CN115188327A - 电压调节方法及装置 - Google Patents
电压调节方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115188327A CN115188327A CN202210649081.2A CN202210649081A CN115188327A CN 115188327 A CN115188327 A CN 115188327A CN 202210649081 A CN202210649081 A CN 202210649081A CN 115188327 A CN115188327 A CN 115188327A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pixel
- sub
- voltage
- abnormal
- pixels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/10—Dealing with defective pixels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
本申请公开了一种应用于显示面板的电压调节方法及装置,电压调节方法包括:首先获取目标面板中的子像素的像素信息,根据像素信息,确定目标面板中的异常子像素的位置信息,根据位置信息,对异常子像素的输入电压进行调节;本申请通过获取目标面板中的子像素的像素信息,根据像素信息确定异常子像素的位置信息,根据位置信息调节异常子像素的输入电压,输入电压决定异常子像素中的薄膜晶体管的栅极电压,从而使该异常子像素的栅极电压与源极电压的压差与阈值电压的大小满足一定关系,从而使子像素中的驱动晶体管不导通,进而异常子像素不发光,实现将异常子像素修复为暗点。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种电压调节方法及装置。
背景技术
OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)显示技术是一种新型显示技术,以其低功耗、高饱和度、快响应时间及宽视角等独特优势逐渐受到人们的关注,在面板显示技术领域占据一定地位。
由于制程原因,部分OLED器件的子像素异常,表现为该子像素的显示异常,如亮点或弱亮点,需要对其进行修复,将亮点或弱亮度修复为暗点以提升产品品质。现有的亮点或弱亮点的修复方案流程复杂、效率低,亟需简化显示面板的异常子像素的修复流程、提升修复效率。
发明内容
本申请提供一种电压调节方法及装置,以简化显示面板的异常子像素的修复流程、提升修复效率。
为解决上述方案,本申请提供的技术方案如下:
本申请提供一种电压调节方法,应用于显示面板,包括:
获取目标面板中的子像素的像素信息;
根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息;
根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节。
在本申请的电压调节方法中,所述获取目标面板中的子像素的像素信息的步骤包括:
启动所述子像素中的侦测电路,以获取所述子像素的侦测电压;
根据所述子像素的侦测电压,获取所述子像素中驱动晶体管的阈值电压。
在本申请的电压调节方法中,所述根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息的步骤包括:
获取所述子像素中驱动晶体管的基准电压;
当所述阈值电压和所述基准电压的交集为空集时,将所述阈值电压对应的子像素确定为所述异常子像素,以及获取所述异常子像素的位置信息。
在本申请的电压调节方法中,所述根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节的步骤包括:
获取预先设置的预置电压;
根据所述位置信息,将所述异常子像素的输入电压调节为所述预置电压。
在本申请的电压调节方法中,所述获取预先设置的预置电压的步骤包括:
获取所述驱动晶体管的类型;
根据所述驱动晶体管的类型和所述阈值电压,确定所述异常子像素的所述预置电压。
在本申请的电压调节方法中,所述获取目标面板中的子像素的像素信息的步骤包括:
获取预先设置的显示画面;
对所述目标面板的显示画面进行光学检测,确定所述目标面板的子像素的亮度。
在本申请的电压调节方法中,所述根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息的步骤包括:
获取预先设置的基准亮度;
当所述亮度大于所述基准亮度时,将所述亮度对应的子像素确定为异常子像素。
在本申请的电压调节方法中,所述根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节的步骤包括:
获取所述异常子像素中驱动晶体管的位置信息;
根据所述位置信息,将所述异常子像素的驱动晶体管中的源极、漏极或栅极走线中的至少一者断路。
本申请还提供一种电压调节装置,包括:
信息获取模块,用于获取目标面板中的子像素的像素信息;
子像素确定模块,用于根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息;
电压调节模块,用于对所述异常子像素的输入电压进行调节。
在本申请的电压调节装置中,所述信息获取模块还包括侦测电路单元,所述侦测电路单元用于获取所述子像素的侦测电压。
有益效果:本申请公开了一种应用于显示面板的电压调节方法及装置,电压调节方法包括:首先获取目标面板中的子像素的像素信息,根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息,根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节;本申请通过获取目标面板中的子像素的像素信息,根据像素信息确定异常子像素的位置信息,根据所述位置信息调节异常子像素的输入电压,所述输入电压决定异常子像素中的薄膜晶体管的栅极电压,从而使该异常子像素的栅极电压与源极电压的压差与阈值电压的大小满足一定关系,从而使所述子像素中的驱动晶体管不导通,进而异常子像素不发光,实现将异常子像素修复为暗点。
附图说明
下面结合附图,通过对本申请的具体实施方式详细描述,将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本申请的电压调节方法的流程图;
图2为本申请的3T1C像素架构的结构示意图;
图3为本申请的一种电压调节方法的示意图;
图4为本申请的电压调节装置结构简图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。此外,应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请,并不用于限制本申请。在本申请中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下,具体为附图中的图面方向;而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
由于制程原因,部分OLED器件的子像素异常,表现为该子像素的显示异常,如亮点或弱亮点,需要对其进行修复,将亮点或弱亮度修复为暗点以提升产品品质。现有的修复方案为通过镭射逐一将异常子像素的电路走线切断或打通,流程复杂、修复效率低,亟需简化显示面板的异常子像素的修复流程、提升修复效率。本申请基于上述技术问题提出了以下方案。
请参阅图1,本申请提供一种电压调节方法,应用于显示面板,包括:
S10,获取目标面板中的子像素的像素信息;
S20,根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息;
S30,根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节。
本申请通过获取目标面板中的子像素的像素信息,根据像素信息确定异常子像素的位置信息,根据所述位置信息调节异常子像素的输入电压,所述输入电压决定异常子像素中的薄膜晶体管的栅极电压,从而使该异常子像素的栅极电压与源极电压的压差与阈值电压的大小满足一定关系,从而使所述子像素中的驱动晶体管T1不导通,进而异常子像素不发光,实现将异常子像素修复为暗点。
在本实施例中,所述目标面板可以是OLED面板。
在本实施例中,所述子像素的像素架构可以为3T1C、4T1C,4T2C,5T1C、7T1C等。本申请中以3T1C像素架构为例,说明本申请的技术方案。请参阅图2,在3T1C像素架构中,该像素架构包括3个薄膜晶体管,分别是驱动晶体管T1、扫描晶体管T2、感测晶体管T3,还包括1个存储电容Cst。Data提供数据信号,Scan提供扫描信号,VDD提供电压信号。其中,所述驱动晶体管T1的源极分别连接电容Cst的一端、感测晶体管T3的源极和发光单元。发光单元可以为OLED发光器件,也可以为其他类型的发光器件,本申请不作限制。扫描晶体管T2的栅极连接扫描线Scan,漏极连接数据线Data,源极分别连接驱动晶体管T1的栅极和电容Cst的另一端。感测晶体管T3的栅极连接控制线RD,漏极连接侦测线Sense,源极分别连接电容的一端、驱动晶体管T1的源极和发光单元。在本申请的3T1C像素架构中,驱动晶体管T1控制发光单元是否发光。
在本申请的所有实施例中,所述阈值电压指的是驱动晶体管T1的开启电压(Vth)。所述输入电压是指由Data信号输入的电压。驱动晶体管T1的栅极的电位为Vg,驱动晶体管T1的源极的电位为Vs,驱动晶体管T1的栅极电压与源极电压的压差Vgs的值为Vg-Vs。需要说明的是,当驱动晶体管T1为NMOS时,驱动晶体管T1的特性是,当Vgs大于Vth时,驱动晶体管T1导通,此时电流可以从驱动晶体管T1的漏极流向源极。当Vgs小于Vth时,驱动晶体管T1截止,此时电流不能从驱动晶体管T1的漏极流向源极。在本申请的技术方案中,以T1为NMOS进行说明,此时,通过调节输入电压,使其偏小,可以使Vgs小于Vth,实现驱动晶体管T1的截止,进而电流不能流向发光单元,因此发光单元不发光,表现为暗点,以实现将亮度或弱亮点修复为暗点。
在本申请中的所有实施例中,以驱动晶体管T1为NMOS进行说明,需要指出的是驱动晶体管T1也可以设置为PMOS,如果驱动晶体管T1为PMOS,则其特性与NMOS相反,即当Vgs大于Vth时,驱动晶体管T1截止;当Vgs小于Vth时,驱动晶体管T1导通。可以根据实际需要设置驱动晶体管T1为NMOS或PMOS,并对应地调整输入电压的大小,使驱动晶体管T1截止,从而使所述发光单元不发光,实现将亮度、弱亮点修复为暗点。
在本实施例中,驱动晶体管T1的源极的电位为Vs可以根据Sense信号设置,例如,Vs的电压范围可以为0至1V。
在本实施例中,在所述获取目标面板中的子像素的像素信息的步骤中,所述像素信息可以包括子像素的电压值、亮度等。
在本实施例中,在根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息的步骤中,所述位置信息可以为异常子像素的坐标值。坐标值是指子像素的横坐标与纵坐标,由于显示面板由多个子像素阵列而成,根据横坐标与纵坐标可以定位到任一子像素。例如,横坐标为500,纵坐标为1000,可以定位到第500行、第1000列的一个子像素。
在本实施例中,在所述根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息的步骤中,所述异常子像素是指所述子像素的功能异常。例如,所述子像素的驱动电路中的薄膜晶体管异常,或驱动电路中的走线异常,包括短路、断路等。在本申请中,采用电压调节方法修复的异常子像素是指其中表现为亮点或弱亮点的一类,这类子像素由于像素功能异常,在显示任何画面时,无法显示预设的亮度,相较于标准亮度更亮,进而总是显示为亮点或弱亮点。
在本实施例中,在根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节的步骤中,调节的方式可以是减小或增大所述异常子像素的输入电压。当驱动晶体管T1为NMOS时,调节的方式是减小所述异常子像素的输入电压;当驱动晶体管T1为PMOS时,调节的方式是增大所述异常子像素的输入电压。其中,调节电压的方式可以为将异常子像素的输入电压设置为固定值,也可以为对异常子像素的像素架构中的走线进行断路处理,使异常子像素中的发光单元中没有电流通过。
现结合具体实施例对本申请的技术方案进行描述。
在本申请的电压调节方法中,步骤S10可以包括:
S101,启动所述子像素中的侦测电路,以获取所述子像素的侦测电压;
S102,根据所述子像素的侦测电压,获取所述子像素中驱动晶体管T1的阈值电压。
在本实施例中,子像素的像素信息可以是所述子像素中的驱动晶体管T1的阈值电压Vth。
在本实施例中,所述侦测电路可以是设置于所述目标面板内部的电路,也可以是设置于目标面板外部的电路。所述获取目标面板中的子像素中的驱动晶体管T1的阈值电压Vth的方式可以通过3T1C像素架构及侦测电路实现。侦测电路连接于感测晶体管T3的漏极一端,侦测电路通过Sense信号线进行电压侦测。侦测电路可以包括第一开关和第二开关,所述第一开关的一端与感测晶体管T3的漏极连接,所述第二开关的一端也与感测晶体管T3的的漏极连接,所述第一开关的另一端与电压信号线连接,所述第二开关的另一端与控制信号连接。所述控制信号用于提供一个侦测脉冲,获取当Vgs下降至与Vth相等时,子像素中驱动晶体管T1的源极的电压Vs’。
在本实施例中,启动所述子像素中的侦测电路,以获取所述子像素的侦测电压的步骤包括:请参阅图2,首先,扫描信号Scan和决定信号RD输入一个高电位,扫描晶体管T2、感测晶体管T3导通,数据信号从Data数据线写入到驱动晶体管T1的栅极Vg,Sense信号写入到驱动晶体管T1的源极Vs,其中,驱动晶体管T1的栅极与源极的压差Vgs大于驱动晶体管T1的阈值电压Vth。断开侦测电路的第一开关,随着电压信号VDD写入,Vs的电位升高,Vgs减小,当Vgs下降至与Vth相等时,得到此时子像素中的驱动晶体管T1的源极电压,也就是侦测电压Vs’。
在本实施例中,根据所述子像素的侦测电压,获取所述子像素中驱动晶体管T1的阈值电压的步骤包括:得到侦测电压Vs’,通过计算可以得到所述子像素中驱动晶体管T1的阈值电压Vth=Vg-Vs’。
本实施例通过子像素的侦测电路获得对应子像素的侦测电压,进而根据所述侦测电压获得对应子像素的阈值电压。
在本申请的电压调节方法中,步骤S20可以包括:
S201,获取所述子像素中驱动晶体管T1的基准电压;
S202,当所述阈值电压和所述基准电压的交集为空集时,将所述阈值电压对应的子像素确定为所述异常子像素,以及获取所述异常子像素的位置信息。
在本实施例中,所述基准电压可以设置为一个数值区间,将所述阈值电压Vth和所述基准电压进行比较,当阈值电压Vth与基准电压的交集为空集时,即阈值电压Vth不在基准电压的范围内时,则阈值电压Vth对应的子像素为异常子像素。例如,所述基准电压的范围为-0.4V至1.2V,当所述阈值电压Vth为1.5V时,则所述阈值电压Vth不在所述基准电压的范围内,所述阈值电压Vth对应的子像素为异常子像素。
在本实施例中,获取所有的子像素的阈值电压Vth,并将阈值电压Vth与基准电压进行比较,从而确定对应的子像素为异常子像素,同时确定目标面板中的所有异常子像素的位置信息。将该位置信息对应的子像素确定为异常子像素。该位置信息可以为目标面板的子像素的坐标值。
在本实施例中,所述基准电压的范围可以根据产品规格进行调整,本申请对此不作限制。
本实施例通过将子像素的阈值电压与基准电压作比较,当所述阈值电压和所述基准电压的交集为空集时,可以确定该阈值电压对应的子像素为异常子像素,同时获得所述异常子像素的位置信息。
在本申请的电压调节方法中,步骤S30可以包括:
S301,获取预先设置的预置电压;
S302,根据所述位置信息,将所述异常子像素的输入电压调节为所述预置电压。
在本实施例中,所述预置电压为预先设置并写入到显示面板中的,所述预置电压可以根据显示面板的产品规格进行设置。例如,当所述显示面板正常工作时的输入电压的范围为0-8V时,所述预置电压可以为-1V。其中,驱动晶体管T1的源极的电位为Vs,Vs的范围可以为0至1V。例如,当所述预置电压为-1V,Vs为0V,则驱动晶体管T1的Vgs为-1V。由于-1V小于驱动晶体管T1的阈值电压Vth的基准电压的最小值-0.4V,则驱动晶体管T1截止,发光单元不发光。本实施例通过将预置电压设置为比正常的输入电压偏小的值,从而满足驱动晶体管T1的Vgs小于Vth,从而实现驱动晶体管T1截止,发光器件不发光。需要指出的是,本实施例中驱动晶体管T1为NMOS,当驱动晶体管T1为PMOS时,需要满足驱动晶体管T1的Vgs大于Vth,从而实现驱动晶体管T1的截止。
本实施例通过将所述异常子像素的输入电压调节为所述预置电压,使所述驱动晶体管T1的Vgs小于所述驱动晶体管T1的Vth,从而所述驱动晶体管T1截止,所述发光单元不发光。通过使所述发光单元不发光,从而实现将亮点或弱亮点等不良子子像素转换为暗点,实现对异常子像素的修复。
在本申请的电压调节方法中,步骤S301可以包括:
S3011,获取所述驱动晶体管T1的类型;
S3012,根据所述驱动晶体管T1的类型和所述阈值电压,确定所述异常子像素的所述预置电压。
在本实施例中,所述驱动晶体管T1的类型包括NMOS、PMOS。当所述驱动晶体管T1为NMOS时,所述预置电压与驱动晶体管T1的源极的电压的压差Vgs要满足小于Vth,从而实现驱动晶体管T1截止,发光器件不发光。当驱动晶体管T1为PMOS时,所述预置电压与驱动晶体管T1的源极的电压的压差Vgs要满足大于Vth,从而实现驱动晶体管T1的截止。
本实施例通过根据驱动晶体管T1的类型和阈值电压,从而确定所述异常子像素的预置电压。所述预置电压通过Data信号线输入至驱动晶体管T1的栅极,当所述预置电压与所述驱动晶体管T1的源极电压的压差与Vth的大小满足一定关系时,可以实现驱动晶体管T1的截止,从而使所述发光器件不发光,从而将亮点或弱亮点修复为暗点。
在本申请的电压调节方法中,所述确定所述异常子像素的所述预置电压之后的步骤还包括:将所述预置电压写入所述目标面板。
在本实施例中,将所述预置电压写入目标面板中,在任意一帧显示画面,所述异常子像素的Data输入信号为该预置电压,从而实现驱动晶体管T1的截止,发光单元不发光,从而实现将亮点或弱亮点修复为暗点。
本实施例通过将异常子像素的预置电压写入目标面板,在目标面板进行显示时,所述预置电压作为异常子像素的输入电压,从而使该子像素的驱动晶体管T1截止,从而实现将亮点或弱亮点修复为暗点。
在本申请的电压调节方法中,步骤S10可以包括:
S401,获取预先设置的显示画面;
S402,对所述目标面板的显示画面进行光学检测,确定所述目标面板的子像素的亮度。
在本实施例中,预先设置的显示画面可以为具有统一灰阶的画面,包括黑画面、红画面、绿画面、蓝画面等常规检测画面。
在本实施例中,对所述目标面板的画面进行光学检测的方法可以为采用光学设备检测,所述光学设备包括API(Auto Panel Inspection,自动光学检测设备)等。光学检测设备广泛应用于显示面板领域,光学检测设备可以根据目标面板的显示画面获得子像素的亮度。
在本申请的电压调节方法中,步骤S20可以包括:
S501,获取预先设置的基准亮度;
S502,当所述亮度大于所述基准亮度时,将所述亮度对应的子像素确定为异常子像素。
在本实施例中,预先设置的基准亮度可以是显示画面中各点的实测亮度的平均值,也可以是预先设置的一个基准值。例如,如果显示画面为黑画面,则预先设置的基准值的亮度可以为黑画面的正常亮度。
在本实施例中,当所述亮度大于所述基准亮度时,则将所述亮度对应的子像素确定为异常子像素。具体地,可以将目标面板的子像素的亮度与基准亮度进行比较,并设置一个判定标准,不满足该判定标准的则该亮度对应的子像素为异常子像素。例如,当子像素的亮度超出基准亮度值30%时,则所述子像素为异常子像素。其中,判定标准可以根据需要进行调整。
本实施例通过将亮度与预先设置的基准亮度进行比较,当所述亮度大于所述基准亮度时,将该亮度对应的子像素确定为异常子像素。
在本申请的电压调节方法中,步骤S30可以包括:
S601,获取所述异常子像素中驱动晶体管T1的位置信息;
S602,根据所述位置信息,将所述异常子像素的驱动晶体管T1中的源极、漏极或栅极走线中的至少一者断路。
在本实施例中,通过API设备获得异常子像素后,可以由API设备给出所述异常子像素的位置信息。该位置信息包括所述异常子像素的坐标值,根据坐标值,可以对坐标值对应的子像素进行修复。
在本实施例中,请参阅图3,可以采用镭射方法将异常子像素中连接发光单元的走线通路断路。图中X代表断路位置。具体地,可以切断驱动晶体管T1的源极、漏极或者栅极走线中的至少一者,使其断路,进而使所述发光器件的电流通路断路,从而使所述发光器件不发光,将亮点或弱亮点修复为暗点。异常子像素的驱动晶体管T1的断路位置可以根据目标面板的像素架构的实际布局进行选择,只要保证能够使发光器件的电流通路断路即可,本申请对此不作限制。
在本实施例中,请参阅图3,在将异常子像素的驱动晶体管T1中的源极、漏极或栅极走线中的至少一者断路的基础上,还可以将感测晶体管T3的漏极断路,即将感测晶体管T3的漏极与Sense走线连接处断路,以进一步减少所述异常子像素对其他子像素的侦测电路造成干扰。
在本实施例中,在获取所述异常子像素中驱动晶体管T1的位置信息后,可以根据所述位置信息,将所述异常子像素的输入电压调节为所述预置电压。例如,当异常子像素的驱动晶体管T1为NMOS时,通过将预置电压设置为比正常的输入电压偏小的值,从而满足驱动晶体管T1的Vgs小于Vth,从而实现驱动晶体管T1截止,发光器件不发光,实现将亮点或弱亮点修复为暗点。当异常子像素的驱动晶体管T1为PMOS时,通过将预置电压设置为比正常的输入电压偏大的值,从而满足驱动晶体管T1的Vgs大于Vth,从而实现驱动晶体管T1截止,发光器件不发光,实现将亮点或弱亮点修复为暗点。
本实施例通过采用电压调节方法将异常子像素的输入电压设置为预置电压或者采用镭射方法将异常子像素的驱动晶体管T1的通路断路,从而实现电流无法流向发光单元,发光单元不发光,实现将亮点或弱亮点修复为暗点。
本申请还提供一种电压调节装置100,包括:信息获取模块10,用于获取目标面板中的子像素的像素信息;子像素确定模块20,用于根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息;电压调节模块30,用于对所述异常子像素的输入电压进行调节。
在本实施例中,信息获取模块10用于获取目标面板中的子像素的像素信息,并将所述像素信息传递给子像素确定模块20;子像素确定模块20接收到所述像素信息后,根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息,并将所述位置信息传递给电压调节模块30;所述电压调节模块30接收到所述位置信息后,根据所述位置信息,对所述位置的异常子像素的电压进行调节。
在本实施例中,所述电压调节装置100还包括存储单元,所述存储单元设置于所述目标面板中,所述存储单元可以用于存储像素信息、位置信息、预置电压等。
在本实施例中,所述电压调节装置100可以设置于显示面板内,也可以单独设置。当所述电压调节装置100设置于显示面板内时,显示面板可以实现将亮点或弱亮点修复为暗点的功能。当所述电压调节装置100单独设置时,可以作为检测及修复治具使用。
在本申请的电压调节装置100中,所述信息获取模块10还包括侦测电路单元和阈值电压获取单元;所述侦测电路单元用于启动所述子像素中的侦测电路,以获取所述子像素的侦测电压;所述阈值电压获取单元用于根据所述子像素的侦测电压,获取所述子像素中驱动晶体管的阈值电压。
在本实施例中,所述侦测电路可以是设置于所述目标面板内部的电路,也可以是设置于目标面板外部的电路。所述获取目标面板中的子像素中的驱动晶体管T1的阈值电压Vth的方式可以通过3T1C像素架构及侦测电路实现。侦测电路连接于感测晶体管T3的漏极一端,侦测电路通过Sense信号线进行电压侦测。侦测电路可以包括第一开关和第二开关,所述第一开关的一端与感测晶体管T3的漏极连接,所述第二开关的一端也与感测晶体管T3的的漏极连接,所述第一开关的另一端与电压信号线连接,所述第二开关的另一端与控制信号连接,所述控制信号用于提供一个侦测脉冲。
所述电压调节装置100还用于获取所述子像素中驱动晶体管的基准电压;当所述阈值电压和所述基准电压的交集为空集时,将所述阈值电压对应的子像素确定为所述异常子像素,以及获取所述异常子像素的位置信息。
所述电压调节装置100还用于获取预先设置的预置电压;根据所述位置信息,将所述异常子像素的输入电压调节为所述预置电压。
所述电压调节装置100还用于获取所述驱动晶体管的类型;根据所述驱动晶体管的类型和所述阈值电压,确定所述异常子像素的所述预置电压。
所述电压调节装置100还用于获取预先设置的显示画面;对所述目标面板的显示画面进行光学检测,确定所述目标面板的子像素的亮度。
所述电压调节装置100还用于获取预先设置的基准亮度;当所述亮度大于所述基准亮度时,将所述亮度对应的子像素确定为异常子像素。
所述电压调节装置100还用于获取所述异常子像素中驱动晶体管的位置信息;根据所述位置信息,将所述异常子像素的驱动晶体管中的源极、漏极或栅极走线中的至少一者断路。
本申请还提供一种移动终端,包括目标面板和上述的电压调节装置,所述目标面板和所述电压调节装置组合为一体。
在本实施例中,所述终端可以为:手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
本申请公开了一种应用于显示面板的电压调节方法及装置,电压调节方法包括:首先获取目标面板中的子像素的像素信息,根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息,根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节;本申请通过获取目标面板中的子像素的像素信息,根据像素信息确定异常子像素的位置信息,根据所述位置信息调节异常子像素的输入电压,所述输入电压决定异常子像素中的薄膜晶体管的栅极电压,从而使该异常子像素的栅极电压与源极电压的压差与阈值电压的大小满足一定关系,从而使所述子像素中的驱动晶体管不导通,进而异常子像素不发光,实现将异常子像素修复为暗点。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例所提供的一种显示面板及移动终端进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想;本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种电压调节方法,应用于显示面板,其特征在于,包括:
获取目标面板中的子像素的像素信息;
根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息;
根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节。
2.根据权利要求1所述的电压调节方法,其特征在于,所述获取目标面板中的子像素的像素信息的步骤包括:
启动所述子像素中的侦测电路,以获取所述子像素的侦测电压;
根据所述子像素的侦测电压,获取所述子像素中驱动晶体管的阈值电压。
3.根据权利要求2所述的电压调节方法,其特征在于,所述根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息的步骤包括:
获取所述子像素中驱动晶体管的基准电压;
当所述阈值电压和所述基准电压的交集为空集时,将所述阈值电压对应的子像素确定为所述异常子像素,以及获取所述异常子像素的位置信息。
4.根据权利要求3所述的电压调节方法,其特征在于,所述根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节的步骤包括:
获取预先设置的预置电压;
根据所述位置信息,将所述异常子像素的输入电压调节为所述预置电压。
5.根据权利要求4所述的电压调节方法,其特征在于,所述获取预先设置的预置电压的步骤包括:
获取所述驱动晶体管的类型;
根据所述驱动晶体管的类型和所述阈值电压,确定所述异常子像素的所述预置电压。
6.根据权利要求1所述的电压调节方法,其特征在于,所述获取目标面板中的子像素的像素信息的步骤包括:
获取预先设置的显示画面;
对所述目标面板的显示画面进行光学检测,确定所述目标面板的子像素的亮度。
7.根据权利要求6所述的电压调节方法,其特征在于,所述根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息的步骤包括:
获取预先设置的基准亮度;
当所述亮度大于所述基准亮度时,将所述亮度对应的子像素确定为异常子像素。
8.根据权利要求7所述的电压调节方法,其特征在于,所述根据所述位置信息,对所述异常子像素的输入电压进行调节的步骤包括:
获取所述异常子像素中驱动晶体管的位置信息;
根据所述位置信息,将所述异常子像素的驱动晶体管中的源极、漏极或栅极走线中的至少一者断路。
9.一种电压调节装置,其特征在于,包括:
信息获取模块,用于获取目标面板中的子像素的像素信息;
子像素确定模块,用于根据所述像素信息,确定所述目标面板中的异常子像素的位置信息;
电压调节模块,用于对所述异常子像素的输入电压进行调节。
10.根据权利要求9所述的电压调节装置,其特征在于,所述信息获取模块还包括侦测电路单元和阈值电压获取单元;
所述侦测电路单元用于启动所述子像素中的侦测电路,以获取所述子像素的侦测电压;
所述阈值电压获取单元用于根据所述子像素的侦测电压,获取所述子像素中驱动晶体管的阈值电压。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210649081.2A CN115188327A (zh) | 2022-06-09 | 2022-06-09 | 电压调节方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210649081.2A CN115188327A (zh) | 2022-06-09 | 2022-06-09 | 电压调节方法及装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115188327A true CN115188327A (zh) | 2022-10-14 |
Family
ID=83513040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210649081.2A Pending CN115188327A (zh) | 2022-06-09 | 2022-06-09 | 电压调节方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115188327A (zh) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107221287A (zh) * | 2017-07-31 | 2017-09-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及其像素修复装置、像素修复方法和显示器 |
CN107633810A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 像素电路补偿方法及装置、显示面板和显示装置 |
CN114038428A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-02-11 | 惠州华星光电显示有限公司 | 显示面板的补偿方法及补偿装置 |
CN114120908A (zh) * | 2021-12-07 | 2022-03-01 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板及其像素修复装置和像素修复方法 |
-
2022
- 2022-06-09 CN CN202210649081.2A patent/CN115188327A/zh active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107221287A (zh) * | 2017-07-31 | 2017-09-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及其像素修复装置、像素修复方法和显示器 |
CN107633810A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 像素电路补偿方法及装置、显示面板和显示装置 |
CN114038428A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-02-11 | 惠州华星光电显示有限公司 | 显示面板的补偿方法及补偿装置 |
CN114120908A (zh) * | 2021-12-07 | 2022-03-01 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板及其像素修复装置和像素修复方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110599957B (zh) | 用于显示面板的伽马调试装置、伽马调试方法及显示方法 | |
CN107799063B (zh) | 有机发光显示装置及其驱动方法 | |
EP3185237B1 (en) | Pixel circuit, organic electroluminescent display panel and display apparatus | |
US7274345B2 (en) | Electro-optical device and driving device thereof | |
US8063857B2 (en) | Image display apparatus | |
CN101123066B (zh) | 显示器系统以及消除显示器亮度不均的方法 | |
EP3038079A2 (en) | Over-current control device and organic light emitting display device adpoting the same | |
US10861388B2 (en) | Display panel and driving method thereof, display device | |
US20090146928A1 (en) | Organic Electroluminescence Display Device | |
US11626072B2 (en) | Display device and driving method thereof | |
US11450265B2 (en) | Display device and driving method of the same | |
CN102087829B (zh) | 显示器件、驱动显示器件的方法和电子装置 | |
CN114038428A (zh) | 显示面板的补偿方法及补偿装置 | |
CN101968947A (zh) | 显示器系统及其消除显示器亮度不均匀的方法 | |
US8378941B2 (en) | Liquid crystal display device and method of driving the same | |
US11289017B2 (en) | Pixel circuit and related driving method, and display panel | |
US20230343843A1 (en) | Display Device and Display Driving Method | |
KR20170062575A (ko) | 유기발광 표시장치 및 그 보상 방법 | |
CN112885303A (zh) | 画质优化方法和画质优化模组 | |
US20230057700A1 (en) | Display device and display driving method | |
CN115188327A (zh) | 电压调节方法及装置 | |
KR20180074956A (ko) | 패널구동장치 및 패널구동방법 | |
KR20220093927A (ko) | 표시 장치 및 표시 장치의 제어 방법 | |
US12008931B2 (en) | Compensation method and compensation device of display panel | |
US11315455B1 (en) | Display panel, method for detecting stress-detection-miss thereof, and display device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |