CN115019710A - 显示面板、显示面板的测试方法及显示装置 - Google Patents

显示面板、显示面板的测试方法及显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN115019710A
CN115019710A CN202210784553.5A CN202210784553A CN115019710A CN 115019710 A CN115019710 A CN 115019710A CN 202210784553 A CN202210784553 A CN 202210784553A CN 115019710 A CN115019710 A CN 115019710A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electrically connected
impedance
pins
test point
pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210784553.5A
Other languages
English (en)
Inventor
不公告发明人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority to CN202210784553.5A priority Critical patent/CN115019710A/zh
Publication of CN115019710A publication Critical patent/CN115019710A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供一种显示面板、显示面板的测试方法及显示装置，包括基板，基板包括第一绑定区，基板包括设于第一绑定区内的两个第一引脚，每一第一引脚均电性连接有对应的第一测试点；控制电路板，控制电路板包括第二绑定区，基板包括设于第二绑定区内的至少两个第二引脚；以及柔性电路板，柔性电路板包括两个连接线，每一连接线均电性连接有对应的第三测试点，连接线的两端分别电性连接于对应的第一引脚和对应的第二引脚；其中，两个第一引脚电性连接。通过在第一引脚上设置第一测试点，以及在连接线上设置第三测试点，并通过第一测试点和第二测试点测量相应的阻抗，从而计算出第一绑定部的绑定阻抗，解决了Bonding阻抗测试不准的问题。

Description

显示面板、显示面板的测试方法及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示面板的测试方法及显示装置。
背景技术
现有技术中，显示装置包括显示面板、柔性电路板和控制电路板组，所述柔性电路板用于连接所述显示面板和所述控制电路板，所述控制电路板用于向所述显示面板提供各种信号。
如图1所示，所述柔性电路板上包括多条连接线，所述显示面板和所述控制电路板分别通过第一引脚和第二引脚与所述连接线连接，所述连接线与所述显示面板连接的部分为第一绑定部，所述连接线与所述控制电路板连接的部分为第二绑定部，所述连接线其余部分为连接部，由于Bonding(绑定)阻抗(第一绑定部的阻抗)是影响图像显示质量的重要因素，如果Bonding阻抗过大可能导致显示图像异常，因此在液晶显示装置的生产作业和实验解析中，均需要进行Bonding阻抗测试。
常规的Bonding阻抗测试方法从控制电路板的两个第二引脚获得测试信号，测试的阻抗除了Bonidng阻抗外还包含有其他阻抗，如连接线阻抗(除第一绑定部和第二绑定部之外的部分阻抗)、控制电路板端阻抗(第二绑定部与第二引脚之间的阻抗)、面板端(第一引脚的阻抗)阻抗等，因此，测试结果不能准确的表达出Bonding阻抗。
发明内容
本发明的实施例提供一种显示面板、显示面板的测试方法及显示装置，以解决。
为解决上述问题，本发明实施例提供一种显示面板，包括：
一种显示面板,包括：
基板，所述基板包括第一绑定区，所述基板包括设于所述第一绑定区内的两个第一引脚，每一所述第一引脚均电性连接有对应的第一测试点；
控制电路板，所述控制电路板包括第二绑定区，以及设于所述第二绑定区内的至少两个第二引脚；
柔性电路板，所述柔性电路板包括两个连接线，每一所述连接线均电性连接有对应的第三测试点，所述连接线的两端分别电性连接于对应的所述第一引脚和对应的所述第二引脚；
其中，两个所述第一引脚电性连接。
根据本发明一优选实施例，所述第三测试点电性连接于所述连接线靠近所述基板的一端。
根据本发明一优选实施例，所述控制电路板还包括至少两第二测试点，每一所述第二引脚均电性连接有对应的所述第二测试点。
根据本发明一优选实施例，所述基板包括三个所述第二引脚，两个所述连接线中的一个所述连接线的一端包括相互连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别电性连接于对应的所述第二引脚。
根据本发明一优选实施例，每一所述连接线靠近所述基板的一端的中部设有开口，所述开口贯穿所述连接线远离相邻的另一所述连接线的一侧，所述连接线的所述一侧围绕所述开口并连接于所述第三测试点，所述第三测试点的至少部分的材料与所述连接线的材料相同。
根据本发明一优选实施例，所述基板还包括多个数据线和设于所述第一绑定区内的多个第三引脚，每一所述第三引脚与对应的所述数据线对应电性连接，所述第一引脚为虚设引脚。
本发明实施例还提供一种显示面板的测试方法，用于测试显示面板，所述显示面板包括：
基板，所述基板包括第一绑定区，所述基板包括设于所述第一绑定区内的两个第一引脚，每一所述第一引脚均电性连接有对应的第一测试点；
控制电路板，所述控制电路板包括第二绑定区，以及设于所述第二绑定区内的两个第二引脚；
柔性电路板，所述柔性电路板包括两个连接线，每一所述连接线均电性连接有对应的第三测试点，所述第三测试点电性连接于所述连接线靠近所述基板的一端，所述连接线的两端分别电性连接于对应的所述第一引脚和对应的所述第二引脚；
其中，两个所述第一引脚电性连接；
所述测试方法包括：
获取两个所述第一引脚未与两个所述连接线电性连接时，两个所述第一引脚所对应的两个所述第一测试点之间的第一阻抗；
获取两个所述第一引脚与两个所述连接线电性连接后，两个所述连接线所对应的两个所述第三测试点之间的第二阻抗；
通过所述第一阻抗和所述第二阻抗计算所述连接线位于所述第一绑定区的绑定阻抗。
根据本发明一优选实施例，所述控制电路板包括三个第二测试点以及三个所述第二引脚，每一所述第二引脚均电性连接一对应的所述第二测试点，两个所述连接线中的一个所述连接线的一端包括相互连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别电性连接于对应的所述第二引脚；所述测试方法还包括：
获取与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的两个所述第二引脚所对应的两个所述第二测试点之间的控制电路板阻抗。
根据本发明一优选实施例，还包括：
获取与所述第一连接部或所述第二连接部电性连接的一个所述第二引脚所对应的所述第二测试点，与另一个未与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的所述第二引脚所对应的所述第二测试点之间的第三阻抗；
通过所述第三阻抗、所述控制电路板阻抗以及所述第二阻抗计算位于所述第一绑定区和所述第二绑定区之外的所述连接线的阻抗。
本发明实施例还提供一种显示装置，包括如上任一项所述的显示面板。
本发明的有益效果为：本实施例通过在第一引脚上设置第一测试点，以及在连接线上设置第三测试点，并通过测量两个第一引脚未与所述连接线连接时，两个第一引脚之间的阻抗，以及两个第一引脚与两个连接线连接后，两个连接线之间的阻抗，从而计算出第一绑定部的绑定阻抗，解决了现有技术中，Bonding阻抗测试不准的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
附图1为现有技术中显示面板结构示意图；
附图2为本发明的显示面板的结构示意图；
附图3为本发明的连接线的结构示意图；
附图4为本发明的第一引脚的结构示意图；
附图5为本发明的第一引脚和第三引脚的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
如图1所示，所述柔性电路板3上包括多条连接线，所述显示面板和所述控制电路板2分别通过第一引脚11和第二引脚(未示出)与所述连接线连接，所述连接线与所述显示面板连接的部分为第一绑定部33，所述连接线与所述控制电路板2连接的部分为第二绑定部34。
常规的Bonding阻抗(第一绑定部33的阻抗)测试方法从控制电路板2的两个第二引脚获得测试信号，测试的阻抗除了Bonidng阻抗外还包含有其他阻抗，如连接部35阻抗(连接线中除第一绑定部33和第二绑定部34之外的部分阻抗)、控制电路板2端阻抗(第二绑定部34与第二引脚之间的阻抗)、第一引脚11的阻抗等，因此，测试结果不能准确的表达出Bonding阻抗。
本发明一实施例提供一种显示面板，以解决上述Bonding阻抗测试不准的问题。
如图2-5所示，所述显示面板包括基板1、柔性电路板3和控制电路板2，所述基板1包括阵列设置的多个子像素、与多个所述子像素对应电性连接的多条数据线以及与多条数据线对应电性连接的多个第一引脚11，每一所述第一引脚11电性连接有一第一测试点，所述第一引脚11分布的区域为第一绑定区，可以知道的是，所述基板1为阵列基板。
所述控制电路板2包括多个第二引脚，所述柔性电路板3包括多条连接线，每一所述连接线均电性连接有对应的第三测试点，每一所述连接线的两端均分别电性连接于对应的所述第一引脚11和对应的所述第二引脚，其中，所述连接线与所述显示面板连接的部分为第一绑定部33，所述连接线与所述控制电路板2连接的部分为第二绑定部34，所述连接线其余部分为连接部35。
本实施例中，所述基板1包括两个所述第一引脚11，所述控制电路板2包括两个所述第二引脚，所述柔性电路板3包括两条所述连接线，两个所述连接线分别为第一连接线31和第二连接线32，其中，两个所述第一引脚11所连接的所述第一测试点分别为测试点A和测试点B，所述第一连接线31和第二连接线32所连接的所述第三测试点分别为测试点C和测试点D。可以知道的是，通过测量两个所述第一引脚11未与两个所述连接线连接时，两个所述第一引脚11之间的第一阻抗RA-B，以及两个所述第一引脚11与两个所述连接线连接后，两个所述连接线之间的第二阻抗RC-D，即可得出所述连接线位于所述第一绑定区的阻抗，即所述第一绑定部33的绑定阻抗。本实施例通过在第一引脚11上设置第一测试点，以及在连接线上设置第三测试点，并通过测量两个第一引脚11未与所述连接线连接时，两个第一引脚11之间的阻抗，以及两个第一引脚11与两个连接线连接后，两个连接线之间的阻抗，从而计算出第一绑定部33的阻抗R第一绑定部，解决了现有技术中，Bonding阻抗测试不准的问题。
在本发明一些实施例中，所述第三测试点电性连接于所述连接线靠近所述基板1的一端，可以知道的是，由于所述第三测试点并不是直接电性连接在所述第一绑定部33上，而是连接在所述连接线上非所述第一绑定部33的位置，因此，所述第三测试点与所述连接线电性连接的位置越靠近所述连接线的所述第一绑定部33，所测得的所述第一绑定部33的阻抗越精确。
在本发明的一些实施例中，所述控制电路板2还包括至少两第二测试点，每一所述第二引脚均电性连接有对应的所述第二测试点，通过测量两所述第二测试点之间的阻抗来计算整个回路的阻抗(包含第一绑定部33的阻抗、连接部35的阻抗、控制电路板2阻抗、第一引脚11的阻抗)。
在本发明的一些实施例中，所述基板1包括三个所述第二引脚，所述第一连接线31的一端包括相互连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别电性连接于对应的所述第二引脚，所述第一连接线31的另一端电性连接于对应的所述第一引脚11；所述第二连接线32的两端分别电性连接于对应的所述第一引脚11和所述第二引脚。其中，所述第一连接部电性连接的所述第二引脚所对应的所述第二测试点为测试点E，所述第二连接部电性连接的所述第二引脚所对应的所述第二测试点为测试点F，所述第二连接线32电性连接的所述第二引脚所对应的第二测试点为测试点G，测量与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的两个所述第二引脚所对应的两个所述第二测试点之间的阻抗，即测量测试点E与测试点F之间的阻抗，即可获得控制电路板2阻抗RE-F，测量测试点F与测试点G之间的阻抗即可获得整个回路的阻抗(记为第三阻抗RF-G)，可以知道的是，所述控制电路板2阻抗RE-F为第二绑定部34与第二引脚之间的阻抗。
本实施例通过测量与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的两个所述第二引脚所对应的两个所述第二测试点之间的阻抗，以获得精确的控制电路板2阻抗RE-F，通过第三阻抗RF-G、控制电路板2阻抗RE-F以及第二阻抗RC-D即可计算连接部35的阻抗。
在本发明的一些实施例中，每一所述连接线靠近所述基板1的一端的中部设有开口，所述开口贯穿所述连接线的远离相邻的另一所述连接线的一侧，所述连接线的所述一侧围绕所述开口并连接于所述第三测试点，所述第三测试点的至少部分的材料与所述连接线的材料相同。通过在所述连接线上设置开口，可以利用连接线本身的材料形成所述连接点，相同的材料能够使得阻抗计算时更为精准。
在本发明的一些实施例中，所述基板1还包括多个数据线和设于所述第一绑定区内的多个第三引脚12，每一所述第三引脚12与对应的所述数据线对应电性连接，所述第一引脚11不与所述数据线连接，即所述第一引脚11为虚设引脚，将所述第一引脚11设置为不与所述数据线连接，使得测试阻抗时不会影响显示面板的正常工作，同样的，与所述第一引脚11对应连接的所述连接线以及所述第二引脚，均不参与显示面板内的信号传输。
请参阅图2-4，本发明一实施例还提供一种显示面板的测试方法，用于测试显示面板，其中，所述显示面板包括基板1、控制电路板2和柔性电路板3，所述基板1包括第一绑定区，所述基板1包括设于所述第一绑定区内的两个第一引脚11，两个所述第一引脚11电性连接，且每一所述第一引脚11均电性连接有对应的第一测试点，两个所述第一引脚11所连接的所述第一测试点分别为测试点A和测试点B。
所述控制电路板2包括第二绑定区以及设于所述第二绑定区内的三个第二引脚，每一所述第二引脚均电性连接有对应的所述第二测试点，其中，三个所述第二引脚所对应的所述第二测试点分别为测试点E、测试点F和测试点G。
所述柔性电路板3包括两个连接线，每一所述连接线均电性连接有对应的第三测试点，两条所述连接线所连接的所述第三测试点分别为测试点C和测试点D，且两个所述第三测试点均电性连接于所述连接线靠近所述基板1的一端，两个所述连接线分别为第一连接线31和第二连接线32，所述第一连接线31的一端包括相互连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别电性连接于对应的所述第二引脚，所述第一连接线31的另一端电性连接于对应的所述第一引脚11；所述第二连接线32的两端分别电性连接于对应的所述第一引脚11和所述第二引脚。
所述方法包括以下步骤：
S10、测量两个所述第一引脚11未与两个所述连接线电性连接时，两个所述第一引脚11所对应的两个所述第一测试点之间的第一阻抗RA-B。
测量所述第一阻抗RA-B时，可以利用一电性检测装置，输出一第一物理量施加于所述测试点A和所述测试点B，并利用所述电性检测装置接收一第二物理量，所述第一物理量和所述第二物理量计算的比值即为所述第一阻抗RA-B。优选的，所述电性检测装置可为万用表，所述第一物理量包括电压，所述第二物理量包括电流，可以知道的是，所述第一阻抗RA-B的检测方式并不以此为限，本领域人员可在本方案的基础上采用其他测量方式。
S20、测量两个所述第一引脚11与两个所述连接线电性连接后，两个所述连接线所对应的两个所述第三测试点之间的第二阻抗RC-D，其中，所述第二阻抗RC-D可通过步骤S10中相同的方法测得。
具体的，利用电性检测装置输出一第一物理量施加于所述测试点C和所述测试点D，并利用所述电性检测装置接收一第二物理量，所述第一物理量和所述第二物理量计算的比值即为所述控制电路板2阻抗RC-D。
S30、通过所述第一阻抗RA-B和所述第二阻抗RC-D计算所述第一绑定区的绑定阻抗，即所述第一绑定部33的阻抗R第一绑定部。
具体的，通过所述第二阻抗RC-D减去所述第一阻抗RA-B，即R第一绑定部＝RC-D-RA-B。
S40、测量与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的两个所述第二引脚所对应的两个所述第二测试点之间的控制电路板2阻抗RE-F，其中，所述控制电路板2阻抗RE-F通过步骤S10中相同的方法测得。
具体的，利用电性检测装置输出一第一物理量施加于所述测试点E和所述测试点F，并利用所述电性检测装置接收一第二物理量，所述第一物理量和所述第二物理量计算的比值即为所述控制电路板2阻抗RE-F。
S50、测量与所述第一连接部或所述第二连接部电性连接的一个所述第二引脚所对应的所述第二测试点，与另一个未与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的一个所述第二引脚所对应的所述第二测试点之间的第三阻抗。
具体的，利用电性检测装置输出一第一物理量施加于所述测试点F和所述测试点G，并利用所述电性检测装置接收一第二物理量，所述第一物理量和所述第二物理量计算的比值即为所述第三阻抗RF-G。
S60、通过所述第三阻抗RF-G、所述控制电路板2阻抗RE-F以及所述第二阻抗RC-D计算位于所述第一绑定区和所述第二绑定区之外的所述连接线的阻抗，即所述连接部35的阻抗R连接部。
具体的，将所述第三阻抗RF-G减去所述控制电路板2阻抗RE-F和所述第二阻抗RC-D，即R连接部＝RF-G-RE-F-RC-D。
采用本方法能够精确的检测出所述第一绑定部33的阻抗，所述连接部35的阻抗以及所述控制电路板2的阻抗。
本发明实施例还提供一种显示装置，包括如上实施例中任一项所述的显示面板。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：
基板，所述基板包括第一绑定区，所述基板包括设于所述第一绑定区内的两个第一引脚，每一所述第一引脚均电性连接有对应的第一测试点；
控制电路板，所述控制电路板包括第二绑定区，以及设于所述第二绑定区内的至少两个第二引脚；
柔性电路板，所述柔性电路板包括两个连接线，每一所述连接线均电性连接有对应的第三测试点，所述连接线的两端分别电性连接于对应的所述第一引脚和对应的所述第二引脚；
其中，两个所述第一引脚电性连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第三测试点电性连接于所述连接线靠近所述基板的一端。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述控制电路板还包括至少两第二测试点，每一所述第二引脚均电性连接有对应的所述第二测试点。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述基板包括三个所述第二引脚，两个所述连接线中的一个所述连接线的一端包括相互连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别电性连接于对应的所述第二引脚。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，每一所述连接线靠近所述基板的一端的中部设有开口，所述开口贯穿所述连接线远离相邻的另一所述连接线的一侧，所述连接线的所述一侧围绕所述开口并连接于所述第三测试点，所述第三测试点的至少部分的材料与所述连接线的材料相同。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述基板还包括多个数据线和设于所述第一绑定区内的多个第三引脚，每一所述第三引脚与对应的所述数据线对应电性连接，所述第一引脚为虚设引脚。
7.一种显示面板的测试方法，用于测试显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：
基板，所述基板包括第一绑定区，所述基板包括设于所述第一绑定区内的两个第一引脚，每一所述第一引脚均电性连接有对应的第一测试点；
控制电路板，所述控制电路板包括第二绑定区，以及设于所述第二绑定区内的两个第二引脚；
柔性电路板，所述柔性电路板包括两个连接线，每一所述连接线均电性连接有对应的第三测试点，所述第三测试点电性连接于所述连接线靠近所述基板的一端，所述连接线的两端分别电性连接于对应的所述第一引脚和对应的所述第二引脚；
其中，两个所述第一引脚电性连接；
所述测试方法包括：
获取两个所述第一引脚未与两个所述连接线电性连接时，两个所述第一引脚所对应的两个所述第一测试点之间的第一阻抗；
获取两个所述第一引脚与两个所述连接线电性连接后，两个所述连接线所对应的两个所述第三测试点之间的第二阻抗；
通过所述第一阻抗和所述第二阻抗计算所述连接线位于所述第一绑定区的绑定阻抗。
8.根据权利要求7所述的显示面板的测试方法，其特征在于，所述控制电路板包括三个第二测试点以及三个所述第二引脚，每一所述第二引脚均电性连接一对应的所述第二测试点，两个所述连接线中的一个所述连接线的一端包括相互连接的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部分别电性连接于对应的所述第二引脚；所述测试方法还包括：
获取与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的两个所述第二引脚所对应的两个所述第二测试点之间的控制电路板阻抗。
9.根据权利要求8所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：
获取与所述第一连接部或所述第二连接部电性连接的一个所述第二引脚所对应的所述第二测试点，与另一个未与所述第一连接部和所述第二连接部电性连接的所述第二引脚所对应的所述第二测试点之间的第三阻抗；
通过所述第三阻抗、所述控制电路板阻抗以及所述第二阻抗计算位于所述第一绑定区和所述第二绑定区之外的所述连接线的阻抗。
10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的显示面板。
CN202210784553.5A 2022-06-29 2022-06-29 显示面板、显示面板的测试方法及显示装置 Pending CN115019710A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210784553.5A CN115019710A (zh) 2022-06-29 2022-06-29 显示面板、显示面板的测试方法及显示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210784553.5A CN115019710A (zh) 2022-06-29 2022-06-29 显示面板、显示面板的测试方法及显示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115019710A true CN115019710A (zh) 2022-09-06

Family

ID=83079368

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210784553.5A Pending CN115019710A (zh) 2022-06-29 2022-06-29 显示面板、显示面板的测试方法及显示装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115019710A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI284467B (en) Hand-held tester and method for local area network cabling
KR101246363B1 (ko) 교정 기판과 전자 회로를 가지는 측정 장치
CN107527661B (zh) 一种字线电阻测试方法及三维存储器失效分析方法
CN105865319A (zh) 一种印制电路板pcb的测试方法、pcb的制作方法以及pcb
CN100489549C (zh) 导线短/开路测试装置
CN113160729B (zh) 显示模组及其测试方法和显示装置
US20030061701A1 (en) Printed board inspecting apparatus
JP2002333463A (ja) 集積回路デバイス試験装置のタイミング較正方法および装置
US7084639B2 (en) Impedance standard substrate and method for calibrating vector network analyzer
US20060006896A1 (en) Parallel calibration system for a test device
KR100974650B1 (ko) 저항 측정장치 및 측정방법
EP1272859A1 (en) Testing arrangement and testing method
CN112731241A (zh) 晶圆测试机台的校准工具和校准方法
CN115019710A (zh) 显示面板、显示面板的测试方法及显示装置
CN108761203B (zh) 接触电阻测试电路及芯片
CN104345248A (zh) 识别有缺陷的电缆
JP4885613B2 (ja) 回路測定用終端プローブ
TW583409B (en) Impedance standard substrate and correction method for vector network analyzer
US10884045B2 (en) Test arrangement and test method
CN112540229A (zh) 显示装置以及显示装置的阻抗的检测方法
CN111308209A (zh) 液晶显示面板接合点的接触阻抗测量方法及液晶显示面板
KR101852466B1 (ko) 인공 위성 통합 신호 검증 장치 및 이를 이용한 위성 통합 신호 검증 방법
TWI411841B (zh) 液晶顯示模組及其中電路板間接觸阻抗之量測方法
JPH1138079A (ja) ボールグリッドアレイ型集積回路の試験方法
CN105098418B (zh) 电气连接装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination