CN115184473A - 一种t型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头 - Google Patents

一种t型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，包括多个探头等，所述第二探头和第三探头分别与所述第一探头相对的两侧面一一对应活动连接；本发明提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头在使用过程中，当所述第二探头的底部和第三探头的底部均伸出所述第一探头时，所述第一探头、第二探头和第三探头三者之间形成有容纳腔，所述容纳腔用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测，当待检测件上的待检测区域有凸台时，所述第一探头、第二探头和第三探头可对待检测件的检测区域进行检测，各个探头的检测参数一致，使得检测结果的误差较小，能得到准确的检测结果。

Description

一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头
技术领域
本发明涉及一种超声波探头，尤其涉及一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头。
背景技术
超声相控阵检测已有二三十年的发展历史，初期主要应用于医疗领域、医疗超声成像中。近年来，超声相控阵技术以其灵活的声束偏转及聚焦性能越来越引起人们的重视。超声相控阵技术的基本思想来自于雷达电磁波相控阵技术。相控阵雷达是由许多辐射单元排成阵列组成，通过控制阵列天线中各单元的幅度和相位，调整电磁波的辐射方向，在一定空间范围内合成灵活快速的聚焦扫描的雷达波束。超声相控阵换能器由多个独立的压电晶片组成阵列，按一定的规则和时序用电子系统控制激发各个晶片单元，来调节控制焦点的位置和聚焦的方向。由于压电复合材料、纳秒级脉冲信号控制、数据处理分析、软件技术和计算机模拟等多种高新技术在超声相控阵成像领域中的综合应用，使得超声相控阵检测技术得以快速发展，逐渐应用于无损检测领域。目前，超声相控阵检测仪主要应用于工业焊缝、锻件等。
目前，在超声波探伤作业中多采用常规超声进行检测，分为多个常规探头组合扫查或单个探头扭转角度扫查。采用单个探头扭转不同角度扫查，如果采用自动检测，则在检测位置旋转超声波探头和沿着待检测件均需要加装机械动力装置。旋转超声波探头对机械工装要求较高，且容易造成超声波漏检。采用多个常规探头组合扫查，如果采用自动检测，虽然只需加装沿着钢轨方向移动的机械动力装置，但是每个探头均需设计机械工装。
现有的相控阵组合探头还存在以下缺点：
(1)当待检测件上的待检测区域有凸台时，需要多个探头对待检测件的检测区域进行检测，各个探头的检测参数有差异，使得检测结果的误差较大，不能得到准确的检测结果；
(2)相控阵组合探头的位置、角度调节不方便，不便于检测待检测体上的一些槽体或凸台结构；
(3)当检测螺栓时，现有的相控阵组合探头为菊花阵探头，且菊花阵探头为一个整面的晶片布置，在保证晶片数量情况下，整面的晶片布置使得检测效果较差
发明内容
针对现有技术的状况，本发明提供了一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，当所述第二探头的底部和第三探头的底部均伸出所述第一探头时，所述第一探头、第二探头和第三探头三者之间形成有容纳腔，所述容纳腔用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测，各个探头的检测参数一致，使得检测结果的误差较小，能得到准确的检测结果，因此，本发明的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头能够有效解决现有技术中存在的问题。
本发明通过下述技术方案实现：
一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，包括第一探头、第二探头和第三探头，所述第二探头和第三探头分别与所述第一探头相对的两侧面一一对应活动连接；
所述第一探头的底部设置有第一相控阵探头，所述第二探头的底部设置有第二相控阵探头，所述第三探头的底部设置有第三相控阵探头，所述第二探头和第三探头均可相对所述第一探头上下移动，以供所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头分别形成第一检测端、第二检测端和第三检测端；
当所述第二探头的底部和第三探头的底部均伸出所述第一探头时，所述第一探头、第二探头和第三探头三者之间形成有容纳腔，所述容纳腔用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测。
本发明进一步的改进在于，所述第二探头和第三探头分别与所述第一探头相对的两侧面一一对应拆卸式连接。
本发明进一步的改进在于，所述第二探头上设置有第一槽孔，所述第一探头对应所述第二探头的侧面开设有第一螺纹孔，当所述第一螺纹孔与第一槽孔相对应时，所述第二探头和第一探头经由螺栓拆卸式固定连接。
本发明进一步的改进在于，所述第三探头上设置有第二槽孔，所述第一探头对应所述第三探头的侧面开设有第二螺纹孔，当所述第二螺纹孔与第二槽孔相对应时，所述第三探头和第一探头经由螺栓拆卸式固定连接。
本发明进一步的改进在于，所述第一探头对应所述第二探头的一侧面且沿竖直方向设置有第一滑轨，所述第一滑轨靠近所述第一探头的一端可相对所述第一探头伸缩，所述第一滑轨远离所述第一探头的一端设置有第一连接组件，所述第二探头与所述第一连接组件相连接，所述第一连接组件可经由所述第一滑轨上下移动，以供带动所述第二探头相对所述第一探头上下移动。
本发明进一步的改进在于，所述第一连接组件包括与所述第一滑轨远离所述第一探头的一端固定连接的第一底座，与所述第一底座转动连接的第一转动座，与所述第一转动座伸缩式连接的第一伸缩件，所述第二探头与所述第一伸缩件的伸缩端固定连接。
本发明进一步的改进在于，所述第一探头对应所述第三探头的一侧面且沿竖直方向设置有第二滑轨，所述第二滑轨靠近所述第一探头的一端可相对所述第一探头伸缩，所述第二滑轨远离所述第一探头的一端设置有第二连接组件，所述第三探头与所述第二连接组件相连接，所述第二连接组件可经由所述第二滑轨上下移动，以供带动所述第三探头相对所述第一探头上下移动。
本发明进一步的改进在于，所述第二连接组件包括与所述第二滑轨远离所述第一探头的一端固定连接的第二底座，与所述第二底座转动连接的第二转动座，与所述第二转动座伸缩式连接的第二伸缩件，所述第三探头与所述第二伸缩件的伸缩端固定连接。
本发明进一步的改进在于，所述第一探头的底部设置有两组且间隔分布的所述第一相控阵探头，所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头的晶片数量均设置为多个，且所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头与其对应的多个晶片形成的检测区域均呈扇形。
本发明进一步的改进在于，所述第一检测端的端面分别与所述第二检测端和第三检测端的端面平行，所述第二检测端和第三检测端的端面齐平。
本发明与现有技术相比，至少具有以下有益的技术效果：
本发明提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头在使用过程中，由于所述第二探头和第三探头均可相对所述第一探头上下移动，且所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头分别形成第一检测端、第二检测端和第三检测端，当所述第二探头的底部和第三探头的底部均伸出所述第一探头时，所述第一探头、第二探头和第三探头三者之间形成有容纳腔，所述容纳腔用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测，当待检测件上的待检测区域有凸台时，所述第一探头、第二探头和第三探头可对待检测件的检测区域进行检测，各个探头的检测参数一致，使得检测结果的误差较小，能得到准确的检测结果。
附图说明
图1为本发明提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头一实施例的立体结构示意图(一)；
图2为图1所示结构的左视结构示意图；
图3为图1所示结构的右视结构示意图；
图4为图1所示结构的仰视结构示意图；
图5为本发明提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头一实施例的立体结构示意图(二)；
图6为图5所示结构的右视结构示意图。
附图标记说明：
1、第一探头；11、第一相控阵探头；12、第一螺纹孔；13、第二螺纹孔；2、第二探头；21、第二相控阵探头；22、第一槽孔；3、第三探头；31、第三相控阵探头；32、第二槽孔；4、第一滑轨；5、第一连接组件；51、第一底座；52、第一转动座；53、第一伸缩件；6、第二滑轨；7、第二连接组件；71、第二底座；72、第二转动座；73、第二伸缩件；800、容纳腔。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明优选实施例，附图构成本申请一部分，并与本发明实施例一起用于阐释本发明，并非用于限定本发明。
如图1至6所示，一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，包括第一探头1、第二探头2和第三探头3，所述第二探头2和第三探头3分别与所述第一探头1相对的两侧面一一对应活动连接。
所述第一探头1的底部设置有第一相控阵探头11，所述第二探头2的底部设置有第二相控阵探头21，所述第三探头3的底部设置有第三相控阵探头31，所述第二探头2和第三探头3均可相对所述第一探头1上下移动，以供所述第一相控阵探头11、第二相控阵探头21和第三相控阵探头31分别形成第一检测端、第二检测端和第三检测端。
当所述第一探头2的底部和第二探头3的底部均伸出所述第三探头1时，所述第一探头1、第二探头2和第三探头3三者之间形成有容纳腔800，所述容纳腔800用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测。
本发明提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头在使用过程中，由于所述第二探头2和第三探头3均可相对所述第一探头1上下移动，且所述第一相控阵探头11、第二相控阵探头21和第三相控阵探头31分别形成第一检测端、第二检测端和第三检测端，当所述第一探头2的底部和第二探头3的底部均伸出所述第三探头1时，所述第一探头1、第二探头2和第三探头3三者之间形成有容纳腔800，所述容纳腔800用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测，当待检测件上的待检测区域有凸台时，所述第一探头1、第二探头2和第三探头3可对待检测件的检测区域进行检测，各个探头的检测参数一致，使得检测结果的误差较小，能得到准确的检测结果。
参考图1和图2所示，所述第二探头2和第三探头3分别与所述第一探头1相对的两侧面一一对应拆卸式连接。所述第二探头2上设置有第一槽孔22，所述第一探头1对应所述第二探头2的侧面开设有第一螺纹孔12，当所述第一螺纹孔12与第一槽孔22相对应时，所述第二探头2和第一探头1经由螺栓拆卸式固定连接。所述第一槽孔22在所述第二探头2相对所述第一探头1的移动方向上具有一定的长度，只要所述第二探头2相对所述第一探头1移动过程中，所述第一螺纹孔12仍然与所述第一槽孔22相对应，所述第二探头2和第一探头1便可经由螺栓拆卸式固定连接。
参考图1和图3所示，所述第三探头3上设置有第二槽孔32，所述第一探头1对应所述第三探头3的侧面开设有第二螺纹孔13，当所述第二螺纹孔13与第二槽孔32相对应时，所述第三探头3和第一探头1经由螺栓拆卸式固定连接。所述第二槽孔32在所述第三探头3相对所述第一探头1的移动方向上具有一定的长度，只要所述第三探头3相对所述第一探头1移动过程中，所述第二螺纹孔13仍然与所述第二槽孔32相对应，所述第三探头3和第一探头1便可经由螺栓拆卸式固定连接。
参考图5和图6所示，所述第一探头1对应所述第二探头2的一侧面且沿竖直方向设置有第一滑轨4，所述第一滑轨4靠近所述第一探头1的一端可相对所述第一探头1伸缩，所述第一滑轨4远离所述第一探头1的一端设置有第一连接组件5，所述第二探头2与所述第一连接组件5相连接，所述第一连接组件5可经由所述第一滑轨4上下移动，以供带动所述第二探头2相对所述第一探头1上下移动。所述第一连接组件5包括与所述第一滑轨4远离所述第一探头1的一端固定连接的第一底座51，与所述第一底座51转动连接的第一转动座52，与所述第一转动座52伸缩式连接的第一伸缩件53，所述第二探头2与所述第一伸缩件53的伸缩端固定连接。所述第一滑轨4靠近所述第一探头1的一端可相对所述第一探头1伸缩，使得所述第一底座51与所述第一探头1之间的距离可调节；所述第一转动座52可相对所述第一底座51转动，所述第一伸缩件53的伸缩端随第一转动座52一起转动的同时，可相对所述第一转动座52伸缩，以供调整所述第二探头2的角度和位置，便于检测待检测件；因此，本发明的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头的位置、角度调节方便，便于检测待检测体上的一些槽体或凸台结构。
参考图5和图6所示，所述第一探头1对应所述第三探头3的一侧面且沿竖直方向设置有第二滑轨6，所述第二滑轨6靠近所述第一探头1的一端可相对所述第一探头1伸缩，所述第二滑轨6远离所述第一探头1的一端设置有第二连接组件7，所述第三探头3与所述第二连接组件7相连接，所述第二连接组件7可经由所述第二滑轨6上下移动，以供带动所述第三探头3相对所述第一探头1上下移动。所述第二连接组件7包括与所述第二滑轨6远离所述第一探头1的一端固定连接的第二底座71，与所述第二底座71转动连接的第二转动座72，与所述第二转动座72伸缩式连接的第二伸缩件73，所述第三探头3与所述第二伸缩件73的伸缩端固定连接。所述第二滑轨6靠近所述第一探头1的一端可相对所述第一探头1伸缩，使得所述第二底座71与所述第一探头1之间的距离可调节；所述第二转动座72可相对所述第二底座71转动，所述第二伸缩件73的伸缩端可相对所述第二转动座72伸缩，以供调整所述第三探头3的角度和位置，便于检测待检测件。
参考图4所示，所述第一探头1的底部设置有两组且间隔分部的所述第一相控阵探头11，所述第一相控阵探头11、第二相控阵探头21和第三相控阵探头31的晶片数量均设置为多个，且所述第一相控阵探头11、第二相控阵探头21和第三相控阵探头31与其对应的多个晶片形成的检测区域均呈扇形，且三个探头晶片组成的扇形整体呈圆环状。当检测螺栓时，本发明的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头为分区布置，且几个分区布置的检测区域均呈扇形，在保证晶片数量情况下，分区布置晶片使得检测效果较好，能够得到准确的检测结果。
在另一较佳的实施例中，所述第一检测端的端面分别与所述第二检测端和第三检测端的端面平行，所述第二检测端和第三检测端的端面齐平。此状态下，所述第一探头1、第二探头2和第三探头3用于检测待检测件的平面区域，各个探头的检测参数一致，使得检测结果的误差较小，能得到更加准确的检测结果。
与现有技术相比，本发明所提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头有以下有益效果：
本发明提供的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头在使用过程中，由于所述第二探头2和第三探头3均可相对所述第一探头1上下移动，且所述第一相控阵探头11、第二相控阵探头21和第三相控阵探头31分别形成第一检测端、第二检测端和第三检测端，当所述第一探头2的底部和第二探头3的底部均伸出所述第三探头1时，所述第一探头1、第二探头2和第三探头3三者之间形成有容纳腔800，所述容纳腔800用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测，当待检测件上的待检测区域有凸台时，所述第一探头1、第二探头2和第三探头3可对待检测件的检测区域进行检测，各个探头的检测参数一致，使得检测结果的误差较小，能得到准确的检测结果。
以上所述，仅是本发明较佳实施例，并非对本发明任何形式上的限制，凡是依据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，包括第一探头、第二探头和第三探头，所述第二探头和第三探头分别与所述第一探头相对的两侧面一一对应活动连接；
所述第一探头的底部设置有第一相控阵探头，所述第二探头的底部设置有第二相控阵探头，所述第三探头的底部设置有第三相控阵探头，所述第二探头和第三探头均可相对所述第一探头上下移动，以供所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头分别形成第一检测端、第二检测端和第三检测端；
当所述第二探头的底部和第三探头的底部均伸出所述第一探头时，所述第一探头、第二探头和第三探头三者之间形成有容纳腔，所述容纳腔用于容纳待检测件上的凸台，以供所述第一检测端、第二检测端和第三检测端同时对待检测件检测。
2.根据权利要求1所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第二探头和第三探头分别与所述第一探头相对的两侧面一一对应拆卸式连接。
3.根据权利要求2所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第二探头上设置有第一槽孔，所述第一探头对应所述第二探头的侧面开设有第一螺纹孔，当所述第一螺纹孔与第一槽孔相对应时，所述第二探头和第一探头经由螺栓拆卸式固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第三探头上设置有第二槽孔，所述第一探头对应所述第三探头的侧面开设有第二螺纹孔，当所述第二螺纹孔与第二槽孔相对应时，所述第三探头和第一探头经由螺栓拆卸式固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第一探头对应所述第二探头的一侧面且沿竖直方向设置有第一滑轨，所述第一滑轨靠近所述第一探头的一端可相对所述第一探头伸缩，所述第一滑轨远离所述第一探头的一端设置有第一连接组件，所述第二探头与所述第一连接组件相连接，所述第一连接组件可经由所述第一滑轨上下移动，以供带动所述第二探头相对所述第一探头上下移动。
6.根据权利要求5所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第一连接组件包括与所述第一滑轨远离所述第一探头的一端固定连接的第一底座，与所述第一底座转动连接的第一转动座，与所述第一转动座伸缩式连接的第一伸缩件，所述第二探头与所述第一伸缩件的伸缩端固定连接。
7.根据权利要求6所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第一探头对应所述第三探头的一侧面且沿竖直方向设置有第二滑轨，所述第二滑轨靠近所述第一探头的一端可相对所述第一探头伸缩，所述第二滑轨远离所述第一探头的一端设置有第二连接组件，所述第三探头与所述第二连接组件相连接，所述第二连接组件可经由所述第二滑轨上下移动，以供带动所述第三探头相对所述第一探头上下移动。
8.根据权利要求7所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第二连接组件包括与所述第二滑轨远离所述第一探头的一端固定连接的第二底座，与所述第二底座转动连接的第二转动座，与所述第二转动座伸缩式连接的第二伸缩件，所述第三探头与所述第二伸缩件的伸缩端固定连接。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第一探头的底部设置有两组且间隔分布的所述第一相控阵探头，所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头的晶片数量均设置为多个，且所述第一相控阵探头、第二相控阵探头和第三相控阵探头与其对应的多个晶片形成的检测区域均呈扇形。
10.根据权利要求9所述的一种T型端面紧固件相控阵柱面导波超声检测组合探头，其特征在于，所述第一检测端的端面分别与所述第二检测端和第三检测端的端面平行，所述第二检测端和第三检测端的端面齐平。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107490623A (zh) * 2017-09-19 2017-12-19 中国航空综合技术研究所 超声扫查器及其检测方法
CN108226292A (zh) * 2017-12-15 2018-06-29 中国特种设备检测研究院 T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器
CN108931579A (zh) * 2018-05-24 2018-12-04 武汉中科创新技术股份有限公司 便携式超声导波相控阵螺栓检测系统
WO2020098732A1 (zh) * 2018-11-14 2020-05-22 北京主导时代科技有限公司 一种轨道探伤车及其探头布局系统
CN113311066A (zh) * 2021-03-19 2021-08-27 西安热工研究院有限公司 汽轮机转子轮缘反t型叶根槽相控阵超声纵波检测方法
CN113899818A (zh) * 2021-09-06 2022-01-07 国营芜湖机械厂 一种面向机身结构的t型构件r区缺陷超声检测方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107490623A (zh) * 2017-09-19 2017-12-19 中国航空综合技术研究所 超声扫查器及其检测方法
CN108226292A (zh) * 2017-12-15 2018-06-29 中国特种设备检测研究院 T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器
CN108931579A (zh) * 2018-05-24 2018-12-04 武汉中科创新技术股份有限公司 便携式超声导波相控阵螺栓检测系统
WO2020098732A1 (zh) * 2018-11-14 2020-05-22 北京主导时代科技有限公司 一种轨道探伤车及其探头布局系统
CN113311066A (zh) * 2021-03-19 2021-08-27 西安热工研究院有限公司 汽轮机转子轮缘反t型叶根槽相控阵超声纵波检测方法
CN113899818A (zh) * 2021-09-06 2022-01-07 国营芜湖机械厂 一种面向机身结构的t型构件r区缺陷超声检测方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张国强;刚铁;沙正骁;: "快速线性阵列超声波相控阵自动检测", 无损检测, no. 05, 10 May 2017 (2017-05-10) *
陈虎;黄辉;陈定岳;钱盛杰;: "超声相控阵探头的形式以及专用相控阵探头的开发应用案例", 无损检测, no. 03, 10 March 2018 (2018-03-10) *

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