CN115128353A - 一种补偿电阻的测试电路与测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种补偿电阻的测试电路与测试方法，包括连接电路、测试组件、壳体组件、夹持组件、调温组件。本发明的有益效果是：设置有定位槽以及穿线孔，使插座能够安插在定位槽内进行固定，同时连接线路能够穿过穿线孔缠绕在插座的绕线底块上，即线路从底板穿出，不会影响到将隔温罩安放在绝缘基座上；设置有电热丝分别设置在插座的两侧，以实现通电后对隔温罩内进行升温，进而使补偿电阻R待的阻值发生改变，并进行测试；设置有通孔，隔温罩上的通孔与外设制冷设备的冷气输送管道进行连通，可通过向隔温罩内通入冷空气，实现对隔温罩内进行降温，进而使补偿电阻R的阻值发生改变，并进行测试。

Description

一种补偿电阻的测试电路与测试方法

技术领域

本发明涉及一种补偿电阻的测试电路，具体为一种补偿电阻的测试电路与测试方法，属于补偿电阻测试技术领域。

背景技术

补偿电阻，在许多电路中都有使用，其具体作用也相差甚远，但基本上都是用来修正各种原因引起的，不需要的电参数改变。较为常见的是温度补偿电阻，其阻值会随着温度的改变而发生相应的改变，但对于温度补偿电阻，需要在测试后才能精确掌握其阻值变化规律。

而对于目前所使用的一些测试方法，往往需要较多的零部件一起配合使用，且对于测试电路也较为复杂，不便于设计相应的实际测试电路，另外，对于温度补偿电阻的测试，不仅仅只需在精密的测量实验室内进出操作测试，对于家庭或一些学校的课堂上，也会进行相应的测试，而现有的测试方法因为测试过程繁琐以及所使用的的器材零部件也较多，不便于在一些简陋的条件下进行测试，即可适用于的范围较小。

发明内容

本发明的目的就在于为了解决上述至少一个技术问题而提供一种补偿电阻的测试电路与测试方法。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的：一种补偿电阻的测试电路结构，包括

连接电路，其包括构成该电路的测试电源以及串联在该电路上的定值电阻R，所述定值电阻R两端的连接线路上并联有待测补偿电阻R_待的连接线路，且所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有定值电阻R；所述补偿电阻R_待为温度补偿电阻；

测试组件，其接入所述连接电路的待测补偿电阻R_待的连接线路中，且其包括：

壳体组件，其用于放置所需待测的补偿电阻，且其包括位于最底端的底板以及安放在所述底板上的隔温罩，所述底板的上表面固定连接有绝缘基座，所述隔温罩的开口端卡放在绝缘基座的四边处；

夹持组件，其设置在所述壳体组件的内部，并用于与待测补偿电阻的两个引脚进行连接，且其包括固定安装在所述绝缘基座上的插座，所述插座包括基块、设置在所述基块前端的夹持弹片以及设置在所述基块底端的绕线底块；

调温组件，其用于调节补偿电阻R_待所处空间的温度值，且其包括用于进行升温调节的电热丝以及用于降温调节开设在隔温罩上的通孔，所述通孔内塞有可拆卸的密封塞。

作为本发明再进一步的方案：所述定值电阻R的连接线路上并联有电压表，所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有电流表。

作为本发明再进一步的方案：所述绝缘基座上对称开设有定位槽，所述底板的内部开设有穿线孔。

作为本发明再进一步的方案：所述电热丝分别设置在插座的两侧，且所述电热丝两端连接的线路穿过中空的绝缘柱，并经由底板所开设的穿线孔穿出后与外设电源进行电性连接。

作为本发明再进一步的方案：所述隔温罩上的通孔与外设制冷设备的冷气输送管道进行连通。

作为本发明再进一步的方案：所述绝缘基座上通过中空的连杆固定安装有温度传感器，且所述温度传感器的连接线路穿过连杆，并经由底板所开设的穿线孔穿出后与外设终端进行信号传输连接。

一种补偿电阻的测试电路结构，其测试方法包括以下步骤：

步骤一、首先连接电路，将定值电阻R两端的连接线路与待测补偿电阻R_待的连接线路并联连接，并接入电源电路中，定值电阻R的连接线路上并联电压表，补偿电阻R_待的连接线路上串联电流表；

步骤二、将待测的补偿电阻R_待的两个引脚分别安插在两个插座上，使整个电路通路，并盖上隔温罩；

步骤三、先进行温度降低测试，外设制冷设备的冷气输送管道通过通孔通过向隔温罩内通入冷空气，实现对隔温罩内进行降温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，通过温度传感器记录下每一时刻的温度值，并同时记录该时刻的电压值以及电流值，计算得出补偿电阻R_待与定值电阻R；的电阻值总和，再减去定值电阻R的电阻值，即可测试得出该时刻补偿电阻R_待的阻值，并重复记录多个降温时刻的温度值以及电阻值；

步骤四、再进行温度升高测试，通电后对隔温罩内进行升温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，重复步骤三的过程，即可得到多个升温时刻的温度值以及电阻值；

步骤五、将每一时刻的温度值作为纵坐标，该时刻的电阻值作为横坐标，绘制折线图，进而可对补偿电阻R的电阻值的测试进行分析。

本发明的有益效果是：

1、设置有定位槽以及穿线孔，使插座能够安插在定位槽内进行固定，同时连接线路能够穿过穿线孔缠绕在插座的绕线底块上，即线路从底板穿出，不会影响到将隔温罩安放在绝缘基座上；

2、设置有电热丝分别设置在插座的两侧，以实现通电后对隔温罩内进行升温，进而使补偿电阻R_待的阻值发生改变，并进行测试；

3、设置有通孔，隔温罩上的通孔与外设制冷设备的冷气输送管道进行连通，可通过向隔温罩内通入冷空气，实现对隔温罩内进行降温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，并进行测试。

附图说明

图1为本发明电路连接结构示意图；

图2为本发明测试组件结构示意图；

图3为本发明隔温罩与底板连接结构示意图；

图4为本发明插座结构示意图；

图5为本发明测试组件剖面结构示意图。

图中：1、底板，2、绝缘基座，3、插座，31、基块，32、夹持弹片，33、绕线底块，4、绝缘柱，5、电热丝，6、连杆，7、温度传感器，8、隔温罩，9、密封塞，10、通孔，11、定位槽，12、穿线孔。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

如图1至图5所示，一种补偿电阻的测试电路结构，包括

连接电路，其包括构成该电路的测试电源以及串联在该电路上的定值电阻R₁，所述定值电阻R₁两端的连接线路上并联有待测补偿电阻R_待的连接线路，且所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有定值电阻R₂；所述补偿电阻R_待为温度补偿电阻；

测试组件，其接入所述连接电路的待测补偿电阻R_待的连接线路中，且其包括：

壳体组件，其用于放置所需待测的补偿电阻，且其包括位于最底端的底板1以及安放在所述底板1上的隔温罩8，所述底板1的上表面固定连接有绝缘基座2，所述隔温罩8的开口端卡放在绝缘基座2的四边处；

夹持组件，其设置在所述壳体组件的内部，并用于与待测补偿电阻的两个引脚进行连接，且其包括固定安装在所述绝缘基座2上的插座3，所述插座3包括基块31、设置在所述基块31前端的夹持弹片32以及设置在所述基块31底端的绕线底块33；

调温组件，其用于调节补偿电阻R_待所处空间的温度值，且其包括用于进行升温调节的电热丝5以及用于降温调节开设在隔温罩8上的通孔10，所述通孔10内塞有可拆卸的密封塞9。

在本发明实施例中，所述定值电阻R₁的连接线路上并联有电压表，所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有电流表，通过记录每一时刻的电压值以及电流值，进而可得出补偿电阻R_待与定值电阻R₂；的电阻值总和，再减去定值电阻R₂的电阻值，即可测试得出每一时刻补偿电阻R_待的阻值。

在本发明实施例中，所述绝缘基座2上对称开设有定位槽11，所述底板1的内部开设有穿线孔12，使插座3能够安插在定位槽11内进行固定，同时连接线路能够穿过穿线孔12缠绕在插座3的绕线底块33上，即线路从底板1穿出，不会影响到将隔温罩8安放在绝缘基座2上。

实施例二

如图1至图5所示，一种补偿电阻的测试电路结构，包括

连接电路，其包括构成该电路的测试电源以及串联在该电路上的定值电阻R₁，所述定值电阻R₁两端的连接线路上并联有待测补偿电阻R_待的连接线路，且所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有定值电阻R₂；所述补偿电阻R_待为温度补偿电阻；

测试组件，其接入所述连接电路的待测补偿电阻R_待的连接线路中，且其包括：

壳体组件，其用于放置所需待测的补偿电阻，且其包括位于最底端的底板1以及安放在所述底板1上的隔温罩8，所述底板1的上表面固定连接有绝缘基座2，所述隔温罩8的开口端卡放在绝缘基座2的四边处；

夹持组件，其设置在所述壳体组件的内部，并用于与待测补偿电阻的两个引脚进行连接，且其包括固定安装在所述绝缘基座2上的插座3，所述插座3包括基块31、设置在所述基块31前端的夹持弹片32以及设置在所述基块31底端的绕线底块33；

调温组件，其用于调节补偿电阻R_待所处空间的温度值，且其包括用于进行升温调节的电热丝5以及用于降温调节开设在隔温罩8上的通孔10，所述通孔10内塞有可拆卸的密封塞9。

在本发明实施例中，所述电热丝5分别设置在插座3的两侧，且所述电热丝5两端连接的线路穿过中空的绝缘柱4，并经由底板1所开设的穿线孔12穿出后与外设电源进行电性连接，以实现通电后对隔温罩8内进行升温，进而使补偿电阻R_待的阻值发生改变，并进行测试。

在本发明实施例中，所述隔温罩8上的通孔10与外设制冷设备的冷气输送管道进行连通，可通过向隔温罩8内通入冷空气，实现对隔温罩8内进行降温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，并进行测试。

在本发明实施例中，所述绝缘基座2上通过中空的连杆6固定安装有温度传感器7，且所述温度传感器7的连接线路穿过连杆6，并经由底板1所开设的穿线孔12穿出后与外设终端进行信号传输连接，可获得每一时刻补偿电阻_R的温度值，并可与所得到的每一时刻的补偿电阻_R的电阻值形成一一对应，进而可构建折线图，以便于对测试结果进行分析。

实施例三

一种补偿电阻的测试电路结构，其测试方法包括以下步骤：

步骤一、首先连接电路，将定值电阻R₁两端的连接线路与待测补偿电阻R_待的连接线路并联连接，并接入电源电路中，定值电阻R₁的连接线路上并联电压表，补偿电阻R_待的连接线路上串联电流表；

步骤二、将待测的补偿电阻R_待的两个引脚分别安插在两个插座3上，使整个电路通路，并盖上隔温罩8；

步骤三、先进行温度降低测试，外设制冷设备的冷气输送管道通过通孔10通过向隔温罩8内通入冷空气，实现对隔温罩8内进行降温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，通过温度传感器7记录下每一时刻的温度值，并同时记录该时刻的电压值以及电流值，计算得出补偿电阻R_待与定值电阻R₂；的电阻值总和，再减去定值电阻R₂的电阻值，即可测试得出该时刻补偿电阻R_待的阻值，并重复记录多个降温时刻的温度值以及电阻值；

步骤四、再进行温度升高测试，通电后对隔温罩8内进行升温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，重复步骤三的过程，即可得到多个升温时刻的温度值以及电阻值；

步骤五、将每一时刻的温度值作为纵坐标，该时刻的电阻值作为横坐标，绘制折线图，进而可对补偿电阻R₂的电阻值的测试进行分析。

工作原理：首先接通电路，然后由外设制冷设备的冷气输送管道通过通孔10通过向隔温罩8内通入冷空气，实现对隔温罩8内进行降温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，通过温度传感器7记录下每一时刻的温度值，并同时记录该时刻的电压值以及电流值，计算得出补偿电阻R_待与定值电阻R₂；的电阻值总和，再减去定值电阻R₂的电阻值，即可测试得出该时刻补偿电阻R_待的阻值，并重复记录多个降温时刻的温度值以及电阻值；再通电后对隔温罩8内进行升温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，重复上述的过程，即可得到多个升温时刻的温度值以及电阻值，对所获得的温度值以及计算的电阻值构建折线图，以便于对测试结果进行分析。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (7)

1.一种补偿电阻的测试电路结构，其特征在于：包括

连接电路，其包括构成该电路的测试电源以及串联在该电路上的定值电阻R₁，所述定值电阻R₁两端的连接线路上并联有待测补偿电阻R_待的连接线路，且所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有定值电阻R₂；所述补偿电阻R_待为温度补偿电阻；

测试组件，其接入所述连接电路的待测补偿电阻R_待的连接线路中，且其包括：

壳体组件，其用于放置所需待测的补偿电阻，且其包括位于最底端的底板(1)以及安放在所述底板(1)上的隔温罩(8)，所述底板(1)的上表面固定连接有绝缘基座(2)，所述隔温罩(8)的开口端卡放在绝缘基座(2)的四边处；

夹持组件，其设置在所述壳体组件的内部，并用于与待测补偿电阻的两个引脚进行连接，且其包括固定安装在所述绝缘基座(2)上的插座(3)，所述插座(3)包括基块(31)、设置在所述基块(31)前端的夹持弹片(32)以及设置在所述基块(31)底端的绕线底块(33)；

调温组件，其用于调节补偿电阻R_待所处空间的温度值，且其包括用于进行升温调节的电热丝(5)以及用于降温调节开设在隔温罩(8)上的通孔(10)，所述通孔(10)内塞有可拆卸的密封塞(9)。

2.根据权利要求1所述的一种补偿电阻的测试电路结构，其特征在于：所述定值电阻R₁的连接线路上并联有电压表，所述补偿电阻R_待的连接线路上串联有电流表。

3.根据权利要求1所述的一种补偿电阻的测试电路结构，其特征在于：所述绝缘基座(2)上对称开设有定位槽(11)，所述底板(1)的内部开设有穿线孔(12)。

4.根据权利要求1所述的一种补偿电阻的测试电路结构，其特征在于：所述电热丝(5)分别设置在插座(3)的两侧，且所述电热丝(5)两端连接的线路穿过中空的绝缘柱(4)，并经由底板(1)所开设的穿线孔(12)穿出后与外设电源进行电性连接。

5.根据权利要求1所述的一种补偿电阻的测试电路结构，其特征在于：所述隔温罩(8)上的通孔(10)与外设制冷设备的冷气输送管道进行连通。

6.根据权利要求1所述的一种补偿电阻的测试电路结构，其特征在于：所述绝缘基座(2)上通过中空的连杆(6)固定安装有温度传感器(7)，且所述温度传感器(7)的连接线路穿过连杆(6)，并经由底板(1)所开设的穿线孔(12)穿出后与外设终端进行信号传输连接。

7.一种补偿电阻的测试电路结构的测试方法，其特征在于：其测试方法包括以下步骤：

步骤一、首先连接电路，将定值电阻R₁两端的连接线路与待测补偿电阻R_待的连接线路并联连接，并接入电源电路中，定值电阻R₁的连接线路上并联电压表，补偿电阻R_待的连接线路上串联电流表；

步骤二、将待测的补偿电阻R_待的两个引脚分别安插在两个插座(3)上，使整个电路通路，并盖上隔温罩(8)；

步骤三、先进行温度降低测试，外设制冷设备的冷气输送管道通过通孔(10)通过向隔温罩(8)内通入冷空气，实现对隔温罩(8)内进行降温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，通过温度传感器(7)记录下每一时刻的温度值，并同时记录该时刻的电压值以及电流值，计算得出补偿电阻R_待与定值电阻R₂；的电阻值总和，再减去定值电阻R₂的电阻值，即可测试得出该时刻补偿电阻R_待的阻值，并重复记录多个降温时刻的温度值以及电阻值；

步骤四、再进行温度升高测试，通电后对隔温罩(8)内进行升温，进而使补偿电阻_R的阻值发生改变，重复步骤三的过程，即可得到多个升温时刻的温度值以及电阻值；

步骤五、将每一时刻的温度值作为纵坐标，该时刻的电阻值作为横坐标，绘制折线图，进而可对补偿电阻R₂的电阻值的测试进行分析。

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