CN114879002A - 基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统 - Google Patents

基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统 Download PDF

Info

Publication number
CN114879002A
CN114879002A CN202210494290.4A CN202210494290A CN114879002A CN 114879002 A CN114879002 A CN 114879002A CN 202210494290 A CN202210494290 A CN 202210494290A CN 114879002 A CN114879002 A CN 114879002A
Authority
CN
China
Prior art keywords
image
van der
der waals
module
photodetector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202210494290.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114879002B (zh
Inventor
张跃
王玉南
张铮
张先坤
于慧慧
陈匡磊
黄银洁
张彦哲
曹志宏
何晓宇
赵航
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Science and Technology Beijing USTB
Original Assignee
University of Science and Technology Beijing USTB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Science and Technology Beijing USTB filed Critical University of Science and Technology Beijing USTB
Priority to CN202210494290.4A priority Critical patent/CN114879002B/zh
Publication of CN114879002A publication Critical patent/CN114879002A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114879002B publication Critical patent/CN114879002B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及一种基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，包括：图像显微定位模块、范德华光电探测器、激光发射模块、图像移动模块、信号采集模块、图像处理模块；所述图像显微定位模块与所述激光发射模块连接，所述范德华光电探测器与所述信号采集模块连接，所述图像处理模块，分别与所述图像移动模块和所述信号采集模块连接。本发明通过设定像素块大小和控制图像移动，实现范德华光电探测器的成像功能，在重复多次的测试过程中，有限评估范德华光电探测器在实际应用时的稳定性和可重复性。

Description

基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统
技术领域
本发明涉及范德华光电探测器的图像识别技术领域，特别是涉及一种基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统。
背景技术
光电探测器广泛应用于军事和国民经济的各个领域，二维材料由于其超薄的厚度、可调的带隙和高迁移率，被认为是新型光电探测器的候选材料，目前基于二维材料所制成的范德华光电探测器展现出良好的光探测能力。
但是评估范德华光电探测器的标准是通过分析响应度、比探测率、光谱响应、响应速度等性能指标，这些指标在范德华光电探测器实际使用时不能评估范德华光电探测器的稳定性和可重复性，进而无法将范德华光电探测器推广到成像应用中，因此需要一种操作简单的评估方式评估其稳定性，同时实现基于范德华光电探测器的成像功能。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，在光电探测器的光谱响应范围内，检测范德华光电探测器的光谱响应稳定性和可重复性，并通过系统实现范德华光电探测器扫描成像的功能。
为实现上述目的，本发明提供了如下方案：
基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，包括：
图像显微定位模块：用于确定范德华光电探测器的位置，并确定图像扫描路径的初始位置；
范德华光电探测器：用于将光信号转换为电信号；
激光发射模块：用于生成激光；
图像移动模块：用于设定扫描路径，并根据像素块大小设定步长；
信号采集模块：用于接收所述图像移动模块发出的指令，并实时采集所述范德华光电探测器产生的电信号；
图像处理模块：用于读取所述信号采集模块接收到的所述电信号，并实时显示所测像素块的电信号大小，将测量结果反馈到所述图像移动模块；
所述图像显微定位模块与所述激光发射模块连接，所述范德华光电探测器与所述信号采集模块连接，所述图像处理模块，分别与所述图像移动模块和所述信号采集模块连接。
优选地，所述图像显微定位模块包括成像物镜和载物台，其中，所述载物台为三维移动平台。
优选地，所述范德华光电探测器为光伏型器件或光电导型器件，所述范德华光电探测器位于激光出射光路上。
优选地，所述激光出射光路为所述图像显微定位模块中成像物镜和载物台的成像光路。
优选地，所述激光发射模块生成所述激光的过程包括：基于所述范德华光电探测器的光谱响应进行选择，通过所述激光发射模块发出所选光谱对应的激光；其中，所述光谱选择范围包括400nm-800nm。
优选地，所述图像移动模块包括：被识别的目标图像、控制电路、X向驱动电机、Y向驱动电机、移动平台和电源单元；其中，所述控制电路与所述X向驱动电机、所述Y向驱动电机通信连接；所述X向驱动电机和所述Y向驱动电机控制所述移动平台在X向和Y向移动；所述移动平台上还包括一根L型连杆，所述L型连杆一端通过螺钉连接直立于移动平台上，另一端通过夹片固定所述被识别的目标图像。
优选地，所述图像移动模块根据设定的步长进行移动，所述设定的步长根据所述被识别目标图像的像素块大小进行设定，所述像素块大小为200微米-500微米；其中，当所述像素块设定为200微米-300微米时为细扫图像，当所述像素块设定为300微米-500微米时为粗扫图像。
优选地，所述信号采集模块包括信号采集单元、信号传输单元，其中，所述信号采集单元用于设定像素块采集数据的数目，其中，所述像素块采集数据的数目为50个-200个；所述信号传输单元用于将采集的电信号传输至所述图像处理模块。
优选地，所述图像处理模块还包括用户终端，所述用户终端用于显示实时扫描的图像。
本发明的有益效果为：
(1)本发明基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统通过设定像素块大小和控制图像移动，实现范德华光电探测器的成像功能，在重复多次的测试过程中，有限评估范德华光电探测器在实际应用时的稳定性和可重复性；
(2)本发明基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统可发挥范德华光电探测器的在成像应用的优势，进而实现范德华光电探测器向多维度光信息探测方向发展。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统的原理框图；
图2为本发明实施例的图像显微定位模块的结构示意图；
图3为本发明实施例的图像移动模块扫描路径示意图；
图4为本发明实施例的单像素图像识别系统的结构示意图；
其中，1-图像显微定位模块，2-范德华光电探测器，3-激光发射模块，4-图像移动模块，5-信号采集模块，6-图像处理模块，101-成像物镜，102-载物台，401-图像、402-控制电路、403-X向驱动电机、404-Y向驱动电机、405-移动平台。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
本实施例基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统可对8mm*20mm图像，进行细扫成像，如图1所示，本发明基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，包括图像显微定位模块1、范德华光电探测器2、激光发射模块3、图像移动模块4、信号采集模块5、图像处理模块6；
图像显微定位模块1：用于确定范德华光电探测器的位置，并确定图像扫描路径的初始位置；
范德华光电探测器2：用于将光信号转换为电信号；
激光发射模块3：用于生成激光；
图像移动模块4：用于设定扫描路径，并根据像素块大小设定步长；
信号采集模块5：用于接收所述图像移动模块发出的指令，并实时采集所述范德华光电探测器产生的电信号；
图像处理模块6：用于读取所述信号采集模块接收到的所述电信号，并实时显示所测像素块的电信号大小，将测量结果反馈到所述图像移动模块；
所述图像显微定位模块1与所述激光发射模块3连接，所述范德华光电探测器2与所述信号采集模块5连接，所述图像处理模块6分别与所述图像移动模块4和所述信号采集模块5连接。
进一步优化方案，所述图像显微定位模块1包括成像物镜101和载物台102，其中，所述载物台102为三维移动平台。
如图2所示，本实施例中，通过图像显微定位模块1将范德华光电探测器2放置于成像物镜101的成像光路上，确定范德华光电探测器2光谱响应位置，使用信号采集模块5采集数据，确保范德华光电探测器2工作正常。
将图像401放置于成像物镜101的成像光路上，确定图像扫描路径的初始位置。
本实施例中范德华光电探测器2为光伏型器件或光电导型器件。可选的，范德华光电探测器2是单一器件或阵列器件。
经过图像显微定位模块1校准位置后，打开激光发射模块3，所述激光根据范德华光电探测器进行光谱响应设置，可选范围为400nm-800nm，在本实施例中采用532nm激光成像。
所述激光出射光路为所述图像显微定位模块中成像物镜101和载物台102的成像光路。
在本实施例中，图像移动模块4包括图像401、控制电路402、X向驱动电机403、Y向驱动电机404、移动平台405、电池。所述图像401为被识别的目标图像，所述目标图像在0.5mm厚钢板上切割形成；所述控制电路402与所述X向驱动电机403、所述Y向驱动电机404通信连接；所述X向驱动电机403和所述Y向驱动电机404控制所述移动平台405在X向和Y向移动；所述移动平台405上还包括一根L型连杆，所述L型连杆一端通过螺钉连接直立于移动平台上，一端通过夹片固定所述被识别的目标图像401。
通过图像移动模块4中的控制电路402设定像素块大小，本实施例中设定像素块大小为200微米，并根据像素块大小设定X向驱动电机403和Y向驱动电机404的移动步长为200微米。
通过图像移动模块4中的控制电路402设定移动后在该像素块停留时间，本实施例中设定在该像素块停留时间为1S。
如图3所示，本实施例中，通过图像移动模块4中的控制电路402设定扫描路径为纵向扫描。可选的，为横向扫描。
在本实施例中，信号采集模块5包括信号采集器501、信号传输系统502。所述信号采集器501还用于设定在该像素块采集数据的数目，在本实施例中设定在该像素块采集数据的数目为100个；所述信号传输系统502用于将采集的电信号传输至图像处理模块6。
在本实施例中，图像处理模块6还包括用户终端，用于显示实时扫描图像。
如图4所示，本实施例中还提供一种测试过程，如下：
S1:从扫描路径开始位置经过信号采集模块5后，采集第一个像素点的电信号，并将采集的电信号传输到图像处理模块6；
S2：图像处理模块6根据收到的电信号输出实时图像，之后向控制电路402发出开始移动指令；
S3：控制电路402接收到开始移动指令，控制X向驱动电机403和Y向驱动电机404向下一像素块移动，移动结束后控制电路402向信号采集模块5发出开始采集指令；
S4：信号采集模块5在像素块停留时间内采集完在该像素块采集数据的数目，重复S1-S4操作；
S5：当移动到该列的最后一个像素点且完成采集后，X向驱动电机403和Y向驱动电机404将移动至下一列的第一个像素点继续采集，重复S1-S5操作；
S6:当移动至图像401最后一个像素点且采集完成后，系统停止此次图像扫描。
本发明基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统通过设定像素块大小和控制图像移动，实现范德华光电探测器的成像功能，在重复多次的测试过程中，有限评估范德华光电探测器在实际应用时的稳定性和可重复性；本发明基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统可发挥范德华光电探测器的在成像应用的优势，进而实现范德华光电探测器向多维度光信息探测方向发展。
以上所述的实施例仅是对本发明优选方式进行的描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本发明的技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本发明权利要求书确定的保护范围内。

Claims (9)

1.基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，包括：
图像显微定位模块：用于确定范德华光电探测器的位置，并确定图像扫描路径的初始位置；
范德华光电探测器：用于将光信号转换为电信号；
激光发射模块：用于生成激光；
图像移动模块：用于设定扫描路径，并根据像素块大小设定步长；
信号采集模块：用于接收所述图像移动模块发出的指令，并实时采集所述范德华光电探测器产生的电信号；
图像处理模块：用于读取所述信号采集模块接收到的所述电信号，并实时显示所测像素块的电信号大小，将测量结果反馈到所述图像移动模块；
所述图像显微定位模块与所述激光发射模块连接，所述范德华光电探测器与所述信号采集模块连接，所述图像处理模块，分别与所述图像移动模块和所述信号采集模块连接。
2.根据权利要求1所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述图像显微定位模块包括成像物镜和载物台，其中，所述载物台为三维移动平台。
3.根据权利要求1所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述范德华光电探测器为光伏型器件或光电导型器件，所述范德华光电探测器位于激光出射光路上。
4.根据权利要求3所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述激光出射光路为所述图像显微定位模块中成像物镜和载物台的成像光路。
5.根据权利要求1所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述激光发射模块生成所述激光的过程包括：基于所述范德华光电探测器的光谱响应进行选择，通过所述激光发射模块发出所选光谱对应的激光；其中，所述光谱选择范围包括400nm-800nm。
6.根据权利要求1所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述图像移动模块包括：被识别的目标图像、控制电路、X向驱动电机、Y向驱动电机、移动平台和电源单元；其中，所述控制电路与所述X向驱动电机、所述Y向驱动电机通信连接；所述X向驱动电机和所述Y向驱动电机控制所述移动平台在X向和Y向移动；所述移动平台上还包括一根L型连杆，所述L型连杆一端通过螺钉连接直立于移动平台上，另一端通过夹片固定所述被识别的目标图像。
7.根据权利要求6所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述图像移动模块根据设定的步长进行移动，所述设定的步长根据所述被识别目标图像的像素块大小进行设定，所述像素块大小为200微米-500微米；其中，当所述像素块设定为200微米-300微米时为细扫图像，当所述像素块设定为300微米-500微米时为粗扫图像。
8.根据权利要求1所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述信号采集模块包括信号采集单元、信号传输单元，其中，所述信号采集单元用于设定像素块采集数据的数目，其中，所述像素块采集数据的数目为50个-200个；所述信号传输单元用于将采集的电信号传输至所述图像处理模块。
9.根据权利要求1所述的基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统，其特征在于，所述图像处理模块还包括用户终端，所述用户终端用于显示实时扫描的图像。
CN202210494290.4A 2022-05-07 2022-05-07 基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统 Active CN114879002B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210494290.4A CN114879002B (zh) 2022-05-07 2022-05-07 基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210494290.4A CN114879002B (zh) 2022-05-07 2022-05-07 基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114879002A true CN114879002A (zh) 2022-08-09
CN114879002B CN114879002B (zh) 2023-03-24

Family

ID=82673033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210494290.4A Active CN114879002B (zh) 2022-05-07 2022-05-07 基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114879002B (zh)

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110315194A1 (en) * 2010-06-25 2011-12-29 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Photoelectric cell
CN105424189A (zh) * 2015-12-04 2016-03-23 江南大学 扫描式多功能显微光谱成像方法
US20160118527A1 (en) * 2014-10-23 2016-04-28 William Marsh Rice University Charge coupled device based on atomically layered van der waals solid state film for opto-electronic memory and image capture
CN107655891A (zh) * 2017-10-13 2018-02-02 国家纳米科学中心 一种表征纳米级厚度的范德华晶体光学各向异性的方法
CN107749433A (zh) * 2017-08-30 2018-03-02 中国科学院上海技术物理研究所 一种二维范德华异质结光电探测器及其制备方法
CN108594418A (zh) * 2018-03-29 2018-09-28 暨南大学 一种基于阵列单像素探测器的光场显微成像系统及其方法
CN110208294A (zh) * 2019-06-18 2019-09-06 华东交通大学 基于柯勒照明的单像素显微成像方法及系统
CN110623641A (zh) * 2019-09-19 2019-12-31 哈尔滨工业大学 一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置
CN110993703A (zh) * 2019-11-27 2020-04-10 中国科学院金属研究所 一种GaN／MoS2二维范德华异质结光电探测器及其制备方法
CN111208635A (zh) * 2020-02-26 2020-05-29 哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院 一种图像扫描显微成像系统及方法
CN212410444U (zh) * 2020-06-05 2021-01-26 哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院 一种图像扫描显微成像系统
CN112420872A (zh) * 2020-11-12 2021-02-26 苏州科技大学 基于WSe2/KTaO3范德华异质结的光电探测器及其制备方法
CN114397481A (zh) * 2022-01-24 2022-04-26 上海理工大学 基于复合探针的被动式近场光学扫描显微系统及检测系统

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110315194A1 (en) * 2010-06-25 2011-12-29 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Photoelectric cell
US20160118527A1 (en) * 2014-10-23 2016-04-28 William Marsh Rice University Charge coupled device based on atomically layered van der waals solid state film for opto-electronic memory and image capture
CN105424189A (zh) * 2015-12-04 2016-03-23 江南大学 扫描式多功能显微光谱成像方法
CN107749433A (zh) * 2017-08-30 2018-03-02 中国科学院上海技术物理研究所 一种二维范德华异质结光电探测器及其制备方法
CN107655891A (zh) * 2017-10-13 2018-02-02 国家纳米科学中心 一种表征纳米级厚度的范德华晶体光学各向异性的方法
CN108594418A (zh) * 2018-03-29 2018-09-28 暨南大学 一种基于阵列单像素探测器的光场显微成像系统及其方法
CN110208294A (zh) * 2019-06-18 2019-09-06 华东交通大学 基于柯勒照明的单像素显微成像方法及系统
CN110623641A (zh) * 2019-09-19 2019-12-31 哈尔滨工业大学 一种自适应二次三次谐波联合探测显微成像方法及装置
CN110993703A (zh) * 2019-11-27 2020-04-10 中国科学院金属研究所 一种GaN／MoS2二维范德华异质结光电探测器及其制备方法
CN111208635A (zh) * 2020-02-26 2020-05-29 哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院 一种图像扫描显微成像系统及方法
CN212410444U (zh) * 2020-06-05 2021-01-26 哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院 一种图像扫描显微成像系统
CN112420872A (zh) * 2020-11-12 2021-02-26 苏州科技大学 基于WSe2/KTaO3范德华异质结的光电探测器及其制备方法
CN114397481A (zh) * 2022-01-24 2022-04-26 上海理工大学 基于复合探针的被动式近场光学扫描显微系统及检测系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张恒康等: "二维材料光电探测器的研究进展", 《半导体技术》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN114879002B (zh) 2023-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9906737B2 (en) Co-aperture multi-FOV image-spectrum cooperative detection system and method
CN105067568A (zh) 自动聚焦式激光诱导击穿光谱检测系统及其检测方法
CN106248347B (zh) 一种mems扫描镜性能参数测量系统及方法
CN100593712C (zh) 时间分辨的激光诱导原子发射光谱探测系统及方法
CN202486043U (zh) 一种硅片微裂纹检测系统
CN102175662A (zh) 一种便携式太赫兹遥感探测器及远程探测方法
CN105444878A (zh) 一种高精度氧碘化学激光远场光束质量测量装置和方法
CN101354240A (zh) 基于显微光学的微纳米级纤维高精度测量系统
CN102628736B (zh) 一种激光线宽测量装置
CN110082360A (zh) 一种基于阵列相机的序列光学元件表面缺陷在线检测装置及方法
CN109807471A (zh) 一种激光打标装置及方法
CN102967365B (zh) 扩展光谱仪光谱测量范围方法及系统
CN102507596A (zh) 一种基于激光束主动扫描的光学元件表面疵病检测系统
CN100507459C (zh) 探测器表面响应特性测试仪及其测试方法
CN201673113U (zh) 一种岩心扫描仪
CN2612943Y (zh) 微小粒子粒度激光成像测量装置
CN102466518B (zh) 显微扫描系统及其方法
CN102520414A (zh) 激光主动与红外被动复合探测装置
CN207923419U (zh) 一种平行光检测装置及系统
CN101592608A (zh) 多通道的激光诱导击穿光谱的快速检测方法
CN114879002B (zh) 基于范德华光电探测器的单像素图像识别系统
CN202676595U (zh) 一种基于热透镜效应的二维成像装置
CN202101755U (zh) 三维激光运动姿态测量系统
CN115877052A (zh) 一种超快脉冲信号产生定标装置、校准系统及标定方法
CN104316173B (zh) 一种基于声光扫描的自适应同步积分光接收机

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant