CN115184786B - 断路器的双金属片的调节测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种断路器的双金属片的调节测试方法及装置。该方法包括：步骤S102：在断路器处于合闸状态下，对断路器的双金属片通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构对断路器的双金属片支架进行调节，以使双金属片从初始位置A转动设定角度；步骤S104：在检测到断路器的双金属片移动的脱扣位置B时，确定双金属片开始通入检测电流到双金属片到达脱扣位置B的脱扣时长；步骤S106：若脱扣时长处于合格时长范围内，则确定断路器合格。该方法效率更高。

Description

断路器的双金属片的调节测试方法及装置

技术领域

本申请涉及低压电器技术领域，尤其涉及一种断路器的双金属片的调节测试方法及装置。

背景技术

在微型断路器大批量工业化生产中，为了达到产品标准规定的延时保护特性要求，即“从冷态开始，对所有极通以等于1.13In(约定不脱扣电流)的电流至约定时间，断路器不应脱扣，然后在5s内把电流稳定地升至1.45In(约定脱扣电流)，断路器应在约定时间内脱扣”，需要对生产的微型断路器进行检测，现有的检测过程通常为“热调试-冷却-热测试”方式。

针对“热调试-冷却-热测试”方式，其调整测试方式大体为：采用等效电流大于1.45In 的电流(如2.55In，3In，4In等)来验证断路器脱扣的等效时间，这一过程一般为在等效电流下进行热调试，即在断路器处于合闸时，对断路器导通等效电流使断路器的双金属片从冷态时的初始位置A通电发热产生弯曲，同时通过调节双金属支架上的调节装置使双金属片发生偏转，从而在规定时间内使双金属片到达脱扣位置A2带动脱扣杆使断路器脱扣，这一工序俗称热调试。然后冷却断路器直至双金属片达到冷态，此时双金属片回到冷态的预定位置 A1，这一工序俗称冷却。然后再次使断路器合闸并通过等效电流进行热测试，检查双金属是否在规定时间内弯曲至脱扣位置A2带动断路器脱扣，这一工序俗称热测。

通过这种方式的生产效率较低，需要在热调试完成后将双金属片完全冷却后才能进行下一步的热测试，而双金属片完全冷却的时间至少需要1～2小时，这极大地影响了测试效率。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种断路器的双金属片的调节测试方法及装置，以解决断路器测试效率低的问题。

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种断路器的双金属片的调节测试方法包括：步骤S102：在断路器处于合闸状态下，对断路器的双金属片通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构对断路器的双金属片支架进行调节，以使双金属片从初始位置A转动设定角度；步骤S104：在检测到断路器的双金属片移动的脱扣位置B时，确定双金属片开始通入检测电流到双金属片到达脱扣位置B的脱扣时长；步骤S106：若脱扣时长处于合格时长范围内，则确定断路器合格。

根据本申请实施例的第二方面，提供了一种断路器的双金属片的调节测试装置，装置用于对断路器中的双金属片进行调节和测试，装置包括：安装架，安装架上设置有用于容纳断路器的测试工位；调节机构，调节机构可伸缩地设置在安装架上，并用于旋拧断路器中的双金属片支架，以调节断路器的双金属片从初始位置A转动设定角度；电极夹紧机构，电极夹紧机构设置在安装架上，且电极夹紧机构包括与断路器的接线端子连接的电极；控制器，控制器分别与调节机构和电极夹紧机构连接，其中，控制器包括：通电和调节模块，用于在断路器处于合闸状态下，对断路器的双金属片通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构对断路器的双金属片支架进行调节，以使双金属片从初始位置A转动设定角度；检测模块，用于在检测到断路器的双金属片移动的脱扣位置B时，确定双金属片开始通入检测电流到双金属片到达脱扣位置B的脱扣时长；判断模块，用于若脱扣时长处于合格时长范围内，则确定断路器合格。

由上述技术方案可知，将对断路器的双金属片通入热测试时用的检测电流(通常检测电流大于脱扣电流，例如为2.55In，3In，4In等)和对双金属片的位置进行调节同时进行，从而实现热调测一体，这样可以将双金属片的调整和测试一步实现，简化了双金属片的调节和测试过程，提升了调节和测试效率，在确定双金属片形变到脱扣位置B，使得断路器脱扣后，以开始通入检测电流的时刻到脱扣的时刻之间的时长作为脱扣时长，若脱扣时长处于合格时长范围(如30秒到40秒)内，则表示双金属片调节的位置适当，断路器合格。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种断路器的内部结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种断路器的双金属片的调节测试装置的第一视角的立体结构示意图；

图3是本申请实施例提供的一种断路器的双金属片的调节测试装置的定位机构的检测组件处的局部放大图；

图4是本申请实施例提供的一种断路器的双金属片的调节测试装置的第二视角的立体结构示意图；

图5是本申请实施例提供的一种断路器的双金属片的调节测试装置的剖视结构示意图；

图6是本申请实施例提供的一种断路器的双金属片的调节测试方法的步骤示意图；

图7是本申请实施例提供的一种双金属片处于不同位置的示意图；

图8是图7中双金属片端部的局部放大示意图；

图9是本申请实施例提供的另一种断路器的双金属片的调节测试方法的步骤示意图；

图10是本申请实施例提供的一种断路器和双金属片支架检测件配合的立体结构示意图；

图11是图10中双金属片支架检测件处的局部放大图；

图12是本申请实施例提供的一种双金属片支架检测件的第一视角的立体结构示意图；

图13是本申请实施例提供的一种双金属片支架检测件的第二视角的立体结构示意图；

图14是本申请实施例提供的断路器的双金属片的调节测试方法的步骤S102的子步骤示意图。

附图标记列表：

10、断路器；11、双金属片；12、双金属片支架；121、旋拧端部；13、合闸手柄；14、接线端子；21、调节机构；211、旋转电机；212、旋转头；22、电极夹紧机构；221、电极气缸；222、电极夹紧件；23、定位机构；231、定位气缸；232、检测组件；2321、第一微动开关；2322、第二微动开关；2323、检测电路板；24、双金属片支架检测件；241、检测主体； 242、检测卡扣；243、检测凹槽；25、安装架；A、初始位置；A1、上限目标位置；A2、下限目标位置；A3、目标位置；B、脱扣位置；C、冷却位置。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在对本申请的装置和方法进行详细说明之前，首先对断路器进行简略说明如下：

如图1所示，断路器包括壳体、双金属片11、双金属片支架12和接线端子14等。双金属片11是一种复合金属材料，通常由两层或两层以上具有不同温度线膨胀系数的金属或合金材料结合而成，可以随温度变化而产生不同弯曲变形。双金属片11可以作为热脱扣特性的执行元件，在断路器过载时驱动断路器的操作机构的脱扣单元以使断路器分闸，起到过载保护的作用。为了保证断路器的双金属片11在脱扣电流的作用下能够在合格时长范围内触碰脱扣单元脱扣，需要将双金属片11调节到合适的位置(该位置可能不同于装配时的初始位置A)。为了调节双金属片11，在断路器内设置有双金属片支架12。

双金属片支架12具有旋拧端部121，通过旋拧该旋拧端部121可以使双金属支架12变形，进而带动双金属片11转动，从而调节双金属片11到达目标位置。断路器的接线端子14用于与外部接线连接，在进行测试时也可以用于与断路器的双金属片的调节测试装置连接。

由于不同的断路器10的双金属片11的初始位置A、通入电流时的弯曲特性等不同，导致需要对双金属片11进行调节和测试，以保证双金属片11的目标位置合适，为了实现调节和测试，且保证有较高的调节和测试效率，本申请实施例提供一种断路器的双金属片的调节测试装置，该装置包括安装架25、调节机构21、电极夹紧机构22和控制器。

其中，安装架25上设置有用于容纳断路器10的测试工位，安装架25可以是任何适当的结构，只要能够承载断路器10和其他零部件即可。

调节机构21可伸缩地设置在安装架25上，并用于旋拧断路器10中的双金属片支架12，以调节断路器10的双金属片11从初始位置A转动设定角度。

如图2所示，调节机构21包括旋转电机211和旋转头212，其中，旋转电机211设置在安装架25上，旋转头212与旋转电机211的输出轴连接，在输出轴的带动下可以转动。在断路器10进入测试工位后，旋转头212可以伸入断路器10内，且与断路器10的旋拧螺钉配合，通过旋转头212转动带动旋拧螺钉转动，进而使双金属片支架12变形，而带动双金属片11 转动，从而移动到合适的热调测位置A3。

电极夹紧机构22设置在安装架25上，且电极夹紧机构22包括与断路器10的接线端子 14连接的电极。电极夹紧机构22用于与接线端子14连接，从而对断路器10通电，实现对断路器10进行测试。

电极夹紧机构22包括电极气缸221、电极夹紧件222等。如图2-图5所示，断路器10位于测试工位时，其处于两个电极夹紧件222之间，电极夹紧件222上设置有电极，电极气缸221设置在安装架25上，且其移动端与一个电极夹紧件222连接，通过电极气缸221的伸缩使电机夹紧件222转动，进而使电极夹紧件222的电极伸入断路器10的接线端子14内，以方便为断路器10供电。

如图3所示，该双金属片的调节测试装置包括定位机构23，相应地，在断路器10上设置有检测孔，定位机构23包括定位气缸231和检测组件232，检测组件232设置在定位气缸231的移动端上，通过定位气缸231的伸缩将断路器10顶紧在测试工位，同时检测组件232通过检测孔伸入断路器10内，对双金属片11的位置进行检测。

检测组件232包括第一微动开关2321、第二微动开关2322和检测电路板2323，检测电路板2323设置在定位气缸231的移动端，第一微动开关2321和第二微动开关2322与检测电路板2323连接，且在双金属片11转动设定角度时，第一微动开关2321被触发，第二微动开关2322未被触发。这样可以对双金属片11是否调节到位进行准确检测。

当然，在其他实施例中，可以单纯根据调节机构的旋转电机的旋转次数计算出双金属片 11的转动角度。或者，也可以视觉检测的高清摄像头和微动开关配合进行位置检测，微动开关实时检测双金属片11的大致位置，视觉检测高清摄像头通过微型断路器外壳上的视察窗或类似结构来实时精确检测双金属片11位置。

下面结合此种结构的断路器的双金属片的调节测试装置，对调节测试方法进行说明。

如图6所示，该方法包括以下步骤：

步骤S102：在断路器10处于合闸状态下，对断路器10的双金属片11通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构21对断路器10的双金属片支架12进行调节，以使双金属片11从初始位置A转动设定角度；

步骤S104：在检测到断路器10的双金属片11移动的脱扣位置B时，确定双金属片11开始通入检测电流到双金属片11到达脱扣位置B的脱扣时长；

步骤S106：若脱扣时长处于合格时长范围内，则确定断路器10合格。

该方法中，将对断路器10的双金属片11通入热测试时用的检测电流(通常检测电流大于脱扣电流，例如为2.55In，3In，4In等)和对双金属片11的位置进行调节同时进行，从而实现热调测一体，这样可以将双金属片11的调整和测试一步实现，简化了双金属片11的调节和测试过程，提升了调节和测试效率，在确定双金属片11形变到脱扣位置B，使得断路器 10脱扣后，以开始通入检测电流的时刻到脱扣的时刻之间的时长作为脱扣时长，若脱扣时长处于合格时长范围(如30秒到40秒)内，则表示双金属片11调节的位置适当，断路器10合格。

其中，设定角度可以根据断路器10的结构、双金属片11的材质和电流特性等确定，在一种可行方式中，如图6所示，为了保证热调测的效率，同时保证断路器10的合格率，本实施例中可以通过步骤S100a～步骤S100c的方式确定设定角度。

步骤S100a：调节断路器10到初始位置A和脱扣位置B之间的多个不同目标位置，并采集各目标位置的脱扣时长和检测电流的对应关系。

如图7和图8所示，双金属片11处于冷态(即未通入电流，双金属片11未发生形变)，且未进行热调节时处于初始位置A，在进行热调节时，将双金属片11旋转设定角度，此时其处于热调测位置A3。由于不同的断路器10的初始位置A可能不同，因此其旋转后的热调测位置A3也可能不同。双金属片11处于热调测位置A3后，随着检测电流的作用，其会形变到脱扣位置B，从而触发断路器10脱扣。当停止通电，双金属片11冷却后，双金属片11回复到冷却位置C。

为了获得准确的设定角度，使得双金属片11能够被调整到满足要求的热调测位置A3，可以是通过反复试验确保断路器测试合格的双金属片在通电状态下的目标位置，如：在断路器闭合状态下通过大于1.45In的检测电流(如2.55In，3In，4In等)的同时，通过调节机构21的旋转电机211(其可以为伺服电机，故下面以伺服电机为例进行说明)来拧进断路器(例如为微型断路器)上的调节螺钉或类似结构使双金属片11初始位置A移动到脱扣位置B，通过采集尽量多的断路器10的双金属片11在初始位置A和脱扣位置B的不同位置点相关的脱扣时间与电流特性，该相关的脱扣时间与电流特性即为脱扣时长和检测电流的对应关系。

例如，对应关系可以是：位置点1相对初始位置A的偏转角度为5°，在检测电流为2.55In 时，脱扣时长为N1秒。

步骤S100b：根据对应关系，确定检测电流为脱扣电流时，脱扣时长与合格时长范围的上限匹配的上限目标位置A1、以及脱扣时长与合格时长范围的下限匹配的下限目标位置A2。

通过对对应关系的数据分析和实验验证，得到可以使断路器合格的位置区间，这个位置区间包括上限目标位置A1和下限目标位置A2，下限目标位置A2接近断路器按国家标准测试下1.45In(约定脱扣电流)断路器在约定时间内脱扣的下限，上限目标位置A1接近断路器按国家标准测试下1.45In(约定脱扣电流)断路器在约定时间内脱扣的上限

步骤S100c：根据上限目标位置A1和下限目标位置A2，确定设定角度。

在一可行方式中，确定上限目标位置A1和下限目标位置A2的中间位置作为热调测位置 A3，并以热调测位置A3和对应的初始位置A之间的夹角作为设定角度。

例如，以上限目标位置A1和下限目标位置A2的中间位置作为热调测位置A3，根据热调测位置A3和初始位置A之间的夹角确定需要转动的设定角度。这种方式最大程度上保证了双金属片11调节到热调测位置A3后，能够在脱扣电流作用下，在合格时长范围内脱扣，从而确保了断路器10的合格率。

除此之外，为了进一步提升调节和测试的准确率，如图9所示，该方法还包括步骤S100d，需要说明的是，步骤S100d可以在步骤S100a～步骤S100c之前、之后或者并行执行，本实施例中仅是为了方便说明对步骤进行了编号，但该编号并不限制执行顺序。

步骤S100d：使用双金属片支架检测件24对断路器10的双金属片支架12用于旋拧的旋拧端部121进行检测。

如图10到图13所示，为提高双金属片11位置检测的可靠性，增加双金属片支架检测件 24，以确保双金属片支架12装配到断路器后其初始位置A的可靠性，从而避免了由于双金属片支架12制造过程中的偏差影响双金属片11的初始位置A。同时利用双金属片支架检测件24对双金属片支架12的旋拧端部121装配的角度进行检测，确保旋拧螺钉能够很好地与之配合，进而保证对双金属片11的旋转角度的可靠调节。

如图11～图13所示，双金属片支架检测件24包括检测主体241、检测卡扣242和检测凹槽243。检测凹槽243为半圆，检测主体241与断路器10的壳体配合时，壳体上的半圆槽和检测凹槽243配合形成一个圆柱孔，双金属片支架12的旋拧端部12可以顺利伸入检测凹槽 243内，则表示旋拧端部121的角度适合。

而在检测主体241连接到断路器10上时，通过检测卡扣242与断路器10上的底座卡扣配合，检测卡扣242可以是拨动弹力卡扣，这样更方便拆卸和安装。如果双金属片支架12的位置不正确，可能会导致检测卡扣242无法卡到位，或者是旋拧端部121无法正确伸入检测凹槽243内。通过这种方式可以确保双金属片支架12安装的准确度。检验完成后可以取下双金属片支架检测件24。

在确定设定角度且对双金属片支架12的位置进行定位检查之后，在需要对断路器10进行热调测时，可以通过执行步骤S102到步骤S106实现。

步骤S102：在断路器10处于合闸状态下，对断路器10的双金属片11通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构21对断路器10的双金属片支架12进行调节，以使双金属片11从初始位置A转动设定角度。

如图14所示，该步骤S102可以通过下述步骤实现：

步骤S1020：将断路器10装入断路器的双金属片的调节测试装置的测试工位，并使用断路器10的双金属片11的定位机构23将断路器10固定在测试工位。

通过定位机构23可以对断路器10进行固定，使其稳固地处于测试工位内。

例如，在一示例中，断路器10上设置有检测孔，定位机构23包括定位气缸231和检测组件232，检测组件232设置在定位气缸231的移动端上，步骤S1020实现为：驱动定位气缸231伸出到顶紧位置，以将断路器10固定在测试工位，并使检测组件232通过检测孔伸入断路器10内，以检测双金属片11是否转动了设定角度。

例如，检测组件232包括第一微动开关2321和第二微动开关2322，当第一微动开关2321 和第二微动开关2322伸入断路器10内，且后续双金属片11转动到位后第一微动开关2321 被触发，第二微动开关2322未被触发。

步骤S1021：断路器的双金属片的调节测试装置的电极夹紧机构22与断路器10的接线端子14连接，断路器10的接线端子14和双金属片11电连接。

例如，电极夹紧机构22包括电极气缸221和电极夹紧件222，通过电极气缸221伸出，使电极夹紧件222伸入断路器10内，并与接线端子14连接。

步骤S1022：调节机构21与断路器10的双金属片支架12连接。

调节机构21的旋转头212伸入断路器10内与旋钮螺钉配合，进而通过与旋钮螺钉接触的双金属片支架12连接。

步骤S1023：将断路器10调整至合闸状态，使用电极夹紧机构22通过接线端子14对双金属片11通入检测电流，并使用调节机构21将双金属片11从初始位置A移动设定角度。

在调节机构10和电极夹紧机构22到位后，使断路器10调节到合闸状态，如通过合闸机构扳动断路器10的合闸手柄到合闸状态。在断路器10合闸后，对双金属片11输入检测电流，同时可以开始计时，并使用调节机构21拧动双金属片支架12，使其带动双金属片11旋转，直到其旋转设定角度，此时双金属片11所处的位置记作热调测位置A3。双金属片11到位后，调节机构21可以停止转动。

步骤S104：在检测到断路器10的双金属片11移动的脱扣位置B时，确定双金属片11开始通入检测电流到双金属片11到达脱扣位置B的脱扣时长。

在检测到双金属片11移动到脱扣位置B时，停止计时，并根据计时确定开始通入检测电流到双金属片11到达脱扣位置B的脱扣时长。

在一种可行方式中，若脱扣时长满足合格时长范围，则执行步骤S106，反之，则执行步骤S108。

步骤S106：若脱扣时长处于合格时长范围内，则确定断路器10合格。

通过这种方式可以实现热调测一体化测试，把传统微型断路器的热调、冷却和热测三个步骤的工艺，或者冷调和热测的冷调工艺缩减到热调测一步完成，即在通过大于1.45In的等效电流(如2.55In，3In，4In等)的同时，通过调节机构来拧进微型断路器上的调节螺钉或类似结构使双金属片11从初始位置A移动到热调测位置A3后停止转动，双金属片11在检测电流下继续弯曲到脱扣位置B带动断路器跳闸，在这过程中从开始通检测电流到微型断路器跳闸的时间即为等效的脱扣时长，这样节省了时间，提升了效率，不需要等调节完成后再进行测试。

双金属片移动至热调测位置A3可以是双金属片上任何一点或线或面与断路器内任何零件之间的可以测量的直接距离或相关尺寸。

步骤S108：若脱扣时长未处于合格时长范围内，则确定断路器10不合格。

对于不合格的断路器可以通过步骤S110进行调整。

步骤S110：根据脱扣时长相对合格时长范围的偏差值，对双金属片11的初始位置进行调整。

例如，通过脱扣时长相对合格时长范围的偏差值指示的早脱扣或者晚脱扣的时长，对双金属片支架12进行旋拧使得双金属片11朝向初始位置A或者脱扣位置B靠近适当角度(其可以根据需要确定)。

在调节完成后可以等待双金属片11冷却，之后对其通入检测电流，并确定脱扣时长是否满足合格时长范围。

通过这种方式可以保证对双金属片调节和测试的效率。

根据本申请的另一方面，提供一种断路器的双金属片的调节测试装置，装置用于对断路器10中的双金属片11进行调节和测试，装置包括：安装架25，安装架25上设置有用于容纳断路器10的测试工位；调节机构21，调节机构21可伸缩地设置在安装架25上，并用于旋拧断路器10中的双金属片支架12，以调节断路器10的双金属片11从初始位置A转动设定角度；电极夹紧机构22，电极夹紧机构22设置在安装架25上，且电极夹紧机构22包括与断路器10的接线端子14连接的电极；控制器，控制器分别与调节机构21和电极夹紧机构 22连接，其中，控制器包括：通电和调节模块，用于在断路器10处于合闸状态下，对断路器10的双金属片11通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构21 对断路器10的双金属片支架12进行调节，以使双金属片11从初始位置A转动设定角度；检测模块，用于在检测到断路器10的双金属片11移动的脱扣位置B时，确定双金属片11 开始通入检测电流到双金属片11到达脱扣位置B的脱扣时长；判断模块，用于若脱扣时长处于合格时长范围内，则确定断路器10合格。

可选地，装置还包括定位机构23，定位机构23包括定位气缸231和检测组件232，定位气缸231可伸缩地设置在安装架25上，检测组件232包括第一微动开关2321、第二微动开关2322和检测电路板2323，检测电路板2323设置在定位气缸231的移动端，第一微动开关2321和第二微动开关2322与检测电路板2323连接，且在双金属片11转动设定角度时，第一微动开关2321被触发，第二微动开关2322未被触发。

该装置可以将原有的热调、冷却、热测三步改为热调测一步完成，去掉了传统的热调和冷却两步的时间，使得热调测的测试周期与传统的热单步的测试周期时间一致，该装置由于省略了其他步骤，因此可以相应地减少三分之二的设备和空间占用。对于热调测不合格的断路器由原先的通过工人凭经验去修正双金属片位置改为通过伺服电机按测试大数据去精确地修正双金属片的位置，大幅提高了返工的效率，该装置模块化设计，满足不同产线安装调试，更改的需求，提升了适应性。

需要说明的是，上述各流程和各系统结构图中不是所有的步骤和模块都是必须的，可以根据实际的需要忽略某些步骤或模块。各步骤的执行顺序不是固定的，可以根据需要进行调整。上述各实施例中描述的系统结构可以是物理结构，也可以是逻辑结构，即，有些模块可能由同一物理实体实现，或者，有些模块可能分由多个物理实体实现，或者，可以由多个独立设备中的某些部件共同实现。

以上各实施例中，硬件模块可以通过机械方式或电气方式实现。例如，一个硬件模块可以包括永久性专用的电路或逻辑(如专门的处理器，FPGA或ASIC)来完成相应操作。硬件模块还可以包括可编程逻辑或电路(如通用处理器或其它可编程处理器)，可以由软件进行临时的设置以完成相应操作。具体的实现方式(机械方式、或专用的永久性电路、或者临时设置的电路)可以基于成本和时间上的考虑来确定。

上文通过附图和优选实施例对本申请进行了详细展示和说明，然而本申请不限于这些已揭示的实施例，基与上述多个实施例本领域技术人员可以知晓，可以组合上述不同实施例中的代码审核手段得到本申请更多的实施例，这些实施例也在本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种断路器的双金属片的调节测试方法，其特征在于，包括：

步骤S102：在断路器(10)处于合闸状态下，对所述断路器(10)的双金属片(11)通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构(21)对断路器(10)的双金属片支架(12)进行调节，以使所述双金属片(11)从初始位置A转动设定角度；其中，热调测位置A3和对应的初始位置A之间的夹角作为所述设定角度；上限目标位置A1和下限目标位置A2的中间位置作为热调测位置A3；所述上限目标位置A1是脱扣时长与合格时长范围的上限匹配的目标位置，所述下限目标位置A2是脱扣时长与合格时长范围的下限匹配的目标位置；

步骤S104：在检测到所述断路器(10)的所述双金属片(11)移动的脱扣位置B时，确定所述双金属片(11)开始通入所述检测电流到所述双金属片(11)到达所述脱扣位置B的脱扣时长；

步骤S106：若所述脱扣时长处于合格时长范围内，则确定所述断路器(10)合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S102包括以下步骤：

步骤S1021：所述断路器的双金属片的调节测试装置的电极夹紧机构(22)与所述断路器(10)的接线端子(14)连接，所述断路器(10)的接线端子(14)和所述双金属片(11)电连接；

步骤S1022：所述调节机构(21)与所述断路器(10)的双金属片支架(12)连接；

步骤S1023：将所述断路器(10)调整至合闸状态，使用所述电极夹紧机构(22)通过所述接线端子(14)对所述双金属片(11)通入所述检测电流，并使用所述调节机构(21)将所述双金属片(11)从初始位置A移动设定角度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤S102在步骤S1021之前，还包括：

步骤S1020：将所述断路器(10)装入所述断路器的双金属片的调节测试装置的测试工位，并使用所述断路器(10)的双金属片(11)的定位机构(23)将所述断路器(10)固定在所述测试工位。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述断路器(10)上设置有检测孔，所述定位机构(23)包括定位气缸(231)和检测组件(232)，所述检测组件(232)设置在所述定位气缸(231)的移动端上，所述步骤S1020实现为：

驱动所述定位气缸(231)伸出到顶紧位置，以将所述断路器(10)固定在所述测试工位，并使所述检测组件(232)通过所述检测孔伸入所述断路器(10)内，以检测所述双金属片(11)是否转动了设定角度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S102之前，所述方法还包括以下步骤：

步骤S100a：调节断路器(10)到初始位置A和脱扣位置B之间的多个不同目标位置，并采集各所述目标位置的脱扣时长和检测电流的对应关系；

步骤S100b：根据所述对应关系，确定检测电流为脱扣电流时，脱扣时长与所述合格时长范围的上限匹配的上限目标位置A1、以及脱扣时长与所述合格时长范围的下限匹配的下限目标位置A2；

步骤S100c：根据所述上限目标位置A1和所述下限目标位置A2，确定所述设定角度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

步骤S108：若所述脱扣时长未处于合格时长范围内，则确定所述断路器(10)不合格；

步骤S110：根据所述脱扣时长相对所述合格时长范围的偏差值，对所述双金属片(11)的初始位置进行调整。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S102之前，所述方法还包括：

步骤S100d：使用双金属片支架检测件(24)对所述断路器(10)的双金属片支架(12)用于旋拧的旋拧端部(121)进行检测。

8.一种断路器的双金属片的调节测试装置，其特征在于，所述装置用于对断路器(10)中的双金属片(11)进行调节和测试，所述装置包括：

安装架(25)，所述安装架(25)上设置有用于容纳所述断路器(10)的测试工位；

调节机构(21)，所述调节机构(21)可伸缩地设置在所述安装架(25)上，并用于旋拧所述断路器(10)中的双金属片支架(12)，以调节所述断路器(10)的双金属片(11)从初始位置A转动设定角度；

电极夹紧机构(22)，所述电极夹紧机构(22)设置在所述安装架(25)上，且所述电极夹紧机构(22)包括与所述断路器(10)的接线端子(14)连接的电极；

控制器，所述控制器分别与所述调节机构(21)和所述电极夹紧机构(22)连接，其中，所述控制器包括：

通电和调节模块，用于在断路器(10)处于合闸状态下，对所述断路器(10)的双金属片(11)通入检测电流，并使用断路器的双金属片的调节测试装置的调节机构(21)对断路器(10)的双金属片支架(12)进行调节，以使所述双金属片(11)从初始位置A转动设定角度；其中，热调测位置A3和对应的初始位置A之间的夹角作为所述设定角度；上限目标位置A1和下限目标位置A2的中间位置作为热调测位置A3；所述上限目标位置A1是脱扣时长与合格时长范围的上限匹配的目标位置，所述下限目标位置A2是脱扣时长与合格时长范围的下限匹配的目标位置；

检测模块，用于在检测到所述断路器(10)的所述双金属片(11)移动的脱扣位置B时，确定所述双金属片(11)开始通入所述检测电流到所述双金属片(11)到达所述脱扣位置B的脱扣时长；

判断模块，用于若所述脱扣时长处于合格时长范围内，则确定所述断路器(10)合格。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括定位机构(23)，所述定位机构(23)包括定位气缸(231)和检测组件(232)，所述定位气缸(231)可伸缩地设置在所述安装架(25)上，所述检测组件(232)包括第一微动开关(2321)、第二微动开关(2322)和检测电路板(2323)，所述检测电路板(2323)设置在所述定位气缸(231)的移动端，所述第一微动开关(2321)和所述第二微动开关(2322)与所述检测电路板(2323)连接，且在所述双金属片(11)转动设定角度时，所述第一微动开关(2321)被触发，所述第二微动开关(2322)未被触发。

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