CN115037665A - 设备测试方法和装置 - Google Patents

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CN115037665A CN202210627406.7A CN202210627406A CN115037665A CN 115037665 A CN115037665 A CN 115037665A CN 202210627406 A CN202210627406 A CN 202210627406A CN 115037665 A CN115037665 A CN 115037665A
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Abstract

本公开关于一种设备测试方法和装置。设备测试方法包括:基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率;基于每个测试项的设备采样率,从当前在线设备中为每个测试项选取目标测试设备,其中,目标测试设备用于在第二测试周期内进行设备测试时收集设备特征数据;响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。本公开解决了同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。

Description

设备测试方法和装置
技术领域
本公开涉及计算机技术领域,特别涉及一种设备测试方法和装置。
背景技术
随着电子设备的发展,电子设备的类型也越来越丰富,目标应用运行的设备性能差异也越来越大,为了获取设备的特征数据,需要对运行目标应用的设备进行在线测试。在线进行设备测试时,通常设置一个静态的采样率来选择设备进行测试。
然而,由于静态采样率基于所有测试项的目标收集次数确定,当测试项数目比较大,且每个测试项的目标收集次数不同时,会选择采样率最大的测试项的采样率作为各个测试项的静态采样率,使得同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大。
发明内容
本公开提供一种设备测试方法和装置,以至少解决相关技术中同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
根据本公开实施例的一方面,提供一种设备测试方法,所述设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据,所述设备测试方法包括:
基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率;其中,每个所述测试项的所述剩余收集次数用于表征所述测试项的目标收集次数与所述测试项从测试开始到所述第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值;所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期;
基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,其中,所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据;
响应于所述第二测试周期的开始,向每个所述目标测试设备下发配置信息;其中,所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。
在一种可能实施方式中,所述在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量;
所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率,包括:基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述剩余收集次数、以及每种所述设备机型的所述机型在线数量,确定每个所述测试项在所述第二测试周期针对每种所述设备机型的机型采样率;
所述基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,包括:基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述机型采样率,从所述当前在线机型设备中,分别为每个所述测试项选取每种所述设备机型对应的所述目标测试设备。
在一种可能实施方式中,所述至少一个测试项包括至少两个测试项时,所述基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,包括:
基于每个所述测试项的所述设备采样率、以及每个所述测试项的预估测试时长,将至少两个所述测试项均分至所述当前在线设备,其中,每个所述测试项的所述预估测试时长用于表征所述目标测试设备完成所述测试项的耗时的参考时长。
在一种可能实施方式中,所述设备测试方法进一步包括:
获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的设备测试时长;
基于所述第一测试周期内为每个所述测试项获取的设备测试时长,确定每个所述测试项的所述预估测试时长,其中,所述设备测试时长用于表征单台设备完成所述测试项的实际耗时时长。
在一种可能实施方式中,所述设备测试方法进一步包括:
获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的所述设备特征数据;
基于在所述第一测试周期内针对每个所述测试项上报所述设备特征数据的所述测试设备的设备总数,确定在所述第一测试周期内针对每个所述测试项的周期累积收集次数;
根据在所述第一测试周期内针对每个所述测试项的所述周期累积收集次数确定每个所述测试项从开始到所述第一测试周期结束时的所述历史累积收集次数。
在一种可能实施方式中,所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率,包括:
确定每个所述测试项的所述剩余收集次数与所述在线设备历史数量的比值;
基于所述比值,确定每个所述测试项在所述第二测试周期的所述设备采样率。
根据本公开实施例的另一方面,提供一种设备测试装置,所述设备测试装置用于收集至少一个测试项的设备特征数据,所述设备测试装置包括:
确定模块,被配置为执行基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集设备数,以及在所述第一测试周期内对第一在线设备的设备统计数量,确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率;其中,所述剩余收集设备数用于表征针对每个所述测试项收集设备特征数据的目标收集设备数与累积收集设备数的差值;所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期;
选择模块,被配置为执行基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,其中,所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据;
下发模块,被配置为执行响应于所述第二测试周期的开始,向每个所述目标测试设备下发配置信息;其中,所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。
根据本公开实施例的另一方面,提供一种电子设备,包括:
处理器;
用于存储所述处理器的可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行所述可执行指令,以实现上述任一实施方式所述的设备测试方法。
根据本公开实施例的另一方面,提供一种计算机可读存储介质,当所述计算机可读存储介质中的至少一条指令被电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备能够实现上述任一实施方式所述的设备测试方法。
根据本公开实施例的另一方面,提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施方式所述的设备测试方法。
本公开的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果:
通过为每个测试项独立维护收集设备特征数据的剩余收集次数,并在不同测试周期将每个测试项的设备采样率与上一测试周期的剩余收集次数关联,由于剩余收集设备数能够动态体现每个测试项的设备特征数据的累积收集量向目标收集量的收敛情况,因此,不同测试项可以分别具有各自的收敛情况动态适配的设备采样率,而不必为了兼顾收集次数最大的某个测试项而将所有测试项的设备采样率都设定为最大静态值,从而,能够解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理,并不构成对本公开的不当限定。
图1是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的实施环境示意图;
图2是根据一示意性实施例示出的一种设备测试方法的流程图;
图3是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的交互流程图;
图4是根据一示意性实施例示出的一种基于不同设备机型的设备测试的流程图;
图5是根据一示例性实施例示出的一种基于不同机型的设备测试方法的交互流程图;
图6是根据一示意性实施例示出的一种基于设备采样率和测试时长的设备测试方法的流程图;
图7是根据一示例性实施例示出的一种基于设备采样率和测试时长的设备测试方法的交互流程图;
图8是根据一示例性实施例示出的一种设备测试的架构示意图;
图9是根据一示意性实施例示出的一种设备测试装置的逻辑结构框图;
图10是本公开实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本领域普通人员更好地理解本公开的技术方案,下面将结合附图,对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
需要说明的是,本公开的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本公开的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
随着电子设备的发展,电子设备的类型越来越丰富,其设备特征信息也会各不相同。为了获取设备的设备特征信息如编解码、性能等,需要对线上设备进行设备特征信息收集。
具体收集设备特征信息时,通过对线上设备进行测试获取设备特征数据,进而从获取的设备特征数据中获取需要的特征信息。通常获得比较完备的设备特征信息,需要进行很多项的测试,如100项以上,会消耗测试设备的CPU、GPU、内存等资源,进而使用户体验受损。
通常实现方式是设置一个静态采样率,对所有测试项采用满足需求量最大的测试项的采样率作为所有测试项的统一的采样率进行测试,由于所有测试项对应相同的采样率,当测试项条数比较多时,会导致在线设备中被选定为目标测试设备的并发设备数量较大,且影响运行于在线设备的目标应用的应用性能,进而会影响用户体验。
在进行设备特征数据收集时,将每次测试期望收集到的设备特征数据量化为收集设备特征数据的收集次数。
有鉴于此,本公开实施例提供一种设备测试方法,通过为每个测试项独立维护收集设备特征数据的剩余收集次数,并在不同测试周期将每个测试项的设备采样率与上一测试周期的剩余收集次数关联,由于剩余收集设备数能够动态体现每个测试项的设备特征数据的累积收集量向目标收集量的收敛情况,因此,不同测试项可以分别具有各自的收敛情况动态适配的设备采样率,而不必为了兼顾收集次数最大的某个测试项而将所有测试项的设备采样率都设定为最大静态值,从而,能够解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
图1是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的实施环境示意图,参见图1,在该实施环境中可以包括至少一个客户端101和服务器102,下面进行详述。
至少一个客户端101用于在线时,被服务器102选择为目标测试设备进行设备测试,并在测试完成时上报设备特征数据;在该至少一个客户端101中每个客户端上都可以安装有目标应用程序,该目标应用程序可以是短视频应用、音视频应用、购物应用、外卖应用、旅行应用、游戏应用或者社交应用中至少一项。
至少一个客户端101可以通过有线或无线通信方式与服务器102进行直接或间接地连接,本公开实施例对此不进行限定。
服务器102也即是一种计算机设备,用于根据测试项的采样率和当前在线设备选择至少一个客户端101作为目标测试设备进行设备测试。服务器102可以包括一台服务器、多台服务器、云计算平台或者虚拟化中心中的至少一项。
需要说明的是,该至少一个客户端101中任一客户端的设备类型可以包括:智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3(Moving Picture Experts Group Audio Layer III,动态影像专家压缩标准音频层面3)播放器、MP4(Moving Picture Experts Group AudioLayer IV,动态影像专家压缩标准音频层面4)播放器、膝上型便携计算机或者台式计算机中的至少一种。例如,该任一客户端可以是智能手机,或者其他手持便携式电子设备。
本领域技术人员可以知晓,上述客户端的数量可以更多或更少。比如上述客户端可以仅为一个,或者上述客户端为几十个或几百个,或者更多数量。本公开实施例对客户端的数量和设备类型不加以限定。
图2是根据一示意性实施例示出的一种设备测试方法的流程图,参见图2所示,该设备测试方法应用于计算机设备,下面以计算机设备为服务器为例进行说明。本实施例中的设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据。
在步骤201中,基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
其中,每个测试项的剩余收集次数用于表征测试项的目标收集次数与测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
具体实现时可以通过多个连续的测试周期,或不连续的多个测试周期来完成一次测试目标,但是各测试周期之间时间不重叠。
每次在一个新的测试周期开始时,根据上一测试周期的在线设备历史数量,以及上一测试周期结束时,每个测试项剩余收集次数即还需要收集的次数,确定下一个相邻测试周期的设备采样率;
针对每个测试项,直到该测试项的剩余收集次数为0,即设备采样率为0,结束对该测试项的相关测试,若该次测试的所有测试项的剩余收集次数均为0,或指令测试结束,结束该次测试。
在步骤202中,基于每个测试项的设备采样率,从当前在线设备中为每个测试项选取目标测试设备。
其中,目标测试设备用于在第二测试周期内进行设备测试。
在每个测试周期结束时,基于该测试周期的测试结果,计算下一个测试周期的采样率,重新选择目标测试设备进行下一测试周期的测试,采样率会随着测试周期的增多而降低,进而减少并发的目标测试设备。
在步骤203中,响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
该配置信息还包括测试内容,以便目标测试设备获知设备测试的测试内容。
至此,开始第二测试周期的设备测试,直到所有测试项的每种设备机型的机型采样率为0或接收到测试结束指令时,结束该次设备测试。
本实施例通过为每个测试项独立维护收集设备特征数据的剩余收集次数,并在不同测试周期将每个测试项的设备采样率与上一测试周期的剩余收集次数关联,由于剩余收集设备数能够动态体现每个测试项的设备特征数据的累积收集量向目标收集量的收敛情况,因此,不同测试项可以分别具有各自的收敛情况动态适配的设备采样率,而不必为了兼顾收集次数最大的某个测试项而将所有测试项的设备采样率都设定为最大静态值,从而,能够解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
与相关技术中针对每个测试项都使用采样率最大的测试项的采样率作为每一测试项的采样率这样的实现方式相比,测试项的数目越大时,本实施例中针对每个测试项分别维护采样率的方式,解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题的优势更明显。
在一些示例中,确定测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的方式可以为:
获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备特征数据;
基于在第一测试周期内针对每个测试项上报设备特征数据的测试设备的设备总数,确定在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数;
根据在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数确定每个测试项从开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数。
在每个测试周期,测试设备完成一个测试项的测试时,测试设备会上报设备特征数据;
服务器记录测试设备上报的设备特征数据,并分析确定设备特征数据是针对哪项测试项进行测试获得的;进而可以统计针对每个测试项收集到设备特征数据的次数。
在具体实现时,可以基于每个测试周期的周期累积收集次数更新下一测试周期的剩余收集次数,也可以直接用每个测试项的目标收集次数与测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值来确定第二测试周期的剩余收集次数,无论是那种确定方式,都可以确定出下一测试周期的剩余收集次数,也能体现对目标收集次数的一种动态收敛。
在一些示例中,步骤201中基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率的具体实现包括:
确定每个测试项的剩余收集次数与在线设备历史数量的比值;
基于比值,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
具体实现时,将确定的比值可以直接作为每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
上述所有可选技术方案,可以采用任意结合形成本公开的可选实施例,在此不再一一赘述。
图3是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的交互流程图。如图3所示,该设备测试方法用于客户端(测试设备)与服务器的交互过程中,该服务器为计算机设备,该客户端可以为智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3播放器、MP4播放器、膝上型便携计算机或者台式计算机,该实施例包括以下步骤:
在步骤301中,在第一测试周期中,客户端进行设备测试,并获取设备特征数据。
客户端根据服务器下发的测试内容进行设备测试。
这里的客户端为被选择为目标测试设备的设备。
在一些实施例中,客户端上安装和运行目标应用的应用程序,如可以为支持媒体信息(如短视频等)的应用程序,可在该客户端上启动该应用程序并进行登录,服务器即确定该设备当前处于在线状态。
在步骤302中,客户端响应于服务器下发的配置信息对应的操作,完成测试项的测试时,将获取的设备特征数据上报服务器。
在一些实施例中,客户端可以采用数据传输协议对设备特征数据进行封装,并进行上报,该数据传输协议可以是TCP(Transmission Control Protocol,传输控制协议)、UDP(User Datagram Protocol,用户数据报协议)、IP(Internet Protocol,网际互连协议)等,本公开实施例对此不进行具体限定。
在步骤303中,服务器获取客户端上报的设备特征数据,并存储。
在步骤304中,在第一测试周期结束时,服务器基于在第一测试周期内获取的特征数据确定在第一测试周期结束时每个测试项的剩余收集次数。
在具体实现时,客户端上报设备特征数据时,会携带测试项标识,用于表征该特征数据是针对哪项测试项的数据。
具体实现时可以通过多个连续的测试周期,或不连续的多个测试周期来完成一次测试目标,但是各测试周期之间时间不重叠。
每次在一个新的测试周期开始之前,根据上一测试周期的在线设备历史数量,以及上一测试周期结束时,每个测试项剩余收集次数即还需要收集的次数,确定下一个相邻测试周期的设备采样率;
针对每个测试项,直到该测试项的剩余收集次数为0,结束对该测试项的测试,若该次测试的所有测试项的剩余收集次数均为0,或指令测试结束,结束该次测试。
在一些示例中,确定测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的方式可以为:
获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备特征数据;
基于在第一测试周期内针对每个测试项上报设备特征数据的测试设备的设备总数,确定在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数;
根据在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数确定每个测试项从开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数。
在步骤305中,服务器基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
其中,每个测试项的剩余收集次数用于表征测试项的目标收集次数与测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
服务器会维护运行目标应用的设备的在线时间,则可以获取在线设备历史数量,以及当前在线设备数量。
在一些示例中,步骤305中基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率的具体实现包括:
确定每个测试项的剩余收集次数与在线设备历史数量的比值;
基于比值,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
具体实现时,将确定的比值可以直接作为每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
在步骤306中,服务器基于每个测试项的设备采样率,从当前在线设备中为每个测试项选取目标测试设备。
其中,目标测试设备用于在第二测试周期内进行设备测试。
在每个测试周期结束时,基于该测试周期的测试结果,计算下一个测试周期的采样率,重新选择目标测试设备进行下一测试周期的测试,采样率会随着测试周期的增多而降低,进而减少并发的目标测试设备。
在步骤307中,服务器响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
该配置信息还包括测试内容,以便目标测试设备获知设备测试的测试内容。
配置信息还用于通知目标测试设备进行哪项测试。
步骤308,客户端接收服务器下发的配置信息,进行设备测试。
至此,开始第二测试周期的设备测试,直到所有测试项的每种设备机型的机型采样率为0或接收到测试结束指令时,结束该次设备测试。
在具体实现的时候,有些测试项需要针对不同机型进行测试,本申请实施例中为了进一步减少同时并发测试的设备数量,对测试项进行一步进行细分,基于每个测试项的每种机型确定机型采样率进行测试,具体实现如下:
图4是根据一示意性实施例示出的一种基于不同设备机型的设备测试的流程图,参见图4所示,该种设备测试方法应用于计算机设备,下面以计算机设备为服务器为例进行说明。本实施例中的设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据,在本实施例中将对应不同设备机型的测试项作为不同测试项。针对每个测试项可以对应一种设备机型,也可以对应多种设备机型,根据实际需要确定,本实施例对此不进行限制;对应多种设备机型的测试项,看作为多个测试项。
在步骤401中,基于每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数、以及每种设备机型的机型在线数量,确定每个测试项在第二测试周期针对每种设备机型的机型采样率。
其中,每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数用于表征每种测试项的每种设备机型的目标收集次数与对应测试项的设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
本实施例在实现时通过多个连续的测试周期来完成一次测试目标,每次在一个新的测试周期开始测试时,根据上一周期的在线设备历史数量,以及上一周期结束时,每个测试项剩余收集次数,即还需要收集的次数,针对每个测试项,直到该测试项的剩余收集次数为0,针对该测试项该次测试目标已完成测试。
其中,在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量。
在步骤402中,基于每个测试项的每种设备机型的机型采样率,从当前在线机型设备中,分别为每个测试项选取每种设备机型对应的目标测试设备。
其中,目标测试设备用于在第二测试周期内进行设备测试。
在每个测试周期结束时,基于该测试周期的测试结果,计算下一个测试周期的机型采样率,重新选择目标测试设备进行下一测试周期的测试,采样率会随着测试周期的增多而降低,进而减少并发的目标测试设备。
在步骤403中,响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
该配置信息还包括测试内容,以便目标测试设备获知设备测试的测试内容。
至此,开始第二测试周期的设备测试,直到所有测试项的每种设备机型的机型采样率为0或接收到测试结束指令时,结束该次设备测试。
基于本实施例可以为每个测试项的每个设备机型独立维护收集设备特征数据的剩余收集次数,并将下一个测试周期的机型采样率与剩余收集次数关联设定,由于剩余收集次数能够动态体现针对每个测试项的每个设备机型收集设备特征数据的累积收集次数向目标收集次数的收敛情况,因此,不同测试项的不同机型可以分别具有各自的收敛情况动态适配的机型采样率,而不必为了兼顾数据量需求最大的某个测试项的设备机型而将所有测试项的设备机型的机型采样率都设定为最大静态值,从而,能够解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
与相关技术中针对每个测试项都使用采样率最大的测试项的采样率作为每一测试项的采样率这样的实现方式相比,测试项对应的机型种类越多,相当于测试项的数据更多时,本实施例中针对每个测试项的每个设备机型分别维护采样率的方式,解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题的优势更明显。
在一些示例中,确定每个测试项的每种设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的方式可以为:
第一步、获取在第一测试周期内测试设备上报的设备特征数据;
在每个测试周期中,结束一个测试项的测试时,测试设备会上报设备特征数据;在上报设备特征数据时会同时携带测试项标识和设备机型。
第二步、基于在第一测试周期内获取的设备特征数据确定在第一测试周期内针对每个测试项的每个设备机型的周期累积收集次数;
服务器记录测试设备上报的设备特征数据,并分析确定获取的设备特征数据是针对哪项测试项的哪种设备机型进行测试的;进而可以统计每个测试周期内针对每个测试项的每个设备机型收集到设备特征数据的次数,即周期累计收集次数。
第三步、根据在第一测试周期内每个测试项的每个设备机型的周期累积收集次数确定每个测试项的设备机型从开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数。
在具体实现时,可以基于每个测试周期的累积收集次数更新下一测试周期的剩余收集次数,也可以直接用每个测试项的每个设备机型的目标收集次数与每个测试项的每个设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值来确定下一测试周期的剩余收集次数,无论是那种确定方式,都可以确定出下一测试周期的剩余收集次数,也能体现对目标收集次数的一种动态收敛情况。
在一些示例中,步骤401中基于每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数、以及每种设备机型的机型在线数量,确定每个测试项在第二测试周期针对每种设备机型的机型采样率的具体实现包括:
确定每个测试项的每个设备机型的剩余收集次数与在线设备历史数量的比值;
基于比值,确定每个测试项的每个设备机型在第二测试周期的机型采样率。
具体实现时,将确定的比值可以直接作为每个测试项的每个设备机型在第二测试周期的机型采样率。
上述所有可选技术方案,可以采用任意结合形成本公开的可选实施例,在此不再一一赘述。
图5是根据一示例性实施例示出的一种基于不同机型的设备测试方法的交互流程图。如图5所示,该设备测试方法用于客户端(测试设备)与服务器的交互过程中,该服务器为计算机设备,该客户端可以为智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3播放器、MP4播放器、膝上型便携计算机或者台式计算机,该实施例包括以下步骤:
在步骤501中,在第一测试周期中,客户端进行设备测试,并获取设备特征数据。
客户端根据服务器下发的配置信息中的测试内容进行设备测试。
这里的客户端为被选择为目标测试设备的设备。
在一些实施例中,客户端上安装和运行目标应用的应用程序,如可以为支持媒体信息(如短视频等)的应用程序,可在该客户端上启动该应用程序并进行登录,服务器即确定该设备当前处于在线状态。
在步骤502中,客户端响应于服务器下发的配置信息对应的操作,完成测试项的测试时,将获取的设备特征数据上报服务器。
在一些实施例中,客户端可以采用数据传输协议对设备特征数据进行封装,并进行上报,该数据传输协议可以是TCP(Transmission Control Protocol,传输控制协议)、UDP(User Datagram Protocol,用户数据报协议)、IP(Internet Protocol,网际互连协议)等,本公开实施例对此不进行具体限定。
在步骤503中,服务器获取客户端上报的设备特征数据。
在步骤504中,在第一测试周期结束时,服务器基于在第一测试周期内获取的特征数据确定在第一测试周期结束时每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数。
在一些示例中,确定每个测试项的每种设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的方式可以为:
第一步、获取在第一测试周期内测试设备上报的设备特征数据;
在每个测试周期中,结束一个测试项的测试时,测试设备会上报设备特征数据;在上报设备特征数据时会同时携带测试项标识和设备机型。
第二步、基于在第一测试周期内获取的设备特征数据确定在第一测试周期内针对每个测试项的每个设备机型的周期累积收集次数;
服务器记录测试设备上报的设备特征数据,并分析确定获取的设备特征数据是针对哪项测试项的哪种设备机型进行测试的;进而可以统计每个测试周期内针对每个测试项的每个设备机型收集到设备特征数据的次数,即周期累计收集次数。
第三步、根据在第一测试周期内每个测试项的每个设备机型的周期累积收集次数确定每个测试项的设备机型从开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数。
在具体实现时,可以基于每个测试周期的累积收集次数更新下一测试周期的剩余收集次数,也可以直接用每个测试项的每个设备机型的目标收集次数与每个测试项的每个设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值来确定下一测试周期的剩余收集次数,无论是那种确定方式,都可以确定出下一测试周期的剩余收集次数,也能体现对目标收集次数的一种动态收敛情况。
在步骤505中,服务器基于每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数、以及每种设备机型的机型在线数量,确定每个测试项在第二测试周期针对每种设备机型的机型采样率。
其中,每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数用于表征每种测试项的每种设备机型的目标收集次数与对应测试项的设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
本实施例在实现时通过多个连续的测试周期来完成一次测试目标,每次在一个新的测试周期开始测试时,根据上一周期的在线设备历史数量,以及上一周期结束时,每个测试项剩余收集次数,即还需要收集的次数,针对每个测试项,直到该测试项的剩余收集次数为0,针对该测试项该次测试目标已完成测试。
其中,在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量。
在步骤506中,服务器基于每个测试项针对每种设备机型的机型采样率,从当前在线机型设备中,分别为每个测试项选取每种设备机型的目标测试设备。
其中的目标测试设备为用于在第二测试周期进行设备测试的设备。
在步骤507中,服务器响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
该配置信息还包括测试内容,以便目标测试设备获知设备测试的测试内容。
步骤508,客户端接收服务器下发的配置信息,进行设备测试。
客户端根据服务器下发的配置信息中的测试内容进行设备测试,并在测试完成时上报测试获取的设备特征数据。
至此,开始第二测试周期的设备测试,直到所有测试项的每种设备机型的机型采样率为0或接收到测试结束指令时,结束该次设备测试。
在具体实现时,还可以引入每个测试项的预估测试时长,能够基于采样率和预估测试时长使测试项能够均衡地分担到选择的目标测试设备上,进一步降低对运行目标应用的设备的应用性能的影响。具体实现如下:
图6是根据一示意性实施例示出的一种基于设备采样率和测试时长的设备测试方法的流程图,参见图6所示,该选择目标测试设备的方法应用于计算机设备,下面以计算机设备为服务器为例进行说明。本实施例中的设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据,其中,至少一个测试项包括至少两个测试项,即本实施例中的设备测试方法用于收集至少两个测试项的设备特征数据。
在步骤601中,基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
其中,每个测试项的剩余收集次数用于表征测试项的目标收集次数与测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
具体实现时可以通过多个连续的测试周期,或不连续的多个测试周期来完成一次测试目标,但是各测试周期之间时间不重叠。
每次在一个新的测试周期开始时,根据上一测试周期的在线设备历史数量,以及上一测试周期结束时,每个测试项剩余收集次数即还需要收集的次数,确定下一个相邻测试周期的设备采样率;针对每个测试项,直到该测试项的剩余收集次数为0,结束对该测试项的相关测试,若该次测试的所有测试项的剩余收集次数均为0,或指令测试结束,结束该次测试。
在步骤602中,基于每个测试项的设备采样率、以及每个测试项的预估测试时长,将至少两个测试项均分至当前在线设备。
其中,每个测试项的预估测试时长用于表征目标测试设备完成该测试项的耗时的参考时长;目标测试设备为被分摊至少一个测试项的在线设备。
具体实现基于每个测试项的设备采样率、以及每个测试项的预估测试时长,将至少一个测试项均分至当前在线设备时,可以但不限于贪心算法的实现。
步骤603,响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
该配置信息还包括测试内容,以便目标测试设备获知设备测试的测试内容。
至此,开始第二测试周期的设备测试,直到所有测试项的每种设备机型的机型采样率为0或接收到测试结束指令时,结束该次设备测试。
本实施例中通过引入每个测试项的预估测试时长,能够基于采样率和预估测试时长将使测试项能够均衡地分担到选择的目标测试设备上,使目标测试设备由于设备测试而产生的单设备负担最小化,即测试总耗时最短,进一步降低对运行目标应用的设备的应用性能的影响。
与相关技术中针对每个测试项都使用采样率最大的测试项的采样率作为每一测试项的采样率这样的实现方式相比,测试项的数目越大时,本实施例中针对每个测试项分别维护采样率的方式,解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题的优势更明显。
本实施例中针对每个测试项的预估测试时长可以为预先设置的,可以是根据实际测试获得的,如果是根据实际测试获得的,那么向每个目标测试设备下发的配置信息还用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备测试时长。
在一个示例中,给出根据实际测试获得预估测试时长的实现过程:
获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备测试时长;
基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,其中,设备测试时长用于表征单台设备完成对应测试项的实际耗时时长。
其中,基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,包括:
确定第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长的均值;
基于该均值,确定每个测试项的预估测试时长。
具体实现时,可以将上一测试周期获取的每个测试项的设备测试时长的均值作为对应测试项在下一测试周期的预估测试时长;也可以将当前测试获取的历史设备测试时长的均值作为对应测试项的预估测试时长,本实施例对具体确定预估测试时长的方式不进行限制。
上述所有可选技术方案,可以采用任意结合形成本公开的可选实施例,在此不再一一赘述。
图7是根据一示例性实施例示出的一种基于设备采样率和测试时长的设备测试方法的交互流程图。如图7所示,该设备测试方法用于客户端(测试设备)与服务器的交互过程中,该服务器为计算机设备,该客户端可以为智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3播放器、MP4播放器、膝上型便携计算机或者台式计算机,该实施例包括以下步骤:
在步骤701中,在第一测试周期中,客户端进行设备测试,并获取设备特征数据。
客户端根据服务器下发的配置信息中的测试内容进行设备测试。
这里的客户端为被选择为目标测试设备的设备。
在一些实施例中,客户端上安装和运行目标应用的应用程序,如可以为支持媒体信息(如短视频等)的应用程序,可在该客户端上启动该应用程序并进行登录,服务器即确定该设备当前处于在线状态。
在步骤702中,客户端响应于服务器下发的配置信息对应的操作,完成测试项的测试时,将获取的设备特征数据上报服务器。
在一些实施例中,客户端可以采用数据传输协议对设备特征数据进行封装,并进行上报,该数据传输协议可以是TCP(Transmission Control Protocol,传输控制协议)、UDP(User Datagram Protocol,用户数据报协议)、IP(Internet Protocol,网际互连协议)等,本公开实施例对此不进行具体限定。
在步骤703中,服务器获取客户端上报的设备特征数据。
在步骤704中,在第一测试周期结束时,服务器基于在第一测试周期内获取的特征数据确定在第一测试周期结束时每个测试项的剩余收集次数。
在具体实现时,客户端上报设备特征数据时,会携带测试项标识,用于表征该特征数据是针对哪项测试项的数据。
具体实现时可以通过多个连续的测试周期,或不连续的多个测试周期来完成一次测试目标,但是各测试周期之间时间不重叠。
每次在一个新的测试周期开始之前,根据上一测试周期的在线设备历史数量,以及上一测试周期结束时,每个测试项剩余收集次数即还需要收集的次数,确定下一个相邻测试周期的设备采样率;
针对每个测试项,直到该测试项的剩余收集次数为0,结束对该测试项的测试,若该次测试的所有测试项的剩余收集次数均为0,或指令测试结束,结束该次测试。
在一些示例中,确定测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的方式可以为:
获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备特征数据;
基于在第一测试周期内针对每个测试项上报设备特征数据的测试设备的设备总数,确定在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数;
根据在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数确定每个测试项从开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数。
在步骤705中,服务器基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
其中,每个测试项的剩余收集次数用于表征测试项的目标收集次数与测试项从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
在一些示例中,步骤705中基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率的具体实现包括:
确定每个测试项的剩余收集次数与在线设备历史数量的比值;
基于比值,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
具体实现时,将确定的比值可以直接作为每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
在步骤706中,服务器基于每个测试项的设备采样率、以及每个测试项的预估测试时长,将至少两个测试项均分至当前在线设备。
其中,每个测试项的预估测试时长用于表征目标测试设备完成该测试项的耗时的参考时长,并且,目标测试设备为被分摊至少一个测试项的在线设备。
本实施例中针对每个测试项的预估测试时长可以为预先设置的,可以是根据实际测试获得的,如果是根据实际测试获得的,那么向每个目标测试设备下发的配置信息还用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备测试时长。
在一个示例中,给出根据实际测试获得预估测试时长的实现过程:
获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备测试时长;
基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,其中,设备测试时长用于表征单台设备完成对应测试项的实际耗时时长。
其中,基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,包括:
确定第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长的均值;
基于该均值,确定每个测试项的预估测试时长。
具体实现时,可以将上一测试周期获取的每个测试项的设备测试时长的均值作为对应测试项在下一测试周期的预估测试时长;也可以将当前测试获取的历史设备测试时长的均值作为对应测试项的预估测试时长,本实施例对具体确定预估测试时长的方式不进行限制。
具体实现基于每个测试项的设备采样率、以及每个测试项的预估测试时长,将至少一个测试项均分至当前在线设备时,可以但不限于贪心算法的实现。
步骤707,服务器响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
该配置信息还包括测试内容,以便目标测试设备获知设备测试的测试内容。
步骤708,客户端接收服务器下发的配置信息,进行设备测试。
客户端根据配置信息中的测试内容进行测试,并在测试完成时,上报测试过程中获取的设备特征数据。
至此,开始第二测试周期的设备测试,直到所有测试项的每种设备机型的机型采样率为0或接收到测试结束指令时,结束该次设备测试。
下面给出结合本实施例的设备测试架构图详细说明本实施例实现设备测试的一种的过程。图8是根据一示例性实施例示出的一种设备测试的架构示意图。如图8所示,该示意图中包括客户端(目标测试设备)和服务端,这里的客户端为作为测试设备的客户端;服务端为一台或多台计算机设备,该客户端可以为智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3播放器、MP4播放器、膝上型便携计算机或者台式计算机,该实施例包括以下步骤:
以从第一测试周期开始当前测试为例。
第一步、客户端上的目标应用开始运行时,将客户端的设备机型上报服务器。
第二步、服务端获取客户端上报的设备机型,将在线设备,以及在线设备的设备机型存储到机型画像总表中,并维护在线机型设备在线时间。
本步骤通过数据处理服务对客户端上报的在线设备,以及在线设备的相关信息进行处理,并落表机型画像总表;其中,机型画像总表包括:设备标识、设备机型标识、设备在线时间等,设备在线时间可以通过时间段表征。
服务端需要进行设备测试时,执行如下步骤:
第三步、服务器获取第一测试周期对应的每条测试项的每种设备机型的剩余收集次数,以及机型采样率。
由于还未进行测试,第一测试周期每条测试项的每种设备机型的剩余收集次数,与目标收集次数是相同的;目标收集次数根据需求进行设置,预先存储在剩余收集次数表中;服务端需要测试时,从剩余收集次数表中获取第一测试周期的剩余收集次数;
每条测试项的每种设备机型的机型采样率可以根据经验进行配置,存储在采样率表中;服务端需要测试时,从采样率表中获取第一测试周期的机型采样率。
本申请实施例中进行测试时是为了获取设备特征数据,进一步分析获取设备特征信息,在具体实现时将获取设备特征数据的数据量量化为获取设备特征数据的次数,即目标收集次数。
第四步、从机型画像总表中获取每种设备机型对应的当前在线机型设备,以及每种设备机型对应的当前在线设备的总数。
第五步、根据每个测试项的每种设备机型的机型采样率,对应设备机型的当前在线设备的数量,以及预估测试时长在当前在线机型设备中选取目标测试设备(用于测试的客户端)。
本实施例中以初始配置一个预估测试时长并存储到测试项耗时表中来选取目标测试设备为例,这样可以根据测试时长将所有测试项均分到对应设备机型的设备上,以实现对运行目标应用的设备的应用性能影响最小,如占用测试的时间最少。
第六步、服务器响应于第一测试周期的开始,向为每个测试项的每个设备机型选取的目标测试设备下发配置数据配置信息,该配置数据配置信息用于向客户端下发测试内容,并引发目标测试设备在完成测试项测试时上报设备特征数据和设备测试时长。
在具体实现时,可以基于benchmark自动化测试但不限于该种测试方式实现本实施例的设备测试。利用线上的设备进行设备特征信息收集的过程称之为benchmark自动化测试,benchmark自动化测试是在测试数据处理上增加了两个自动化:
1、测试配置服务自动控制测试内容;
2、数据服务器自动处理数据形成机型名单存储到机型画像总表中。
在具体实现时,基于benchmark自动化测试可以获取测试相关数据,并分析落表。
第四步到第六步通过测试配置下发服务实现。
第七步、目标测试设备(被选中进行测试的客户端)运行接收到的配置信息,并根据配置信息中的测试内容开始进行对应测试项的测试。
第八步、目标测试设备在测试对应测试项结束的时候,将测试获取的设备特征数据和设备测试时长上报给服务端。
第九步、服务端获取目标测试设备上报的设备测试时长,存储到测试项耗时表中。
测试项耗时表包括:测试项标识、测试机型标识、设备测试时长,测试周期标识(或者获取时间)等;
测试项耗时表中维护每个测试周期中每个测试项的每种机型对应的设备测试时长,并在一个周期结束时,或者实时计算每个测试项的每种机型对应的预估测试时长。
具体计算方式可以为:将历史存储的每个测试项的每种测试机型的设备测试耗时求均值作为下一个测试周期的预估测试时长,也可以是将当前周期中每个测试项的每种测试机型的设备测试耗时求均值作为下一个测试周期的预估测试时长。
第十步、基于针对每个测试项的每种设备机型上报的设备特征数据,维护并更新当前周期完成的测试次数,并存储到剩余测试次数表中。
具体实现时,针对每种测试项的每种设备机型每获取一次设备特征数据,确定为已完成一次收集次数。
剩余测试次数表包括:周期标识和剩余测试次数的对应关系,以及设备标识、设备机型、完成次数和测试周期的对应关系等。
第十一步、在第一测试周期结束时,更新剩余测试次数表中的剩余收集次数,并基于剩余测试次数表中每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数、以及机型画像总表中每种设备机型的机型在线数量,确定每个测试项在第二测试周期针对每种设备机型的机型采样率。
其中,每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数用于表征每种测试项的每种设备机型的目标收集次数与对应测试项的设备机型从测试开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值。
服务器将确定的第二测试周期的机型采样率也存储并维护到采样率表中,以便测试配置下发服务器需要选择目标测试设备时,确定对应测试周期的机型采样率。
每个测试周期结束时,可以更新剩余收集次数,即使用该测试周期对应的目标收集次数减去在该测试周期已完成的收集次数。前一个测试周期结束时的剩余收集次数与相邻的下一个测试周期的目标收集次数相同。
其中,第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期。
第十二步、基于每个测试项的每种设备机型的机型采样率、以及每个测试项的每种设备机型对应的预估测试时长,将所有设备机型的测试项均分至当前在线机型设备。
目标测试设备为被分摊至少一个测试项的在线设备。
其中,每个测试项的预估测试时长用于表征目标测试设备完成该测试项的耗时的参考时长,并且,目标测试设备为被分摊至少一个测试项的在线设备。
本实施例中针对第一个测试周期,每个测试项的每种设备机型的预估测试时长为预先设置的,第二测试周期以及之后的测试周期根据实际测试获得的。
在一个示例中,给出根据实际测试获得预估测试时长的实现过程:
获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备测试时长;
基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,其中,设备测试时长用于表征单台设备完成对应测试项的实际耗时时长。
其中,基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,包括:
确定第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长的均值;
基于该均值,确定每个测试项的预估测试时长。
具体实现时,可以将上一测试周期获取的每个测试项的设备测试时长的均值作为对应测试项在下一测试周期的预估测试时长;也可以将当前测试获取的历史设备测试时长的均值作为对应测试项的预估测试时长,本实施例对具体确定预估测试时长的方式不进行限制。
具体实现基于每个测试项的设备采样率、以及每个测试项的预估测试时长,将至少两个测试项均分至当前在线设备时,可以但不限于贪心算法的实现。
第十三步、服务端响应于第二测试周期的开始,向为每个测试项每种设备机型选取的目标测试设备下发配置信息,该配置信息用于向客户端下发测试内容,以及用于引发目标测试设备在完成对应测试项测试时上报设备特征数据和设备测试时长。
第十四步、被选为目标测试设备的客户端进行测试,并在测试完成时上报设备特征数据和设备测试时长。
客户端根据配置信息中的测试内容进行测试,并在测试完成时,上报测试过程中获取的设备特征数据和设备测试时长。
第十五步、服务端根据客户端上报的设备特征数据和设备测试时长维护剩余测试次数表和时长耗时表。
第十六步、在第二测试周期结束时,基于第二测试周期执行与第一测试周期结束时的类似操作,以此类推直到每个测试项的每种设备机型对应的测试均已完成,或接收到结束指令,结束当前测试。
本实施例中的动态采样会根据每一个测试项目需要的数据量、每一个机型的活跃设备数来动态的计算每一项测试的每种设备机型的采样率,同时根据每一个测试项的设备机型的预估测试时长来均匀分配每一个测试设备的测试项目,因此,能够解决相关技术中同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
图9是根据一示意性实施例示出的一种设备测试装置的逻辑结构框图,参见图9所示,设备测试装置用于收集至少一个测试项的设备特征数据,该设备测试装置包括:
确定模块901,被配置为执行基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集设备数,以及在第一测试周期内对第一在线设备的设备统计数量,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率;其中,剩余收集设备数用于表征针对每个测试项收集设备特征数据的目标收集设备数与累积收集设备数的差值;第二测试周期为第一测试周期之后的测试周期;
选择模块902,被配置为执行基于每个测试项的设备采样率,从当前在线设备中为每个测试项选取目标测试设备,其中,目标测试设备用于在第二测试周期内进行设备测试时收集设备特征数据;
下发模块903,被配置为执行响应于第二测试周期的开始,向每个目标测试设备下发配置信息;其中,配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。
在一种可能实施方式中,至少一个测试项包括至少两个测试项;
确定模块901,具体被配置为执行基于每个测试项的每种设备机型的剩余收集次数、以及每种设备机型的机型在线数量,确定每个测试项在第二测试周期针对每种设备机型的机型采样率;其中,在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量;
选择模块902,具体被配置为执行基于每个测试项的每种设备机型的机型采样率,从当前在线机型设备中,分别为每个测试项选取每种设备机型对应的目标测试设备。
在一种可能实施方式中,
选择模块902,具体被配置为执行基于每个测试项的设备采样率、以及每个测试项的预估测试时长,将至少两个测试项均分至当前在线设备,其中,每个测试项的预估测试时长用于表征目标测试设备完成测试项的耗时的参考时长。
在一种可能实施例中,设备测试装置进一步包括:获取模块904;
获取模块904,被配置为执行获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备测试时长;
确定模块901,进一步被配置为执行基于第一测试周期内为每个测试项获取的设备测试时长,确定每个测试项的预估测试时长,其中,设备测试时长用于表征单台设备完成测试项的实际耗时时长。
在一种可能实施例中,设备测试装置进一步包括:获取模块904;
获取模块904,被配置为执行获取在第一测试周期内测试设备针对测试项上报的设备特征数据;
确定模块901,进一步被配置为执行基于在第一测试周期内针对每个测试项上报设备特征数据的测试设备的设备总数,确定在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数;根据在第一测试周期内针对每个测试项的周期累积收集次数确定每个测试项从开始到第一测试周期结束时的历史累积收集次数。
在一种可能实施例中,
确定单元901,具体被配置为执行:
确定每个测试项的剩余收集次数与在线设备历史数量的比值;
基于比值,确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率。
本公开实施例提供的设备测试装置,通过为每个测试项独立维护收集设备特征数据的剩余收集次数,并在不同测试周期将每个测试项的设备采样率与上一测试周期的剩余收集次数关联,由于剩余收集设备数能够动态体现每个测试项的设备特征数据的累积收集量向目标收集量的收敛情况,因此,不同测试项可以分别具有各自的收敛情况动态适配的设备采样率,而不必为了兼顾收集次数最大的某个测试项而将所有测试项的设备采样率都设定为最大静态值,从而,能够解决同时用于测试的设备数量大,且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
上述所有可选技术方案,可以采用任意结合形成本公开的可选实施例,在此不再一一赘述。
关于上述实施例中的设备测试装置,其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该设备测试方法的实施例中进行了详细描述,此处将不作详细阐述说明。
需要说明的是:上述实施例仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。
图10是本公开实施例提供的一种电子设备的结构示意图。在一些实施例中,该电子设备为服务器。该电子设备1000可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上处理器(Central ProcessingUnits,CPU)1001和一个或一个以上的存储器1002,其中,该存储器1002中存储有至少一条程序代码,该至少一条程序代码由该处理器1001加载并执行以实现上述各个实施例提供的设备测试方法。当然,该电子设备1000还可以具有有线或无线网络接口、键盘以及输入输出接口等部件,以便进行输入输出,该电子设备1000还可以包括其他用于实现设备功能的部件,在此不做赘述。
在示例性实施例中,还提供了一种包括至少一条指令的计算机可读存储介质,例如包括至少一条指令的存储器,上述至少一条指令可由计算机设备中的处理器执行以完成上述实施例中的设备测试方法。
可选地,上述计算机可读存储介质可以是非临时性计算机可读存储介质,例如,该非临时性计算机可读存储介质可以包括ROM(Read-Only Memory,只读存储器)、RAM(Random-Access Memory,随机存取存储器)、CD-ROM(Compact Disc Read-Only Memory,只读光盘)、磁带、软盘和光数据存储设备等。
在示例性实施例中,还提供了一种计算机程序产品,包括一条或多条指令,该一条或多条指令可以由计算机设备的处理器执行,以完成上述各个实施例提供的设备测试方法。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种设备测试方法,其特征在于,所述设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据,所述设备测试方法包括:
基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率;其中,每个所述测试项的所述剩余收集次数用于表征所述测试项的目标收集次数与所述测试项从测试开始到所述第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值;所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期;
基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,其中,所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据;
响应于所述第二测试周期的开始,向每个所述目标测试设备下发配置信息;其中,所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。
2.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量;
所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率,包括:基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述剩余收集次数、以及每种所述设备机型的所述机型在线数量,确定每个所述测试项在所述第二测试周期针对每种所述设备机型的机型采样率;
所述基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,包括:基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述机型采样率,从所述当前在线机型设备中,分别为每个所述测试项选取每种所述设备机型对应的所述目标测试设备。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述至少一个测试项包括至少两个测试项时,所述基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,包括:
基于每个所述测试项的所述设备采样率、以及每个所述测试项的预估测试时长,将至少两个所述测试项均分至所述当前在线设备,其中,每个所述测试项的所述预估测试时长用于表征所述目标测试设备完成所述测试项的耗时的参考时长。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述设备测试方法进一步包括:
获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的设备测试时长;
基于所述第一测试周期内为每个所述测试项获取的设备测试时长,确定每个所述测试项的所述预估测试时长,其中,所述设备测试时长用于表征单台设备完成所述测试项的实际耗时时长。
5.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述设备测试方法进一步包括:
获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的所述设备特征数据;
基于在所述第一测试周期内针对每个所述测试项上报所述设备特征数据的所述测试设备的设备总数,确定在所述第一测试周期内针对每个所述测试项的周期累积收集次数;
根据在所述第一测试周期内针对每个所述测试项的所述周期累积收集次数确定每个所述测试项从开始到所述第一测试周期结束时的所述历史累积收集次数。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法,其特征在于,所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量,确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率,包括:
确定每个所述测试项的所述剩余收集次数与所述在线设备历史数量的比值;
基于所述比值,确定每个所述测试项在所述第二测试周期的所述设备采样率。
7.一种设备测试装置,其特征在于,所述设备测试装置用于收集至少一个测试项的设备特征数据,所述设备测试装置包括:
确定模块,被配置为执行基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集设备数,以及在所述第一测试周期内对第一在线设备的设备统计数量,确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率;其中,所述剩余收集设备数用于表征针对每个所述测试项收集设备特征数据的目标收集设备数与累积收集设备数的差值;所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期;
选择模块,被配置为执行基于每个所述测试项的所述设备采样率,从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备,其中,所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据;
下发模块,被配置为执行响应于所述第二测试周期的开始,向每个所述目标测试设备下发配置信息;其中,所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储所述处理器的可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行所述可执行指令,以实现如权利要求1至6任一项所述的设备测试方法。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,当所述计算机可读存储介质中的至少一条指令被电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备能够实现如权利要求1至6任一项所述的设备测试方法。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的设备测试方法。
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