CN115047249A - 开关的接触电阻的测量装置、控制方法和控制装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种开关的接触电阻的测量装置、控制方法和控制装置，该测量装置包括：第一测试线，用于与待测量开关的一个触点电连接；第二测试线，用于与待测量开关的另一个触点电连接；电压表，包括第一端和第二端，第一端与第一测试线电连接，第二端与第二测试线电连接；测试开关，包括第三端和第四端，第三端与第一测试线电连接；测试电阻，包括第五端和第六端，第五端与第四端电连接，第六端与第二测试线电连接。该测量装置解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题，并且利用开关的接触电阻的测量装置进行低压开关触头接触电阻测试，提前发现设备隐患，避免故障的发生，提高设备运行安全水平。
Description
技术领域
本申请涉及电阻测量技术领域，具体而言，涉及一种开关的接触电阻的测量装置、控制方法、控制装置、计算机可读存储介质和处理器。
背景技术
400V三相低压开关和220V单相低压开关是低压配用电系统中使用最多的设备之二，其类型包括低压开关柜内安装的框架断路器、塑壳断路器，配电台区低压综合配电箱内使用的剩余电流动作断路器，终端用户使用的空气开关等。由于低压开关承载较大的负荷电流且开合动作频繁，必然造成开关触头发生一定程度的磨损烧蚀，从而造成开关闭合后触头之间的接触电阻增加，最终造成开关发热甚至烧毁，引发事故。
目前对低压开关触头接触电阻测量基本都是在投运前停电的状态下进行，利用回路电阻表或者直流电阻表进行测量，对于额定电流较小精度要求不高的低压开关也可利用万用表进行测量，但是这些测量方法都必须在被测试设备断电的情况下进行测量。
在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种开关的接触电阻的测量装置、控制方法、控制装置、计算机可读存储介质和处理器，以解决现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
根据本发明实施例的一个方面，提供了一种开关的接触电阻的测量装置，所述测量装置包括：第一测试线，用于与待测量开关的一个触点电连接；第二测试线，用于与所述待测量开关的另一个触点电连接；电压表，包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一测试线电连接，所述第二端与所述第二测试线电连接；测试开关，包括第三端和第四端，所述第三端与所述第一测试线电连接；测试电阻，包括第五端和第六端，所述第五端与所述第四端电连接，所述第六端与所述第二测试线电连接。
可选地，所述待测量开关的负载电流大于500A时，所述测试电阻的阻值在0.5Ω～2Ω。
可选地，所述待测量开关的负载电流小于或者等于500A时，所述测试电阻的阻值在10mΩ～100mΩ之间。
根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种开关的接触电阻的测量装置的控制方法，开关的接触电阻的测量装置包括第一测试线、第二测试线、电压表、测试开关和测试电阻，其中，所述第一测试线用于与待测量开关的一个触点电连接；所述第二测试线用于与所述待测量开关的另一个触点电连接；所述电压表包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一测试线电连接，所述第二端与所述第二测试线电连接；所述测试开关包括第三端和第四端，所述第三端与所述第一测试线电连接；所述测试电阻包括第五端和第六端，所述第五端与所述第四端电连接，所述第六端与所述第二测试线电连接，所述方法包括以下步骤：在所述待测量开关闭合、所述测试开关断开、所述第一测试线与所述待测量开关的一个触点电连接以及所述第二测试线与所述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取所述电压表的读数，得到第一电压；控制所述测试开关闭合；获取所述电压表的读数，得到第二电压；根据所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值计算得到所述待测量开关的接触电阻。
可选地，根据所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值计算得到所述待测量开关的接触电阻，包括：根据并联电阻计算公式和欧姆定律确定所述接触电阻的计算公式；将所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值代入所述接触电阻的计算公式，计算得到所述接触电阻。
根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种开关的接触电阻的测量装置的控制装置，开关的接触电阻的测量装置包括第一测试线、第二测试线、电压表、测试开关和测试电阻，其中，所述第一测试线用于与待测量开关的一个触点电连接；所述第二测试线用于与所述待测量开关的另一个触点电连接；所述电压表包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一测试线电连接，所述第二端与所述第二测试线电连接；所述测试开关包括第三端和第四端，所述第三端与所述第一测试线电连接；所述测试电阻包括第五端和第六端，所述第五端与所述第四端电连接，所述第六端与所述第二测试线电连接，所述装置包括：第一获取单元，用于在所述待测量开关闭合、所述测试开关断开、所述第一测试线与所述待测量开关的一个触点电连接以及所述第二测试线与所述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取所述电压表的读数，得到第一电压；控制单元，用于控制所述测试开关闭合；第二获取单元，用于获取所述电压表的读数，得到第二电压；计算单元，用于根据所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值计算得到所述待测量开关的接触电阻。
可选地，所述计算单元包括：确定模拟，用于根据并联电阻计算公式和欧姆定律确定所述接触电阻的计算公式；计算模块，用于将所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值代入所述接触电阻的计算公式，计算得到所述接触电阻。
根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的控制方法。
根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的控制方法。
在本发明实施例中，上述开关的接触电阻的测量装置中，上述电压表的第一端与上述第一测试线电连接，以与待测量开关的一个触点电连接，上述电压表的第二端与上述第二测试线电连接，以与待测量开关的另一个触点电连接，即上述电压表并联在上述待测量开关的两端，上述测试开关的第三端与上述第一测试线电连接，上述测试电阻的第五端与上述第四端电连接，上述第六端与上述第二测试线电连接，即测试开关和测试电阻的串联电路的一端与待测量开关的一个触点电连接，另一端与待测量开关的另一个触点电连接，使得测试开关和测试电阻的串联电路也并联在上述待测量开关的两端，从而可以通过打开或者关闭测试开关两种情况下电压表的测量电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1示出了根据本申请的一种实施例的开关的接触电阻的测量装置和待测量开关连接关系的示意图；
图2示出了根据本申请的一种实施例的开关的接触电阻的测量装置的控制方法的流程图；
图3示出了根据本申请的一种实施例的开关的接触电阻的测量装置的控制方法的示意图。
其中，上述附图包括以下附图标记：
01、待测量开关；10、第一测试线；20、第二测试线；30、电压表；40、测试开关；50、测试电阻。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“电连接”至另一元件时，该元件可“直接电连接”至该另一元件，或者通过第三元件“电连接”至该另一元件。
正如背景技术中所说的，现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻，为了解决上述问题，本申请的一种典型的实施方式中，提供了一种开关的接触电阻的测量装置、控制方法、控制装置、计算机可读存储介质和处理器。
根据本申请的实施例，提供了一种开关的接触电阻的测量装置，如图1所示，上述测量装置包括：
第一测试线10，用于与待测量开关01的一个触点电连接；
第二测试线20，用于与上述待测量开关01的另一个触点电连接；
电压表30，包括第一端和第二端，上述第一端与上述第一测试线10电连接，上述第二端与上述第二测试线20电连接；
测试开关40，包括第三端和第四端，上述第三端与上述第一测试线10电连接；
测试电阻50，包括第五端和第六端，上述第五端与上述第四端电连接，上述第六端与上述第二测试线20电连接。
上述开关的接触电阻的测量装置中，上述电压表的第一端与上述第一测试线电连接，以与待测量开关的一个触点电连接，上述电压表的第二端与上述第二测试线电连接，以与待测量开关的另一个触点电连接，即上述电压表并联在上述待测量开关的两端，上述测试开关的第三端与上述第一测试线电连接，上述测试电阻的第五端与上述第四端电连接，上述第六端与上述第二测试线电连接，即测试开关和测试电阻的串联电路的一端与待测量开关的一个触点电连接，另一端与待测量开关的另一个触点电连接，使得测试开关和测试电阻的串联电路也并联在上述待测量开关的两端，从而可以通过打开或者关闭测试开关两种情况下电压表的测量电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题，并且利用开关的接触电阻的测量装置进行低压开关触头接触电阻测试，提前发现设备隐患，避免故障的发生，提高设备运行安全水平。
本申请的一种实施例中，上述待测量开关的负载电流大于500A时，上述测试电阻的阻值在0.5Ω～2Ω。具体地，根据负载电流的大小可以调整测试电阻的大小，以提高测试准确率，例如，上述待测量开关的负载电流大于500A时，测试电阻R0可选取1欧姆的标准电阻。
本申请的一种实施例中，上述待测量开关的负载电流小于或者等于500A时，上述测试电阻的阻值在10mΩ～100mΩ之间。具体地，根据负载电流的大小可以调整测试电阻的大小，以提高测试准确率，例如，上述待测量开关的负载电流大于500A时，测试电阻R0可选取100毫欧或者10毫欧。
本申请实施例还提供了一种开关的接触电阻的测量装置的控制方法，开关的接触电阻的测量装置包括第一测试线、第二测试线、电压表、测试开关和测试电阻，其中，上述第一测试线用于与待测量开关的一个触点电连接；上述第二测试线用于与上述待测量开关的另一个触点电连接；上述电压表包括第一端和第二端，上述第一端与上述第一测试线电连接，上述第二端与上述第二测试线电连接；上述测试开关包括第三端和第四端，上述第三端与上述第一测试线电连接；上述测试电阻包括第五端和第六端，上述第五端与上述第四端电连接，上述第六端与上述第二测试线电连接，如图2所示，该方法包括以下步骤：
步骤S101，在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；
步骤S102，控制上述测试开关闭合；
步骤S103，获取上述电压表的读数，得到第二电压；
步骤S104，根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。
上述开关的接触电阻的控制方法中，首先，在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；然后，控制上述测试开关闭合；之后，获取上述电压表的读数，得到第二电压；最后，根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。该控制方法在测试开关断开和闭合两种状态下分别检测待测量开关两端的电压，得到上述第一电压和上述第二电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤的可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本申请的一种实施例中，根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻，包括：根据并联电阻计算公式和欧姆定律确定上述接触电阻的计算公式；将上述第一电压U1、上述第二电压U2和上述测试电阻R0的阻值代入上述接触电阻的计算公式，计算得到上述接触电阻Rx。具体地，开关闭合前，待测量开关的触点的电流
开关闭合后，待测量开关的触点的电流
即可得到上述接触电阻的计算公式
将上述第一电压U1、上述第二电压U2和上述测试电阻R0的阻值代入上述接触电阻的计算公式，即可计算得到上述接触电阻Rx。
本申请实施例还提供了一种开关的接触电阻的测量装置的控制装置，需要说明的是，本申请实施例的开关的接触电阻的测量装置的控制装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于开关的接触电阻的测量装置的控制方法。以下对本申请实施例提供的开关的接触电阻的测量装置进行介绍，开关的接触电阻的测量装置包括第一测试线、第二测试线、电压表、测试开关和测试电阻，其中，上述第一测试线用于与待测量开关的一个触点电连接；上述第二测试线用于与上述待测量开关的另一个触点电连接；上述电压表包括第一端和第二端，上述第一端与上述第一测试线电连接，上述第二端与上述第二测试线电连接；上述测试开关包括第三端和第四端，上述第三端与上述第一测试线电连接；上述测试电阻包括第五端和第六端，上述第五端与上述第四端电连接，上述第六端与上述第二测试线电连接。
图3是根据本申请实施例的开关的接触电阻的测量装置的示意图。如图3所示，该装置包括：
第一获取单元100，用于在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；
控制单元200，用于控制上述测试开关闭合；
第二获取单元300，用于获取上述电压表的读数，得到第二电压；
计算单元400，用于根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。
上述开关的接触电阻的测量装置中，第一获取单元在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；控制单元控制上述测试开关闭合；第二获取单元获取上述电压表的读数，得到第二电压；计算单元根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。该控制装置在测试开关断开和闭合两种状态下分别检测待测量开关两端的电压，得到上述第一电压和上述第二电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
本申请的一种实施例中，上述计算单元包括确定模拟和计算模块，其中，上述确定模拟用于根据并联电阻计算公式和欧姆定律确定上述接触电阻的计算公式；上述计算模块用于将上述第一电压U1、上述第二电压U2和上述测试电阻R0的阻值代入上述接触电阻的计算公式，计算得到上述接触电阻Rx。具体地，开关闭合前，待测量开关的触点的电流
开关闭合后，待测量开关的触点的电流
即可得到上述接触电阻的计算公式
将上述第一电压U1、上述第二电压U2和上述测试电阻R0的阻值代入上述接触电阻的计算公式，即可计算得到上述接触电阻Rx。
上述开关的接触电阻的测量装置包括处理器和存储器，上述第一获取单元、控制单元、第二获取单元和计算单元等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。
处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。
本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现上述方法。
本发明实施例提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行上述方法。
本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现至少以下步骤：
步骤S101，在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；
步骤S102，控制上述测试开关闭合；
步骤S103，获取上述电压表的读数，得到第二电压；
步骤S104，根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。
本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有至少如下方法步骤的程序：
步骤S101，在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；
步骤S102，控制上述测试开关闭合；
步骤S103，获取上述电压表的读数，得到第二电压；
步骤S104，根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。
在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如上述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信电连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信电连接，可以是电性或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取计算机可读存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个计算机可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例上述方法的全部或部分步骤。而前述的计算机可读存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：
1)、本申请的开关的接触电阻的测量装置中，上述电压表的第一端与上述第一测试线电连接，以与待测量开关的一个触点电连接，上述电压表的第二端与上述第二测试线电连接，以与待测量开关的另一个触点电连接，即上述电压表并联在上述待测量开关的两端，上述测试开关的第三端与上述第一测试线电连接，上述测试电阻的第五端与上述第四端电连接，上述第六端与上述第二测试线电连接，即测试开关和测试电阻的串联电路的一端与待测量开关的一个触点电连接，另一端与待测量开关的另一个触点电连接，使得测试开关和测试电阻的串联电路也并联在上述待测量开关的两端，从而可以通过打开或者关闭测试开关两种情况下电压表的测量电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题，并且利用开关的接触电阻的测量装置进行低压开关触头接触电阻测试，提前发现设备隐患，避免故障的发生，提高设备运行安全水平。
2)、本申请的开关的接触电阻的控制方法中，首先，在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；然后，控制上述测试开关闭合；之后，获取上述电压表的读数，得到第二电压；最后，根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。该控制方法在测试开关断开和闭合两种状态下分别检测待测量开关两端的电压，得到上述第一电压和上述第二电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
3)、本申请的开关的接触电阻的测量装置中，第一获取单元在上述待测量开关闭合、上述测试开关断开、上述第一测试线与上述待测量开关的一个触点电连接以及上述第二测试线与上述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取上述电压表的读数，得到第一电压；控制单元控制上述测试开关闭合；第二获取单元获取上述电压表的读数，得到第二电压；计算单元根据上述第一电压、上述第二电压和上述测试电阻的阻值计算得到上述待测量开关的接触电阻。该控制装置在测试开关断开和闭合两种状态下分别检测待测量开关两端的电压，得到上述第一电压和上述第二电压，根据并联分流原理计算得到接触电阻的电阻，实现在不停电的情况下测量开关的接触电阻，从而解决了现有技术中无法在不停电的情况下测量开关的接触电阻的问题。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种开关的接触电阻的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：
第一测试线，用于与待测量开关的一个触点电连接；
第二测试线，用于与所述待测量开关的另一个触点电连接；
电压表，包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一测试线电连接，所述第二端与所述第二测试线电连接；
测试开关，包括第三端和第四端，所述第三端与所述第一测试线电连接；
测试电阻，包括第五端和第六端，所述第五端与所述第四端电连接，所述第六端与所述第二测试线电连接。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测量开关的负载电流大于500A时，所述测试电阻的阻值在0.5Ω～2Ω。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测量开关的负载电流小于或者等于500A时，所述测试电阻的阻值在10mΩ～100mΩ之间。
4.一种开关的接触电阻的测量装置的控制方法，其特征在于，开关的接触电阻的测量装置包括第一测试线、第二测试线、电压表、测试开关和测试电阻，其中，所述第一测试线用于与待测量开关的一个触点电连接；所述第二测试线用于与所述待测量开关的另一个触点电连接；所述电压表包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一测试线电连接，所述第二端与所述第二测试线电连接；所述测试开关包括第三端和第四端，所述第三端与所述第一测试线电连接；所述测试电阻包括第五端和第六端，所述第五端与所述第四端电连接，所述第六端与所述第二测试线电连接，所述方法包括以下步骤：
在所述待测量开关闭合、所述测试开关断开、所述第一测试线与所述待测量开关的一个触点电连接以及所述第二测试线与所述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取所述电压表的读数，得到第一电压；
控制所述测试开关闭合；
获取所述电压表的读数，得到第二电压；
根据所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值计算得到所述待测量开关的接触电阻。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值计算得到所述待测量开关的接触电阻，包括：
根据并联电阻计算公式和欧姆定律确定所述接触电阻的计算公式；
将所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值代入所述接触电阻的计算公式，计算得到所述接触电阻。
6.一种开关的接触电阻的测量装置的控制装置，其特征在于，开关的接触电阻的测量装置包括第一测试线、第二测试线、电压表、测试开关和测试电阻，其中，所述第一测试线用于与待测量开关的一个触点电连接；所述第二测试线用于与所述待测量开关的另一个触点电连接；所述电压表包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一测试线电连接，所述第二端与所述第二测试线电连接；所述测试开关包括第三端和第四端，所述第三端与所述第一测试线电连接；所述测试电阻包括第五端和第六端，所述第五端与所述第四端电连接，所述第六端与所述第二测试线电连接，所述装置包括：
第一获取单元，用于在所述待测量开关闭合、所述测试开关断开、所述第一测试线与所述待测量开关的一个触点电连接以及所述第二测试线与所述待测量开关的另一个触点电连接的情况下，获取所述电压表的读数，得到第一电压；
控制单元，用于控制所述测试开关闭合；
第二获取单元，用于获取所述电压表的读数，得到第二电压；
计算单元，用于根据所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值计算得到所述待测量开关的接触电阻。
7.根据权利要求6所述的控制装置，其特征在于，所述计算单元包括：
确定模拟，用于根据并联电阻计算公式和欧姆定律确定所述接触电阻的计算公式；
计算模块，用于将所述第一电压、所述第二电压和所述测试电阻的阻值代入所述接触电阻的计算公式，计算得到所述接触电阻。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求4或5所述的控制方法。
9.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求4或5中任意一项所述的控制方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111116293.6A CN115047249A (zh) | 2021-09-23 | 2021-09-23 | 开关的接触电阻的测量装置、控制方法和控制装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111116293.6A CN115047249A (zh) | 2021-09-23 | 2021-09-23 | 开关的接触电阻的测量装置、控制方法和控制装置 |
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2021
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