CN114820339A - 图像增强处理及显示方法、装置和MicroLED显示器 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种图像增强处理及显示方法、装置和MicroLED显示器，应用于MicroLED显示技术领域。其中，图像增强方法包括：获取待显示图像；确定采样点像素，所述采样点像素为所述待显示图像在显示时的当前像素；根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵；确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界；当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。通过采用二阶采样矩阵对需要在MicroLED显示器上显示的图像进行图像增强处理，不仅能够提高MicroLED显示图像的效果，而且图像处理中资源开销小，非常适合MicroLED显示器对图像进行显示处理。

Description

图像增强处理及显示方法、装置和MicroLED显示器

技术领域

本发明涉及MicroLED显示技术领域，特别是涉及一种用于MicroLED显示器的图像增强处理及显示方法、装置和MicroLED显示器。

背景技术

MicroLED(微型发光二极管)显示器具有自发光，色域广，亮度高且工作稳定等优点，是未来显示应用的重要技术。

针对现有方案中MicroLED显示器的显示技术，将初始输入图像经过一次映射，才能实现面板的高图像分辨率效果，此映射方式也称为子像素渲染。通过映射，初始图像的信息可以相对完整的在面板上显示，但映射的体现结果为对初始图像进行了有损压缩。因此，在映射过程中，图像的数据信息会存在一定程度的损失，这种损失在图像的映射过程中是不可避免的，更为关键的是，映射会使得每个像素点的像素值等比例损失。由于在MicroLED显示器件的亮度高，相比于TFT-LCD显示器件，等比例损失像素值所导致的图像显示效果恶化程度更严重。

一般而言，图像的每个部分带给观察者的信息量是不对等的，背景图像的信息量往往小于前景图像的信息量，图像中像素值跳变剧烈的边界通常是观察者获取信息的重点部分，特别是在人工制造图像的文字、线条等图像边界处，当映射后图像边界变得模糊，会使得面板显示画面所提供的信息损失变得不可接受，直观体现为面板显示画面存在严重的失真。

发明内容

有鉴于此，本说明书实施例提供了一种用于MicroLED显示器的图像增强处理及显示方法、装置和MicroLED显示器，避免在映射过程中所导致的边界模糊。

本说明书实施例采用下述技术方案：

本说明书实施例提供一种图像增强处理方法，包括：

获取待显示图像；

确定采样点像素，其中采样点像素为待显示图像在显示时的当前像素；

根据采样点像素生成二阶采样矩阵；

确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界；

当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。

本说明书实施例提供一种图像增强处理装置，包括：

图像输入模块，获取待显示图像；

采样模块，确定采样点像素，其中，采样点像素为待显示图像在显示时的当前像素；

生成模块，根据采样点像素生成二阶采样矩阵；

确定模块，确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界；

增强模块，当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。

本说明书实施例提供一种图像增强显示方法，应用于MicroLED显示器，所述图像增强显示方法包括：

对待显示图像进行预处理，以获得用于在MicroLED显示器上显示的新待显示图像，所述预处理包括基于如权利要求1-10中任意一项所述的图像增强处理方法对待显示图像的处理；

将所述新待显示图像在所述MicroLED显示器上显示。

本说明书实施例提供一种图像增强显示装置，应用于MicroLED显示器，所述图像增强显示装置包括：

预处理模块，对待显示图像进行预处理，以获得用于在MicroLED显示器上显示的新待显示图像，所述预处理包括基于如权利要求1-10中任意一项所述的图像增强处理方法对待显示图像的处理；

显示驱动模块，将所述新待显示图像在所述MicroLED显示器上显示。

本说明书实施例提供一种MicroLED显示器，包括：

MicroLED阵列；

处理器，所述处理器被配置为：

执行如权利要求1-10中任意一项所述的图像增强处理方法，将待显示图像的各像素转为目标像素；

将所述目标像素的像素值输出至所述MicroLED阵列的输入端，以通过所述MicroLED阵列显示所述待显示图像的内容。

与现有技术相比，本说明书实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到的有益效果至少包括：

通过采样点像素的关联数据判定采样矩阵中是否存在边界，可对边界处像素在MicroLED显示器面板显示时进行图像增强，保留图像关键信息，减少图像失真，可以有效避免因图像重新映射而导致图像边界模糊，提高显示效果；同时通过二阶采样矩阵实现边界判定，利用的关联数据少，对应硬件资源消耗少，计算处理的资源开销少，提高处理效率，可降低显示的硬件性能要求，可适应不同硬件条件下进行MicroLED显示。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方案的结构示意图

图2为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法的流程图；

图3为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法中二阶采样矩阵的结构示意图；

图4为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法中Gamma曲线的示意图；

图5为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法中不同分割方案的示意图

图6为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法中前后关联的二阶采样矩阵进行处理的示意图；

图7为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法的流程图；

图8为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理装置的结构示意图；

图9本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强显示方法的流程图；

图10为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强显示装置的结构示意图；

图11为本说明书实施例提供的一种MicroLED显示器的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。

以下通过特定的具体实例说明本申请的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本申请的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。本申请还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本申请的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本申请，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目和方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。

还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本申请的基本构想，图式中仅显示与本申请中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

另外，在以下描述中，提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而，所属领域的技术人员将理解，可在没有这些特定细节的情况下实践所述方面。术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等描述的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

现有MicroLED显示方案中，先对初始输入图像的分辨率重新作一次映射，以适配MicroLED显示器面板的显示分辨率，即在MicroLED显示器面板显示图像中，采用图像处理算法将原输入图像映射处理为新图像，而采用的图像处理算法(比如三阶滑窗处理)不仅算法复杂，资源开销大，需要硬件具备较高性能，制约了MicroLED显示器在不同应用需求中的推广应用。

还有，映射中进行了有损压缩，导致图像失真，比如像素等比例失真，而这样的失真在MicroLED显示器面板显示中带来的图像显示效果恶化显著，比如相比于TFT-LCD显示器件，直观体现为MicroLED显示器面板的显示画面存在严重失真，给用户的直观体验较差，影响MicroLED显示器应用推广。

有鉴于此，在对MicroLED显示器及其显示方案进行深入研究及改进后，提出了一种资源开销小且可灵活应用于不同硬件性能的MicroLED显示器中进行图像增强的处理方案：如图1所示，针对待显示处理的原始输入图像(可记为待显示图像)，采用二阶采样矩阵对图像各个像素进行滑窗采样处理，即在滑窗处理中，针对当前采样点像素形成对应的二阶采样矩阵，并对二阶采样矩阵中的两两元素进行图像数据处理，根据处理结果确定该二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，即确定当前采样点像素是否可能位于边界处，当确定当前采样点像素属于边界处的图像像素时，对该边界像素进行图像增强处理输出，可将边界像素重新映射为更符合MicroLED显示器面板显示的增强后像素值。

通过采用二阶采样矩阵对图像采样处理，并对二阶采样矩阵元素进行两两计算处理确定需要增强处理的边界处像素，不仅通过增强处理可以保留图像关键信息，减少图像失真，有效避免因图像重新映射而导致图像边界模糊，提高显示效果；而且，图像重新映射处理中资源开销小，所需硬件数量少，计算方便，处理效率高，对硬件性能要求低，方便图像应用在不同硬件条件下的MicroLED显示器面板中进行显示，有利于MicroLED显示器面板在不用硬件性能的环境下推广应用。

以下，参照附图对本说明书图像增强处理方法及装置进行详细阐述。

图2为本说明书实施例提供的一种应用于MicroLED显示器的图像增强处理方法。

如图2所示，本说明书实施例提供的图像增强处理方法，可包括：

步骤S201，获取待显示图像。

实施中，待显示图像可为待显示于MicroLED显示器面板的原始输入图像，即需要重新进行像素映射的原始输入图像。

需要说明的是，待显示图像可为灰度图像、RGB图像等。

步骤S203，确定采样点像素，其中采样点像素可为待显示图像在显示时的当前像素。

在对原始图像的各个像素重新映射处理中，可将当前需要进行映射处理的像素作为采样点像素，比如在逐行扫描显示中，通常可将图像的左上角第一个像素作为第一个采样点像素；比如在滑窗处理中，可将滑窗窗口的第一个像素作为采样点像素。

步骤S205，根据采样点像素生成二阶采样矩阵。

如图3所示，可创建一个二阶采样矩阵，该二阶采样矩阵可包括4个矩阵元素，即二阶采样矩阵的元素按从左至右、从上至下的方向可分别标记为矩阵元素(1，1)、矩阵元素(1，2)、矩阵元素(2，1)和矩阵元素(2，2)，并在创建的二阶采样矩阵中，根据采样点像素生成该二阶采样矩阵各元素对应的数值。

例如，将采样点像素的像素值输入至第一个矩阵元素中，而将采样点像素值的右侧、下侧及右下侧对应像素的像素值分别输入至矩阵元素(1，2)、矩阵元素(2，1)和矩阵元素(2，2)中，完成二阶采样矩阵的数据输入，从而构建出采样点像素对应的二阶采样矩阵，便于后续根据二阶采样矩阵进行图像数据处理。

实施中，像素值可为原始图像中像素对应的实际像素值，也可为实际像素值经变换(如平滑、平均、加权等)后对应的像素值，具体可根据实际应用需要确定。

步骤S207，确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，并当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。

实施中，可针对边界处的像素进行增强处理的映射输出，而对应非边界处的像素，可不做增强处理的映射输出。

实施中，对边界处的像素进行增强处理，可指根据实际应用中的需要而将图像中感兴趣的图像特征选择性地突出，且对不感兴趣的图像特征进行衰减，以提高图像显示在MicroLED显示器面板中显示效果，即图像增强处理可用于在重新映射中将原始图像在MicroLED显示器面板中进行显示时的关键内容保留下来。因此，这里的图像增强处理可为现有技术中成熟的图像增强处理方案，这里不作限定。

通过上述步骤S201至S207，即对原始图像进行重新映射处理方案中，不仅能够保留原始图像在MicroLED显示器面板中进行显示所需要的关键信息，减少原始图像在重新映射中的图像失真，提高显示效果；而且，图像重新映射处理中计算资源开销小，处理效率高，对用于图像处理的硬件性能要求低，有利于通过更低的硬件条件就能对原始图像进行重新映射处理，可为各种硬件条件的应用平台提供一种灵活性高、通用性广的MicroLED显示器面板显示处理时的辅助方案，有利于MicroLED显示器面板在各种场景中应用推广。

在一些实施方式中，比如待显示图像为RGB图像时，可构建三个二阶采样矩阵，每个二阶采样矩阵各自用于装载对应的R(红色)子像素、G(绿色)子像素和B(蓝色)子像素。

实施中，当所述待显示图像包括RGB图像时，根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵可包括：根据所述采样点像素生成三个二阶采样矩阵，以生成所述采样点像素的R子像素、G子像素和B子像素对应的二阶采样矩阵。

通过对RGB图像中各子像素采用对应的二阶采样矩阵进行子像素的图像数据处理，可简化图像处理中二阶采样矩阵的运算，减少资源开销，降低对硬件性能要求，提高了图像增强处理方案在不同硬件性能应用平台中的适应性，更有利于图像增强处理方案在不同应用中推广。

在一些实施方式中，可根据预设阈值来确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。

在一种实施方式中，可通过获取第一阈值，然后将两两元素之间的差异与第一阈值进行比较，如通过比较器完成比较，快速确定出两两元素之间是否存在边界。

实施中，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，可包括：

确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值与所述第一阈值之间的第一关系，且当所述第一关系满足第一预设条件时，确定所述两相邻像素为相近像素，所述第一预设条件用于表征两像素的像素值为相近的条件。

实施中，确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值，可以通过减法器完成，即减法器的输入为两两元素对应的像素值，减法器输出为它们的差值，进而可将该差值与第一阈值进行比较，如通过比较器将该差值与第一阈值比较得到第一关系，最后根据第一关系的比较结果确定该两两元素之间是相近像素还是非相近像素。

需要说明的是，第一预设条件可根据具体应用设置，比如第一预设条件设置为一个范围，该范围可用于表达相近像素之间的差异值对应的数值范围，因而这里不作具体限定。

在一种实施方式中，可通过获取第二阈值，然后将两两元素之间的差异与第二阈值进行比较，如通过比较器完成比较，快速确定出两两元素之间是否存在边界。

实施中，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，可包括：

确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值与所述第二阈值的第二关系，且当所述第二关系满足第二预设条件时，确定所述两相邻像素为边界像素，所述第二预设条件用于表征两像素的像素值为跳变的条件。

需要说明的是，用于确定相近像素的第一阈值和用于确定边界处像素的第二阈值为不相同的阈值，可通过两个不同的阈值，快速确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。另外采用第二阈值的确定过程与采用第一阈值确定过程相似，这里不再展开。

在一种实施方式中，可以将第一阈值结合第二阈值确定二阶采样矩阵中的两两元素之间是否存在边界。

例如，二阶采样矩阵中的第一个矩阵元素(1，1)与第二个矩阵元素(1，2)之间进第一阈值判定时，被确定为相近像素，而第一个矩阵元素(1，1)与第三个矩阵元素(2，1)经第二阈值判定时，被确定为边界处的像素，因而可判定处第一个矩阵元素(1，1)与第三个矩阵元素(2，1)之间存在边界，而第一个矩阵元素(1，1)与第二个矩阵元素(1，2)之间不存在边界。

在一些实施方式中，鉴于在人眼的视觉感受中，像素值“255”与像素值”254”的变化与像素值“32”与像素值”31”的变化的感觉是不同的，预设的阈值可以是根据MicroLED显示器的Gamma曲线而对输入数值设定自适应的阈值，即阈值可以根据Gamma曲线确定，其中Gamma曲线可如图4所示。

在一种实施方式中，获取第一阈值可包括：根据所述MicroLED显示器的Gamma曲线确定第一阈值；

在一种实施方式中，获取第二阈值可包括：根据所述MicroLED显示器的Gamma曲线确定第二阈值。

如图4所示，阈值的取值是根据输入的像素值变化，其变化方式是根据MicroLED显示器面板的Gamma曲线而定的，图中横坐标为输入像素的像素值(归一化后的数值)，纵坐标为根据Gamma曲线重新确定的像素值(归一化后的数值)，因而前述的第一阈值和/或第二阈值均可根据图示的MicroLED显示器的Gamma曲线进行确定，即阈值可以根据输入像素而自适应调整。

实施中，可通过计算Gamma曲线的一阶导数，并计算该输入图像的像素值的平均值所对应的Gamma曲线的一阶导数所对应的函数值，以该函数值乘以阈值L作为第一比例系数，以该函数值乘以阈值K作为第二比例系数，其中，阈值L和K的取值可以预先设置，比如通过试验的方式确定的数值，比如根据经验值确定的数值，比如设定为初始值(如非零的数值)等，这里不做限定。

实施中，将输入图像的像素值的平均值乘以第一比例系数，可得到第一阈值，将输入图像的像素值的平均值乘以第二比例系数，可得到第二阈值。

通过根据Gamma曲线函数确定阈值，使得获得的阈值更符合MicroLED显示器的物理特性，可提高显示效果。

需要说明的是，图中是以RGB三色对应的Gamma曲线为例进行示意说明，若是其他颜色模式可采用相应的Gamma曲线确定阈值。

通过Gamma曲线矫正后，虽然待显示图像的输入像素值与输出像素值信号不成正比，可能存在一种失真，当Gamma曲线正是这种失真在实际显示面板中进行显示时的度量参数，以及阈值可以跟随像素值的变化而变化，因而采用Gamma曲线后可确定更好的图像输出效果。

在一些实施方式中，可通过对二阶采样矩阵进行不同方向的分割计算，可获得不同分割方向下两两元素之间的差值，从而可将差值去确定是否存在边界。

实施中，在确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界时，可包括：

对所述二阶采样矩阵进行以下至少一种分割处理：横向分割、纵向分割、斜向分割、单点分割；

对分割后的对立部分相互作差值计算，其中对立部分可为分割方向上两侧的元素；

根据所述差值确定所述对立部分的两两元素之间是否存在边界。

如图5中a图所示，可先假设二阶采样矩阵中在上下两行元素之间存在边界，进而对二阶采样矩阵进行横向分割，在假设分割后计算上下两行元素在横向方向上和竖向方向上的两两元素之间差值，进而根据差值确定该横向分割中是否存在边界。

例如，当二阶采样矩阵中的第一个矩阵元素(1，1)与第二个矩阵元素(1，2)之间被确定为相近像素，而且第三个矩阵元素(2，1)与第四个矩阵元素(2，2)之间也被确定为相近像素，而第一个矩阵元素(1，1)与第三个矩阵元素(2，1)被确定为边界处的像素，以及第二个矩阵元素(1，2)与第四个矩阵元素(2，2)被确定为边界处的像素，因而可判定二阶采样矩阵在横向上存在分割边界。

如图5中b图所示，可先假设二阶采样矩阵中在左右两列元素之间存在边界，进而对二阶采样矩阵进行竖向(竖向也可称为纵向，以下不作区分)分割，并在假设分割后计算左右两列在横向方向上和竖向方向上两两元素之间的差值，进而根据差值确定该竖向分割中是否存在边界。

例如，当二阶采样矩阵中的第一个矩阵元素(1，1)与第三个矩阵元素(2，1)之间被确定为相近像素，而且第二个矩阵元素(1，2)与第四个矩阵元素(2，2)之间也被确定为相近像素，而第一个矩阵元素(1，1)与第二个矩阵元素(1，2)被确定为边界处的像素，以及第三个矩阵元素(2，1)与第四个矩阵元素(2，2)被确定为边界处的像素，因而可判定二阶采样矩阵在竖向上存在分割边界。

如图5中c图所示，可先假设二阶采样矩阵中在右斜方向(即从右上到左下的斜向方向)上的两两元素之间存在边界，进而对二阶采样矩阵进行横向分割，在假设分割后计算上下两两元素在该斜向方向、横向方向和竖向方向上的两两元素之间差值，进而根据差值确定该横向分割中是否存在边界。

例如，当二阶采样矩阵中的第二个矩阵元素(1，2)与第三个矩阵元素(2，1)之间被确定为相近像素，而第二个矩阵元素(1，2)(或者第三个矩阵元素(2，1))与第一个矩阵元素(1，1)、第四个矩阵元素(2，2)之间被确定为边界处的像素，因而可判定二阶采样矩阵在该斜向分割上存在分割边界。

如图5中d图所示，可先假设二阶采样矩阵中在左斜方向(即从左上到右下的斜向方向)上的两两元素之间存在边界，进而对二阶采样矩阵进行左斜方向分割，在假设分割后计算上下两两元素在该斜向方向、横向方向上和竖向方向上的两两元素之间差值，进而根据差值确定该横向分割中是否存在边界。

例如，当二阶采样矩阵中的第一个矩阵元素(1，1)与第四个矩阵元素(2，2)之间被确定为相近像素，而第一个矩阵元素(1，1)(或者第四个矩阵元素(2，2))与第二个矩阵元素(1，2)、第三个矩阵元素(2，1)之间被确定为边界处的像素，因而可判定二阶采样矩阵在该斜向分割上存在分割边界。

如图5中e图至h图所示，可先假设二阶采样矩阵中各元素的周围存在边界，进而对二阶采样矩阵进行单点分割，在假设分割后计算该单点分割中的元素与其周围元素之间的差值，进而根据差值确定在该单点分割方向是否存在边界。

例如，在图5的e图中，当二阶采样矩阵中的第一个矩阵元素(1，1)与第二个矩阵元素(1，2)、第三个矩阵元素(2，1)、第四个矩阵元素(2，2)之间均被确定为边界像素，因而可判定二阶采样矩阵在该单点分割上存在分割边界。

例如，在图5的f图中，当二阶采样矩阵中的第二个矩阵元素(1，2)与第一个矩阵元素(1，1)、第三个矩阵元素(2，1)、第四个矩阵元素(2，2)之间均被确定为边界像素，因而可判定二阶采样矩阵在该单点分割上存在分割边界。

例如，在图5的g图中，当二阶采样矩阵中的第三个矩阵元素(2，1)与第一个矩阵元素(1，1)、第二个矩阵元素(1，2)、第四个矩阵元素(2，2)之间均被确定为边界像素，因而可判定二阶采样矩阵在该单点分割上存在分割边界。

例如，在图5的h图中，当二阶采样矩阵中的第四个矩阵元素(2，2)与第一个矩阵元素(1，1)、第二个矩阵元素(1，2)、第三个矩阵元素(2，1)之间均被确定为边界像素，因而可判定二阶采样矩阵在该单点分割上存在分割边界。

在一些实施方式中，可通过将两两元素之间差值的绝对值与预设的阈值进行比较来确定两两元素之间是否存在边界。

实施中，可在计算出两两元素之间的差值后，对该差值取绝对值运算，这样阈值可为非负数，从而在确定是否存在边界的比较运算中，比较计算的判定过程简单，资源开销小，有利于将图像增强处理方案应用到不同具有硬件性能的MicroLED显示器应用环境中。

在一些实施方式中，判定结束后输出各个分割模式下的判定结果，以便后续处理利用该分割结果进行快速处理。

实施中，采用分割模式对二阶采样矩阵进行处理时，可在分割后对二阶采样矩阵进行判定，并将判定结果输出，即输出各分割处理对应的判定结果，其中判定结果为前述分割处理对应的判定结果，所述判定结果为所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界的判定结果。比如在横向分割中，判定出存在横向分割线，这时分割结果可为横线判定结果。相应地，纵向分割可对应有竖线判定结果，斜向分割对应有斜线判定结果，单点分割对应有单点判定结果等。

在一些实施方式中，在确定二阶采样矩阵中两两元素是否存在边界后，可存储二阶采样矩阵的判定结果，以将判断结果作为下一个二阶采样矩阵对应的阈值参数，此阈值参数用于确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界的先验参数。

通过存储上一个二阶采样矩阵的判定结果，可将该判定结果作为下一个二阶采样矩阵进行判定处理时的先验参数，可依据该先验参数通过少量计算，来判定当前二阶采样矩阵与上一个二阶采样矩阵之间的关联性，可依据关联性快速确定当前二阶采样矩阵中可能存在的分割方向，能在减少计算开销的同时，提供更准确的判断模式。

例如，前述图5的a图所示，二阶采样矩阵会进行横线分割后进行横线判定，若判定出存在边界，则判定结果为横线，可将横线处的判断值(如横线两侧的像素)进行存储作为下一采样矩阵的先验参数；在b图的二阶采样矩阵中进行纵向分割后若判定为存在竖向边界，则判定结果为竖线，可将竖线的判断值进行存储作为下一采样矩阵的先验参数；在c图和d图中，若确定采样矩阵中存在斜线的边界，可将判定结果为斜线的边界处像素进行存储；同理，在e图、f图、g图和h图中根据存储的单点判断确定采样矩阵位于单点的边界，以此输出对应判断值，输出判定结果为单点边界判断值。

通过存储判定结果，可记录二阶采样矩阵与边界之间的关系，进而在下一个二阶采样矩阵的判定处理中，可通过该存储结果快速判定当前二阶采样矩阵是否与其他矩阵存在关联性，以便后续依据关联性进行快速处理。

在一些实施方式中，可依据二阶采样矩阵之间的关联性进行边界判定处理。

实施中，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，可包括：

确定当前所述二阶采样矩阵与前一个二阶采样矩阵是否存在关联；

当存在关联时，按预设的关联策略确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。

需要说明的是，关联策略可为根据矩阵之间的关联性进行处理的策略。比如当前后两个矩阵属于关联矩阵时，可依据前一个矩阵的判定结果，快速确定出当前矩阵也具有相似判定结果。因此，关联策略可根据实际应用场景进行设置，这里不作限定。

如图6所示，当图像在斜向上存在边界时，这时相邻的两个二阶采样矩阵通常为关联矩阵，因而其边界判定中可利用该关联性进行快速判定。如图6中的a图为第一行第一个像素点为采样点像素时对应的二阶采样矩阵以及对应的判定结果输出，图6中的b图为第一行第二个像素点为采样点像素时对应的二阶采样矩阵以及对应的判定结果输出，以此类推，可得出各个矩阵对应的输出结果，这里不再一一说明。

在一些实施方式中，当确定出存在边界时，可对边界处的像素通过选点输出方式作增强处理，即对边界处的像素进行增强处理可包括：对边界处的像素进行选点输出像素值，以使边界处的像素基于选点输出像素值满足预设显示条件。

实施中，当判定两两元素中存在边界时，可对当前采样点的像素值进行选点输出，以确保边界图像的像素值跳变明显，减少映射对输出图像产生的严重压损影响。

在一些实施方式中，当确定出不存在边界时，可按正常图像进行输出，即当判定两两元素中不存在边界时，对当前采样点的像素值按照普通图像模式映射输出，不会对输出图像产生严重的压损影响。

实施中，可对边界处的像素、非边界处的像素按各自对应的映射策略进行重新映射后输出。

具体地，当确定所述两相邻像素为相近像素时，所述图像增强处理方法还包括：将为相近像素的所述两相邻像素的像素值按第一预设映射策略输出；

或者，当确定所述两相邻像素为边界像素时，所述图像增强处理方法还包括：将为边界像素的所述两相邻像素的像素值按第二预设映射策略输出；

其中，第一预设映射策略和第二预设映射策略为不相同的映射策略。

需要说明的是，第一预设映射策略和第二预设映射策略可根据实际应用需要而预先设置，其中第一预设映射策略用于在重新映射中将相近像素映射为更适合在MicroLED显示器面板中进行显示的映射策略，第二预设映射策略用于在重新映射中将边界处的像素映射为更适合在MicroLED显示器面板中进行边界显示的映射策略，通过不同映射策略使得重新映射所得图像在MicroLED显示器面板中的显示效果更符合人眼视觉效果，提高MicroLED显示器的显示性能。

在一些实施方式中，如图7所示，在获得输入图像(即待显示图像，该图像为RGB图像)后，可进行如下处理过程：

步骤S110、对采样点像素进行矩阵采样，即生成采样点像素对应的二阶采样矩阵，如根据采样点像素，将其附近的其他三个像素点的像素值输入至二阶采样矩阵中；

例如，获得初始输入的RGB图像及对应采样点位置，构造3个二阶采样矩阵M_R、M_G和M_B，分别对应于图像的R，G，B子像素；具体地，采样矩阵如3所示，每个二阶采样矩阵从左至右，从上至下分别标记为第一个矩阵元素(1，1)，第二个矩阵元素(1，2)，第三个矩阵元素(2，1)和第四个矩阵元素(2，2)，在矩阵中输入像素值，完成对矩阵的输入；

步骤S120、对二阶采样矩阵完成输入值计算，比如两两计算像素差值；

例如，对矩阵中的采样点两两做差，并取绝对值，二阶采样矩阵的绝对值差值存在6中情况：元素(1，1)与元素(1，2)的差值，元素(1，1)与元素(2，1)的差值，元素(1，1)与元素(2，2)的差值，元素(1，2)与元素(2，1)的差值，元素(1，2)与元素(2，2)的差值以及元素(2，1)与元素(2，2)的差值，完成对输入值的计算，得到6组绝对值差值；

例如，对上述差值取绝对值，得到6组绝对值差值，完成二阶采样矩阵的输入值；

步骤S130、获取边界判定所需的阈值，比如计算当前二阶采样矩阵对应的新阈值等；

例如，根据Gamma曲线对输入数值设定自适应的阈值，用于判定相近像素的第一阈值L_R、L_G和L_B及用于判定边界的第二阈值K_R、K_G和K_B，阈值的取值可以是根据输入的像素值变化，其变化方式可以是根据MicroLED显示器面板的Gamma曲线确定；

步骤S140、根据阈值判定是否存在边界，如根据阈值对输入值进行判定，确定是否存在边界；

例如，根据设定的初始阈值，判定矩阵M_R、M_G和M_B中的相邻像素的像素值是否相近，像素过渡是否平缓或者像素跳变较大，其中：

当采样矩阵中计算的绝对值差值小于阈值L_R、L_G和L_B时，确定相邻像素值相近；

当采样矩阵中存在计算的绝对值差值大于阈值K_R、K_G和K_B时，判定该区域存在边界；

否则判定区域过渡平缓，不存在边界；

步骤S150、在完成判定后，可将判定结果进行存储，如将判定边界的阈值作为先验参数存储，如将边界处的像素作为判断值进行存储等；

实施中，存储判断值是作为下一采样矩阵的先验参数，提供更准确的模式判断；

实施中，可根据关联性对矩阵进行判定。例如，前述图5中a图至c图中，a图中的采样矩阵会进行横线的判定，在b图的采样矩阵中进行纵向分割后，若判定为竖线，将竖线的判断值进行存储作为下一采样矩阵的先验参数，在c图和d图中根据存储的斜线判断值判断确定采样矩阵位于斜线的边界，以此输出对应判断值，输出判定结果为斜线边界判断值；在e图至h图中根据存储的的单点判断确定采样矩阵位于单点的边界，以此输出对应判断值，输出判定结果为单点边界判断值；

实施中，输出判定结果可包括：横线边界判定结果，竖线边界判定结果，斜线边界判定结果以及单点边界判定结果；

步骤S160、根据判定结果进行相应输出处理，比如存在边界时，可执行步骤S161，两两像素可按边界模式进行重新映射输出，而不存在边界时，执行步骤S162，两两像素按普通图像映射输出；

例如，根据判断结果确定输出模式，根据输出模式计算输出数值。需要说明的是，输出模式与输出数值之间的关系可为根据实际应用场景而预设的映射关系，比如边界对应的输出模式，其输出数值通常跳变更明显，可突出边界的显示效果；比如非边界对应的输出模式，其输出数值过度平缓，可让人眼感受更舒适等；因此，不作具体限定；

其中，步骤S161边界模式输出对应的输出过程可为：根据判断值确定当前采样矩阵中存在边界，对数值进行选点输出，保证边界图像的像素值跳变明显；步骤S162普通图像映射输出对应的输出过程可为：根据判断值确定当前采样矩阵不存在边界，对当前采样点按照普通图像进行映射输出，保证相近像素之间过度平缓；

步骤S170、确定是否已对整张图像完成前述处理，如判断二阶采样矩阵是否完成对初始图像的采样，若未完成，重回到步骤S110继续下一个像素点的处理，若完成整张图像处理则结束。

在一些实施方式中，可根据预设的滑窗处理策略，将二阶采样矩阵在待显示图像中进行滑窗处理，比如二阶采样矩阵可以从左至右、从上至下地对每一个像素点进行前述任意各一个实施例中所述的图像增强处理方法，直至对所有像素点完成处理。

基于相同发明构思，本说明书实施例还提供与前述图像增强处理方法对应的图像增强处理装置，可应用于MicroLED显示器。

如图8所示，图像增强处理装置800可包括：图像输入模块810，获取待显示图像；采样模块830，确定采样点像素，所述采样点像素为所述待显示图像在显示时的当前像素；生成模块850，根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵；确定模块870，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界；增强模块890，当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。

可选地，所述采样模块830可包括RAM存储器(图中未示出)，所述RAM存储器用于根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵，从而二阶采样矩阵可利用RAM存储器完成对输入图像采样。

可选地，所述确定模块870可包括：减法器单元(图中未示出)，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间像素值的差值；以及，比较器单元(图中未示出)，根据所述差值确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。

可选地，当所述待显示图像包括RGB图像时，根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵包括：根据所述采样点像素生成三个二阶采样矩阵，以生成所述采样点像素的R子像素、G子像素和B子像素对应的二阶采样矩阵。

可选地，所述图像增强处理装置还可包括：获取模块(图中未示出)，用于获取判定边界的阈值。

实施中，获取模块可被配置为：

获取第一阈值；

确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值与所述第一阈值之间的第一关系，且当所述第一关系满足第一预设条件时，确定所述两相邻像素为相近像素，所述第一预设条件用于表征两像素的像素值为相近的条件；

和/或，获取第二阈值；

确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值与所述第二阈值的第二关系，且当所述第二关系满足第二预设条件时，确定所述两相邻像素为边界像素，所述第二预设条件用于表征两像素的像素值为跳变的条件；

其中，第一阈值和第二阈值为不相同的阈值。

可选地，获取第一阈值包括：根据所述MicroLED显示器的Gamma曲线确定第一阈值；

和/或，获取第二阈值包括：根据所述MicroLED显示器的Gamma曲线确定第二阈值。

可选地，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

对所述二阶采样矩阵进行以下至少一种分割处理：横向分割、纵向分割、斜向分割、单点分割；

对分割后的对立部分相互作差值计算；

根据所述差值确定所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界。

可选地，在根据所述差值确定所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界后，所述图像增强处理装置还包括：输出模块(图中未示出)，输出各分割处理对应的判定结果，所述判定结果为所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界的判定结果。

可选地，所述图像增强处理装置还包括：映射模块(图中未示出)，用于对输入图像重新映射生成新图像。

实施中，映射模块被配置为：

当确定所述两相邻像素为相近像素时，将为相近像素的所述两相邻像素的像素值按第一预设映射策略输出；

或者，当确定所述两相邻像素为边界像素时，将为边界像素的所述两相邻像素的像素值按第二预设映射策略输出；

其中，第一预设映射策略和第二预设映射策略为不相同的映射策略。

可选地，对边界处的像素进行增强处理，包括：对边界处的像素进行选点输出像素值，以使边界处的像素基于选点输出像素值满足预设显示条件。

可选地，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

确定当前所述二阶采样矩阵与前一个二阶采样矩阵是否存在关联；

当存在关联时，按预设的关联策略确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。

可选地，在确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界后，所述图像增强处理装置还包括：存储模块(图中未示出)，存储当前所述二阶采样矩阵对应的判断结果，以将所述判断结果作为下一个二阶采样矩阵对应的阈值参数，所述阈值参数为用于确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界的先验参数。

基于相同发明构思，本说明书实施例还提供一种图像增强显示方法，可基于前述任意一项实施例提供的图像增强处理方法，在对图像增强处理后，可将图像通过MicroLED显示器进行显示。

如图9所示，所述图像增强显示方法，可包括：

步骤S901、对待显示图像进行预处理，以获得用于在MicroLED显示器上显示的新待显示图像，所述预处理包括基于如前述任意一个实施例所述的图像增强处理方法对待显示图像的处理；

步骤S903、将所述新待显示图像在所述MicroLED显示器上显示。

通过预处理对输入图像进行重新映射后，获得适合在MicroLED显示器上显示的新图像，进而可将新图像在MicroLED显示器上显示。

基于相同发明构思，本说明书实施例还提供与前述图像增强显示方法对应的图像增强显示装置，可应用于MicroLED显示器。

如图10所示，图像增强显示装置1000可包括：

预处理模块1010，对待显示图像进行预处理，以获得用于在MicroLED显示器上显示的新待显示图像，所述预处理包括基于如前述任意一项实施例所述的图像增强处理方法对待显示图像的处理；

显示驱动模块1030，将所述新待显示图像在所述MicroLED显示器上显示。

通过预处理模块对输入图像进行重新映射后，获得适合在MicroLED显示器上显示的新图像，进而可将新图像在MicroLED显示器上显示，在提高重新映射中MicroLED显示效果外，还能通过简单的硬件处理获得良好显示效果。

基于相同发明构思，本说明书实施例还提供一种MicroLED显示器，其中MicroLED显示器用于执行前述任意一个实施例中所述的图像增强处理方法，以对输入图像进行增强处理及显示处理后在MicroLED显示器面板中显示。

如图11所示，MicroLED显示器1100可包括：

MicroLED阵列1110，可为由若干MicroLED(微型发光二极管)构成显示阵列式面板；

处理器1130，所述处理器1130被配置为：执行如前述任意一项实施例中所述的图像增强处理方法，将待显示图像的各像素转为目标像素；以及，将目标像素的像素值输出至MicroLED阵列1110的输入端，以通过MicroLED阵列1110显示所述待显示图像的内容。

需要说明的是，处理器可为用于进行处理的器件，比如CPU(中央处理器)、MCU(微控制器)、NPU(网络处理器)、GPU(图形处理器)等，这里不作限定。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (16)

1.一种图像增强处理方法，其特征在于，应用于MicroLED显示器，所述图像增强处理方法包括：

获取待显示图像；

确定采样点像素，所述采样点像素为所述待显示图像在显示时的当前像素；

根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵；

确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界；

当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。

2.根据权利要求1所述的图像增强处理方法，其特征在于，当所述待显示图像包括RGB图像时，根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵包括：根据所述采样点像素生成三个二阶采样矩阵，以生成所述采样点像素的R子像素、G子像素和B子像素对应的二阶采样矩阵。

3.根据权利要求1所述的图像增强处理方法，其特征在于，所述图像增强处理方法还包括：获取第一阈值；

确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值与所述第一阈值之间的第一关系，且当所述第一关系满足第一预设条件时，确定所述两相邻像素为相近像素，所述第一预设条件用于表征两像素的像素值为相近的条件；

和/或，获取第二阈值；

确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

确定所述二阶采样矩阵中两相邻像素之间像素值的差值与所述第二阈值的第二关系，且当所述第二关系满足第二预设条件时，确定所述两相邻像素为边界像素，所述第二预设条件用于表征两像素的像素值为跳变的条件；

其中，第一阈值和第二阈值为不相同的阈值。

4.根据权利要求3所述的图像增强处理方法，其特征在于，获取第一阈值包括：根据所述MicroLED显示器的Gamma曲线确定第一阈值；

和/或，获取第二阈值包括：根据所述MicroLED显示器的Gamma曲线确定第二阈值。

5.根据权利要求3所述的图像增强处理方法，其特征在于，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

对所述二阶采样矩阵进行以下至少一种分割处理：横向分割、纵向分割、斜向分割、单点分割；

对分割后的对立部分相互作差值计算；

根据所述差值确定所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界。

6.根据权利要求5所述的图像增强处理方法，其特征在于，在根据所述差值确定所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界后，所述图像增强处理方法还包括：输出各分割处理对应的判定结果，所述判定结果为所述二阶采样矩阵中所述对立部分的两两元素之间是否存在边界的判定结果。

7.根据权利要求3所述的图像增强处理方法，其特征在于，当确定所述两相邻像素为相近像素时，所述图像增强处理方法还包括：将为相近像素的所述两相邻像素的像素值按第一预设映射策略输出；

或者，当确定所述两相邻像素为边界像素时，所述图像增强处理方法还包括：将为边界像素的所述两相邻像素的像素值按第二预设映射策略输出；

其中，第一预设映射策略和第二预设映射策略为不相同的映射策略。

8.根据权利要求1所述的图像增强处理方法，其特征在于，对边界处的像素进行增强处理，包括：对边界处的像素进行选点输出像素值，以使边界处的像素基于选点输出像素值满足预设显示条件。

9.根据权利要求1所述的图像增强处理方法，其特征在于，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界，包括：

确定当前所述二阶采样矩阵与前一个二阶采样矩阵是否存在关联；

当存在关联时，按预设的关联策略确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。

10.根据权利要求1所述的图像增强处理方法，其特征在于，在确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界后，所述图像增强处理方法还包括：

存储当前所述二阶采样矩阵对应的判断结果，以将所述判断结果作为下一个二阶采样矩阵对应的阈值参数，所述阈值参数为用于确定二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界的先验参数。

11.一种图像增强处理装置，其特征在于，应用于MicroLED显示器，所述图像增强处理装置包括：

图像输入模块，获取待显示图像；

采样模块，确定采样点像素，所述采样点像素为所述待显示图像在显示时的当前像素；

生成模块，根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵；

确定模块，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界；

增强模块，当确定出存在边界时，对边界处的像素进行增强处理。

12.根据权利要求11所述的图像增强处理装置，其特征在于，所述采样模块包括RAM存储器，所述RAM存储器用于根据所述采样点像素生成二阶采样矩阵。

13.根据权利要求11所述的图像增强处理装置，其特征在于，所述确定模块包括：

减法器单元，确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间像素值的差值；

比较器单元，根据所述差值确定所述二阶采样矩阵中两两元素之间是否存在边界。

14.一种图像增强显示方法，其特征在于，应用于MicroLED显示器，所述图像增强显示方法包括：

对待显示图像进行预处理，以获得用于在MicroLED显示器上显示的新待显示图像，所述预处理包括基于如权利要求1-10中任意一项所述的图像增强处理方法对待显示图像的处理；

将所述新待显示图像在所述MicroLED显示器上显示。

15.一种图像增强显示装置，其特征在于，应用于MicroLED显示器，所述图像增强显示装置包括：

预处理模块，对待显示图像进行预处理，以获得用于在MicroLED显示器上显示的新待显示图像，所述预处理包括基于如权利要求1-10中任意一项所述的图像增强处理方法对待显示图像的处理；

显示驱动模块，将所述新待显示图像在所述MicroLED显示器上显示。

16.一种MicroLED显示器，其特征在于，包括：

MicroLED阵列；

处理器，所述处理器被配置为：

执行如权利要求1-10中任意一项所述的图像增强处理方法，将待显示图像的各像素转为目标像素；

将所述目标像素的像素值输出至所述MicroLED阵列的输入端，以通过所述MicroLED阵列显示所述待显示图像的内容。

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