CN115144727A - 一种电路故障自检系统、方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及故障检测的领域，尤其是涉及一种电路故障自检系统、方法及存储介质，其方法包括：在主控电路没有启动的时候，传感器信号电路将采集的基准电压进行N+M次数模转换，得到N个有效数模转换值和M个异常数模转换值，处理器根据得到的数模转换值，进行分析，判断数模偏移值的绝对值是否大于异常平偏离值，在小于的时候保存数模偏移值的绝对值为有效数模转换值，在数模转换次数达到数模转换结束次数的时候，停止数模转换，根据有效数模转换值判断信号处理的相关电路是否发生故障。本申请处理器根据数模转换值判断基准电压电路或者传感器信号放大电路是否故障，确保主控电路的采样传感器所采集的数据是正确的，保护主控电路不受损坏。

Description

一种电路故障自检系统、方法及存储介质

技术领域

本申请涉及故障检测的领域，尤其是涉及一种电路故障自检系统、方法及存储介质。

背景技术

在智能控制系统，需要通过硬件电路采样传感器的变化，来感知被控对象的变化，实现对被控对象的闭环控制。比如在电机的电流闭环控制中，根据采样传感器检测的电流和预期设定的控制电流进行比较，以此来控制电机的电流，对电机进行控制。

发明人认为，在采样传感器采样电路信息的过程中，如果进行采样或进行信号处理的相关电路出现故障时，采样传感器采集的数据会出现采样数据失真，采样数据失真则会导致对主控电路的控制出现错误，严重时甚至会使主控电路出现严重损坏。

发明内容

为了进行信号处理的相关电路在发生故障时能及时检测出来，保护主控电路不被损坏，本申请提供一种电路故障自检系统、方法及存储介质。

本申请提供的一种电路故障自检系统采用如下的技术方案：

一种电路故障自检系统，包括主控电路、基准电压电路、传感器信号放大电路及处理器；

所述基准电压电路连接于所述传感器信号放大电路，所述主控电路连接于所述传感器信号放大电路，所述处理器连接于所述传感器信号放大电路；

所述基准电压电路用于为所述传感器信号放大电路提供基准电压，所述传感器信号放大电路用于将所述基准电压转换成数模转换值，所述处理器用于基于所述数模转换值判断所述传感器信号电路以及所述基准电压电路是否故障。

通过采用上述技术方案，主控电路为需要保护的电路，通常为某设备的驱动电路或者控制电路，基准电压电路为传感器信号放大电路提供基准电压，传感器信号放大电路连接于主控电路和基准电压电路，传感器信号放大电路用于将基准电压转换成数模转换值，处理器根据数模转换值判断基准电压电路或者传感器信号放大电路是否故障，确保主控电路的采样传感器所采集的数据是正确的，保护主控电路不受损坏。

可选的，所述基准电压电路包括：

电阻R1和电阻R2，所述电阻R1与所述电阻R2串联，所述电阻R1的电阻值等于所述电阻R2的电阻值，所述电阻R1外接电源，所述电阻R2接地，所述电阻R1与所述电阻R2之间并联有电阻R3，所述电阻R3连接运算放大器的正相输入端，所述运算放大器的输出端连接于所述运算放大器的反相输入端。

通过采用上述技术方案，基准电压电路内的电阻R1外接电源，当外接电源供电的时候，输入运算放大器的电压取决于电阻R1和电阻R2的电阻值，经过运算放大器将外接电源的电压输出为基准电压，使用基准电压电路可以方便获取基准电压。

可选的，所述传感器信号放大电路包括：

电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、第二运算放大器和数模转换器，所述电阻R5一端接地，另一端串联于所述电阻R6，所述第二运算放大器的反相输入端连接于所述电阻R5和所述电阻R6之间，所述第二运算放大器的正相输入端串联有所述电阻R7和所述电阻R8，所述电阻R7和所述电阻R8并联，所述电阻R8连接于主控电路。

通过采用上述技术方案，传感器信号放大电路与基准电压电路连接，将基准电压电路输出的基准电压通过数模转换转换成数模转换值，在主控电路关闭的情况下，并将数模转换值传输给处理器，用于采集数模转换值使处理器能够根据数模转换值判断信号处理的相关电路是否故障。

第二方面，本申请提供一种电路故障自检方法，采用如下的技术方案。

一种电路故障自检方法，应用于电路故障自检系统，所述电路故障自检系统包括处理器、主控电路及传感器信号放大电路包括：

关闭主控电路；

所述传感器信号放大电路将所述基准电压电路的基准电压通过N+M次数模转换，转换为N+M个数模转换值；

所述传感器信号放大电路将所述N+M个数模转换值发送至所述处理器；

所述处理器计算所述数模转换值与数模标准值的差值，得到数模偏移值的绝对值；

所述处理器判断所述数模偏移值的绝对值是否大于异常平偏离值；

若所述数模偏移值的绝对值小于或等于所述异常平偏离值，则进行N+1次数模转换，并保存所述数模偏移值的绝对值作为有效数模转换值；

判断所述N+1次数模转换是否大于数模转换结束次数；

若所述N+1次数模转换大于所述数模转换结束次数，基于所述有效数模转换值，得到所述有效数模转换值的平均值；

所述处理器基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障。

通过采用上述技术方案，在主控电路关闭的情况下，传感器信号电路将基准电路产生的基准电压转换成数模转换值，设置转换次数为N次，因此可以得到N个数模转换值，并将N个数模转换值传输给处理器，处理器对数目转换值进行处理，处理器将数模转换值与数模标准值进行比较，得到数模偏移值的绝对值，处理器判断数模偏移值是否大于异常平偏离值，并在小于或者等于异常平偏离值的时候，保存数模偏移值的绝对值作为有效数模转换值，并判断当前进行数模转换的次数是否大于设定的数模转换次数，在大于数模转换次数的时候，不再进行数模转换，根据采集的有效数模转换值，得到有效数模偏移绝对值的平均值，根据数模偏移绝对值的平均值判断传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障。根据采集的数模转换值，从中筛选出符合要求的有效数模转换值，根据有效数模转换值得大小是否大于设定的数值判断传感器信号放大电路或者基准电压电路是否故障，以此保证主控电路的采样传感器采集的数据的准确性，保护主控电路不受损坏。

可选的，还包括异常数模转换次数M：

若所述数模偏移值的绝对值大于所述异常平偏离值，则异常数模转换次数M=M+1，在未进行数模偏移值的绝对值与所述异常平偏离值的比较时，所述数模转换次数处于初始状态；

判断所述异常数模转换次数是否大于异常数模转换标准次数；

若所述异常数模转换次数大于所述异常数模转换标准次数；则所述电路异常故障；

所述M<N。

通过采用上述技术方案，在采集的数模转换值中，如果数模偏移值的绝对值大于异常平偏离值，则证明数模转换值异常，记录异常数模转换次数，每当有一个数模转换值异常的时候，异常数模转换次数加1，在设定的数模转换次数内，如果异常数模转换次数达到了异常数模转换标准次数，则证明主控电路所处的环境电磁干扰很大，尽可能的防止因电磁干扰导致采样传感器采集的数据不正确，影响主控电路。

可选的，所述基于所述数模偏移的绝对值，得到所述数模偏移绝对值的平均值包括：

获取N次有效数模转换值；

基于所述N次有效数模转换值，计算所述数模偏移绝对值的平均值。

通过采用上述技术方案，在外接电源接入，关闭主控电路后，一共进行N+M次数模转换，其中有M个异常数模转换值，N个有效的数模转换值，对着N个有效的数模转换值求平均值，得到数模偏移绝对值的平均值。

可选的，所述基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障包括：

判断所述有效数模转换值的平均值是否大于数模转换最大偏移值；

若所述有效数模转换值的平均值大于所述数模转换最大偏移值，则得到电路异常故障；

若所述有效数模转换值的平均值小于或等于数模转换最大偏移值，则电路正常。

通过采用上述技术方案，有效数模转换值的平均值如果大于数模转换最大偏移值，则电路异常故障，有效数模转换值的平均值小于或等于数模转换最大偏移值，则电路正常，有效数模转换值的代表了电路类元器件的误差，比如电阻的电阻值误差，而有效数模转换值的平均值则代表电路中的所有元器件是否正常。在满足电路的内的元器件本身的阻值误差的时候，如果有效数模转换值的平均值还超出设定范围，则代表电路元器件故障，尽可能的防止因电路元器件故障导致采样信号不准，损坏主控电路。

可选的，转换为N个数模转换值之前还包括：

进行参数初始化，所述参数包括所述数模转换值、所述数模转换结束次数、所述有效数模转换值以及所述异常数模转换次数。

通过采用上述技术方案，进行参数初始化的目的是消除之前进行测试所遗留下来的数据，防止之前的数据对这次测试产生影响。

第三方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时，采用了上述的一种电路故障自检方法。

通过采用上述技术方案，通过将上述的一种电路故障自检方法生成计算机程序，并存储于计算机可读存储介质中，以被处理器加载并执行，通过计算机可读存储介质，方便计算机程序的可读及存储。

综上所述，本申请包括以下有益技术效果：

在主控电路关闭的情况下，传感器信号电路将基准电路产生的基准电压转换成数模转换值，设置转换次数为N次，因此可以得到N个数模转换值，并将N个数模转换值传输给处理器，处理器对数目转换值进行处理，处理器将数模转换值与数模标准值进行比较，得到数模偏移值的绝对值，处理器判断数模偏移值是否大于异常平偏离值，并在小于或者等于异常平偏离值的时候，保存数模偏移值的绝对值作为有效数模转换值，并判断当前进行数模转换的次数是否大于设定的数模转换次数，在大于数模转换次数的时候，不再进行数模转换，根据采集的有效数模转换值，得到有效数模偏移绝对值的平均值，根据数模偏移绝对值的平均值判断传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障。根据采集的数模转换值，从中筛选出符合要求的有效数模转换值，根据有效数模转换值得大小是否大于设定的数值判断传感器信号放大电路或者基准电压电路是否故障，以此保证主控电路的采样传感器采集的数据的准确性，保护主控电路不受损坏。

附图说明

图1是本申请实施例一种电路故障自检系统的整体结构图；

图2是本申请实施例基准电压电路的电路图；

图3是本申请实施例传感器信号放大电路的电路图；

图4是本申请实施例一种电路故障自检方法的方法流程图；

图5是本申请基于所述数模偏移的绝对值，得到所述数模偏移绝对值的平均值的方法流程图；

图6是本申请实施例基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障的方法流程图。

具体实施方式

以下结合全部附图对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种电路故障自检系统，参照图1，包括：

主控电路、基准电压电路、传感器信号放大电路及处理器。

具体的，主控电路为需要保护的电路，通常为控制电路，比如在电机的电流闭环控制系统中，用于控制电机电流的大小的电路；基准电压店里外接电源，为传感器信号放大电路提供基准电压，传感器信号放大电路将基准电压转换成数模转换值。

参照图2，基准电压电路包括：电阻R1和电阻R2，所述电阻R1与所述电阻R2串联，所述电阻R1的电阻值等于所述电阻R2的电阻值，所述电阻R1外接电源，所述电阻R2接地，所述电阻R1与所述电阻R2之间并联有电阻R3，所述电阻R3连接运算放大器的正相输入端，所述运算放大器的输出端连接于所述运算放大器的反相输入端。

具体的，在基准电压电路中，电阻R1和电阻R2的电阻值相等，如果电阻R1的外接电压为Vcc的时候，由于电阻R1和电阻R2的电阻值相等，因此流入运算放大器的正相输入的电压为0.5Vcc。

参照图3，传感器信号放大电路包括：电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、第二运算放大器和数模转换器，所述电阻R5一端接地，另一端串联于所述电阻R6，所述第二运算放大器的反相输入端连接于所述电阻R5和所述电阻R6之间，所述第二运算放大器的正相输入端串联有所述电阻R7和所述电阻R8，所述电阻R7和所述电阻R8并联，所述电阻R8连接于主控电路，数模转换器在本实施例中采用12位的数模转换器，可将电流转换成0~212的数字量。

参照图4，主控电路在本实施例中以电机电流闭环控制回路进行举例说明，包括：电阻R4、mosfet管、负载二极管和采样传感器，电阻R4外接控制信号，另一端接mosfet的基极，mosfet的集电极接负载，mosfet的发射机接采样传感器，三级管的集电极和发射极之间并联有二极管，且二极管的正极连接于电流传感器，负极连接于负载，传感器信号放大电路的电阻R8连接于二极管的正极。

所述基准电压电路连接于所述传感器信号放大电路，所述主控电路连接于所述传感器信号放大电路，所述处理器连接于所述传感器信号放大电路。

具体的，处理器可以为MCU芯片。

所述基准电压电路用于为所述传感器信号放大电路提供基准电压，所述传感器信号放大电路用于将所述基准电压转换成数模转换值，所述处理器用于基于所述数模转换值判断所述传感器信号电路以及所述基准电压电路是否故障。

具体的，基准电压的输出端所输出的电压定义为参考电压Vref，当产生基准电压的R1=R2时，Vref=Vcc/2。

当信号处理电路的所有器件正常且主控回路不工作的条件下，电流传感器流过的电流为零。数模转换器的输入信号为Vcc/2，此时，数模转换器输出的数字量为211=2048。

当主控回路不工作时，即电流传感器流过的电流为零，但此时如果信号处理电路的任何器件出现异常时，数模转换器的输入信号将不等于Vcc/2，此时数模转换器输出的数字量将不再是2048。

比如在主控回路不工作时，产生基准电压的R1开路时，Vref=Vcc，数模转换器输出数字量将是212=4096；当R1短路时，Vref=0，数模转换器输出数字量将是0；当R1虚焊或错件时，R1≠R2，Vref≠Vcc/2，数模转换器输出数字量将不是211=2048。

因此，处理器获取到数模转换值的时候，根据数模转换值的数据就可以判断基准电压电路或者传感器信号放大电路的元器件是否异常以及之间的电路回路是否异常。

本申请实施例一种电路故障自检系统的实施原理为：主控电路为需要保护的电路，通常为某设备的驱动电路或者控制电路，基准电压电路为传感器信号放大电路提供基准电压，传感器信号放大电路连接于主控电路和基准电压电路，传感器信号放大电路用于将基准电压转换成数模转换值，处理器根据数模转换值判断基准电压电路或者传感器信号放大电路是否故障，确保主控电路的采样传感器所采集的数据是正确的，保护主控电路不受损坏。

以上详细描述了一种电路故障自检系统，下面对应用于电路故障自检系统的一种电路故障自检方法进行详细说明，所述电路故障自检系统包括处理器、主控电路及传感器信号放大电路。

参照图4，一种电路故障自检方法，包括：

S100、关闭主控电路。

具体的，在主控电路关闭的情况下，所有电路的回路以及元器件均正常的时候，数模转换值为2048。

S110、所述传感器信号放大电路将所述基准电压电路的基准电压通过N次数模转换，转换为N个数模转换值。

具体的，数模转换值为通过数模转换器将流入数模转换器的电流转换成数模转换值，数模转换值在0-212次方之间。

S120、所述传感器信号放大电路将所述N个数模转换值发送至所述处理器。

S130、所述处理器计算所述数模转换值与数模标准值的差值，得到数模偏移值的绝对值。

具体的，数模标准值为基准电压电路和传感器信号放大电路的电路回路以及电路的元器件均正常的时候，所测得的数模转换值，在本实施例中，采用的12位数模转换器，数模标准值为2048。数模偏移值为由于电路内的元器件的阻值可能存在误差，比如电阻的电阻值，基准电压电路的运算放大器的输出端输出的电压不会是标准的Vcc/2。

S140、所述处理器判断所述数模偏移值的绝对值是否大于异常平偏离值。

具体的，异常平偏离值为所允许的最大误差值，根据不同的使用环境以及不同的电路，异常平偏离值的设定不相同。

S150、若所述数模偏移值的绝对值小于或等于所述异常平偏离值，则进行N+1次数模转换，并保存所述数模偏移值的绝对值作为有效数模转换值。

具体的，数模偏移值的绝对值小于或等于所述异常平偏离值的时候，表示此时测得的数模转换值在误差允许范围内，是有效的数模转换值，因此将有效的数模转换值保存下来。

S160、判断所述N+1次数模转换是否大于数模转换结束次数。

具体的，数模转换结束次数为设定的数模转换次数，在不断的进行数模转换的过程中，每进行一次数模转换，数模转换次数就加一，在计算机中，为了方便计算，通常设置次数为2的次幂，比如32次或64次,无论进行多少次数模转换，要直到采集到数模转换结束次数个数模偏移值才结束。

S170、若所述N+1次数模转换大于所述数模转换结束次数，基于所述有效数模转换值，得到所述有效数模转换值的平均值。

具体的，在结束了数模转换后，将保存的有效数模转换值器平均值，有效数模转换值器平均值的意义是判断整体电路是否在误差允许范围内，防止虽然单个的数模转换值满足要求，但是整体的误差过大。

S180、所述处理器基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障。

具体的，有效数模转换值的平均值如果大于设定的所允许电路整体的误差值的时候，判定基准电压电路或者信号放大电路发生故障。

本申请实施例一种电路故障自检方法，应用于电路故障自检系统的实时原理为：在主控电路关闭的情况下，传感器信号电路将基准电路产生的基准电压转换成数模转换值，设置转换次数为N次，因此可以得到N个数模转换值，并将N个数模转换值传输给处理器，处理器对数目转换值进行处理，处理器将数模转换值与数模标准值进行比较，得到数模偏移值的绝对值，处理器判断数模偏移值是否大于异常平偏离值，并在小于或者等于异常平偏离值的时候，保存数模偏移值的绝对值作为有效数模转换值，并判断当前进行数模转换的次数是否大于设定的数模转换次数，在大于数模转换次数的时候，不再进行数模转换，根据采集的有效数模转换值，得到有效数模偏移绝对值的平均值，根据数模偏移绝对值的平均值判断传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障。根据采集的数模转换值，从中筛选出符合要求的有效数模转换值，根据有效数模转换值得大小是否大于设定的数值判断传感器信号放大电路或者基准电压电路是否故障，以此保证主控电路的采样传感器采集的数据的准确性，保护主控电路不受损坏。

在数模偏移值的绝对值大于异常平偏离值的时候，如何判断信号处理有关的电路是否正常。

还包括异常数模转换次数M：

S200、若所述数模偏移值的绝对值钓大于所述异常平偏离值，则异常数模转换次数M=M+1，在未进行数模偏移值的绝对值与所述异常平偏离值的比较时，所述数模转换次数处于初始状态。

具体的，当计算出的数模偏移值的绝对值钓大于异常平偏离值的时候，则证明数模转换值异常，记录一次异常次数。最初始的时候，异常次数为0，异常数模转换值是为了消除在环境恶劣的情况下，比如电磁干扰强烈的环境下，采样传感器采集的数据不准确对主控电路造成损坏。

S210、判断所述异常数模转换次数是否大于异常数模转换标准次数。

具体的，异常数模转换标准次数为设定的允许异常数模转换值最大的异常次数。

S220、若所述异常数模转换次数大于所述异常数模转换标准次数，则所述基准电压电路或传感器信号放大电路故障。

具体的，当出现异常数模转换次数过多的时候，基准电压电路或者传感器信号放大电路出现故障，需要控制主控电路不启动，防止主控电路损坏。

本申请实施例数模偏移值的绝对值大于所述异常平偏离值的实施原理为：采集的数模转换值中，如果数模偏移值的绝对值大于异常平偏离值，则证明数模转换值异常，记录异常数模转换次数，每当有一个数模转换值异常的时候，异常数模转换次数加1，在设定的数模转换次数内，如果异常数模转换次数达到了异常数模转换标准次数，则证明主控电路所处的环境电磁干扰很大，尽可能的防止因电磁干扰导致采样传感器采集的数据不正确，影响主控电路。

在图4所示实施例步骤的步骤S170中，所述有效数模转换值，得到所述有效数模转换值的平均值，有效数模转换值的平均值如何获得的。具体通过图5所示实施例进行详细说明。

参照图5，所述基于所述数模偏移的绝对值，得到所述数模偏移绝对值的平均值包括：

S300、获取N+M次有效数模转换值。

具体的，进行了N+M次数模转换，得到N个有效的数模转换值，有M个异常的数模转换值，有效数模转换值使为了消除电路元器件本身带来的误差。

S310、基于所述N次有效数模转换值，计算所述数模偏移绝对值的平均值。

具体的，数模偏移绝对值的平均值是用于判断整个电路的元器件是否正常，在排除元器件本身的阻值误差和电磁干扰后，如果数模偏移绝对值的平均值还不正常，则是电路内的元器件出现故障。

本申请实施例所述基于所述数模偏移的绝对值，得到所述数模偏移绝对值的平均值的实施原理为：在外接电源接入，关闭主控电路后，一共进行N+M次数模转换，其中有M个异常数模转换值，N个有效的数模转换值，对着N个有效的数模转换值求平均值，得到数模偏移绝对值的平均值。

在图4所示实施例步骤的步骤S180中，基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障，如何判断电路是否故障，具体通过图6所示实施例进行详细说明。

参照图6，所述基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障包括：

S400、判断所述有效数模转换值的平均值是否大于数模转换最大偏移值。

具体的，数模转换最大偏移值设定的电路内所允许的有效数模转换值的平均值的最大误差值，超过数模转换最大偏移值的时候电路之间的回路或者元器件就可能出现了故障，在有效数模转换值的平均值是大于数模转换最大偏移值的时候执行步骤S710，反之，执行步骤S720。

S410、若所述有效数模转换值的平均值大于所述数模转换最大偏移值，则得到电路异常故障。

S420、若所述有效数模转换值的平均值小于或等于数模转换最大偏移值，则电路正常。

本申请实施例基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障的实施原理为：有效数模转换值的平均值如果大于数模转换最大偏移值，则电路异常故障，有效数模转换值的平均值小于或等于数模转换最大偏移值，则电路正常，有效数模转换值的代表了电路类元器件的误差，比如电阻的电阻值误差，而有效数模转换值的平均值则代表电路中的所有元器件是否正常。在满足电路的内的元器件本身的阻值误差的时候，如果有效数模转换值的平均值还超出设定范围，则代表电路元器件故障，尽可能的防止因电路元器件故障导致采样信号不准，损坏主控电路。

转换为N个数模转换值之前还包括：

进行参数初始化，所述参数包括所述数模转换值、所述数模转换次数、所述有效数模转换值以及所述异常数模转换次数。

具体的，进行参数初始化的目的是防止之前遗留下来的数据对电路故障自检产生影响，比如异常数模转换次数没有清零，就会减少现在的异常数模转换次数，参数初始化具体包括对异常数模转换次数和数模转换次数清零，对数模转换值和有效数模转换值清空。

本申请实施例还公开一种计算机可读存储介质，并且，计算机可读存储介质存储有计算机程序，其中，计算机程序被处理器执行时，采用了上述实施例中的一种电路故障自检方法。

其中，计算机程序可以存储于计算机可读介质中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间件形式等，计算机可读介质包括能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（ROM）、随机存取存储器（RAM）、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等，需要说明的是，计算机可读介质包括但不限于上述元器件。

其中，通过本计算机可读存储介质，将上述实施例中的一种电路故障自检方法存储于计算机可读存储介质中，并且，被加载并执行于处理器上，以方便上述方法的存储及应用。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种电路故障自检系统，其特征在于，包括：

主控电路、基准电压电路、传感器信号放大电路及处理器；

所述基准电压电路连接于所述传感器信号放大电路，所述主控电路连接于所述传感器信号放大电路，所述处理器连接于所述传感器信号放大电路；

所述基准电压电路用于为所述传感器信号放大电路提供基准电压，所述传感器信号放大电路用于将所述基准电压转换成数模转换值，所述处理器用于基于所述数模转换值判断所述传感器信号电路以及所述基准电压电路是否故障。

2.根据权利要求1所述一种电路故障自检系统，其特征在于，所述基准电压电路包括：

电阻R1和电阻R2，所述电阻R1与所述电阻R2串联，所述电阻R1的电阻值等于所述电阻R2的电阻值，所述电阻R1外接电源，所述电阻R2接地，所述电阻R1与所述电阻R2之间并联有电阻R3，所述电阻R3连接运算放大器的正相输入端，所述运算放大器的输出端连接于所述运算放大器的反相输入端。

3.根据权利要求1所述一种电路故障自检系统，其特征在于，所述传感器信号放大电路包括：

电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、第二运算放大器和数模转换器，所述电阻R5一端接地，另一端串联于所述电阻R6，所述第二运算放大器的反相输入端连接于所述电阻R5和所述电阻R6之间，所述第二运算放大器的正相输入端串联有所述电阻R7和所述电阻R8，所述电阻R7和所述电阻R8并联，所述电阻R8连接于主控电路。

4.一种电路故障自检方法，其特征在于，应用于电路故障自检系统，所述电路故障自检系统包括处理器、主控电路及传感器信号放大电路包括：

关闭主控电路；

所述传感器信号放大电路将所述基准电压电路的基准电压通过N+M次数模转换，转换为N+M个数模转换值；

所述传感器信号放大电路将所述N+M个数模转换值发送至所述处理器；

所述处理器计算所述数模转换值与数模标准值的差值，得到数模偏移值的绝对值；

所述处理器判断所述数模偏移值的绝对值是否大于异常平偏离值；

若所述数模偏移值的绝对值小于或等于所述异常平偏离值，则进行N+1次数模转换，并保存所述数模偏移值的绝对值作为有效数模转换值；

判断所述N+1次数模转换是否大于数模转换结束次数；

若所述N+1次数模转换大于所述数模转换结束次数，基于所述有效数模转换值，得到所述有效数模转换值的平均值；

所述处理器基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障。

5.根据权利要求4所述的一种电路故障自检方法，其特征在于，还包括异常数模转换次数M：

若所述数模偏移值的绝对值大于所述异常平偏离值，则异常数模转换次数M=M+1，在未进行数模偏移值的绝对值与所述异常平偏离值的比较时，所述数模转换次数处于初始状态；

判断所述异常数模转换次数是否大于异常数模转换标准次数；

若所述异常数模转换次数大于所述异常数模转换标准次数，则所述基准电压电路或传感器信号放大电路故障。

6.根据权利要求5所述的一种电路故障自检方法，其特征在于，所述基于所述数模偏移的绝对值，得到所述数模偏移绝对值的平均值包括：

获取N次有效数模转换值；

基于所述N次有效数模转换值，计算所述数模偏移绝对值的平均值。

7.根据权利要求4所述的一种电路故障自检方法，其特征在于，所述基于所述有效数模转换值的平均值，确定所述传感器信号放大电路或基准电压电路是否故障包括：

判断所述有效数模转换值的平均值是否大于数模转换最大偏移值；

若所述有效数模转换值的平均值大于所述数模转换最大偏移值，则得到电路异常故障；

若所述有效数模转换值的平均值小于或等于数模转换最大偏移值，则电路正常。

8.根据权利要求4或5所述的一种电路故障自检方法，其特征在于，转换为N个数模转换值之前还包括：

进行参数初始化，所述参数包括所述数模转换值、所述数模转换次数、所述有效数模转换值以及所述异常数模转换次数。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器加载并执行时，采用了权利要求4-8中任一项所述的方法。

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