CN115105110A - 用于射线检查的成像系统和方法 - Google Patents

用于射线检查的成像系统和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN115105110A
CN115105110A CN202111204463.6A CN202111204463A CN115105110A CN 115105110 A CN115105110 A CN 115105110A CN 202111204463 A CN202111204463 A CN 202111204463A CN 115105110 A CN115105110 A CN 115105110A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detector
region
radiation source
imaging
assembly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111204463.6A
Other languages
English (en)
Inventor
陈志强
张丽
金鑫
杨洪恺
许晓飞
赵振华
张思远
陈昶羽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tsinghua University
Nuctech Co Ltd
Original Assignee
Tsinghua University
Nuctech Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tsinghua University, Nuctech Co Ltd filed Critical Tsinghua University
Priority to CN202111204463.6A priority Critical patent/CN115105110A/zh
Publication of CN115105110A publication Critical patent/CN115105110A/zh
Priority to PCT/CN2022/124449 priority patent/WO2023061340A1/zh
Priority to EP22880277.3A priority patent/EP4393406A1/en
Priority to US17/967,039 priority patent/US20230124325A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0012—Biomedical image inspection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/027—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis characterised by the use of a particular data acquisition trajectory, e.g. helical or spiral
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4007—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a plurality of source units
    • A61B6/4014—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a plurality of source units arranged in multiple source-detector units
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/20—Image preprocessing
    • G06V10/25—Determination of region of interest [ROI] or a volume of interest [VOI]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10072—Tomographic images
    • G06T2207/10081—Computed x-ray tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V2201/00—Indexing scheme relating to image or video recognition or understanding
    • G06V2201/03—Recognition of patterns in medical or anatomical images
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V2201/00—Indexing scheme relating to image or video recognition or understanding
    • G06V2201/12—Acquisition of 3D measurements of objects

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。

Description

用于射线检查的成像系统和方法
技术领域
本发明涉及透视成像技术领域，特别是涉及一种用于射线检查的成像系统。
背景技术
CT(计算机断层成像)扫描系统广泛应用于医疗、安检和工业等领域。CT扫描生成三维扫描图像并且具有高识别能力。根据在扫描过程中射线源相对于被检查对象的运动，现有的CT扫描系统可以包括动态螺旋CT扫描系统和静态CT扫描系统。
在现有的CT扫描系统中，不管是动态螺旋CT扫描系统和静态CT扫描系统，通常射线源的X射线发射范围需要覆盖整个被检查对象，即对被检查对象整体进行扫描和成像，并且这些CT扫描系统在同一时刻只有单个靶点发射X射线。例如，现有的静态CT扫描系统可以是采用单个分布式射线源和一套探测器系统，或者可以采用多个分布式射线源和共用的一套探测器系统。但是，同一套探测器系统在同一时刻只能接收来自一个靶点的X射线。因此，这些CT扫描系统的扫描速度受限于动态螺旋扫描中采用的滑环的旋转速度和射线源的射线发射频率。在静态CT扫描系统中，扫描速度同样受限于射线源的射线发射频率。但是在一些应用场景中，需要关注的只有被检查对象的感兴趣区域(Region of Interest，ROI)，而且对于扫描速度要求较高，例如对活体进行ROI成像。为了提高CT扫描系统的采样频率，通常只能增加额外的探测器系统，但是这样就会大大增加CT扫描系统的尺寸和成本。
为此，需要一种改进的成像系统和方法。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种能够仅扫描感兴趣区域的成像系统和方法。本发明的一个目的是提供一种能够提高出束频率的成像系统和方法。本发明的一个目的是提供一种能够减小设备尺寸和成本的成像系统和方法。本发明的一个目的是提供一种能够更好地解决CT内问题的成像系统和方法。本发明的一个目的是提供一种能够降低散射信号影响的成像系统和方法。
本发明的一方面提供一种用于射线检查的成像系统，包括：检查区域，其中被检查对象能够进入检查区域，检查区域包括成像区域，被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域，感兴趣区域是被检查对象的局部区域；第一射线源组件，用于发射X射线，其中，第一射线源组件包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第一靶点，第一射线源组件的所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，用于接收从第一射线源组件发射并透射经过成像系统的成像区域的X射线，其中，第一探测器组件包括多个第一探测器单元，每个第一探测器单元包括多个第一探测器晶体，多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件的多个分布式射线源在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，其中，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
根据本发明的某些实施例，成像系统还包括承载装置，用于承载被检查对象，其中，成像系统构造成使得第一射线源组件和第一探测器组件能够相对于承载装置沿行进方向移动，从而被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域。
根据本发明的某些实施例，承载装置构造成能够沿行进方向传送被检查对象。
根据本发明的某些实施例，承载装置还构造成能够调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域的位置，使得被检查对象的感兴趣区域位于成像区域内。
根据本发明的某些实施例，成像区域位于第一射线源平面与第一探测器组件的远离第一射线源组件的外侧边缘之间，其中成像区域被限定为足以容纳感兴趣区域。
根据本发明的某些实施例，成像区域被限定为具有中心轴线的圆柱形区域。
根据本发明的某些实施例，行进方向与中心轴线基本上平行。
根据本发明的某些实施例，探测器平面与第一射线源平面彼此平行。
根据本发明的某些实施例，沿行进方向观察，第一射线源组件的多个分布式射线源构造成围绕成像区域具有大于180度的组合延伸角度。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件的多个分布式射线源构造成完整地围绕成像区域延伸以组成第一射线源环。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件的每个第一靶点的射线发射范围选择为不足以覆盖检查区域。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件的每个第一靶点都设置成沿行进方向朝着第一探测器组件的第一探测器单元偏转第一偏转角度。
根据本发明的某些实施例，第一偏转角度在1度到5度之间。
根据本发明的某些实施例，沿行进方向观察，第一射线源组件构造成能够相对于承载装置在预定范围内转动，以调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域的位置，使得被检查对象的感兴趣区域位于成像区域内。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件还包括至少一个第二靶点，第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖检查区域，其中，射线源控制装置还构造成：当第一射线源组件的第一靶点发射X射线时使得第二靶点不发射X射线，并且当第一射线源组件的第二靶点发射X射线时使得第一靶点不发射X射线。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件包括多个第二靶点，其中，射线源控制装置构造成使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第二靶点同时向检查区域发射X射线，其中，在第一射线源组件的同时向检查区域发射X射线的至少两个第二靶点中，任两个第二靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
根据本发明的某些实施例，沿行进方向观察，第一探测器组件设置成位于第一射线源组件的径向内侧。
根据本发明的某些实施例，第一探测器组件构造成完整地围绕成像区域延伸以组成探测器环。
根据本发明的某些实施例，第一探测器组件的第一探测器单元包括单排第一探测器晶体或多排第一探测器晶体。
根据本发明的某些实施例，成像系统还包括第二探测器组件，用于接收从被检查对象散射的X射线，其中，第二探测器组件包括多个第二探测器单元，每个第二探测器单元包括多个第二探测器晶体。
根据本发明的某些实施例，第二探测器组件的多个第二探测器单元与第一探测器组件的多个第一探测器单元对应设置。
根据本发明的某些实施例，成像系统还包括遮挡件，遮挡件布置成使得第二探测器单元不接收从第一射线源组件发射的直射X射线。
根据本发明的某些实施例，沿行进方向，每个第二探测器单元的第二探测器晶体与对应的第一探测器单元的第一探测器晶体布置成间隔开，以使得第二探测器单元不接收从第一射线源组件发射的直射X射线。
根据本发明的某些实施例，每个第二探测器单元的第二探测器晶体的数量等于对应的第一探测器单元的第一探测器晶体的数量；或者每个第二探测器单元的第二探测器晶体的数量小于对应的第一探测器单元的第一探测器晶体的数量。
根据本发明的某些实施例，成像系统还包括：第二射线源组件，用于发射X射线，其中，第二射线源组件包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第三靶点，第二射线源组件的所有第三靶点布置在第二射线源平面内，探测器平面与第二射线源平面沿行进方向间隔开预定距离，其中，第一探测器组件还构造成用于接收从第二射线源组件发射并透射经过成像系统的成像区域的X射线，其中，第一射线源平面、探测器平面和第二射线源平面沿行进方向依次分布，其中，射线源控制装置构造成当感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第二射线源组件在同一时刻从至少两个第三靶点同时向成像区域发射X射线，其中，在第二射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第三靶点中，每个第三靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第三靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
根据本发明的某些实施例，成像系统构造成使得第一射线源组件、第一探测器组件和第二射线源组件能够相对于承载装置沿行进方向移动，从而被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域。
根据本发明的某些实施例，成像区域位于第一射线源平面与第二射线源平面之间，其中成像区域被限定为足以容纳感兴趣区域。
根据本发明的某些实施例，成像区域被限定为具有中心轴线的圆柱形区域。
根据本发明的某些实施例，探测器平面、第一射线源平面和第二射线源平面彼此平行。
根据本发明的某些实施例，射线源控制装置构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件的至少一个第一靶点和第二射线源组件的至少一个第三靶点在同一时刻同时向成像区域发射X射线，并且其中，在第一射线源组件的至少一个第一靶点和第二射线源组件的至少一个第三靶点同时向成像区域发射X射线时，第一射线源组件的第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件的探测器晶体和第二射线源组件的第三靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件的探测器晶体互相不重合。
根据本发明的某些实施例，成像系统还构造成基于第一探测器组件的检测数据来重建被检查对象的感兴趣区域的三维扫描图像。
本发明的另一方面提供一种使用根据本发明的实施例的成像系统的成像方法，包括：(a)使被检查对象承载于成像系统的承载装置上；和(b)使成像系统的第一射线源组件和第一探测器组件相对于承载装置沿行进方向移动，从而被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域，同时使第一射线源组件发射X射线并且使X射线透射经过成像区域而被第一探测器组件接收，其中，第一射线源组件发射X射线的步骤包括：使第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，其中，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
根据本发明的某些实施例，成像方法还包括在步骤(a)中使被检查对象承载于承载装置上后，通过承载装置调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域的位置，使得被检查对象的感兴趣区域位于成像区域内。
根据本发明的某些实施例，成像方法还包括在步骤(a)中使被检查对象承载于承载装置上后，沿行进方向观察，使第一射线源组件相对于承载装置在预定范围内转动，以调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域的位置，使得被检查对象的感兴趣区域位于成像区域内。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件发射X射线的步骤还包括：从第一射线源组件的第二靶点发射X射线，第二靶点的射线发射范围选择为能够覆盖检查区域，其中，当第一射线源组件的第一靶点发射X射线时使得第二靶点不发射X射线，并且当第一射线源组件的第二靶点发射X射线时使得第一靶点不发射X射线。
根据本发明的某些实施例，成像系统的射线源组件可以同时从多个靶点发射X射线，由此可以提高成像系统的射线发射频率，特别是在不增加成像系统的所占体积和额外探测器成本的情况下提高射线发射频率。通过使射线源组件的靶点的射线发射范围仅覆盖成像区域，成像系统可以仅对成像区域和位于其中的被检查对象的感兴趣区域进行透射成像，从而可以降低成像系统的所占体积和成本。通过使与同时发射的靶点对应的探测器晶体互相不重合，可以在多靶点同时出束的同时进行互不干扰的信号采集，这可以有助于图像重建和提高透射扫描效率。
附图说明
图1是根据本发明的某些实施例的成像系统的示意图。
图2是根据本发明的某些实施例的成像系统的截面示意图。
图3是根据本发明的某些实施例的成像系统的射线发射示意图。
图4是根据本发明的某些实施例的成像系统的局部截面示意图。
图5是根据本发明的某些实施例的第一探测器组件和第二探测器组件的示意图。
图6是根据本发明的某些实施例的第一探测器组件和第二探测器组件的示意图。
图7是根据本发明的某些实施例的第一探测器组件和第二探测器组件的示意图。
图8是根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件和遮挡件的成像系统的局部截面示意图。
图9是根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件和遮挡件的成像系统的局部截面示意图。
图10是根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件和遮挡件的成像系统的局部截面示意图。
图11是根据本发明的某些实施例的包括第二射线源组件的成像系统的截面示意图。
具体实施方式
下文中，参照附图描述本发明的实施例。下面的详细描述和附图用于示例性地说明本发明的原理，本发明不限于所描述的优选实施例，本发明的范围由权利要求书限定。现参考示例性的实施方式详细描述本发明，一些实施例图示在附图中。以下描述参考附图进行，除非另有表示，否则在不同附图中的相同附图标记代表相同或类似的元件。以下示例性实施方式中描述的方案不代表本发明的所有方案。相反，这些方案仅是所附权利要求中涉及的本发明的各个方面的系统和方法的示例。
根据本发明的实施例的用于射线检查的成像系统和成像方法可以应用于医疗、安检和工业等领域，以用于对物体或人体等进行透视成像检查。
图1是根据本发明的某些实施例的成像系统的示意图。图2是根据本发明的某些实施例的成像系统的截面示意图。图3是根据本发明的某些实施例的成像系统的射线发射示意图。
根据本发明的某些实施例，如图1所示，用于射线检查的成像系统包括：检查区域100、第一射线源组件200和第一探测器组件300。第一射线源组件200用于发射X射线。第一探测器组件300用于接收从第一射线源组件200发射并透射经过成像系统的检查区域100的X射线。根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200和第一探测器组件300布置成围绕检查区域100，即位于检查区域100的径向外侧。成像系统构造成使得第一射线源组件200和第一探测器组件300能够相对于被检查对象沿行进方向移动。
根据本发明的某些实施例，成像系统限定检查区域100。在本文中，“检查区域”表示被检查对象能够进入的区域。当被检查对象位于检查区域100中时，从第一射线源组件200发射的X射线能够穿透被检查对象并且被第一探测器组件300接收到。在示例性实施例中，检查区域100包括第一端和第二端。在一些实施例中，被检查对象从第一端和第二端中的一者被传送进入检查区域100，并且从另一者离开检查区域100。
根据本发明的某些实施例，被检查对象包括感兴趣区域(ROI)，感兴趣区域是被检查对象的局部区域。例如，当被检查对象是人体时，感兴趣区域可以是人体的心脏、肺部等局部区域。根据本发明的某些实施例，检查区域100包括具有中心轴线的成像区域110，即成像区域110是检查区域100的局部区域。在本文中，“成像区域”表示被检查对象的感兴趣区域能够进入并且在此接受X射线透射检查的区域。成像区域110的尺寸设置成足以容纳被检查对象的感兴趣区域。在本文中，成像区域的中心轴线表示经过成像区域的与行进方向(下文描述)垂直的横截面的大致中心的轴线。在一些实施例中，检查区域和成像区域相对于第一探测器组件300(以及下文所述的第二探测器组件600)是固定的。在一些实施例中，检查区域和成像区域相对于第一射线源组件200和第一探测器组件300(以及下文所述的第二射线源组件700和第二探测器组件600)是固定的。
在示例性实施例中，如图1所示，成像系统还包括承载装置400，用于承载被检查对象。根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200和第一探测器组件300能够相对于承载装置400沿行进方向移动。由此，被检查对象的感兴趣区域能够进入检查区域100的成像区域110中。在示例性实施例中，承载装置400用于沿行进方向传送被检查对象进入检查区域100。在示例性实施例中，行进方向平行于水平方向。根据本发明的某些实施例，承载装置400可以沿行进方向往复地传送被检查对象通过检查区域100，即沿相反方向来回传送被检查对象。在一些实施例中，承载装置400以匀速直线运动来传送被检查对象。在示例性实施例中，行进方向与成像区域110的中心轴线基本平行。在一些实施例中，承载装置400是传送带或载物平台。
根据本发明的某些实施例，如图1所示，成像系统还可以包括屏蔽部件500。在示例性实施例中，屏蔽部件500可以布置成围绕成像系统的检查区域100。在示例性实施例中，第一射线源组件200和第一探测器组件300布置成围绕检查区域100并且位于屏蔽部件500的外侧，即在屏蔽部件500的远离检查区域100的一侧。
在本文中，“轴向”表示与行进方向平行的方向，“径向”表示在与行进方向垂直的平面内从中心轴线向外辐射的方向，并且“周向”表示在与行进方向垂直的平面内且与“径向”垂直的方向。
下面参照附图详细描述根据本发明的某些实施例的第一射线源组件和第一探测器组件的结构和布置。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200包括多个分布式射线源210，每个分布式射线源210包括多个第一靶点。在一些实施例中，每个分布式射线源210包括单独的壳体以限定单独的真空空间，并且包括封装在壳体内的多个第一靶点。在一些实施例中，每个分布式射线源210的多个第一靶点具有均匀的靶点间距。在一些实施例中，每个分布式射线源210的多个第一靶点沿直线分布。
如上所述，当第一射线源组件200包括多个分布式射线源210时，每个分布式射线源210限定单独的真空空间，因此不与其他分布式射线源210共用真空空间。不同的分布式射线源210的真空空间不连通。根据本发明的某些实施例，每个分布式射线源210可以与其他分布式射线源210独立地被拆卸和/或安装在成像系统中。
上文描述分布式射线源210中的多个第一靶点具有均匀的靶点间距。但是，本发明不限于此。在一些实施例中，分布式射线源210中的多个第一靶点还可以非均匀排布，即具有非均匀的靶点间距。
上文描述每个分布式射线源210中的多个第一靶点沿直线排布。但是，本发明不限于此。在一些实施例中，分布式射线源210中的多个第一靶点还可以沿弧线、折线等排布。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200的多个分布式射线源210的所有第一靶点布置在同一平面(以下称为“第一射线源平面”)内，即第一射线源组件200的多个分布式射线源210共面设置。在本文中，“靶点位于同一平面内”表示靶点的出束点都位于同一平面内。在一些实施例中，第一射线源平面与行进方向(或中心轴线)基本上垂直。
在示例性实施例中，第一射线源组件200的多个分布式射线源210完整地围绕成像区域110延伸，即沿行进方向观察围绕成像区域110连续延伸的角度基本上达到360°。由此，第一射线源组件200的多个分布式射线源210组成一个完整且连续的第一射线源环。在一些实施例中，第一射线源环可以是圆环、方形环、矩形环、多边形环等。例如，如图1所示，第一射线源组件200的多个第一分布式射线源210构成多边形环。
上文描述第一射线源组件200的多个分布式射线源210组成一个完整的射线源环。但是，本发明不限于此。在某些实施例中，第一射线源组件200的多个分布式射线源210组成的射线源环可以是不完整的，即存在缺口部分。在某些实施例中，第一射线源组件200的多个分布式射线源210分成多段，不同段的分布式射线源210可以围绕成像区域110间隔地分布。在示例性实施例中，沿行进方向观察，第一射线源组件200的多个分布式射线源210相对于中心轴线围绕成像区域110具有大于180度的组合延伸角度。在本文中，每个分布式射线源210相对于中心轴线围绕成像区域110的延伸角度表示该分布式射线源210的所有第一靶点相对于成像区域110(相对于成像区域110的中心轴线)的角度范围。在第一射线源组件200包括多个分布式射线源210时，相对于成像区域110处于不同扫描位置的多个分布式射线源210可以提供一个组合延伸角度。在本文中，“组合延伸角度”表示将处于不同扫描位置的多个分布式射线源210相对于成像区域110的各个延伸角度组合在一起所产生的角度范围。在一些实施例中，处于不同扫描位置的多个分布式射线源210相对于成像区域110的组合延伸角度可以是连续的或不连续的。
上文描述第一射线源组件200的多个分布式射线源210组成一个射线源环。但是，本发明不限于此。在某些实施例中，第一射线源组件200的多个分布式射线源210可以仅部分地围绕成像区域110连续延伸，即第一射线源组件200的多个分布式射线源210相对于中心轴线围绕成像区域110提供一个连续的组合延伸角度且该组合延伸角度小于360°。在一些实施例中，第一射线源组件200的多个分布式射线源210相对于中心轴线围绕成像区域110的连续组合延伸角度大于180°且小于360°。
第一探测器组件300用于接收从第一射线源组件200发射并透射经过成像系统的成像区域110的X射线。
根据本发明的某些实施例，第一探测器组件300包括多个探测器单元310。在一些实施例中，第一探测器组件300中探测器单元的布置可以根据第一射线源组件200中的分布式射线源210的排布和/或被检查对象的尺寸等因素来设置。在一些实施例中，第一探测器组件300中探测器单元的布置还可以采用成本效益高的排布，即以尽量少的探测器单元来满足成像需求。
根据本发明的某些实施例，第一探测器组件300的每个第一探测器单元310包括多个第一探测器晶体。在示例性实施例中，每个探测器单元310布置成既不遮挡同侧分布式射线源210发射的X射线，又能接收到其他侧分布式射线源210发射的X射线。
在示例性实施例中，多个第一探测器单元310布置在同一平面(以下称为“探测器平面”)内。在本文中，“探测器单元布置在同一平面内”表示探测器单元的中心面(例如探测器晶体中心面)都布置在同一平面内。例如，通过相同的定位基准使得多个第一探测器单元310的中心面布置在同一平面内。在一些实施例中，探测器平面与行进方向(中心轴线)基本上垂直。在一些实施例中，第一探测器单元310包括单排探测器晶体或多排探测器晶体。
在一些实施例中，如图2所示，沿中心轴线(或行进方向)，第一射线源组件200的第一射线源平面与第一探测器组件300的探测器平面间隔开预定距离。在示例性实施例中，第一射线源组件200的第一射线源平面与第一探测器组件300的探测器平面基本上平行。
在示例性实施例中，第一探测器组件300的多个第一探测器单元310完整地围绕成像区域延伸。由此，多个第一探测器单元310组成一个完整且连续的第一探测器环。在一些实施例中，第一探测器环可以是圆环、方形环、矩形环、多边形环等。例如，如图1所示，多个第一探测器单元310构成圆环。
上文描述多个第一探测器单元310组成一个完整的探测器环。但是，本发明不限于此。在某些实施例中，多个第一探测器单元310组成的探测器环可以是不完整的，即存在缺口部分。在某些实施例中，多个第一探测器单元310分成多段，不同段的第一探测器单元310可以围绕成像区域间隔地分布。
第一射线源组件200的每个第一靶点具有一个射线发射范围。根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200的至少一部分第一靶点的射线发射范围经选择能够覆盖成像区域110。在本文中，靶点的射线发射范围覆盖成像区域110表示该靶点的射线发射范围刚好可以覆盖成像区域110或者比成像区域110略大。第一射线源组件200的这些第一靶点的射线发射范围可以覆盖检查区域100或者可以不覆盖检查区域100。在一些实施例中，第一射线源组件200的这部分第一靶点中每一个的射线发射范围经选择不足以覆盖检查区域100，即这些第一靶点中每一个的射线发射范围比检查区域100小。在示例性实施例中，第一射线源组件200的每个第一靶点的射线发射范围能够覆盖成像区域110，并且可选地，每个第一靶点的射线发射范围不足以覆盖检查区域100。与射线发射范围覆盖整个被检查对象的现有射线源相比，根据本发明的实施例的第一射线源组件可以提供较小的射线发射范围以只覆盖成像区域，从而可以只对成像区域和被检查对象的感兴趣区域进行透射成像。
根据本发明的某些实施例，成像区域110被限定为位于第一射线源组件200的第一射线源平面与第一探测器组件300的远离第一射线源组件200的外侧边缘之间。在示例性实施例中，成像区域110被限定为圆柱形区域。这时，成像区域110的中心轴线是该圆柱形区域的旋转轴线。在一些实施例中，成像区域110被限定为足以容纳被检查对象的感兴趣区域。在示例性实施例中，成像系统构造成使得成像区域110中的每一点都可以被来自第一射线源组件200的X射线穿过并且穿过后的X射线可以被第一探测器组件300检测到。
下面参照附图详细描述根据本发明的某些实施例的第一射线源组件和第一探测器组件的相对位置。图4是根据本发明的某些实施例的成像系统的局部截面示意图。
根据本发明的某些实施例，如图4所示，第一射线源组件200的每个第一靶点都设置成沿行进方向朝着第一探测器组件300的第一探测器单元310偏转第一偏转角度A1。在一些实施例中，第一偏转角度在1°到5°之间。在一些实施例中，每个分布式射线源210围绕其第一靶点的轴线偏转。在一些实施例中，第一射线源组件200还可以包括准直器，用于使第一射线源组件200的分布式射线源210发射的X射线的方向沿行进方向朝着第一探测器组件300偏转第一倾斜角度。
在一些实施例中，第一偏转角度设置成使得第一射线源组件200的每个分布式射线源210发射的X射线在经过成像区域之前不会被第一探测器组件300遮挡。在一些实施例中，第一射线源组件200的射线发射方向相对于第一探测器组件300偏转的情况下，该射线发射方向与成像区域的中心轴线不垂直。
通过将第一射线源组件200的射线发射方向相对于第一探测器组件300偏转，第一射线源组件200的分布式射线源210发射的X射线可以避开同侧的第一探测器组件300的探测器单元310，并且还可以被第一探测器组件200的其他侧的探测器单元310接收到。
在一些实施例中，沿行进方向(或中心轴线)观察，第一探测器组件300设置成位于第一射线源组件200的径向内侧。换言之，第一探测器组件300设置成相对于第一射线源组件200更靠近成像区域110的中心轴线。
在一些实施例中，沿中心轴线(或行进方向)观察，承载装置400设置成位于第一探测器组件300的径向内侧，并且第一探测器组件300设置成位于第一射线源组件200的径向内侧。由此，如图1所示，第一射线源组件200、第一探测器组件300和承载装置400依次外向内排布。
根据本发明的某些实施例，成像系统还可以具有位置调整功能，以调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域110的位置。例如，当被检查对象的感兴趣区域未完全位于成像区域110中时，通过位置调整功能可以将被检查对象的感兴趣区域移动到完全位于成像区域110中。
在一些实施例中，承载装置400构造成能够调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域110的位置。在一些实施例中，沿行进方向观察，第一射线源组件200构造成能够相对于成像区域110(或承载装置400)在预定范围内转动，以调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域110的位置。由此，被检查对象的感兴趣区域能够通过调整而位于成像区域110内。
下面参照附图详细描述根据本发明的某些实施例的射线发射控制。
根据本发明的某些实施例，成像系统还可以包括射线源控制装置(未示出)。在一些实施例中，射线源控制装置可以构造成控制第一射线源组件200的射线发射，例如靶点发射顺序、发射频率、发射电流等。
根据本发明的某些实施例，射线源控制装置构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域110中时，使得第一射线源组件200的多个分布式射线源210在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域110发射X射线。由此，第一射线源组件200的第一射线源平面中存在两个以上第一靶点同时发射X射线。因此，根据本发明的实施例的成像系统可以提高射线发射频率，特别是在不增加成像系统的所占体积和额外探测器成本的情况下提高射线发射频率。
在一些实施例中，射线源控制装置构造成在每次控制第一射线源组件200发射X射线时，都使得第一射线源组件200从至少两个第一靶点同时向成像区域110发射X射线。这种情况下，第一射线源组件200的每次X射线发射都是多靶点同时出束。
在一些实施例中，在第一射线源组件200的同时向成像区域110发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域110，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。通过使第一射线源组件200的第一靶点的射线发射范围都覆盖成像区域110，成像系统可以仅对成像区域110和位于其中的被检查对象的感兴趣区域进行透射成像，从而可以降低成像系统的所占体积和成本。通过使与同时发射的第一靶点对应的探测器晶体互相不重合，可以在多靶点同时出束的同时进行互不干扰的信号采集，这可以有助于后续图像重建和提高透射扫描效率。如图3所示，第一射线源组件200可以在同一时刻从六个第一靶点同时发射X射线。
下面描述根据本发明的某些实施例的成像系统的第一射线源组件200的射线发射模式。
在一些实施例中，第一射线源组件200包括总计N个第一靶点，所有N个第一靶点被分为M组，M<N/2。每组中包括相同数量的第一靶点。每组中的第一靶点分别来自不同的分布式射线源210。各组中的第一靶点互相不重合(即每个第一靶点只归属于一个组)。在每组中，各个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。射线源控制装置控制同一时刻一组中的所有第一靶点同时发射X射线，并且使M组第一靶点依次发射X射线。
在一些实施例中，第一射线源组件200包括总计N个第一靶点，所有N个第一靶点被分为M组，M<N/2。每组中包括相同或不同数量的第一靶点，并且每组中包括至少一个第一靶点(即，每组中第一靶点的数量可以为一个)。每组中的第一靶点分别来自不同的分布式射线源210。各组中的第一靶点互相不重合(即每个第一靶点只归属于一个组)。在每组中，各个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。射线源控制装置控制同一时刻一组中的所有第一靶点同时发射X射线，并且使M组第一靶点依次发射X射线。
在一些实施例中，第一射线源组件200包括总计N个第一靶点，所有N个第一靶点被分为M组，M<N/2。每组中包括相同数量的第一靶点。每组中的第一靶点分别来自不同的分布式射线源210。各组中的第一靶点可以部分重合(即一个第一靶点可以同时归属于两个或更多个组)。在每组中，各个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。射线源控制装置控制同一时刻一组中的所有第一靶点同时发射X射线，并且使M组第一靶点依次发射X射线。
上文举例描述成像系统的三种射线发射模式。但是，本发明不限于此。根据本发明的实施例，成像系统还可以具有其他射线发射模式。在第一射线源组件200的第一射线源平面中存在两个以上第一靶点能够同时发射X射线的情况下，成像系统的射线发射模式可以根据第一射线源组件200中第一靶点的分组数量、各个第一靶点的分组归属、各组第一靶点的发射间隔和顺序等进行组合，以实现X射线发射的不同模式。
根据本发明的某些实施例，成像系统还可以构造成基于第一探测器组件300的检测数据来重建被检查对象的感兴趣区域的三维扫描(CT)图像。根据本发明的某些实施例，成像系统在重建被检查对象的感兴趣区域的三维扫描图像时可以采用迭代重建算法、解析重建算法等或不同重建算法的结合。
在第一射线源组件200的第一靶点的射线发射范围只覆盖感兴趣区域且感兴趣区域完全位于被检查对象内部时，投影数据可能是截断的，这种情况下被检查对象的感兴趣区域的成像属于CT内部问题。与射线发射范围覆盖整个被检查对象的图像重建相比，CT内部问题在理论上存在解不唯一的问题。
为了解决该问题，在一些实施案例中，除射线发射范围只覆盖成像区域110而不覆盖整个检查区域100的上述第一靶点(也可称为小扇角靶点)外，第一射线源组件200还可以包括射线发射范围能够覆盖检查区域100的第二靶点(也可称为大扇角靶点)。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200还包括至少一个第二靶点(大扇角靶点)。第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖检查区域100。在一些实施例中，第一探测器组件300还构造成能够接收从第一射线源组件200的第二靶点发射并透射经过检查区域100的X射线。在示例性实施例中，当第一射线源组件200的一个分布式射线源210包括第二靶点时，同时包括第一靶点和第二靶点的分布式射线源210可以与仅包括第一靶点的分布式射线源210以相同的方式布置其各个靶点。
在一些实施例中，射线源控制装置构造成当第一射线源组件200的第一靶点发射X射线时使得第二靶点不发射X射线，并且当第一射线源组件200的第二靶点发射X射线时使得第一靶点不发射X射线。由此，成像系统的大扇角靶点和小扇角靶点是分开进行射线发射的。
在一些实施例中，第一射线源组件200包括多个第二靶点。射线源控制装置构造成使得第一射线源组件200在同一时刻从至少两个第二靶点同时向检查区域发射X射线。在一些实施例中，在第一射线源组件200的同时向检查区域发射X射线的至少两个第二靶点中，任两个第二靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。由此，第一射线源组件200可以存在两个以上第二靶点同时发射X射线。在一些实施例中，第一射线源组件200的多个第二靶点均匀分布。例如，假设第一射线源组件200包括总共9个靶点，其中第1、4、7个靶点可以是第二靶点，其余的第2、3、5、6、8、9个靶点可以是上述第一靶点。
下面描述根据本发明的某些实施例的包括第二靶点的第一射线源组件200的射线发射模式。在一些实施例中，第一射线源组件200包括N1个第一靶点和N2个第二靶点。射线源控制装置可以参考上述任意射线发射模式将N1个第一靶点分成M组(M<N1/2)，并且控制M组第一靶点和N2个第二靶点以预定顺序发射X射线。射线源控制装置构造成当第一射线源组件200的第一靶点发射X射线时使得第二靶点不发射X射线，并且当第一射线源组件200的第二靶点发射X射线时使得第一靶点不发射X射线。在每组第一靶点中，各个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。在第一射线源组件200在同一时刻从至少两个第二靶点同时向检查区域100发射X射线时，同时发射X射线的第二靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
通过采用上述构造，大扇角靶点可以用于对被检查对象整体进行成像，有助于避免或解决CT内部问题；同时小扇角靶点可以用于提高感兴趣区域的成像质量。
根据上述实施例，第一射线源组件200的多个第一靶点可以同时发射X射线，并且可选地第一射线源组件200的多个第二靶点也可以同时发射X射线。由于多个靶点同时发射X射线，各个靶点发射的X射线与被检查对象产生的散射信号会相互叠加影响，这可能会降低第一探测器组件的信噪比并且因此影响成像质量。
为了对散射信号进行校正，根据本发明的某些实施例，成像系统还可以包括第二探测器组件600，用于接收从被检查对象散射的X射线。根据本发明的某些实施例，第二探测器组件600布置成围绕检查区域100，即位于检查区域100的径向外侧。在一些实施例中，第二探测器组件600相对于第一探测器组件300是固定的。
图4示出根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件的成像系统。在一些实施例中，第二探测器组件600包括多个第二探测器单元610。在示例性实施例中，第二探测器组件600的多个第二探测器单元610与第一探测器组件300的多个第一探测器单元310对应设置，优选为一一对应。根据本发明的某些实施例，第二探测器单元610布置成不接收从第一射线源组件200发射的直射X射线，而是接收经被检查对象散射的X射线。
在示例性实施例中，每个第二探测器单元610包括多个第二探测器晶体。每个第二探测器单元610的第二探测器晶体611与对应第一探测器单元310的第一探测器晶体311并排布置。在本文中，“并排布置”表示沿行进方向观察，对应的第一探测器晶体和第二探测器晶体处于大致相同的径向位置和周向位置。沿行进方向(或中心轴线)，对应的第二探测器晶体611与第一探测器晶体311布置成彼此接触或者间隔开，这将在下文中参考附图分别详细描述。
在一些实施例中，沿行进方向(或中心轴线)，每个第二探测器单元610的第二探测器晶体与对应的第一探测器单元310的第一探测器晶体布置成间隔开，以使得第二探测器单元610不接收从第一射线源组件200发射的直射X射线。由此，第二探测器组件600的第二探测器单元610设置在第一射线源组件200的第一靶点的射线发射范围以外。
图5是根据本发明的某些实施例的第一探测器组件和第二探测器组件的示意图。图6是根据本发明的某些实施例的第一探测器组件和第二探测器组件的示意图。如图5和图6所示，沿行进方向(或中心轴线)，第二探测器单元的第二探测器晶体611与对应的第一探测器单元的第一探测器晶体311布置成间隔开。
在一些实施例中，沿行进方向(或中心轴线)，每个第二探测器单元610的第二探测器晶体与对应的第一探测器单元310的第一探测器晶体布置成彼此接触。在示例性实施例中，成像系统还包括遮挡件，其布置成使得第二探测器单元610不接收从第一射线源组件200发射的直射X射线。由于第二探测器晶体与第一探测器晶体紧邻布置，部分直射X射线可能会被第二探测器晶体接收到。通过设置遮挡件，可以防止第二探测器单元610接收到直射X射线，以提高第二探测器组件的检测精度并且提高经校正后的透射X射线信号的检测精度。
下面将参考附图描述根据本发明的某些实施例的遮挡件。
图7是根据本发明的某些实施例的第一探测器组件和第二探测器组件的示意图。图8是根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件和遮挡件的成像系统的局部截面示意图。如图7和图8所示，第二探测器单元610的第二探测器晶体611与对应的第一探测器单元310的第一探测器晶体311沿行进方向紧邻布置。沿行进方向(或中心轴线)，遮挡件620布置在相邻的第二探测器单元610的第二探测器晶体611与第一探测器单元310的第一探测器晶体311之间。在一些实施例中，遮挡件620布置成与第二探测器单元610和/或第二探测器单元310直接接触，例如第二探测器单元610和/或第二探测器单元310的径向内表面(图8中所示的上表面)。在图7和图8所示的实施例中，遮挡件620为竖直遮挡件，即沿周向观察其大致沿竖直方向延伸。
图9是根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件和遮挡件的成像系统的局部截面示意图。图10是根据本发明的某些实施例的包括第二探测器组件和遮挡件的成像系统的局部截面示意图。如图9和图10所示，第二探测器单元610的第二探测器晶体与对应的第一探测器单元310的第一探测器晶体沿行进方向紧邻布置。遮挡件620布置成与第二探测器单元610和第二探测器单元310间隔开，即不直接接触。根据需要，遮挡件620可以设置成更远离第二探测器单元610和第二探测器单元310(如图9所示)，或者更靠近第二探测器单元610和第二探测器单元310(如图10所示)。在图9和图10所示的实施例中，遮挡件620为水平遮挡件，即沿周向观察其大致沿水平方向延伸。
上文描述在第二探测器单元610的第二探测器晶体611与对应的第一探测器单元310的第一探测器晶体311沿行进方向彼此接触时设置遮挡件。但是，本发明不限于此。应当理解，在第二探测器单元610的第二探测器晶体611与对应的第一探测器单元310的第一探测器晶体311布置成间隔开时，也可以设置遮挡件。
上文举例描述遮挡件的某些实施方式。但是，本发明不限于此。应当理解，只要遮挡件能够防止第二探测器单元610接收到直射X射线，该遮挡件可以以任何结构和形式布置。
在一些实施例中，如图5和图7所示，每个第二探测器单元的第二探测器晶体611的数量等于对应第一探测器单元的第一探测器晶体311的数量。由此，对于第一探测器单元310的每一列第一探测器晶体311，都对应地设置用于接收散射信号的一列(至少一个)第二探测器晶体611。
以下示例性地描述根据本发明的某些实施例的散射校正模式。假设第一探测器单元310的各列第一探测器晶体311的读数分别为p1、p2、p3…并且第二探测器单元610的各列第二探测器晶体611的读数为q，考虑到散射信号为低频信号并且探测晶体的宽度较小，可以将经散射校正后的透射X射线信号表示为p1-q、p2-q、p3-q…。
在一些实施例中，如图6所示，每个第二探测器单元的第二探测器晶体611的数量小于对应第一探测器单元的第一探测器晶体311的数量。例如，第二探测器单元610的第二探测器晶体611沿着第一探测器单元310的长度方向间隔地布置。例如，可以基于各列第二探测器晶体611的读数，通过插值或拟合等方式得到在未设置第二探测器晶体611处的各列第一探测器晶体311的散射信号的计算值，并相应地进行散射信号校正。
上文描述成像系统包括第一靶点布置在第一射线源平面内的第一射线源组件200。但是，本发明不限于此。图11是根据本发明的某些实施例的包括第二射线源组件的成像系统的截面示意图。在一些实施例中，如图11所示，成像系统还包括用于发射X射线的第二射线源组件700。当成像系统包括第二射线源组件700时，第一探测器组件300还构造成用于接收从第二射线源组件700发射并透射经过成像系统的检查区域100(特别是成像区域110)的X射线。根据本发明的某些实施例，当被检查对象位于检查区域100中时，从第二射线源组件700发射的X射线能够穿透被检查对象并且被第一探测器组件300接收到。
根据本发明的某些实施例，第二射线源组件700包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第三靶点。第二射线源组件700的每个分布式射线源可以具有与根据上述任意实施例的第一射线源组件200的分布式射线源210相同的结构、构造和布置。第二射线源组件700的第三靶点可以具有与根据上述任意实施方式的第一射线源组件200的第一靶点相同的结构、构造和布置。
第二射线源组件700的每个第三靶点具有一个射线发射范围。根据本发明的某些实施例，第二射线源组件700的至少一部分第三靶点的射线发射范围经选择能够覆盖成像区域110。在一些实施例中，第二射线源组件700的这部分第三靶点中每一个的射线发射范围经选择不足以覆盖检查区域100，即这些第三靶点中每一个的射线发射范围比检查区域100小。在示例性实施例中，第二射线源组件700的每个第三靶点的射线发射范围能够覆盖成像区域110，并且可选地，每个第三靶点的射线发射范围不足以覆盖检查区域100。
根据本发明的某些实施例，第二射线源组件700的多个分布式射线源的所有第三靶点布置在同一平面(以下称为“第二射线源平面”)内，即第二射线源组件700的多个分布式射线源共面设置。在一些实施例中，第二射线源平面与行进方向(或中心轴线)基本上垂直。在一些实施例中，沿行进方向(或中心轴线)，第二射线源组件700的第二射线源平面与第一探测器组件300的探测器平面间隔开预定距离。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200的第一射线源平面、第一探测器组件300的探测器平面和第二射线源组件700的第二射线源平面沿行进方向(或中心轴线)依次分布。在示例性实施例中，例如如图11所示，沿着行进方向(或中心轴线)，第一射线源组件200和第二射线源组件700分别设置在第一探测器组件300的两侧。由此，根据本发明的某些实施例的成像系统具有两个射线源平面，两个射线源平面分别位于探测器平面的两侧。
在示例性实施例中，第一射线源平面、探测器平面和第二射线源平面基本上相互平行。在一些实施例中，第一射线源平面、探测器平面和第二射线源平面与行进方向(或中心轴线)基本上垂直。
根据本发明的某些实施例，当成像系统还包括第二射线源组件700时，成像区域110被限定为位于第一射线源组件200的第一射线源平面与第二射线源组件700的第二射线源平面之间。在示例性实施例中，成像区域110被限定为圆柱形区域。在一些实施例中，成像区域110被限定为足以容纳被检查对象的感兴趣区域。
根据本发明的某些实施例，第一射线源组件200、第一探测器组件300和第二射线源组件700能够共同相对于承载装置400沿行进方向移动。
根据本发明的某些实施例，第二射线源组件700的每个靶点都设置成沿行进方向朝着第一探测器组件300的第一探测器单元310偏转第二偏转角度。在一些实施例中，第二偏转角度在1度到5度之间。在一些实施例中，第二射线源组件700的每个分布式射线源围绕其靶点的轴线偏转。在一些实施例中，第二射线源组件700还可以包括准直器，用于使第二射线源组件700的分布式射线源发射的X射线的方向沿行进方向朝着第一探测器组件300偏转第二倾斜角度。在一些实施例中，第二偏转角度设置成使得第二射线源组件700的每个分布式射线源发射的X射线在经过成像区域之前不会被第一探测器组件300遮挡。
应当理解，由于第一射线源组件200和第二射线源组件700分别设置在第一探测器组件300的两侧，第一射线源组件200发射的X射线与第二射线源组件700发射的X射线彼此相对地偏转。在示例性实施例中，第一偏转角度与第二偏转角度相等。
根据本发明的某些实施例，当成像系统还包括第二射线源组件700时，射线源控制装置还用于控制第二射线源组件700的射线发射。
在一些实施例中，射线源控制装置构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域110中时，使得第二射线源组件700的多个分布式射线源在同一时刻从至少两个第三靶点同时向成像区域110发射X射线。在第二射线源组件700的同时向成像区域110发射X射线的至少两个第三靶点中，每个第三靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域110，并且任两个第三靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。由此，第二射线源平面中存在两个以上靶点同时发射X射线。根据本发明的某些实施例，射线源控制装置可以构造成控制第二射线源组件700的射线发射，例如靶点发射顺序、发射频率、发射电流等。
根据本发明的某些实施例，射线源控制装置构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域110中时，使得第一射线源组件200的至少一个第一靶点和第二射线源组件700的至少一个第三靶点在同一时刻同时向成像区域110发射X射线。这种情况下，成像系统的第一射线源组件200和第二射线源组件700可以从至少两个靶点(至少一个第一靶点和至少一个第三靶点)发射X射线。因此，成像系统可以进一步提高射线发射频率和扫描效率。
在一些实施例中，在第一射线源组件200的至少一个第一靶点和第二射线源组件700的至少一个第三靶点同时向成像区域110发射X射线时，第一射线源组件200的第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体和第二射线源组件700的第三靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。
上文描述第二射线源组件700的某些示例性结构、构造和布置。但是，本发明不限于此。应当理解，本文中描述的涉及第一射线源组件200的任何实施例都可以等同地应用于第二射线源组件700。
下面详细描述根据本发明的某些实施例的成像方法。根据本发明的某些实施例，可以使用上述任意成像系统来实施该成像方法。
下面以成像系统包括第一射线源组件200和第一探测器组件300为例来描述根据本发明的某些实施例的成像方法。但是，应当理解，用于实施根据本发明的实施例的成像方法的成像系统还可以包括第二射线源组件700。
在步骤S10中，使被检查对象承载于成像系统的承载装置400上。
在步骤S20中，使第一射线源组件200和第一探测器组件300相对于承载装置400沿行进方向移动，从而被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域110，同时使第一射线源组件200发射X射线并且使X射线经过成像区域110而被第一探测器组件300接收。在一些实施例中，通过承载装置400沿行进方向传送被检查对象。
在第一射线源组件200发射X射线的过程中，使第一射线源组件200的多个分布式射线源210在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域110发射X射线。在第一射线源组件200的同时向成像区域110发射X射线的至少两个靶点中，每个靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域110，并且任两个靶点的射线发射范围对应的第一探测器组件300的探测器晶体互相不重合。
根据本发明的某些实施例，该成像方法还可以通过成像系统的位置调整功能来调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域110的位置。例如，当被检查对象的感兴趣区域未完全位于成像区域110中时，通过成像系统的位置调整功能可以将被检查对象的感兴趣区域移动到完全位于成像区域110中。
在一些实施例中，该成像方法还包括在步骤S10中使被检查对象承载于承载装置400上后，通过承载装置400调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域110的位置。在一些实施例中，该成像方法还包括在步骤S10中使被检查对象承载于承载装置400上后，沿行进方向观察，通过使第一射线源组件200相对于成像区域110(或承载装置400)在预定范围内转动，以调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域110的位置。由此，该成像方法可以使被检查对象的感兴趣区域通过调整而位于成像区域110内。
根据本发明的某些实施例，该成像方法还可以提供射线发射范围能够覆盖检查区域100的第二靶点(大扇角靶点)，以解决潜在的CT内部问题。应当理解，本文中涉及第二靶点的任意实施例都可以应用于该成像方法中。
在一些实施例中，在上述步骤S20中第一射线源组件200发射X射线的步骤还包括：从第一射线源组件200的第二靶点发射X射线。第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖检查区域100。在一些实施例中，当第一射线源组件200的第一靶点发射X射线时使得第二靶点不发射X射线，并且当第一射线源组件200的第二靶点发射X射线时使得第一靶点不发射X射线。
根据本发明的某些实施例，成像方法还可以包括步骤S30：基于第一探测器组件300的检测数据来重建被检查对象的感兴趣区域的三维扫描(CT)图像。在一些实施例中，成像方法还可以包括在重建被检查对象的三维扫描图像后，对被检查对象进行识别并提供识别结果。在一些实施例中，成像方法还可以包括显示三维扫描图像和/或识别结果。
在一些实施例中，成像方法还可以采用根据本发明的上述实施例的第二探测器组件600来校正散射信号。应当理解，本文中涉及第二探测器组件的任意实施例都可以应用于该成像方法中。在上述步骤S30中，成像方法基于第一探测器组件300和第二探测器组件600的检测数据来重建被检查对象的感兴趣区域的三维扫描图像。由此，可以提高第一探测器组件的信噪比并且因此提高成像质量。
在一些实施例中，在执行步骤S10前，成像方法还可以预先加载或生产配置信息或校正信息等，例如本底数据、空气数据等。
在根据本发明的某些实施例的成像方法中，所使用的成像系统的其他实施方式参见上文所述并且相应地结合到成像方法的实施例中，在此不再赘述。
尽管已经参考示例性实施例描述了本发明，但是应理解，本发明并不限于上述实施例的构造和方法。相反，本发明意在覆盖各种修改例和等同配置。另外，尽管在各种示例性结合体和构造中示出了所公开发明的各种元件和方法步骤，但是包括更多、更少的元件或方法的其它组合也落在本发明的范围之内。

Claims (35)

1.一种用于射线检查的成像系统，包括：
检查区域，其中被检查对象能够进入所述检查区域，所述检查区域包括成像区域，所述被检查对象的感兴趣区域能够进入所述成像区域，所述感兴趣区域是所述被检查对象的局部区域；
第一射线源组件，用于发射X射线，其中，所述第一射线源组件包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第一靶点，所述第一射线源组件的所有第一靶点布置在第一射线源平面内；
第一探测器组件，用于接收从所述第一射线源组件发射并透射经过所述成像系统的所述成像区域的X射线，其中，所述第一探测器组件包括多个第一探测器单元，每个第一探测器单元包括多个第一探测器晶体，所述多个第一探测器单元布置在探测器平面内，所述探测器平面与所述第一射线源平面沿所述被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和
射线源控制装置，其构造成当所述感兴趣区域至少部分地位于所述成像区域中时，使得所述第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向所述成像区域发射X射线，
其中，在所述第一射线源组件的同时向所述成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖所述成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
2.根据权利要求1所述的成像系统，还包括承载装置，用于承载所述被检查对象，其中，所述成像系统构造成使得所述第一射线源组件和所述第一探测器组件能够相对于所述承载装置沿所述行进方向移动，从而所述被检查对象的感兴趣区域能够进入所述成像区域。
3.根据权利要求2所述的成像系统，其中，所述承载装置构造成能够沿所述行进方向传送所述被检查对象。
4.根据权利要求2或3所述的成像系统，其中，所述承载装置还构造成能够调整所述被检查对象的感兴趣区域相对于所述成像区域的位置，使得所述被检查对象的感兴趣区域位于所述成像区域内。
5.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述成像区域位于所述第一射线源平面与所述第一探测器组件的远离所述第一射线源组件的外侧边缘之间，其中所述成像区域被限定为足以容纳所述感兴趣区域。
6.根据权利要求5所述的成像系统，其中，所述成像区域被限定为具有中心轴线的圆柱形区域。
7.根据权利要求6所述的成像系统，其中，所述行进方向与所述中心轴线基本上平行。
8.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述探测器平面与所述第一射线源平面彼此平行。
9.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，沿所述行进方向观察，所述第一射线源组件的多个分布式射线源构造成围绕所述成像区域具有大于180度的组合延伸角度。
10.根据权利要求9所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件的多个分布式射线源构造成完整地围绕所述成像区域延伸以组成第一射线源环。
11.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件的每个第一靶点的射线发射范围选择为不足以覆盖所述检查区域。
12.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件的每个第一靶点都设置成沿所述行进方向朝着所述第一探测器组件的第一探测器单元偏转第一偏转角度。
13.根据权利要求12所述的成像系统，其中，所述第一偏转角度在1度到5度之间。
14.根据权利要求2或3所述的成像系统，其中，沿所述行进方向观察，所述第一射线源组件构造成能够相对于所述承载装置在预定范围内转动，以调整所述被检查对象的感兴趣区域相对于所述成像区域的位置，使得所述被检查对象的感兴趣区域位于所述成像区域内。
15.根据权利要求11所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件还包括至少一个第二靶点，所述第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖所述检查区域，
其中，所述射线源控制装置还构造成：当所述第一射线源组件的所述第一靶点发射X射线时使得所述第二靶点不发射X射线，并且当所述第一射线源组件的所述第二靶点发射X射线时使得所述第一靶点不发射X射线。
16.根据权利要求15所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件包括多个第二靶点，其中，所述射线源控制装置构造成使得所述第一射线源组件在同一时刻从至少两个第二靶点同时向所述检查区域发射X射线，
其中，在所述第一射线源组件的同时向所述检查区域发射X射线的至少两个第二靶点中，任两个第二靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
17.根据权利要求2或3所述的成像系统，其中，沿所述行进方向观察，所述第一探测器组件设置成位于所述第一射线源组件的径向内侧。
18.根据权利要求17所述的成像系统，其中，所述第一探测器组件构造成完整地围绕所述成像区域延伸以组成探测器环。
19.根据权利要求18所述的成像系统，其中，所述第一探测器组件的第一探测器单元包括单排第一探测器晶体或多排第一探测器晶体。
20.根据权利要求17所述的成像系统，还包括第二探测器组件，用于接收从所述被检查对象散射的X射线，其中，所述第二探测器组件包括多个第二探测器单元，每个第二探测器单元包括多个第二探测器晶体。
21.根据权利要求20所述的成像系统，其中，所述第二探测器组件的多个第二探测器单元与所述第一探测器组件的多个第一探测器单元对应设置。
22.根据权利要求21所述的成像系统，其中，所述成像系统还包括遮挡件，所述遮挡件布置成使得所述第二探测器单元不接收从所述第一射线源组件发射的直射X射线。
23.根据权利要求21所述的成像系统，其中，沿所述行进方向，每个第二探测器单元的第二探测器晶体与对应的第一探测器单元的第一探测器晶体布置成间隔开，以使得所述第二探测器单元不接收从所述第一射线源组件发射的直射X射线。
24.根据权利要求21所述的成像系统，其中，每个第二探测器单元的第二探测器晶体的数量等于对应的第一探测器单元的第一探测器晶体的数量；或者
每个第二探测器单元的第二探测器晶体的数量小于对应的第一探测器单元的第一探测器晶体的数量。
25.根据权利要求2所述的成像系统，还包括：
第二射线源组件，用于发射X射线，其中，所述第二射线源组件包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第三靶点，所述第二射线源组件的所有第三靶点布置在第二射线源平面内，所述探测器平面与所述第二射线源平面沿所述行进方向间隔开预定距离，
其中，所述第一探测器组件还构造成用于接收从所述第二射线源组件发射并透射经过所述成像系统的所述成像区域的X射线，
其中，所述第一射线源平面、所述探测器平面和所述第二射线源平面沿所述行进方向依次分布，
其中，所述射线源控制装置构造成当所述感兴趣区域至少部分地位于所述成像区域中时，使得所述第二射线源组件在同一时刻从至少两个第三靶点同时向所述成像区域发射X射线，
其中，在所述第二射线源组件的同时向所述成像区域发射X射线的至少两个第三靶点中，每个第三靶点的射线发射范围都能够覆盖所述成像区域，并且任两个第三靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
26.根据权利要求25所述的成像系统，其中，所述成像系统构造成使得所述第一射线源组件、所述第一探测器组件和所述第二射线源组件能够相对于所述承载装置沿所述行进方向移动，从而所述被检查对象的感兴趣区域能够进入所述成像区域。
27.根据权利要求25所述的成像系统，其中，所述成像区域位于所述第一射线源平面与所述第二射线源平面之间，其中所述成像区域被限定为足以容纳所述感兴趣区域。
28.根据权利要求27所述的成像系统，其中，所述成像区域被限定为具有中心轴线的圆柱形区域。
29.根据权利要求25所述的成像系统，其中，所述探测器平面、所述第一射线源平面和所述第二射线源平面彼此平行。
30.根据权利要求25所述的成像系统，其中，所述射线源控制装置构造成当所述被检查对象的所述感兴趣区域至少部分地位于所述成像区域中时，使得所述第一射线源组件的至少一个第一靶点和所述第二射线源组件的至少一个第三靶点在同一时刻同时向所述成像区域发射X射线，并且
其中，在所述第一射线源组件的至少一个第一靶点和所述第二射线源组件的至少一个第三靶点同时向所述成像区域发射X射线时，所述第一射线源组件的第一靶点的射线发射范围对应的所述第一探测器组件的探测器晶体和所述第二射线源组件的第三靶点的射线发射范围对应的所述第一探测器组件的探测器晶体互相不重合。
31.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述成像系统还构造成基于所述第一探测器组件的检测数据来重建所述被检查对象的所述感兴趣区域的三维扫描图像。
32.一种使用根据权利要求2所述的成像系统的成像方法，包括：
(a)使被检查对象承载于所述成像系统的承载装置上；和
(b)使所述成像系统的第一射线源组件和第一探测器组件相对于所述承载装置沿行进方向移动，从而所述被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域，同时使所述第一射线源组件发射X射线并且使X射线透射经过所述成像区域而被所述第一探测器组件接收，
其中，所述第一射线源组件发射X射线的步骤包括：使所述第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向所述成像区域发射X射线，
其中，在所述第一射线源组件的同时向所述成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖所述成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
33.根据权利要求32所述的成像方法，还包括在步骤(a)中使所述被检查对象承载于所述承载装置上后，通过所述承载装置调整所述被检查对象的感兴趣区域相对于所述成像区域的位置，使得所述被检查对象的感兴趣区域位于所述成像区域内。
34.根据权利要求32所述的成像方法，还包括在步骤(a)中使所述被检查对象承载于所述承载装置上后，沿所述行进方向观察，使所述第一射线源组件相对于所述承载装置在预定范围内转动，以调整所述被检查对象的感兴趣区域相对于所述成像区域的位置，使得所述被检查对象的感兴趣区域位于所述成像区域内。
35.根据权利要求32所述的成像方法，其中，所述第一射线源组件发射X射线的步骤还包括：从所述第一射线源组件的第二靶点发射X射线，所述第二靶点的射线发射范围选择为能够覆盖所述检查区域，
其中，当所述第一射线源组件的所述第一靶点发射X射线时使得所述第二靶点不发射X射线，并且当所述第一射线源组件的所述第二靶点发射X射线时使得所述第一靶点不发射X射线。
CN202111204463.6A 2021-10-15 2021-10-15 用于射线检查的成像系统和方法 Pending CN115105110A (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111204463.6A CN115105110A (zh) 2021-10-15 2021-10-15 用于射线检查的成像系统和方法
PCT/CN2022/124449 WO2023061340A1 (zh) 2021-10-15 2022-10-10 用于射线检查的成像系统和方法
EP22880277.3A EP4393406A1 (en) 2021-10-15 2022-10-10 Imaging system and method for radiographic examination
US17/967,039 US20230124325A1 (en) 2021-10-15 2022-10-17 Imaging system and method for radiographic inspection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111204463.6A CN115105110A (zh) 2021-10-15 2021-10-15 用于射线检查的成像系统和方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115105110A true CN115105110A (zh) 2022-09-27

Family

ID=83325430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111204463.6A Pending CN115105110A (zh) 2021-10-15 2021-10-15 用于射线检查的成像系统和方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20230124325A1 (zh)
EP (1) EP4393406A1 (zh)
CN (1) CN115105110A (zh)
WO (1) WO2023061340A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023061340A1 (zh) * 2021-10-15 2023-04-20 清华大学 用于射线检查的成像系统和方法
CN116297569A (zh) * 2023-04-28 2023-06-23 杭州睿影科技有限公司 一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118216940A (zh) * 2024-03-20 2024-06-21 清华大学 分布式射线源ct成像系统及成像方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4442489A (en) * 1979-06-16 1984-04-10 U.S. Philips Corporation Device for computed tomography
US6385278B1 (en) * 2000-04-28 2002-05-07 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and apparatus for region of interest multislice CT scan
US20030043958A1 (en) * 2001-02-23 2003-03-06 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. X-ray CT apparatus
CN1496712A (zh) * 2002-10-01 2004-05-19 ��ʽ���綫֥ X射线ct装置
CN101472524A (zh) * 2006-06-22 2009-07-01 皇家飞利浦电子股份有限公司 多管成像系统散射校正
CN104101910A (zh) * 2014-07-04 2014-10-15 清华大学 基于分布式辐射源的x射线背散射通道式车辆安检系统和方法
CN104483711A (zh) * 2014-12-17 2015-04-01 同方威视技术股份有限公司 基于分布式光源的辐射成像系统
CN104749648A (zh) * 2013-12-27 2015-07-01 清华大学 多能谱静态ct设备
CN104897703A (zh) * 2014-03-04 2015-09-09 清华大学 检查设备、方法和系统
CN211381407U (zh) * 2019-09-12 2020-09-01 北京纳米维景科技有限公司 具有成对射线源环的静态实时ct成像系统
CN111759335A (zh) * 2020-05-29 2020-10-13 东软医疗系统股份有限公司 多能谱成像数据的获取方法、装置、电子设备、存储介质

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115105110A (zh) * 2021-10-15 2022-09-27 清华大学 用于射线检查的成像系统和方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4442489A (en) * 1979-06-16 1984-04-10 U.S. Philips Corporation Device for computed tomography
US6385278B1 (en) * 2000-04-28 2002-05-07 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and apparatus for region of interest multislice CT scan
US20030043958A1 (en) * 2001-02-23 2003-03-06 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. X-ray CT apparatus
CN1496712A (zh) * 2002-10-01 2004-05-19 ��ʽ���綫֥ X射线ct装置
CN101472524A (zh) * 2006-06-22 2009-07-01 皇家飞利浦电子股份有限公司 多管成像系统散射校正
CN104749648A (zh) * 2013-12-27 2015-07-01 清华大学 多能谱静态ct设备
CN104897703A (zh) * 2014-03-04 2015-09-09 清华大学 检查设备、方法和系统
CN104101910A (zh) * 2014-07-04 2014-10-15 清华大学 基于分布式辐射源的x射线背散射通道式车辆安检系统和方法
CN104483711A (zh) * 2014-12-17 2015-04-01 同方威视技术股份有限公司 基于分布式光源的辐射成像系统
CN211381407U (zh) * 2019-09-12 2020-09-01 北京纳米维景科技有限公司 具有成对射线源环的静态实时ct成像系统
CN111759335A (zh) * 2020-05-29 2020-10-13 东软医疗系统股份有限公司 多能谱成像数据的获取方法、装置、电子设备、存储介质

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023061340A1 (zh) * 2021-10-15 2023-04-20 清华大学 用于射线检查的成像系统和方法
CN116297569A (zh) * 2023-04-28 2023-06-23 杭州睿影科技有限公司 一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备
CN116297569B (zh) * 2023-04-28 2023-09-05 杭州睿影科技有限公司 一种基于x射线的物体检测方法、系统及处理设备

Also Published As

Publication number Publication date
WO2023061340A1 (zh) 2023-04-20
EP4393406A1 (en) 2024-07-03
US20230124325A1 (en) 2023-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN115105110A (zh) 用于射线检查的成像系统和方法
EP2963455B1 (en) X-ray backscattering safety inspection system having distributed x-ray source and method using the same
US7400701B1 (en) Backscatter inspection portal
US8995610B2 (en) CT scanning systems and methods using multi-pixel x-ray sources
US8983024B2 (en) Tetrahedron beam computed tomography with multiple detectors and/or source arrays
CN110662488A (zh) X射线断层成像检查系统和方法
US8530849B2 (en) Electron beam scanner
JP4361759B2 (ja) 二重スライス電子ビーム断層写真法スキャナ用のコリメーション・システム
EP4369058A1 (en) Inspection system and method
CN116242856A (zh) Ct扫描系统及方法
KR101939434B1 (ko) X-선 스캐닝 시스템용 소스 파이어링 패턴의 최적화를 위한 x-선 촬상장치
US8625738B2 (en) Radiation therapy and scanning system
EP4300083A1 (en) Imaging system for radiographic examination
CN114167507A (zh) 多通道静态ct装置
WO2023280218A1 (zh) 检查系统和方法
EP4369057A1 (en) Inspection system and method
WO2023072912A1 (en) Static or quasi-static multi-view or 3d inspection of cargo
CN219915424U (zh) Ct扫描系统
EP4369056A1 (en) Check system and method
US10722196B2 (en) Radiographic diagnosis apparatus, radiation detector and collimator

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination