CN115066625A - 零场中工作的磁力计阵列及校准磁力计间耦合的相关方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于(例如通过光泵磁力计)确定N个磁力计的阵列中的磁力计之间的耦合的方法,其中,每个磁力计包括能够被启用以在零场中操作该磁力计的场消除系统。该方法包括第一阶段(P1),在该第一阶段中,该N个磁力计被分成停用场消除系统的N‑1个磁力计和启用场消除系统的一个测量磁力计。该第一阶段包括:‑由这些磁力计生成(GENj)具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,‑由该测量磁力计在多个测量轴上测量(MESi)环境磁场,‑根据该测量值和这些已知幅度,确定(CALCij)该测量磁力计与该N个磁力计中的每一个之间的耦合系数。
Description
技术领域
本发明的领域是生物磁场成像领域,本发明更具体地涉及尤其用于心磁描记术或脑磁描记术中的矢量磁力计阵列。
背景技术
人体不同器官(特别是心脏和大脑)所产生的磁场成像利用磁传感器(磁力计)矩阵来识别从医学研究角度和不同病理的诊断角度来看均相关的信息。因此,脑电流成像允许以无创方式研究快速脑动力学。它还用于癫痫的术前诊断,相对于脑电描记术可以更准确地定位致痫区。
为了重建磁场源(例如在心脏或大脑中循环的电流),需要获得沿一个或不同测量轴上的磁场测量值以及记录这些测量值的传感器的位置。
目前,脑磁描记术经常使用数百个SQUID磁传感器,这些传感器具有非常低的固有噪声水平,但需要低温冷却才能运行。此外,这些成像技术通常在磁屏蔽外壳内实施,以消除可能干扰测量的外部磁场。这些外壳必须具有足够大的尺寸以容纳低温容器,这对成本以及包含这些设备的建筑物的架构产生巨大的限制,且这些限制不利于这些成像技术的普及。
替代性地,可以使用具有相似固有噪声水平但不需要冷却的光泵磁力计。从而,可以将传感器设置在更靠近患者皮肤的位置,这能够提高信号的幅度以及测量值的空间分辨率。还能够减少磁屏蔽,这样可以考虑在医院中更多地推广这些技术。
此外,光泵磁力计允许将传感器的位置适配每个特定患者的身体表面。这是一个优点,但每次根据新患者的形态调整阵列时都必须重复校准传感器的位置。因此,重要的是能够有效地校准不同磁力计相对于彼此的位置,以及该阵列相对于定位在患者身上的参考元件的相对位置。
许多用于定位和校准光泵磁力计的参数(特别是增益和线性度)可以通过磁力计闭环工作的方式进行稳定(而非必须连续测量),该闭环工作的方式即通过反作用于每个磁力计的线圈来产生称为补偿场的场,以便每个磁力计沿其不同测量轴在零总磁场(环境场+补偿场)中工作。这种闭环工作模式已经用于心磁描记和脑磁描记测量,如以下出版物所报告的:E.Labyt等人,“Magnetoencephalography With Optically Pumped 4HeMagnetometers at Ambient Temperature[采用环境温度下的光泵氦-4磁力计的脑磁描记术]”,IEEE Transactions on Medical Imaging,vol.38,n°1,p.90-98,jan.2019[IEEE医学影像汇刊,第38卷,第1期,第90-98页,2019年1月]。
然而,该出版物中仅实施两个传感器,这两个传感器彼此相距足够远,从而不会明显受到其中另一个传感器的补偿场的影响。然而,为了进行有用的医疗测量,需要实施数十甚至数百个这样的传感器,这使得它们必须彼此更加靠近。随之出现的不好的影响是彼此靠近设置的磁力计之间的耦合,这些磁力计受到其他磁力计的补偿场的影响。因此,不再可能通过简单读取传感器的输出来获得磁力计工作时预先存在的磁场的值。
然而,有程序允许通过读取传感器的输出以及读取转换不同补偿线圈与阵列的磁力计之间的耦合的矩阵来恢复这些场值。因此,专利申请EP 3 299 831A1描述了一种校正以闭环方式工作的磁力计阵列中的耦合的方式,以及一种用于确定耦合矩阵的技术,该技术可以具有两种变型:一种是测量与所有以开环方式工作的磁力计之间的耦合,另一种是测量与依次以闭环方式工作的不同磁力计之间的耦合。
这些方法中的第一种(开环校准)仅在剩余场几乎为零的环境中执行操作的情况下才得到真正的耦合系数。然而,发明人已经能够通过实验观察到当存在几个纳特斯拉的场时,会测量到的耦合明显(高达17%),而实际耦合小于1%。这种伪影似乎源于二阶效应,其使得参数共振和汉勒效应(Hanle effect)磁力计不仅对沿其标称测量轴的场(例如z轴的Bz)敏感,而且具有交叉项,如Bx、By。
此外,对于参数共振磁力计的情况,如前述专利中所描述的,传感器的线圈与靠近第一传感器的另一传感器的敏感元件之间的耦合还会带来额外的缺点。在这种磁力计构型中,射频场沿传感器的一个或多个轴施加,这些轴定义了测量磁场不同分量的几何轴。因此,两个具有不同轴方向的磁力计之间的耦合会导致它们各自的测量轴发生变化,这会对磁场源的重建准确度产生非常负面的影响。
发明内容
本发明旨在提出一种用于确定一个光泵磁力计(例如汉勒效应或参数共振磁力计)阵列中的不同磁力计之间的耦合的方法,该方法克服了上述缺点。
为此,本发明涉及一种用于确定N个磁力计的一个阵列中的磁力计之间的耦合的方法,其中,每个磁力计包括能够被启用以在零场中操作该磁力计的场消除系统。该方法包括第一阶段,在该第一阶段中,该N个磁力计被分成停用场消除系统的N-1个磁力计和启用场消除系统的一个测量磁力计。该第一阶段包括以下步骤:
○由该N个磁力计(即,测量磁力计以及停用场消除系统的N61个磁力计)中的每一个生成具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,
○由测量磁力计在多个测量轴上测量环境磁场;
○确定测量磁力计与该N个磁力计中的每一个(即,测量磁力计以及停用场消除系统的N61个磁力计中的每一个)之间的耦合系数,所述确定包括:
■检测参考磁场在其中一个测量轴上的环境磁场测量中的贡献;
■计算参考磁场的所述贡献的幅度与所述参考磁场的已知幅度之间的比率。
该方法的一些优选但非限制性的方面如下:
通过在每次迭代中采用阵列中的一个新磁力计作为测量磁力计,将第一阶段的所述步骤迭代N次;
每个参考磁场携带其特定的信息项,并且检测参考磁场的贡献包括识别所述参考磁场特定的信息;
参考磁场特定的信息是特征频率,例如给定数的幂的高基频;
磁力计是参数共振磁力计,其中,每个参数共振磁力计都包括励磁系统,该励磁系统能够被启用以感应参数共振励磁射频场,并且在第一阶段中,N个磁力计的所述励磁系统被启用;
该方法包括与第一阶段(P1)相同的第二阶段,不同之处在于除测量磁力计之外的N-1个磁力计的励磁系统被停用;
第二阶段包括N次迭代,每次迭代在N个磁力计中使用一个不同的测量磁力计。
附图说明
通过阅读借助非限制性示例并且参照附图所给出的以下本发明优选实施例的详细说明,本发明的其他方面、目的、优点以及特征将变得更加清楚,在附
图中:
图1是根据本发明的属于磁力计阵列的磁力计的图;
图2是展示根据本发明的校准方法的不同步骤的图。
具体实施方式
本发明涉及一种磁场测量装置,更具体地涉及一种配备有N个(至少等于2的自然整数)排列成阵列的矢量磁力计的装置。该装置在生物磁场成像(特别是在脑磁描记术或心磁描记术)的医学领域中具有特别的应用。
本发明更具体地涉及一种装置,该装置被配置为能够实施下述用于校准磁力计的方法。该方法可以通过测量其中一个磁力计的操作对由另一个磁力计执行的测量带来的干扰来估计磁力计的阵列的影响。
为了应用该方法,以及更一般性地能够成功使磁力计阵列以闭环方式工作,优选地,该阵列的磁力计能够测量磁场的三个分量。实际上,在相反的情况下,闭环操作不能保证在阵列的任何磁力计中不存在剩余场。因此这是使测量的耦合不含上述伪影的必要条件。
在不限制本发明的情况下,阵列的磁力计优选地是光泵磁力计,例如汉勒效应磁力计或参数共振磁力计。
因此,以下描述以光泵磁力计为例。参考图1,阵列的每个磁力计20包括充满原子气体(例如氦-4或碱性气体)的单元1,其受到环境磁场的影响,该环境磁场在三个直角坐标轴x、y、z上的投影定义了三个分量。环境磁场因此分别根据磁力计的测量轴x、y和z之一被分解为三个分量Bx、By和Bz。
单元1被光泵浦源2、3照射,这两个光泵浦源被布置成朝着单元1的方向发射一束光束,例如激光束,该光束被调谐到泵浦波长(该光束因此也被指定为泵浦光束)。泵浦波长被楔入在原子跃迁线上,例如在氦-4的情况下的1083nm的线D0上。光束可以由激光源2发射并通过直线偏振器3进行线性偏振,该直线偏振器3插入在激光源2与单元1之间或者直接集成到激光源2中。光束在与x轴重合的传播方向上传播并且沿z轴线性偏振。
在敏感元件是氦-4的情况下,磁力计20还包括高频(HF)放电系统,其包括发生器HF 4和过压线圈5,以使原子气体的原子处于激发状态,在激发状态下,当这些原子被通常处于亚稳态23S1的光束照射时,它们能够经历原子跃迁。
当磁力计20是参数共振磁力计时,它还包括能够被启用以感应参数共振励磁射频场的励磁系统。该参数共振励磁系统包括射频发生器8,其为亥姆霍兹线圈(Helmholtzcoil)7提供围绕单元的正交轴,以产生参数共振励磁磁场,也称为励磁射频场。该励磁电路更具体地产生具有与偏振方向正交的两个分量并且每个分量都以其自身的振荡频率振荡的射频磁场,这两个分量分别是沿x轴以脉动ω(例如ω=2π.3000kHz)振荡的分量Bωcosωt以及沿y轴以脉动Ω(例如Ω=2π.16kHz)振荡的分量BΩcosΩt。这些分量导致在振荡频率Ω/2π、ω/2π中的每一个上的共振以及振荡频率(ω±Ω)/2π的间谐波,这些共振分别与环境场在x、y和z方向上的值相关联。
磁力计20还包括:光电探测器6,其被布置成接收已通过单元的光束;以及参数共振检测电路9,其被配置为当磁力计20是参数共振磁力计时,在由光电探测器传递的电信号的每一个振荡频率的谐波处进行同步检波,以及在由光电探测器传递的电信号的振荡频率的间谐波处进行同步检波。设备9包括三个检波通道:用于在Ω/2π(x轴)处检测信号的第一通道Vx,用于在ω/2π(y轴)处检测信号的第二通道Vy,以及用于在Ω±ω/2π(z轴)处检测信号的第三通道Vz。第一通道Vx和第二通道Vy中的每一个上的信号首先被放大,然后通过适当中心频率对应的(即所施加RF场的中心频率对应的)带通滤波器进行滤波。然后将获得的信号与参考信号相乘,并通过同步检波器DSx、DSy进行处理。第三通道Vz连续地采用两次同步检波,一次是通过第二通道Vy的检波器DSy在ω/2π处进行的同步检波,另一次通过同步检波器DSz在Ω/2π处进行的同步检波。
磁力计20还包括能够被启用以在零场中操作该磁力计的场消除系统。该系统可以采用闭环磁力计的伺服控制电路10的形式。这种伺服控制电路包括三个伺服控制通道Wx、Wy、Wz,其分别耦合到相应检波通道Vx、Vy、Vz的输出。伺服控制通道Wx、Wy、Wz分别使用相应检波通道的输出作为误差信号来不断重新调整补偿场。伺服控制通道Wx、Wy、Wz分别包括被配置为传递补偿信号的积分器Ix、Iy、Iz和由补偿信号驱动的电流发生器GCx、GCy、GCz来将电流注入亥姆霍兹线圈7中的一个,以便产生与环境场的分量Bx、By、Bz相反的补偿磁场BCx、BCy、BCz。通过测量在线圈7中流动的电流可以推导出为了消除环境场的不同分量并因此具有这些不同分量的值而必须施加的场。
磁力计20还设置有用于产生参考磁场的电路,并且测量装置(即磁力计阵列)就其本身而言则包括计算机,该计算机被配置为驱动阵列的磁力计并根据下文将描述的方法来确定磁力计之间的耦合系数。参考磁场生成电路可以包括参考信号发生器11,该参考信号发生器与用于将线圈连接到参数共振励磁系统的发生器8和闭环磁力计的伺服控制电路10的电路并联连接到每个亥姆霍兹线圈7。参考信号发生器11与每个亥姆霍兹线圈7的这种连接可以通过偏置电阻器实现,该偏置电阻器的值高于线圈在低频(<kHz)下的阻抗。然后,线圈上的电流之和允许保持磁力计特定的动力学不变,同时生成所需的参考场。
由于磁力计的阵列,在该阵列的通常使用中,在磁力计处测量的磁场整合了所有其他磁力计的贡献。因此,由磁力计Mi(实际上由磁力计Mi的线圈)产生的磁场BGi根据耦合系数在磁力计Mj(实际上在磁力计Mj的每个测量轴上)感应出场BMj。
试图在通常使用磁力计阵列之前的校准操作期间确定由不同耦合系数组成的耦合矩阵。该矩阵的大小为3N x 3N,其中,N对应于阵列中磁力计的数量,数字3表示磁力计的三个轴。因此,得到BMj=∑i Cij·BGi,其中,索引i和j的范围是1到3N,在磁力计的每个测量轴上都可以看到由磁力计产生的场的每个分量(因此得到三个测量值BMj,其分别集成了三个场BGi中每个场的贡献)。
在该校准阶段之后的测量阶段中,通过采用耦合矩阵的反转,对于每个磁力计,都有可能返回到实际磁场,因为它将在没有阵列的情况下进行测量。
下面参考图2描述该校准操作的不同步骤。该操作使用磁力计的线圈7通过参考信号发生器11生成已知幅度的磁场。所产生的场依次由阵列中的其中一个磁力计测量,以建立耦合矩阵及其3N x 3N系数。
该校准操作包括第一阶段P1,其包括N次迭代,每次迭代在N个磁力计中的一个不同的测量磁力计。
在第一阶段P1的每次迭代中,该N个磁力计被分成停用场消除系统的N-1个磁力计和启用场消除系统的一个测量磁力计。当磁力计是参数共振类型时,它们的参数共振励磁系统在第一阶段中被启用。因此,测量磁力计在零场中工作并执行场测量(其场消除系统被启用),而所有其他磁力计不进行测量并且因此不补偿其位置的场(它们的场消除系统被停用),它们的作用仅限于在其线圈上产生参考场以及在适当情况下产生它们的通常操作所对应的射频(其参数共振励磁系统被启用)。
这种使用闭环测量磁力计的工作方式保证了耦合的表征是使用在零场中工作的该测量磁力计沿其三个测量轴进行的,这避免了由轴间效应导致的大量伪影的出现,这些伪影不利于耦合的表征。此外,参数共振励磁电路在耦合的这种表征期间被启用的事实允许当所述磁力计是参数共振类型时,通过将由不同磁力计的射频之间的耦合可能导致的测量轴的失准考虑在内来测量这些耦合。这些失准也存在于传感器阵列的操作期间,因此需要在确定耦合矩阵时将它们考虑在内。
第一阶段P1的每次迭代包括以下步骤:
○由该N个磁力计中的每一个生成GENj具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,
○由该测量磁力计在多个测量轴上测量MESi环境磁场;
○根据环境场的所述测量值和参考场的已知幅度,确定CALCij该测量磁力计与该N个磁力计之间的耦合系数。
在生成步骤GENj期间,N个磁力计中的每一个的用于生成参考磁场的电路因此可以被启用,使得N个磁力计中的每一个在这三个轴(三个不同方向)中的每一个轴上生成已知幅度的参考场。并且,在测量步骤MESi期间,测量磁力计在其三个测量轴中的每一个轴上测量环境磁场。
可能会发生参考场的幅度太高并导致不好的影响,如位于阵列附近的金属元件中的涡流。此时可以减小该幅度,例如相对于其他参考场的幅度减少一个数量级,然后在计算耦合系数时将这个减少量考虑在内。
确定CALCij耦合系数包括检测每个参考磁场在其中一个测量轴上的环境磁场测量中的贡献。对于每个参考磁场,该检测之后是计算耦合系数,该耦合系数的形式为参考磁场的所述贡献的幅度与所述参考磁场的已知幅度之间的比率。对于每个测量轴,所测量的耦合系数可以通过该轴的自耦合进行归一化,即在该轴上生成的参考场在该轴上的贡献的幅度与该参考场的已知幅度之间的比率。
鉴于耦合系数是对称的(i与j的耦合方式与j与i的耦合方式相同),可以使用两个方向上所计算出的耦合系数来识别校准方法中可能存在的问题,或者甚至只计算这些系数中的一半。
在生成步骤GENij期间,每个磁力计的参考磁场生成电路可以生成参考场,每个参考场携带其特定的信息项(即该磁力计的轴特定的信息项),该信息能够在测量磁力计的其中一个轴上执行的环境磁场测量中被识别出来,以便隔离携带该信息的参考磁场的贡献。
该参考磁场特定的信息可以是特征频率,由信号发生器11生成的参考信号例如能够由位于每个磁力计的每个轴特定的频率处的正弦曲线组成。例如,这些频率可以在给定数的幂的高基频对应的谐波处选择,即其中,f为基频,p为所述给定数。因此,如果基频是1Hz,并且如果所述给定数是2,则特征频率是1、2、4、8、16、32……Hz的频率。这种特征频率的选择提供的优点是,任何与所述给定数的幂不对应的谐波的存在构成了诊断不希望的轴间效应的良好手段。举例来说,第一磁力计可以在其x轴上生成参考场B1sin(2πt),在其y轴上生成参考场B1 sin(2π2t),并在其z轴上生成参考场B1 sin(2π4t),而第二磁力计在其x轴上生成参考场B1sin(2π8t),在其y轴上生成参考场B1sin(2π16t),并在其z轴上生成参考场B1 sin(2π32t),等等。检测参考磁场在测量磁力计的其中一个测量轴上的环境磁场测量中的贡献则可以包括在该参考场的特征频率处进行同步检波。
替代性地,磁力计的轴(由该磁力计产生的参考场)特定的该信息可以对应于采用时隙形式的参考信号的高相位和低相位的持续时间。在另一个变型中,参考信号形成正交基,如通过频谱扩展在无线电发射技术中使用的正交基,其中,每个磁力计通过不同频带中的特征发射序列在其一个轴上标记其发射,这些频带包括在可由该阵列的磁力计测量的信号频带中。
测量步骤MESi例如在测量磁力计的每个轴上依次执行,例如,首先沿测量磁力计的第一轴进行足够长时间的测量,以便令人满意地检测到每个参考磁场在该第一轴上的环境磁场测量中的贡献,例如以区分具有接近特征频率的参考场。因此,当基频为1Hz(如上述示例)时,10秒的时间被证明在很大程度上足以避免线路的任何重叠。然后依次在测量磁力计的第二轴和第三轴上执行类似的程序。
在第一阶段的一个迭代结束时,如图2中的框CHANi所示,在N个磁力计中选择一个新的测量磁力计,作为第一阶段的一个新迭代。因此,重复前述操作以便总共执行N次,每次在N个磁力计中使用一个不同的测量磁力计。
参考图2,根据本发明的校准方法可以包括第二阶段P2,该第二阶段同样包括N次迭代,如框CHANi所示,每次迭代在N个磁力计中使用一个不同的测量磁力计。第二阶段可以在第一阶段之前或之后实施。替代性地,可以混合第一阶段的迭代和第二阶段的迭代,例如通过使用相同的测量磁力计在第一阶段的迭代之后进行第二阶段的迭代。
前文已经得知,在第一阶段中启用参数共振励磁射频允许将由于不同磁力计的射频之间的耦合可能导致的测量轴的失准考虑在内。然而,这些耦合不利于通过三角测量法或其他更精细的方法(例如将每个磁力计的每个线圈产生的磁场的理论几何构型考虑在内的最小二乘法估计)来估计阵列的不同磁力计的取向和位置。
正是由于这个原因,对于参数共振磁力计的情况,根据本发明的方法可以包括与第一阶段P1相同的第二阶段P2,不同之处在于每次迭代时除测量磁力计之外的N-1个磁力计的参数共振励磁系统被停用。因此,在第二阶段的迭代中,N个磁力计被分成停用励磁系统和场消除系统的N-1个磁力计和启用励磁系统和场消除系统的一个测量磁力计。参考图2,该第二阶段包括以下步骤:
○由该N个磁力计中的每一个生成GENSEj具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,
○由该测量磁力计在多个测量轴上测量MESi环境磁场;
○根据环境场的所述测量值和参考场的已知幅度,确定CALCij*该测量磁力计与该N个磁力计之间的耦合系数。
在第二阶段P2结束时获得的耦合矩阵没有考虑由除测量磁力计之外的磁力计的射频与该射频之间的耦合导致的轴的失准。在该第二阶段确定的耦合矩阵仅用于校准不同磁力计的位置和取向。因此,两个磁力计之间的九个耦合系数可用于建立这两个磁力计之间的三个角度和三个距离,例如专利EP 3 343 240 B1中所述。由第一阶段和第二阶段分别确定的矩阵之间的比较还允许测量由射频耦合导致的轴的失准。
本发明不限于前文描述的方法,而是如前面所指出的扩展到磁场测量设备,该设备被配置为允许实施该方法。该设备包括一个计算机和N个磁力计的一个阵列,其中,每个磁力计包括能够被启用以在零场中操作该磁力计的场消除系统。N个磁力计在被分成停用场消除系统的N-1个磁力计和启用场消除系统的一个测量磁力计的同时特别地能够实现以下步骤:
○由该N个磁力计中的每一个生成(GENj)具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,
○由该测量磁力计在多个测量轴上测量(MESi)环境磁场。
计算机就其本身而言被特别配置为检测参考磁场在其中一个测量轴上的环境磁场测量中的贡献,并通过计算参考磁场的所述贡献的幅度与所述参考磁场的已知幅度之间的比率来确定测量磁力计与其中一个磁力计之间的耦合系数。
Claims (9)
1.一种用于确定N个磁力计的阵列中的磁力计(20)之间的耦合的方法,其中,每个磁力计包括能够被启用以在零场中操作所述磁力计的场消除系统(10),其特征在于,所述方法包括第一阶段(P1),在所述第一阶段中,所述N个磁力计被分成停用场消除系统的N-1个磁力计和启用场消除系统的一个测量磁力计,所述第一阶段包括以下步骤:
○由所述测量磁力计以及停用场消除系统的所述N-1个磁力计中的每一个生成(GENj)具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,
○由所述测量磁力计在多个测量轴上测量(MESi)环境磁场;
○确定(CALCij)所述测量磁力计与所述测量磁力计以及停用场消除系统的所述N-1个磁力计中的每一个之间的耦合系数,所述确定包括:
■检测参考磁场在其中一个测量轴上的环境磁场测量中的贡献;
■计算所述参考磁场的所述贡献的幅度与所述参考磁场的已知幅度之间的比率。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,通过在每次迭代中采用所述阵列中的一个新磁力计作为测量磁力计,将所述第一阶段的所述步骤迭代N次。
3.根据权利要求1和2之一所述的方法,其中,每个参考磁场携带其特定的信息项,并且其中,检测参考磁场的贡献包括识别所述参考磁场特定的信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述参考磁场特定的信息是特征频率。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,参考磁场的特征频率是给定数的幂的高基频。
6.根据权利要求1至5之一所述的方法,其中,所述磁力计是参数共振磁力计,其中,每个参数共振磁力计都包括励磁系统(8),该励磁系统能够被启用以感应参数共振励磁射频场,并且其中,在所述第一阶段中,所述N个磁力计的所述励磁系统被启用。
7.根据权利要求6所述的方法,进一步包括与第一阶段(P1)相同的第二阶段(P2),不同之处在于除所述测量磁力计之外的所述N-1个磁力计的励磁系统被停用。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述第二阶段包括N次迭代,每次迭代在所述N个磁力计中使用一个不同的测量磁力计。
9.一种磁场测量装置,包括一个计算机和N个矢量磁力计的一个阵列,其中,每个磁力计包括能够被启用以在零场中操作所述磁力计的一个场消除系统(10),
所述N个磁力计在被分成停用场消除系统的N-1个磁力计和启用场消除系统的一个测量磁力计的同时能够实现以下步骤:
○由所述测量磁力计以及停用场消除系统的所述N-1个磁力计中的每一个生成(GENj)具有已知幅度和不同方向的多个参考磁场,
○由所述测量磁力计在多个测量轴上测量(MESi)环境磁场;
以及所述计算机被配置为检测参考磁场在其中一个测量轴上的环境磁场测量中的贡献,并通过计算所述参考磁场的所述贡献的幅度与所述参考磁场的已知幅度之间的比率来确定所述测量磁力计与其中一个所述磁力计之间的耦合系数。
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