详细说明，此处不再赘述。

由前述实施例中对于关联特征与上级特征的限定可知，关联特征与上级特征中有可能存在为同一特征的情况，因此本实施例中，在基于测试特征和联动特征生成特征集合时，具体生成方式需进行分情况讨论，共包括以下步骤S303、步骤S304、步骤S305及步骤S306四种情况，具体如下：

步骤S303，若存在不同的关联特征及上级特征，则根据测试特征和关联特征生成第一特征集合，根据测试特征和上级特征生成第二特征集合，以及根据测试特征、关联特征和上级特征，生成第三特征集合。

步骤S304，若存在相同的关联特征及上级特征，则根据测试特征和上级特征，生成特征集合。

步骤S305，若存在关联特征，则针对每个测试特征，根据测试特征和关联特征，生成特征集合。

步骤S306，若存在上级特征，则针对每个测试特征，根据测试特征和上级特征，生成特征集合。

具体地，对于不同的关联特征和上级特征，则可以分别生成只跟关联特征相关的第一特征集合、只跟上级特征相关的第二特征集合，以及同时跟关联特征和上级特征相关的第三特征集合，以提前对联动测试案例进行分类，便于工作人员分类别对信息系统进行测试。

对于相同的关联特征和上级特征，则仅基于同一关联特征或上级特征，生成特征集合，从而避免相同的联动测试案例出现，有效节省工作人员对于信息系统的测试耗时。

步骤S307，基于特征集合中所包括的特征，获取每个特征对应的预置环境。

其中，预置环境包括用于完成信息系统测试所需的硬件、软件、网络及数据。预置环境可以是由工作人员提前输入电子设备，也可以是电子设备调用历史生成联动测试案例时，针对某一特征使用过的预置环境。

具体地，硬件指测试信息系统必需的服务器、客户端、网络连接等辅助设备，软件指测试信息系统运行时的操作系统、数据库及其他应用软件，网络指信息系统运行时的网络系统、网络结构及其他网络设备构成的环境，数据用于验证信息系统功能。

步骤S308，根据每个特征对应的预置环境，生成联动测试案例。

具体地，根据每个特征集合中的各个特征及其对应的预置环境，生成相应的联动测试案例。

本实施例提供的方法，电子设备根据测试特征和联动特征，生成特征集合后，获取每个特征集合中的各个特征对应的预置环境，根据每个特征及其对应的预置环境，生成该特征集合对应的联动测试案例，也即原始测试案例对应的联动测试案例。

图4为本申请实施例提供的一种训练决策树模型的方法示意图。下面结合图4，对本申请实施例的具体实现过程做进一步详细说明。具体地，本实施例具体对训练好的决策树模型是如何得到的进行了详细说明。

如图4所示，该方法可以包括步骤S401、步骤S402、步骤S403、步骤S404及步骤S405，其中，

步骤S401，获取测试缺陷案例及生产缺陷案例，并基于测试缺陷案例建立测试缺陷库，基于生产缺陷案例建立生产缺陷库。

其中，测试缺陷案例在测试过程中产生，生产缺陷案例在历史应用过程中产生。

步骤S402，基于测试缺陷库及生产缺陷库，建立训练集，训练集中包括测试缺陷案例及测试缺陷类型，以及生产缺陷案例及生产缺陷类型。

示例性地，训练集表示为：训练集＝{(测试缺陷案例1，测试缺陷)，(测试缺陷案例2，测试缺陷)......，(测试缺陷案例n，测试缺陷)，(生产缺陷案例1，生产缺陷)......，(生产缺陷案例n，生产缺陷)}。

步骤S403，根据预先设定的缺陷特征，分别对测试缺陷案例及生产缺陷案例进行分析，获取每个测试缺陷案例所包括的第一缺陷特征以及每个生产缺陷案例所包括的第二缺陷特征。

其中，缺陷特征用于表示影响测试缺陷案例或生产缺陷案例是否发生缺陷的原因，第一缺陷特征和第二缺陷特征为预先设定的缺陷特征中的特征。

具体地，预先设定的缺陷特征可以包括代码设计、代码规范、系统设计、规则冲突、特殊数据、关联接口、UI体验、系统性能、参数配置、投产运营，这些缺陷特征是在对大量的缺陷案例进行分析后，提炼得到的。

步骤S404，根据测试缺陷案例所包括的缺陷特征及测试缺陷类型，以及每个生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，构建缺陷矩阵。

具体地，缺陷矩阵的每行对应一个测试缺陷案例或生产缺陷案例，测试缺陷案例或生产缺陷案例所包括的缺陷特征对应第一值，不包括的缺陷特征对应第二值，生产缺陷类型对应第一值，测试缺陷类型对应第二值。其中，第一值可以为1，第二值可以为0。

步骤S405，将缺陷矩阵作为决策树模型的输入，训练原始的决策树模型。

具体地，基于缺陷矩阵，训练原始的决策树模型，以得到训练好的决策树模型。根据训练好的决策树模型，可以确定出各级划分属性及各个分支，从而可以得到某一测试特征的关联特征或上级特征。

在本实施例中，电子设备根据训练好的决策树模型，记录各个特征之间的关系，以在生成联动测试案例时调用。

上述实施例从方法流程的角度介绍一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法，下述实施例从虚拟模块或虚拟单元的角度介绍了一种基于决策树的信息系统缺陷测试装置，具体详见下述实施例。

本申请实施例提供一种基于决策树的信息系统缺陷测试装置，如图5所示，该装置包括第一确定模块51、第二确定模块52及生成模块53，其中，

第一确定模块51，用于基于原始测试案例，确定测试特征，其中，原始测试案例用于表示信息系统需求测试的案例，测试特征用于表示影响原始测试案例是否发生缺陷的原因；

第二确定模块52，用于基于测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，联动特征包括关联特征和/或上级特征；其中，关联特征与测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，上级特征与测试特征位于同一决策树分支上；

生成模块53，用于基于测试特征和联动特征，生成特征集合，并基于特征集合生成至少一个不同于原始测试案例的联动测试案例；信息系统基于原始测试案例及联动测试案例进行测试。

本申请实施例的另一种可能的实现方式，生成模块53具体用于：

若存在关联特征及上级特征，则针对每个测试特征，根据测试特征以及任意的关联特征和上级特征，生成特征集合；

若存在关联特征，则针对每个测试特征，根据测试特征和关联特征，生成特征集合；

若存在上级特征，则针对每个测试特征，根据测试特征和上级特征，生成特征集合。

本申请实施例的另一种可能的实现方式，根据测试特征以及任意的关联特征和上级特征，生成特征集合，包括：

若关联特征和上级特征为不同的特征，则根据测试特征和关联特征生成第一特征集合，根据测试特征和上级特征生成第二特征集合，以及根据测试特征、关联特征和上级特征，生成第三特征集合；

若关联特征和上级特征为相同的特征，则根据测试特征和上级特征，生成特征集合。

本申请实施例的另一种可能的实现方式，生成模块53还用于：

基于特征集合中所包括的特征，获取每个特征对应的预置环境；预置环境包括用于完成信息系统测试所需的硬件、软件、网络及数据；

根据每个特征对应的预置环境，生成联动测试案例。

本申请实施例的另一种可能的实现方式，决策树模型是通过如下方式训练得到的：

获取测试缺陷案例及生产缺陷案例，并基于测试缺陷案例建立测试缺陷库，基于生产缺陷案例建立生产缺陷库；其中，测试缺陷案例在测试过程中产生，生产缺陷案例在历史应用过程中产生；

基于测试缺陷库以及生产缺陷库，训练原始的决策树模型。

本申请实施例的另一种可能的实现方式，基于测试缺陷库以及生产缺陷库，训练原始的决策树模型，包括：

基于测试缺陷库及生产缺陷库，建立训练集，训练集中包括测试缺陷案例及测试缺陷类型，以及生产缺陷案例及生产缺陷类型；

根据预先设定的缺陷特征，分别对测试缺陷案例及生产缺陷案例进行分析，获取每个测试缺陷案例所包括的第一缺陷特征以及每个生产缺陷案例所包括的第二缺陷特征；其中，缺陷特征用于表示影响测试缺陷案例或生产缺陷案例是否发生缺陷的原因，第一缺陷特征和第二缺陷特征为预先设定的缺陷特征中的特征；

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练原始的决策树模型。

在本申请实施例的另一种可能的实现方式，根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练原始的决策树模型，包括：

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，构建缺陷矩阵；

将缺陷矩阵作为决策树模型的输入，训练原始的决策树模型；

其中，缺陷矩阵的每行对应一个测试缺陷案例或生产缺陷案例，测试缺陷案例或生产缺陷案例所包括的缺陷特征对应第一值，不包括的缺陷特征对应第二值，生产缺陷类型对应第一值，测试缺陷类型对应第二值。

本申请实施例提供的一种基于决策树的信息系统缺陷测试装置，适用于上述方法实施例，在此不再赘述。

本申请实施例中提供了一种电子设备，如图6所示，图6所示的电子设备包括：处理器61和存储器62。其中，处理器61和存储器62相连，如通过总线63相连。可选地，电子设备还可以包括收发器64。需要说明的是，实际应用中收发器64不限于一个，该电子设备的结构并不构成对本申请实施例的限定。

处理器61可以是CPU(Central Processing Unit，中央处理器61)，通用处理器61，DSP(Digital Signal Processor，数据信号处理器61)，ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路)，FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器61也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器61组合，DSP和微处理器61的组合等。

总线63可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线631002可以是PCI(Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准)总线63或EISA(ExtendedIndustry Standard Architecture，扩展工业标准结构)总线63等。总线63可以分为地址总线63、数据总线63、控制总线63等。为便于表示，图6中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线63或一种类型的总线63。

存储器62可以是ROM(Read Only Memory，只读存储器62)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM(Random Access Memory，随机存取存储器62)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器62)、CD-ROM(Compact DiscRead Only Memory，只读光盘)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。

存储器62用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器61来控制执行。处理器61用于执行存储器62中存储的应用程序代码，以实现前述方法实施例所示的内容。

其中，电子设备包括但不限于：移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、PDA(个人数字助理)、PAD(平板电脑)、PMP(便携式多媒体播放器)、车载终端(例如车载导航终端)等等的移动终端以及诸如数字TV、台式计算机等等的固定终端。还可以为服务器等。图6示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机可以执行前述方法实施例中相应内容。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由权利要求书指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求书来限制。

Claims (10)

1.一种基于决策树的信息系统缺陷测试方法，其特征在于，包括：

基于原始测试案例，确定测试特征，其中，所述原始测试案例用于表示信息系统需求测试的案例，所述测试特征用于表示影响所述原始测试案例是否发生缺陷的原因；

基于所述测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，所述联动特征包括关联特征和/或上级特征；其中，所述关联特征与所述测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，所述上级特征与所述测试特征位于同一决策树分支上；

基于所述测试特征和所述联动特征，生成特征集合，并基于所述特征集合生成至少一个不同于所述原始测试案例的联动测试案例；所述信息系统的测试基于所述原始测试案例及所述联动测试案例进行。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试特征和所述联动特征，生成特征集合，包括：

若存在所述关联特征及所述上级特征，则针对每个测试特征，根据所述测试特征以及任意的所述关联特征和所述上级特征，生成所述特征集合；

若存在所述关联特征，则针对每个所述测试特征，根据所述测试特征和所述关联特征，生成所述特征集合；

若存在所述上级特征，则针对每个所述测试特征，根据所述测试特征和所述上级特征，生成所述特征集合。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试特征以及任意的所述关联特征和所述上级特征，生成所述特征集合，包括：

若所述关联特征和所述上级特征为不同的特征，则根据所述测试特征和所述关联特征生成第一特征集合，根据所述测试特征和所述上级特征生成第二特征集合，以及根据所述测试特征、所述关联特征和所述上级特征，生成第三特征集合；

若所述关联特征和所述上级特征为相同的特征，则根据所述测试特征和所述上级特征，生成所述特征集合。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述特征集合生成至少一个不同于所述原始测试案例的联动测试案例，包括：

基于所述特征集合中所包括的特征，获取每个特征对应的预置环境；所述预置环境包括用于完成所述信息系统测试所需的硬件、软件、网络及数据；

根据每个特征对应的预置环境，生成所述联动测试案例。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述决策树模型是通过如下方式训练得到的：

获取测试缺陷案例及生产缺陷案例，并基于所述测试缺陷案例建立测试缺陷库，基于所述生产缺陷案例建立生产缺陷库；其中，所述测试缺陷案例在测试过程中产生，所述生产缺陷案例在历史应用过程中产生；

基于所述测试缺陷库以及所述生产缺陷库，训练原始的决策树模型。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试缺陷库以及所述生产缺陷库，训练原始的决策树模型，包括：

基于所述测试缺陷库及所述生产缺陷库，建立训练集，所述训练集中包括所述测试缺陷案例及测试缺陷类型，以及所述生产缺陷案例及生产缺陷类型；

根据预先设定的缺陷特征，分别对所述测试缺陷案例及所述生产缺陷案例进行分析，获取每个所述测试缺陷案例所包括的第一缺陷特征以及每个所述生产缺陷案例所包括的第二缺陷特征；其中，所述缺陷特征用于表示影响所述测试缺陷案例或所述生产缺陷案例是否发生缺陷的原因，所述第一缺陷特征和所述第二缺陷特征为所述预先设定的缺陷特征中的特征；

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练所述原始的决策树模型。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，训练所述原始的决策树模型，包括：

根据每个测试缺陷案例所包括的缺陷特征以及测试缺陷类型，以及每个所述生产缺陷案例所包括的缺陷特征及生产缺陷类型，构建缺陷矩阵；

将所述缺陷矩阵作为所述决策树模型的输入，训练所述原始的决策树模型；

其中，所述缺陷矩阵的每行对应一个测试缺陷案例或生产缺陷案例，所述测试缺陷案例或生产缺陷案例所包括的缺陷特征对应第一值，不包括的缺陷特征对应第二值，所述生产缺陷类型对应第一值，所述测试缺陷类型对应第二值。

8.一种基于决策树的信息系统缺陷测试装置，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于基于原始测试案例，确定测试特征，其中，所述原始测试案例用于表示信息系统需求测试的案例，所述测试特征用于表示影响所述原始测试案例是否发生缺陷的原因；

第二确定模块，用于基于所述测试特征以及训练好的决策树模型，确定联动特征，所述联动特征包括关联特征和/或上级特征；其中，所述关联特征与所述测试特征同时存在的决策树分支超过预设数量，所述上级特征与所述测试特征位于同一决策树分支上；

生成模块，用于基于所述测试特征和所述联动特征，生成特征集合，并基于所述特征集合生成至少一个不同于所述原始测试案例的联动测试案例；所述信息系统的测试基于所述原始测试案例及所述联动测试案例进行。

9.一种电子设备，其特征在于，其包括：

一个或者多个处理器；

存储器；

一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序配置用于：执行根据权利要求1-7任一项所述的基于决策树的信息系统缺陷测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的基于决策树的信息系统缺陷测试方法。

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