CN115021833A - 相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开的一种相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，简单可靠、耗费硬件资源小，一致性标校效率高。本发明通过下述技术方案予以实现：启动相控阵天线系统阵元通道一致性标校后，首先根据相控阵天线射频前端及天馈阵列系统设置划分天线阵面标校区域，多模参考源注入标校参考信号，按照划分的标校区域分配各个区域号及标校配置资源；连续波校正源基于幅度、相位估计单元并行方式对时域相干的时延进行估计，纠正通道间时延差；完成一致性校正标校后，多模参考源将各个阵元标校区间的待标校信号归一化到同一参考点上进行实时校准补偿，统一通过数据上报单元送监控及数据处理单元处理，将一致性标校值送相控阵天线系统监控数据库中存储。

Description

相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法

技术领域

本发明涉及相控阵天线阵列信号处理技术领域，一种基于多模并行处理的改进型相控阵天线阵元通道一致性标方法。

背景技术

相控阵天线可采用先进的数字信号处理技术对阵列信号进行处理，在保留了天线阵列单元信号的全部信息基础上可以获得优良的波束性能，方便地得到高分辨和低旁瓣的性能，可实现波束扫描、自适应波束形成与对全空域动态目标的波束跟踪等功能。但阵列通道误差的存在使得这些优越性受到影响。随着阵列信号理论及数字集成电路技术的迅猛发展，自适应数字波束形成技术已在相控阵系统中得到应用。自适应数字波束形成取代了传统相控阵系统中对波束控制的衰减器、移相器，利用数字技术实现基带信号的加权，对天线的方向图进行增益和形状控制。但是,常规自适应波束形成和DOA估计方法的性能受限于阵列天线的实际阵元数量和孔径大小,当阵列天线处理的信源数量超过实际阵列自由度时,常规自适应波束形成方法的输出性能和常规DOA估计方法的分辨性能都会严重下降。

相控阵雷达天线通常需要具有准确指向的波束扫描，低副瓣，窄波束宽度等特性。在实际的研究和生产过程中，由于各种元器件在结构、尺寸、工艺误差等方面并非绝对一致，线缆长度、传输损耗、接头连接也不可能完全相同，实际系统中受器件参数差异和工艺水平的制约，不能保证所有通道链路在硬件上完全一致。加上相控阵天线器件的不一致性以及制造公差和装配误差等因素的影响,导致通道间幅度和相位不一致。并且前端组件馈入相控阵天线单元的微波信号也存在功率和相位上的差异和起伏，因此，各天线单元所产生的信号在幅度和相位上难以绝对一致。这些幅度和相位的不一致性最终会影响到相控阵天线的方向图上，使波束方向图的主瓣增益降低，旁瓣电平升高；相位误差不仅会使波束主瓣增益降低，旁瓣电平抬高，还会引起波束指向偏差，降低天线的实际性能。即使采用前沿的光实时延技术的光控相控阵天线也会存在延时误差，影响天线性能。

相控阵天线技术的核心问题是波束形成，其关键技术包括：波束形成算法技术与相控阵天线阵元的幅度、相位一致性标校技术。为了实现精确波束合成，要求各射频收发模块的增益和时间延时相同，各阵元之间的同步成为需要解决的关键问题。由于数字相控阵中各射频收发模块的特性不可能相同，也不可能保持不变。射频收发芯片之间的性能差异、温度变化等，会导致各射频收发模块的增益和时延不相同，造成波束方向图发生畸变。又由于整个发射系统需要多个阵元协同工作，而同阵元通道间的软硬件不可能完全一致，从而造通道间信号的幅度、相位和时延不一致，继而影响成波東的指向精度。如果不进行有效的检测与校正,直接进行射频波束合成会导致波束合成会导致波束指向出现偏差，甚至会指向错误。

在机载、舰载应用中,安装天线的附近往往存在有对电磁波有较强散射性的部件，如机翼、桅杆等构成了影响天线工作特性的近场散射环境。而且数字相控阵中的时钟和同步信号需要经过很长的传输线，且每条传输线的布线路径也不同，信号在这些传输线上的延迟误差直接导致射频收发模块的相位误差。因此，通道间相位误差通常超出均衡器的补偿范围。一些传统的相控阵通道一致性校准方法，包括常用的时域均衡算法、频域均衡算法，都已无法有效实施。虽然阵列信号处理技术能够给相控阵雷达带来更高的目标估计精度和对干扰、杂波的空间抑制能力,但是实际应用中复杂的环境也给现有的阵列信号处理算法的应用带来了新的问题。

根据相控阵天线研究，相控阵通道间相位差值不仅包含了发射通道间元器件、电缆温度热胀冷缩等引起的阵元位置误差，阵元老化等导致的阵元增益误差，随特性不一致而导致的相差，短暂误差和长期误差，还包含了天线指向误差，姿态控制误差，计算误差，天线阵面安装误差，热变形误差等引起的相差。在中、大型相控阵系统中往往包含上千乃至数万个阵元，而且多通道接收机电路复杂，往往存在天线阵通道不一致及阵元间互耦，难以保证各通道性能的幅相一致性。因此对相控阵天线系统如此众多的阵元进行阵元通道幅度、相位一致性标校过程是一个运行时间长，耗时耗力的工作，进行一次全系统的一致性标校时间往往长达数个小时。相控阵天线系统在进行一致性标校期间整个系统处于标校状态，不能做其它任何任务，对系统连续运行影响较大。因此在中、大型相控阵天线的设计中，能否找到一种快速标校的方法，怎样提高阵元通道一致性标校的效率也就成为一个急待解决的关键问题。

发明内容

本发明的目的是针对上述相控阵天线系统在进行阵元通道幅度、相位一致性标校过程中标校流程运行时间长，影响系统使用的问题，提供一种简单可靠、耗费硬件资源小，一致性标校效率高和适应性强，能够显著提高相控阵天线系统的阵元通道一致性多模并行处理标校方法，利用该并行处理标校方法可在工程实践中设计出保证系统设计指标及流程的工程设计方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于所述标校方法包括：包含了一个多模参考源与多个独立的幅度、相位估计单元相连数据上报单元构成并行处理核心设备的多模阵元一致性标校设备，多模阵元一致性标校设备划分相控阵天线标校区域，每个标校区域设置一个通过校正开关矩阵控制的独立的标校天线；

多模阵元一致性标校设备启动相控阵天线系统阵元通道一致性标校后，首先根据相控阵天线射频前端及天馈阵列系统设置划分天线阵面标校区域，多模参考源注入标校参考信号，按照划分的标校区域分配各个区域号及标校配置资源，采用阵元的上、下行通道并行处理和各个标校区域内的阵元通道并行处理各个阵元通道标校区域内的天线指向误差，姿态控制误差，计算误差，天线阵面安装误差，热变形误差等引起的相差及阵元位置误差，以及阵元老化导致的阵元增益误差和天线阵通道不一致及阵元间互耦，将通道输出信号反馈到幅度、相位估计单元接收端连续波校正源进行幅度和相位标校，通过旋转阵列天线在多个校正方位测得校正数据；

连续波校正源基于幅度、相位估计单元并行方式对时域相干的时延进行估计，通过校正开关矩阵得到阵元位置参数和通道幅度相位参数与阵元间互耦参数，纠正通道间时延差，同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，完成相控阵天线系统阵元通道间幅相一致性标校和一致性校准；

在完成对阵元通道各个标校区间进行一致性校正标校后，多模参考源将各个阵元标校区间的待标校信号归一化到同一参考点上进行实时校准补偿，并行处理后得到的阵元通道一致性标校数据统一通过数据上报单元送监控端监控端监控及数据处理单元处理，并将一致性标校值送相控阵天线系统监控数据库中存储。

本发明相比于现有技术的有益效果是：

本发明针对相控阵天线系统在进行阵元通道幅度、相位一致性标校过程中标校流程运行时间长，影响系统使用的问题采用包含了一个多模参考源与多个独立的幅度、相位估计单元相连数据上报单元构成并行处理核心设备的多模阵元一致性标校设备，多模阵元一致性标校设备划分相控阵天线标校区域，每个标校区域设置一个通过校正开关矩阵控制的独立的标校天线；简单可靠，不需要复杂电路，实现方法比较简单。本发明并行处理的核心设备为多模阵元一致性标校设备，将并行处理分为两层：1.是阵元的上、下行通道并行处理；2.是各个标校区域内的阵元通道并行处理。实现简单、资源占用较少。

本发明启动相控阵天线系统阵元通道一致性标校后，首先根据系统设置划分阵面标校区域，并按照划分分配各个区域标校资源。按并行方式同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，在完成阵元通道标校后还需要对各个标校区间进行一致性校正，使得各个标校区间能归一化到同一参考点上，最终完成相控阵天线系统阵元通道一致性标校。

这种

利用多模阵元一致性标校设备通过多模并行处理的方式在消除各个区域并行标校信号辐射干扰的基础上，采用方便快捷的阵通道并行标校方法，高相控阵天线系统阵元通道一致性标校的效率，解决相控阵天线成本和性能，提在保证系统在提供效率同时，降低了系统设计成本。

本发明采用阵元的上、下行通道并行处理和各个标校区域内的阵元通道并行处理各个阵元通道标校区域内的天线指向误差，姿态控制误差，计算误差，天线阵面安装误差，热变形误差等引起的相差及阵元位置误差，阵元老化导致的阵元增益误差和天线阵通道不一致及阵元间互耦，将通道输出信号反馈到幅度、相位估计单元接收端连续波校正源进行幅度和相位标校，通过旋转阵列天线在多个校正方位测得校正数据，多模参考源产生多路参考信号，且各个参考信号的频点各不相同。幅度、相位估计单元采用相干估计法，利用参考信号间的频率差来避免并行标校中各个区间的信号干扰。仿真结果表明,利用此方法校正后,失配通道与参考通道在通带内的幅度差值在0.015dB内,相位差值在0.1°内,成功应用于实际工程项目中有效地实现了通道间一致性校准作用，一致性和适应性强。

本发明采用连续波校正源基于幅度、相位估计单元并行方式对时域相干的时延估计算，通过校正开关矩阵得到阵元位置参数和通道幅度相位参数与阵元间互耦参数，纠正通道间时延差，同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，完成相控阵天线系统阵元通道间幅相一致性标校和一致性校准；通过并行处理显著提高了相控阵天线系统的阵元通道一致性标校效率，若采用传统顺序标校方式全阵面标校时间为W个小时，则采用划分区域并行标校的方式将阵面划分为M个并行区域，可将阵面系统标校时间压缩到W/(2*M)个小时。测试结果表明，以上措施有效地提高了发射终端的通道一致性。

本发明通过多模并行处理的方式在消除各个区域并行标校信号辐射干扰的基础上，采用方便快捷的阵通道并行标校方法操作简便快捷，便于系统自动化设计。本发明操作流程简单，便于软件做自动化操作编程。

附图说明

下面结合附图和实施实例对本发明进一步说明：

图1是基于多模并行处理的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校流程图；

图2是多模阵元通道一致性标校设备结构示意图；

图3是图2多模阵元一致性标校设备划分相控阵天线标校区域连接关系示意图；

图4是多模参考源结构示意图。

具体实施方式

参阅图1-图3。根据本发明，所述标校方法包括：一种相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于所述标校方法包括：包含了一个多模参考源与多个独立的幅度、相位估计单元相连数据上报单元构成并行处理核心设备的多模阵元一致性标校设备，多模阵元一致性标校设备划分相控阵天线标校区域，每个标校区域设置一个通过校正开关矩阵控制的独立的标校天线；

多模阵元一致性标校设备启动相控阵天线系统阵元通道一致性标校后，首先根据相控阵天线射频前端及天馈阵列系统设置划分天线阵面标校区域，多模参考源注入标校参考信号，按照划分的标校区域分配各个区域号及标校配置资源，采用阵元的上、下行通道并行处理和各个标校区域内的阵元通道并行处理各个阵元通道标校区域内的天线指向误差，姿态控制误差，计算误差，天线阵面安装误差，热变形误差等引起的相差及阵元位置误差，以及阵元老化导致的阵元增益误差和天线阵通道不一致及阵元间互耦，将通道输出信号反馈到幅度、相位估计单元接收端连续波校正源进行幅度和相位标校，通过旋转阵列天线在多个校正方位测得校正数据；

连续波校正源基于幅度、相位估计单元并行方式对时域相干的时延进行估计，通过校正开关矩阵得到阵元位置参数和通道幅度相位参数与阵元间互耦参数，纠正通道间时延差，同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，完成相控阵天线系统阵元通道间幅相一致性标校和一致性校准；

在完成对阵元通道各个标校区间进行一致性校正标校后，多模参考源将各个阵元标校区间的待标校信号归一化到同一参考点上进行实时校准补偿，并行处理后得到的阵元通道一致性标校数据统一通过数据上报单元送监控端监控端监控及数据处理单元处理，并将一致性标校值送相控阵天线系统监控数据库中存储。

多模阵元一致性标校设备在并行处理阵元通道标校中，首先判断是否完成全阵面阵元通道标校，是则进行区间一致性标校，设置通道的工作参数和各通道初始相位状态，包括初始权值，检测各通道相对相位信息，启动工作流程，周期性改变第m个通道的相位状态；将通道n输出射频调制信号输送到接收端连续波校正源，依次对所有通道进行标校，否则返回，然后判断是否完成区间标校，是则收到通道n的反馈信号后测量其幅度和相位，并将测量结果上报给连续波校正源，比对上报的测量值和本地预存的基准值，若比对一致则进行下一个通道的标校，否则根据比对结果对权值进行修正，直至测量值和基准值比对一致，再进行下一个通道的标校，重复此过程完成所有通道的标校，直至完成相控阵天线系统阵元通道标校。

参阅图2。并行处理的核心设备为多模阵元一致性标校设备，多模阵元通道一致性标校设备包括：相连多模参考源的至少四个幅度、相位估计单元，每个幅度、相位估计单元通过数据上报单元连接监控及数据处理单元，多模参考源产生多路参考信号，四个幅度、相位估计单元分别采集来自多模参考源的标校参考信号1、标校参考信号2、标校参考信号3、标校参考信号4和来自阵元区间1、阵元区间2、阵元区间3、阵元区间4的待标校信号，通过多模参考源注入的标校参考信号对变化的的误差系统进行实时跟踪，根据各个参考信号的频点各不相同，幅度、相位估计单元采用相干估计法，利用参考信号间的频率差来避免并行标校中各个区间的信号干扰。

在可选的实施例中，幅度、相位估计单元采用相干的相位估计法计算出，设参考信号正交I、Q支路为：

设标校的阵元通道信号为：x(t)＝Acos(ωt+φ)

计算出待标信号与参考信号的相位相关值为：

与待标信号的相干相位估计值为：

待标信号与参考信号的幅度相关值为：

待标信号的相干幅度的估计值为：

其中，ω为标校信号频率，t为时刻，

为待标阵元通道相位，A为待标阵元通道幅度，T为信号处理累计时间。

多模参考源输出标校参考信号1、标校参考信号2、标校参考信号3、标校参考信号4到阵元区间1、阵元区间2、阵元区间3、阵元区间4，根据接收通道幅相特性进行估计，得到参考通道时延估计值，并对失配通道进行补偿，再利用已知的与发射信号共轭的线性调频信号作为信源参考信号与通过各通道TR组件输出端信号，相乘包含了需求解时延信息，求取各通道时延估计值，进而纠正各通道间大的时延差，连续波校正源对各通道带内幅度、相位进行一致性校准，完成相位一致性校准，校正通道间幅度不一致，实现通道一致性校准功能，并行处理后得到的阵元通道一致性标校数据统一通过数据上报单元送监控端监控及数据处理单元处理，按并行方式同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，并将一致性标校值送系统监控数据库中存储。

参阅图3。多模阵元通道一致性标校设备按需求划分相控阵天线标校区域，每个标校区域设置至少一个相连多模阵元通道一致性标校设备独立的标校天线，在可选的实施例中，独立的标校天线可以是四个，并行处理分为两层：第一层是阵元的上、下行通道并行处理的四个标校天线，第二层是分别对应标校天线1、标校天线2、标校天线3、标校天线4的各个标校区域内并行处理的阵元通道，其中，阵元区间1、阵元区间2、阵元区间3、阵元区间4都有相连校正开关矩阵的#1、#1、#2…#n-1、#n的阵元。其组成及连接关系如图2所示。若采用传统顺序标校方式全阵面标校时间为W个小时，则采用划分区域并行标校的方式将阵面划分为M个并行区域，可将相控阵天线阵面系统标校时间压缩到W/(2*M)个小时。例如图示划分4个标校区域，可将阵面系统标校时间压缩到8/(2*4)＝1个小时。

参阅图4。多模参考源包含多个独立的数控频率合成单元(DDS)，其数控频率合成单元DDS数量与标校区域划分数量相互一致，DDS独立产生出各个频率点不同的参考信号，各个参考信号都以标校频点F_L为中心，相互间频率偏差为ΔF的整数倍。设并行处理标校相位的最大误差为k度，天线阵元通道群时延的最大差为r纳秒，并行划分区间数量为N。则频率差ΔF：

式中，N为并行划分区间数量。例如并行划分区间数量为4；天线阵元通道群时延的最大差为10纳秒；并行处理标校相位的最大误差为1度，可计算得：ΔF≤92.593KHz。天线阵元通道失配校正在FPGA中实现。

以上所述的仅是本发明的优选实施例。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些变更和改变应视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于所述标校方法包括：包含了一个多模参考源与多个独立的幅度、相位估计单元相连数据上报单元构成并行处理核心设备的多模阵元一致性标校设备，多模阵元一致性标校设备划分相控阵天线标校区域，每个标校区域设置一个通过校正开关矩阵控制的独立的标校天线；

多模阵元一致性标校设备启动相控阵天线系统阵元通道一致性标校后，首先根据相控阵天线射频前端及天馈阵列系统设置划分天线阵面标校区域，多模参考源注入标校参考信号，按照划分的标校区域分配各个区域号及标校配置资源，采用阵元的上、下行通道并行处理和各个标校区域内的阵元通道并行处理各个阵元通道标校区域内的天线指向误差、姿态控制误差、计算误差、天线阵面安装误差和热变形误差引起的相差及阵元位置误差，以及阵元老化导致的阵元增益误差和天线阵通道不一致及阵元间互耦，将通道输出信号反馈到幅度、相位估计单元接收端连续波校正源进行幅度和相位标校，通过旋转阵列天线在多个校正方位测得校正数据；

连续波校正源基于幅度、相位估计单元并行方式对时域相干的时延进行估计，通过校正开关矩阵得到阵元位置参数和通道幅度相位参数与阵元间互耦参数，纠正通道间时延差，同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，完成相控阵天线系统阵元通道间幅相一致性标校和一致性校准；

在完成对阵元通道各个标校区间进行一致性校正标校后，多模参考源将各个阵元标校区间的待标校信号归一化到同一参考点上进行实时校准补偿，并行处理后得到的阵元通道一致性标校数据统一通过数据上报单元送监控端监控端监控及数据处理单元处理，并将一致性标校值送相控阵天线系统监控数据库中存储。

2.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：多模阵元一致性标校设备在并行处理阵元通道标校中，首先判断是否完成全阵面阵元通道标校，是则进行区间一致性标校，设置通道的工作参数和各通道初始相位状态，包括初始权值，检测各通道相对相位信息，启动工作流程，周期性改变第m个通道的相位状态；将通道n输出射频调制信号输送到接收端连续波校正源，依次对所有通道进行标校，否则返回，然后判断是否完成区间标校，是则收到通道n的反馈信号后测量其幅度和相位，并将测量结果上报给连续波校正源，比对上报的测量值和本地预存的基准值，若比对一致则进行下一个通道的标校，否则根据比对结果对权值进行修正，直至测量值和基准值比对一致，再进行下一个通道的标校，重复此过程完成所有通道的标校，直至完成相控阵天线系统阵元通道标校。

3.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：并行处理的核心设备为多模阵元一致性标校设备，多模阵元通道一致性标校设备包括：相连多模参考源的至少四个幅度、相位估计单元，每个幅度、相位估计单元通过数据上报单元连接监控及数据处理单元。

4.按权利要求3所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：多模参考源产生多路参考信号，四个幅度、相位估计单元分别采集来自多模参考源的标校参考信号1、标校参考信号2、标校参考信号3、标校参考信号4和来自阵元区间1、阵元区间2、阵元区间3、阵元区间4的待标校信号，通过多模参考源注入的标校参考信号对变化的的误差系统进行实时跟踪，根据各个参考信号的频点各不相同，幅度、相位估计单元采用相干估计法，利用参考信号间的频率差来避免并行标校中各个区间的信号干扰。

5.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：幅度、相位估计单元采用相干的相位估计法计算出，设参考信号正交I、Q支路为：

设标校的阵元通道信号为：x(t)…Acos(ωt+φ)

计算出待标信号与参考信号的相位相关值为：

与待标信号的相干相位估计值为：

待标信号与参考信号的幅度相关值为：

待标信号的相干幅度的估计值为：

其中，x为变量，ω为标校信号频率，t为时刻，φ为待标阵元通道相位，A为待标阵元通道幅度，T为信号处理累计时间。

6.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：多模参考源输出标校参考信号1、标校参考信号2、标校参考信号3、标校参考信号4到阵元区间1、阵元区间2、阵元区间3、阵元区间4，根据接收通道幅相特性进行估计，得到参考通道时延估计值，并对失配通道进行补偿，再利用已知的与发射信号共轭的线性调频信号作为信源参考信号与通过各通道TR组件输出端信号相乘包含了需求解的时延信息，求取各通道时延估计值，进而纠正各通道间大的时延差。

7.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：连续波校正源对各通道带内幅度、相位进行一致性校准，完成相位一致性校准，校正通道间幅度不一致，实现通道一致性校准功能，并行处理后得到的阵元通道一致性标校数据统一通过数据上报单元送监控端监控及数据处理单元处理，按并行方式同时标校各个标校区域内的阵元通道一致性幅度、相位值，并将一致性标校值送系统监控数据库中存储。

8.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：多模阵元通道一致性标校设备按需求划分相控阵天线标校区域，每个标校区域设置至少一个相连多模阵元通道一致性标校设备独立的标校天线，独立的标校天线为四个，并行处理分为两层：第一层是阵元的上、下行通道并行处理的四个标校天线，第二层是分别对应标校天线1、标校天线2、标校天线3、标校天线4的各个标校区域内并行处理的阵元通道，其中，阵元区间1、阵元区间2、阵元区间3、阵元区间4都有相连校正开关矩阵的#1、#1、#2…#n-1、#n的阵元。

9.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：若采用传统顺序标校方式全阵面标校时间为W个小时，则采用划分区域并行标校的方式将阵面划分为M个并行区域，将相控阵天线阵面系统标校时间压缩到W/(2*M)个小时。

10.按权利要求1所述的相控阵天线阵元通道一致性多模并行处理标校方法，其特征在于：多模参考源包含多个独立的数控频率合成单元(DDS)，其数控频率合成单元DDS数量与标校区域划分数量相互一致，DDS独立产生出各个频率点不同的参考信号，各个参考信号都以标校频点F_L为中心，相互间频率偏差为ΔF的整数倍，设并行处理标校相位的最大误差为k度，天线阵元通道群时延的最大差为r纳秒，则频率差ΔF：

式中，N为并行划分区间数量。

Images