CN115343014B - 一种荧光标记点位误差修正方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及风洞测量技术领域，公开了一种荧光标记点位误差修正方法、装置、设备及存储介质，包括：构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，对待测模型在会产生测量误差位姿下的荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；基于第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，基于第二关系式确定与测量油膜厚度、测量荧光强度对应的标定后误差系数；标定后误差系数小于预设最大误差系数。能够对由于模型位姿变化导致的诱导荧光误差进行标定及补偿，提高风洞测量精确度。

Description

一种荧光标记点位误差修正方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及风洞测量技术领域，特别涉及一种荧光标记点位误差修正方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

当紫外光或波长较短的可见光照射到某些物质时，这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光，而当光源停止照射时，光线会随之消失，这种在激发光源诱导下产生的光称为荧光。荧光物体被激发光源照射后发出荧光的现象被称为诱导荧光。诱导荧光技术利用荧光的激发特性进行模型位姿、形变、应变等测量，其具有显示直观、成本低的优点。

测量精度是基于诱导荧光的测量技术的研究与改进效果的重要标准，但在实际中，影响测量精度的因素还与测量条件和测量过程有关。在静态测量中，承载油膜的模型总是固定不变的，但在动态风洞实验中，为了有效检验模型的气动特性，被测模型将发生一定程度的平移、偏转等姿态变化，也将引起测量误差。现有技术尚未有对模型位姿变化对紫外诱导荧光测量误差标定以及补偿的方法。

因此，上述技术问题亟待本领域技术人员解决。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种荧光标记点位误差修正方法、装置、设备及存储介质，能够对由于模型位姿变化导致的诱导荧光误差进行标定及补偿，提高风洞测量精确度。其具体方案如下：

本申请的第一方面提供了一种荧光标记点位误差修正方法，包括：

构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；

基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。

可选的，所述荧光标记点位误差修正方法，还包括：

在风洞实验中部署预设测量装置，并利用所述预设测量装置对所述荧光标记点的所述测量荧光强度进行测量；其中，所述预设测量装置包括预设相机、诱导光源及所述待测模型。

可选的，所述诱导光源以不大于45度的入射角向测量区域发射诱导荧光的光线。

可选的，所述构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，包括：

基于灰度质心法构建最大测量误差与最大误差系数的所述第一关系式；

所述第一关系式为：

其中，

为最大测量误差，

为荧光光强对最大定位误差的最大误差系数，

为荧光标记点的区间半径；

相应的，所述荧光标记点位误差修正方法，还包括：

确定所述待测模型的预设位置上的所述荧光标记点的区间半径，以便基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数。

可选的，所述荧光标记点位误差修正方法，还包括：

根据仿真经验值确定最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数，以利用所述对标系数对所述第一关系式进行改进，得到改进后所述第一关系式；

改进后第一关系式为：

其中，

为实际最大测量误差，

为最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数。

可选的，所述构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式，包括：

根据距离平方倒数关系构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

所述第二关系式为：

其中，

为荧光强度，

为油膜厚度，

为诱导光源到待测模型之间的距离；

相应的，所述荧光标记点位误差修正方法，还包括：

确定所述诱导光源到所述待测模型之间的距离，以便基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数。

可选的，所述对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度，包括：

将所述待测模型的位姿进行平移变化，并对平移变化后的所述待测模型的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到所述测量荧光强度。

本申请的第二方面提供了一种荧光标记点位误差修正装置，包括：

关系式构建模块，用于构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

测量模块，用于在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；

计算标定模块，用于基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。

本申请的第三方面提供了一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器；其中所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器加载并执行以实现前述荧光标记点位误差修正方法。

本申请的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器加载并执行时，实现前述荧光标记点位误差修正方法。

本申请中，先构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；然后在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；最后基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。可见，本申请通过分析构建相应的关系式，并在关系式作用下对由于模型位姿变化导致的诱导荧光误差进行标定及补偿，消除因模型位姿变化导致荧光光强变化引起的标记点测量误差，提高风洞测量准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请提供的一种荧光标记点位误差修正方法流程图；

图2为本申请提供的一种荧光光强与质心误差坐标关系示意图；

图3为本申请提供的一种相机像素与薄膜微元的对应关系示意图；

图4为本申请提供的一种荧光标记点位误差修正装置结构示意图；

图5为本申请提供的一种荧光标记点位误差修正电子设备结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

现有技术尚未有对模型位姿变化对紫外诱导荧光测量误差标定以及补偿的方法，在动态风洞实验中，由于被测模型发生一定程度的平移、偏转等姿态变化会引起测量误差。使得检验模型的气动特性不具有有效性。针对上述技术缺陷，本申请提供一种荧光标记点位误差修正方案，能够对由于模型位姿变化导致的诱导荧光误差进行标定及补偿，提高风洞测量精确度。

图1为本申请实施例提供的一种荧光标记点位误差修正方法流程图。参见图1所示，该荧光标记点位误差修正方法包括：

S11：构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式。

本实施例中，构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式。所述第一关系式主要是为了在给定整体允许误差下计算系统允许的最大荧光光强对定位误差的相对误差系数。所述第二关系式主要用于标定强度与油膜厚度的关系。

本实施例中，关于所述第一关系式，具体基于灰度质心法构建最大测量误差与最大误差系数的所述第一关系式。所述最大测量误差也即最大质心误差，所述第一关系式为：

其中，

为最大测量误差，

为荧光光强对最大定位误差的最大误差系数，

为荧光标记点的区间半径。

关于所述第一关系式的推导过程如下：风洞试验中为保证数据的稳定性，荧光标记点位置计算采用灰度质心法，灰度质心法也即灰度重心法。计算公式为：

由此，在数字图像上灰度的大小是实际测量中的光强，由此荧光光强最终导致的标记点质心误差则为：

显然，在上述公式中，坐标x和y是线性的。因此，只有当光强误差 在坐标方向也是线性变化的时，质心误差取得最大值。假设标记点亮度均匀，强度为

，最大相对误差为

，标记点坐标区间为[-r,r]，则最大质心误差对应的光强误差直线方程为（坐标关系如图2所示）：

则最大质心误差为：

需要说明的是，如果考虑整个标记点上的光强误差存在一定的随机性，需要进一步根据仿真经验值确定最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数，以利用所述对标系数对所述第一关系式进行改进，得到改进后所述第一关系式，改进后第一关系式为：

其中，

为实际最大测量误差，

为最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数。

仿真结果表明，取实际质心误差为最大质心误差的1/5是合理的，也即

。即标记点质心定位误差

本实施例中，关于所述第二关系式，具体根据距离平方倒数关系构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式，所述第二关系式为：

其中，

为荧光强度，

为油膜厚度，

为诱导光源到待测模型之间的距离。

S12：在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度。

本实施例中，在测量之初，需要在风洞实验中部署预设测量装置，其中，所述预设测量装置包括预设相机、诱导光源及所述待测模型。布设所述待测量模型后架设调整诱导光源、相机与模型的相对位姿关系。所述诱导光源以不大于45度的入射角向测量区域发射诱导荧光的光线。荧光标记点强度测量过程中，保证测量区域的光线入射角始终在45度以下，此时，光学系统相关的误差都可以看成是一种静态误差，在动态测量之前通过系统标定来进行误差抑制。

本实施例中，在确定及布设好实验条件之后，首先生成荧光标记点并精确测量荧光油膜厚度，也即在所述待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度。将荧光标记点放置在测量视场中心，精确测定相机、标记点、诱导光源之间的距离（由相机标定确定）。然后利用所述预设测量装置对所述荧光标记点的所述测量荧光强度进行测量。

本实施例中，通过分析发现模型位姿平移变化会引起测量误差，因此需要做种在此位姿变化下测量荧光强度。也即将所述待测模型的位姿进行平移变化，并对平移变化后的所述待测模型的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到所述测量荧光强度。可以理解，平行于模型表面任意位置上的紫外光辐照强度均匀的情况下，模型位姿变化带来的测量误差来自于油膜接收到的总辐照功率变化以及油膜对应像素接收到的总荧光强度变化。当模型位姿发生平移变化时，模型将靠近或远离LED光源，模型表面的紫外光辐照强度随之增大或减小，同时每个相机像素对应的薄膜微元面积会减小或增大，相机像素与薄膜微元的对应关系如图3所示，其中，

为成像物距，

为油膜微元相对于单个像素的半张角。油膜微元接收到的总辐照功率为：

式中，S为油膜微元的面积，其计算公式为：

将油膜体积微元近似为点源，则每个油膜微元对应像素接收到的荧光强度为：

得到

由上式可知相机接收到的荧光强度不受物距变量

的影响，但其受光源到模型的距离

及LED光源相对于光强峰值方向的张角

的影响。当模型靠近或远离LED光源时，若LED阵列摆放的距离相对于模型移动距离足够远，移动前后的LED对应于模型的张角

变化微小，其带来的误差及其微小，因此可以认为：

对上式求微分得到误差公式

根据公式可知，相机接收的总荧光强度变化率与光源到模型距离

的三次方成反比。

S13：基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。

本实施例中，一方面，基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数。所述预设最大测量误差为给定误差，也即基于荧光标记点的系统整体允许测量误差。为了求得预设最大误差系数，还需要确定所述待测模型的预设位置上的所述荧光标记点的区间半径，以便基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数。另一方面，基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数。为了求得所述标定后误差系数，还需要确定所述诱导光源到所述待测模型之间的距离，以便基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数。

本实施例中，将被测荧光标记点分别放置在对称视场中（比如θ=±10°或±20°，直到测量系统的最大视场），分别用同样的方式标定公式中的常数

，并记为所述标定后误差系数

，则与视场相关的误差被包含在常数

中。比较所有所述标定后误差系数

与预设最大误差系数

的大小关系。所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数表示在测量系统允许误差范围内。若任意

值大于

则表示测量结果将超出测量系统允许误差范围，此时重复上述测量步骤，直至达到系统允许误差测量范围。另外，在多荧光点测量阶段，将相机与被测模型中心调节到共线位置，每次测量都要精确测量荧光点、相机、诱导光源之间的距离，以及荧光点的视场。当测量强度与通过上式的标定参数估计结果之间的误差在容许范围内，则将两者的平均作为最终测量结果。

可见，本申请实施例先构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；然后在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；最后基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。本申请实施例通过分析构建相应的关系式，并在关系式作用下对由于模型位姿变化导致的诱导荧光误差进行标定及补偿，消除因模型位姿变化导致荧光光强变化引起的标记点测量误差，提高风洞测量准确度。

下面为本实施例基于具体的现场试验条件对荧光光强标定技术指标进行分析的示例。假设荧光标记点定位误差小于50微米，基本条件包括：

1）采用视觉测量相机：测量相机分辨率为2352×1728；

2）光源到模型表面的距离为2m，成像物距2.5m；

3）测量范围长5m×宽4.5m×高4.5m。

基于上述试验条件，以及在实际测量条件下作最大限度假设，当测量要求满视场（长5m×宽4.5m），采用分辨率最低的相机（分辨率2352×1728，采用高分辨相机定位精度比低分辨率相机的高），此时，在长宽两个方向上每个像素代表的真实距离分别为：

当要求为50微米精度时，则要求像素测量误差则为：

试验中，标记点像素面积通常为40-60个像素，即像素点直径约为6-8个像素。根据前述误差模型分析结果，则最大定位误差：

根据上述测量误差要求，则有

所以有

。

通过上述试验和理论分析，在不同位姿情况下，试验证明荧光光强标定的精度高于1.68%时，理论分析在2m光源，2.5m测量物距情况下最终标记点测量误差小于50微米。可以据此对荧光光强标定提出技术指标，标定精度应达到1.68%。能有效减小、消除因位姿导致的荧光光强变化引起的标记点测量误差，从而提高基于诱导荧光的测量技术的测量精度。在动态风洞实验中，使测量结果更加精确，从而更有效的检验模型气动特性，更好地应用于风洞试验测量研究。

参见图4所示，本申请实施例还相应公开了一种荧光标记点位误差修正装置，包括：

关系式构建模块11，用于构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

测量模块12，用于在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；

计算标定模块13，用于基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。

可见，本申请实施例先构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；然后在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；最后基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数。本申请实施例通过分析构建相应的关系式，并在关系式作用下对由于模型位姿变化导致的诱导荧光误差进行标定及补偿，消除因模型位姿变化导致荧光光强变化引起的标记点测量误差，提高风洞测量准确度。

在一些具体实施例中，所述关系式构建模块11，具体包括：

第一构建单元，用于基于灰度质心法构建最大测量误差与最大误差系数的所述第一关系式；

所述第一关系式为：

其中，

为最大测量误差，

为荧光光强对最大定位误差的最大误差系数，

为荧光标记点的区间半径；

第二构建单元，用于根据距离平方倒数关系构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

所述第二关系式为：

其中，

为荧光强度，

为油膜厚度，

为诱导光源到待测模型之间的距离。

在一些具体实施例中，所述荧光标记点位误差修正装置还包括：

部署模块，用于在风洞实验中部署预设测量装置，并利用所述预设测量装置对所述荧光标记点的所述测量荧光强度进行测量；其中，所述预设测量装置包括预设相机、诱导光源及所述待测模型；

改进模块，用于根据仿真经验值确定最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数，以利用所述对标系数对所述第一关系式进行改进，得到改进后所述第一关系式；

改进后第一关系式为：

其中，

为实际最大测量误差，

为最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数。

进一步的，本申请实施例还提供了一种电子设备。图5是根据一示例性实施例示出的电子设备20结构图，图中的内容不能认为是对本申请的使用范围的任何限制。

图5为本申请实施例提供的一种电子设备20的结构示意图。该电子设备20，具体可以包括：至少一个处理器21、至少一个存储器22、电源23、通信接口24、输入输出接口25和通信总线26。其中，所述存储器22用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器21加载并执行，以实现前述任一实施例公开的荧光标记点位误差修正方法中的相关步骤。

本实施例中，电源23用于为电子设备20上的各硬件设备提供工作电压；通信接口24能够为电子设备20创建与外界设备之间的数据传输通道，其所遵循的通信协议是能够适用于本申请技术方案的任意通信协议，在此不对其进行具体限定；输入输出接口25，用于获取外界输入数据或向外界输出数据，其具体的接口类型可以根据具体应用需要进行选取，在此不进行具体限定。

另外，存储器22作为资源存储的载体，可以是只读存储器、随机存储器、磁盘或者光盘等，其上所存储的资源可以包括操作系统221、计算机程序222及数据223等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。

其中，操作系统221用于管理与控制电子设备20上的各硬件设备以及计算机程序222，以实现处理器21对存储器22中海量数据223的运算与处理，其可以是Windows Server、Netware、Unix、Linux等。计算机程序222除了包括能够用于完成前述任一实施例公开的由电子设备20执行的荧光标记点位误差修正方法的计算机程序之外，还可以进一步包括能够用于完成其他特定工作的计算机程序。数据223可以包括电子设备20收集到的预设最大测量误差等数据。

进一步的，本申请实施例还公开了一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时，实现前述任一实施例公开的荧光标记点位误差修正方法步骤。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个…”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的荧光标记点位误差修正方法、装置、设备及存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (8)

1.一种荧光标记点位误差修正方法，其特征在于，包括：

构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；

基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数；

所述构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，包括：

基于灰度质心法构建最大测量误差与最大误差系数的所述第一关系式；

所述第一关系式为：

其中，

为最大测量误差，

为荧光光强对最大定位误差的最大误差系数，

为荧光标记点的区间半径；

相应的，所述荧光标记点位误差修正方法，还包括：

确定所述待测模型的预设位置上的所述荧光标记点的区间半径，以便基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数；

所述构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式，包括：

根据距离平方倒数关系构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

所述第二关系式为：

其中，

为荧光强度，

为油膜厚度，

为诱导光源到待测模型之间的距离；

相应的，所述荧光标记点位误差修正方法，还包括：

确定所述诱导光源到所述待测模型之间的距离，以便基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数。

2.根据权利要求1所述的荧光标记点位误差修正方法，其特征在于，还包括：

在风洞实验中部署预设测量装置，并利用所述预设测量装置对所述荧光标记点的所述测量荧光强度进行测量；其中，所述预设测量装置包括预设相机、诱导光源及所述待测模型。

3.根据权利要求2所述的荧光标记点位误差修正方法，其特征在于，所述诱导光源以不大于45度的入射角向测量区域发射诱导荧光的光线。

4.根据权利要求1所述的荧光标记点位误差修正方法，其特征在于，还包括：

根据仿真经验值确定最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数，以利用所述对标系数对所述第一关系式进行改进，得到改进后所述第一关系式；

改进后第一关系式为：

其中，

为实际最大测量误差，

为最大测量误差与实际最大测量误差之间的对标系数。

5.根据权利要求1至4任一项所述的荧光标记点位误差修正方法，其特征在于，所述对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度，包括：

将所述待测模型的位姿进行平移变化，并对平移变化后的所述待测模型的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到所述测量荧光强度。

6.一种荧光标记点位误差修正装置，其特征在于，包括：

关系式构建模块，用于构建反映最大测量误差与最大误差系数关系的第一关系式，并构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

测量模块，用于在待测模型的预设位置生成荧光标记点并对相应的油膜厚度进行测量得到测量油膜厚度，及对所述待测模型在会产生测量误差位姿下的所述荧光标记点的荧光强度进行测量得到测量荧光强度；

计算标定模块，用于基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数，并基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数；其中，所述标定后误差系数小于所述预设最大误差系数；

所述关系式构建模块，具体包括：

第一构建单元，用于基于灰度质心法构建最大测量误差与最大误差系数的所述第一关系式；

所述第一关系式为：

其中，

为最大测量误差，

为荧光光强对最大定位误差的最大误差系数，

为荧光标记点的区间半径；

相应的，所述荧光标记点位误差修正装置，还用于：

确定所述待测模型的预设位置上的所述荧光标记点的区间半径，以便基于所述第一关系式确定与预设最大测量误差对应的预设最大误差系数；

第二构建单元，用于根据距离平方倒数关系构建反映荧光强度、油膜厚度及误差系数关系的第二关系式；

所述第二关系式为：

其中，

为荧光强度，

为油膜厚度，

为诱导光源到待测模型之间的距离；

相应的，所述荧光标记点位误差修正装置，还用于：

确定所述诱导光源到所述待测模型之间的距离，以便基于所述第二关系式确定与所述测量油膜厚度、所述测量荧光强度对应的标定后误差系数。

7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器；其中所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1至5任一项所述的荧光标记点位误差修正方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器加载并执行时，实现如权利要求1至5任一项所述的荧光标记点位误差修正方法。

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