CN114785431B - 一种产品测试电路板及产品测试方法、产品测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种产品测试电路板及产品测试方法、产品测试系统，涉及无线通信技术领域，以解决现有的产品测试电路板在测试时容易受到干扰，导致测试精度较差的问题。所述产品测试电路板包括：多个隔离件、电路板本体以及集成在电路板本体上的主控模块、射频收发模块、衰减模块和射频连接模块。多个隔离件分别设置在主控模块、射频收发模块、衰减模块以及射频连接模块的外侧，且与电路板本体固定连接，用于将主控模块、射频收发模块、衰减模块以及射频连接模块中的任意两者进行隔离。主控模块与外部终端电连接，主控模块分别与射频收发模块、衰减模块以及待测产品电连接。射频收发模块、衰减模块、射频连接模块以及待测产品依次电连接。

Description

一种产品测试电路板及产品测试方法、产品测试系统

技术领域

本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种产品测试电路板及产品测试方法、产品测试系统。

背景技术

随着万物互联时代的来临，对物联网产品的网络通信性能与可靠性都提出了更高的要求。在生产加工中，物联网产品的无线性能测试是至关重要的，所以对其在生产线上的射频指标测试要求也越来越高。

目前，路由器等物联网产品在生产加工时，通常采用WiFi综测仪对其进行射频校准测试，以保证量产产品在出货时整机射频性能满足要求。考虑到采用WiFi综测仪的测试成本较高，为了降低测试成本，业内使用产品测试电路板来代替WiFi综测仪，但现有的产品测试电路板在测试时容易受到干扰，导致测试精度较差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种产品测试电路板及产品测试方法、产品测试系统，用于对待测产品的射频灵敏度进行校准测试，以解决现有的产品测试电路板在测试时容易受到干扰，导致测试精度较差的问题。

第一方面，本发明提供一种产品测试电路板，用于对待测产品的射频灵敏度进行校准测试，包括：多个隔离件、电路板本体以及集成在电路板本体上的主控模块、射频收发模块、衰减模块和射频连接模块。

多个隔离件分别设置在主控模块、射频收发模块、衰减模块以及射频连接模块的外侧，且与电路板本体固定连接，用于将主控模块、射频收发模块、衰减模块以及射频连接模块中的任意两者进行隔离。

主控模块的第一端与外部终端电连接，主控模块的第二端分别与射频收发模块的第一端、衰减模块以及待测产品电连接。射频收发模块的第二端、衰减模块、射频连接模块以及待测产品依次电连接。

与现有技术相比，本发明提供的产品测试电路板中，主控模块、射频收发模块、衰减模块和射频连接模块均集成在电路板本体上，多个隔离件分别设置在主控模块、射频收发模块、衰减模块以及射频连接模块的外侧，且与电路板本体固定连接，用于将上述各个模块中的任意两者进行隔离，以避免各个模块之间的噪声干扰以及外界环境中相同频段的信号对各个模块的干扰，提高产品测试电路板的抗干扰能力。主控模块的第一端与外部终端电连接，主控模块的第二端分别与射频收发模块的第一端、衰减模块以及待测产品电连接。射频收发模块的第二端、衰减模块、射频连接模块以及待测产品依次电连接。基于此，当产品测试电路板对待测产品进行灵敏度测试时，主控模块控制射频收发模块发出射频信号，射频信号经过衰减模块的衰减后，通过射频连接模块传输至待测产品。主控模块首先将待测产品接收的信号包与射频收发模块发送的信号包进行比较，判断包错误率是否满足预设条件，当包错误率不满足预设条件时，主控模块对射频收发模块以及衰减模块进行调整，重新对待测产品进行测试，直至包错误率满足预设条件。当包错误率满足预设条件时，此时，主控模块再将待测产品接收信号的信号电平与目标灵敏度进行比对，判断是否满足灵敏度要求，若满足，则该信号电平为待测产品的最小接收灵敏度，主控模块将该信号电平发送至外部终端，以完成待测产品的出厂前灵敏度测试，若不满足，主控模块对待测产品进行校准，校准后，再对待测产品进行灵敏度测试，直至待测产品接收信号的信号电平满足灵敏度要求。

由此可知，本发明提供的产品测试电路板可以在屏蔽内外界干扰的情况下，对待测产品的灵敏度进行测试，且对待测产品接收信号的包错误率以及信号电平分别进行判断和调试，最大程度的确保了测试精度，能够解决现有的产品测试电路板在测试时容易受到干扰，导致测试精度较差的问题。

第二方面，本发明还提供一种产品测试系统，包括第一方面所述的产品测试电路板，以及与产品测试电路板电连接的外部终端。

与现有技术相比，本发明提供的产品测试系统的有益效果与上述技术方案所述产品测试电路板的有益效果相同，此处不做赘述。

第三方面，本发明还提供一种产品测试方法，应用于第一方面所述的产品测试电路板，产品测试方法包括：

主控模块控制射频收发模块发出射频信号；

衰减模块对射频信号进行衰减，并将衰减后的射频信号通过射频连接模块传输至待测产品；

待测产品接收到衰减后的射频信号，并将衰减后的射频信号传输至主控模块；

当待测产品接收到的衰减后的射频信号满足目标灵敏度时，主控模块将衰减后的射频信号发送至外部终端，当待测产品接收到的衰减后的射频信号不满足目标灵敏度时，主控模块对待测产品进行校准。

与现有技术相比，本发明提供的产品测试方法的有益效果与上述技术方案所述产品测试电路板的有益效果相同，此处不做赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例中提供的产品测试电路板的结构示意图；

图2为本发明实施例中提供的电路板本体的布局示意图。

附图标记：

1-产品测试电路板， 2-待测产品，

3-外部终端， 10-电路板本体，

11-主控模块， 12-射频收发模块，

13-衰减模块， 14-射频连接模块，

15-工作模式控制端， 16-指示灯，

131-第一衰减网络， 132-第一射频开关，

1321-第一射频开关的控制端， 133-第二衰减网络，

134-第二射频开关， 1341-第二射频开关的控制端，

135-第一可调衰减子模块， 141-射频连接器，

142-固定衰减器， 143-射频电缆，

17-电源模块。

具体实施方式

为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。例如，第一阈值和第二阈值仅仅是为了区分不同的阈值，并不对其先后顺序进行限定。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。

需要说明的是，本发明中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本发明中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。

本发明中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B的情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项（个）”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项（个）或复数项（个）的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项（个），可以表示：a，b，c，a和b的结合，a和c的结合，b和c的结合，或a、b和c的结合，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

如图1和图2所示，本发明实施例提供一种产品测试电路板1，用于对待测产品2的射频灵敏度进行校准测试，包括：多个隔离件、电路板本体10以及集成在电路板本体10上的主控模块11、射频收发模块12、衰减模块13和射频连接模块14。

多个隔离件分别设置在主控模块11、射频收发模块12、衰减模块13以及射频连接模块14的外侧，且与电路板本体10固定连接，用于将主控模块11、射频收发模块12、衰减模块13以及射频连接模块14中的任意两者进行隔离。

主控模块11的第一端与外部终端3电连接，主控模块11的第二端分别与射频收发模块12的第一端、衰减模块13以及待测产品2电连接。射频收发模块12的第二端、衰减模块13、射频连接模块14以及待测产品2依次电连接。

具体实施时：将待测产品2与产品测试电路板1连接之后，主控模块11控制射频收发模块12发出射频信号，射频信号经过衰减模块13的衰减后，射频连接模块14将衰减后的射频信号发送至待测产品2，待测产品2将该衰减后的射频信号传输至主控模块11。主控模块11首先将待测产品2接收的信号包与射频收发模块12发送的信号包进行比较，判断包错误率是否满足预设条件，当包错误率不满足预设条件时，主控模块11对射频收发模块12以及衰减模块13进行调整，重新对待测产品2进行测试，直至包错误率满足预设条件。当包错误率满足预设条件时，此时，主控模块11再将待测产品2接收信号的信号电平与目标灵敏度进行比对，判断是否满足灵敏度要求，若满足，则该信号电平为待测产品2的最小接收灵敏度，主控模块11将该信号电平发送至外部终端3，以完成待测产品2的出厂前灵敏度测试，若不满足，主控模块11对待测产品2进行校准，校准后，再对待测产品2进行测试，直至待测产品2接收信号的信号电平满足灵敏度要求。

通过上述产品测试电路板1的具体实施过程以及结构可知：主控模块11、射频收发模块12、衰减模块13和射频连接模块14均集成在电路板本体10上，多个隔离件分别设置在主控模块11、射频收发模块12、衰减模块13以及射频连接模块14的外侧，且与电路板本体10固定连接，用于将上述各个模块中的任意两者进行隔离，以避免各个模块之间的噪声干扰以及外界环境中相同频段的信号对各个模块的干扰，提高产品测试电路板1的抗干扰能力。主控模块11的第一端与外部终端3电连接，主控模块11的第二端分别与射频收发模块12的第一端、衰减模块13以及待测产品2电连接。射频收发模块12的第二端、衰减模块13、射频连接模块14以及待测产品2依次电连接。基于此，当产品测试电路板1对待测产品2进行灵敏度测试时，主控模块11控制射频收发模块12发出射频信号，射频信号经过衰减模块13的衰减后，通过射频连接模块14传输至待测产品2。主控模块11首先将待测产品2接收的信号包与射频收发模块12发送的信号包进行比较，判断包错误率是否满足预设条件，当包错误率不满足预设条件时，主控模块11对射频收发模块12以及衰减模块13进行调整，重新对待测产品2进行测试，直至包错误率满足预设条件。当包错误率满足预设条件时，此时，主控模块11再将待测产品2接收信号的信号电平与目标灵敏度进行比对，判断是否满足灵敏度要求，若满足，则该信号电平为待测产品2的最小接收灵敏度，主控模块11将该信号电平发送至外部终端3，以完成待测产品2的出厂前灵敏度测试，若不满足，主控模块11对待测产品2进行校准，校准后，再对待测产品2进行灵敏度测试，直至待测产品2接收信号的信号电平满足灵敏度要求。

由此可知，本发明实施例提供的产品测试电路板1可以在屏蔽内外界干扰的情况下，对待测产品2的灵敏度进行测试，且对待测产品2接收信号的包错误率以及信号电平分别进行判断和调试，最大程度的确保了测试精度，能够解决现有的产品测试电路板1在测试时容易受到干扰，导致测试精度较差的问题。

上述实施例中的外部终端3具体可以为上位机，主控模块11通过调试串口与上位机电连接。

在实际应用中，当主控模块11控制射频收发模块12的发出射频信号时，将其中的发包数量记为Y个，待测产品2的收包数量记为X个，若（1-X/Y）＜10%，则判断包错误率（Packet Error Ratio，缩写为PER）满足预设条件，若（1-X/Y）≥10%，则判断包错误率不满足预设条件，主控模块11需要重新对射频收发模块12发出的射频信号以及衰减模块13的衰减值进行调整，使得包错误率能够满足预设条件。

表1示例出了WiFi协议规范中各制式高低速率的灵敏度：

表1

从上表可以看出，协议规范的灵敏度范围是-43dBm到-82dBm。示例性的，在调制模式为1024-QAM、码率为5/6，带宽为160MHZ的条件下，大于-43dBm的灵敏度则不满足要求,如-42dBm、-41dBm等，而在此条件下，小于等于-43dBm的灵敏度则是符合要求的灵敏度，如-43dBm、-44dBm、-45dBm等。当然，目前市面上的待测产品2中，802.11ax 160MHz MCS11的WiFi芯片的灵敏度接近-50dBm，802.11b 1Mbps的WiFi芯片的灵敏度接近-99dBm，所以本发明实施例中的灵敏度校准测试范围应至少包含-50dBm至-99dBm，例如-45dBm到-104dBm，以保证测试的准确性和测试精度。

在上述实施例中，主控模块11可以为主控芯片T40，射频收发模块12可以为WiFi射频芯片AiW4201V10。主控芯片T40通过通用异步收发传输器（Universal AsynchronousReceiver/Transmitter，缩写为UART）与待测产品2通信连接。待测产品2通过UART与主控芯片T40实时通信，主控芯片T40通过USB、SDIO或者PCIE等高速数字串行接口与WiFi射频芯片通信，从而控制WiFi射频芯片发出射频信号。

在一种可能的实现方式中，衰减模块13包括第一衰减电路以及第二衰减电路。主控模块11分别与第一衰减电路以及第二衰减电路电连接。当待测产品2接收信号的信号电平处于第一目标范围时，主控模块11用于控制射频收发模块12发出的射频信号通过第一衰减电路进行衰减。当待测产品2接收信号的信号电平处于第二目标范围时，主控模块11用于控制射频信号通过第二衰减电路进行衰减。其中，第一衰减电路的衰减值大于第二衰减电路的衰减值。

具体的，衰减模块13包括第一衰减电路以及第二衰减电路等至少两条支路，根据待测产品2接收信号的信号电平的范围不同，主控模块11控制射频信号经过衰减值不同的衰减电路进行衰减。当待测产品2能够接收到信号电平更弱的信号时，例如待测产品2能够接收的信号电平的强度在-65dBm至-104dBm区间时，主控模块11控制射频信号经过衰减值更大的第一衰减电路，射频信号在经过第一衰减电路的衰减后，最终能被待测产品2接收到的信号电平，则为该待测产品2的灵敏度。当待测产品2无法接收到信号电平更弱的信号时，例如待测产品2能够接收的信号电平的强度在-45dBm至-84dBm区间时，主控模块11控制射频信号经过衰减值稍小的第二衰减电路，使得射频信号在经过第二衰减电路的衰减后，能被待测产品2接收，则待测产品2接收到的信号电平为待测产品2的灵敏度。

在一些实施例中，第一衰减电路包括依次电连接的第一衰减网络131、第一射频开关132、第二衰减网络133、第二射频开关134以及第一可调衰减子模块135，第一衰减网络131与射频收发模块12电连接，第一可调衰减子模块135与射频连接模块14电连接。主控模块11的第二端分别与第一射频开关的控制端1321以及第二射频开关的控制端1341电连接，用于当信号电平处于第一目标范围时，控制射频信号通过第一衰减网络131。主控模块11的第二端还与第一可调衰减子模块135电连接，用于根据待测产品2接收信号的包错误率，控制第一可调衰减子模块135的衰减值。

具体的，主控模块11控制射频收发模块12发出射频信号，当待测产品2接收信号的信号电平处于第一目标范围时，主控模块11通过IO控制电路与第一射频开关的控制端1321以及第二射频开关的控制端1341通信连接，使得射频信号在经过第一衰减网络131的第一级衰减后，由第一射频开关132导向第二衰减网络133，第二衰减网络133对射频信号进行第二级衰减，继而通过第二射频开关134导向第一可调衰减子模块135，最后经过第一可调衰减子模块135的第三级衰减后，衰减后的射频信号经过射频连接模块14传送至待测产品2。基于此，第一衰减电路能够对射频收发模块12发出的射频信号进行三级衰减，使得最终经过衰减后的信号被射频连接模块14传输至待测产品2时，电平强度在-65dBm至-104dBm之间。此外，主控模块11通过SPI等数字接口与第一可调衰减子模块135电连接。由此，当待测产品2接收到经过衰减后的信号，并将信号电平以及收到的数据包发送至主控模块11后，主控模块11根据射频收发模块12发送的数据包数量以及待测产品2接收到的数据包的数量，判断接收信号的包错误率是否满足要求，包错误率大于等于10%，则认为包错误率不满足要求，主控模块11调整射频收发模块12发出的射频信号，降低射频信号的信号电平，或者还可以调高第一可调衰减子模块135的衰减值，重新对待测产品2的射频灵敏度进行测试。

在一些实施例中，第二衰减电路包括依次电连接的第三衰减网络、第三射频开关、第四射频开关以及第二可调衰减子模块，第三衰减网络与射频收发模块12电连接，第二可调衰减子模块与射频连接模块14电连接。

主控模块11的第二端还分别与第三射频开关的控制端以及第四射频开关的控制端电连接，用于当信号电平处于第二目标范围时，控制射频信号通过所述第三衰减网络。

主控模块11的第二端还与第二可调衰减子模块电连接，用于根据待测产品2接收信号的包错误率，控制第二可调衰减子模块的衰减值。

具体的，主控模块11控制射频收发模块12发出射频信号，当待测产品2接收信号的信号电平处于第二目标范围时，主控模块11通过IO控制电路与第三射频开关的控制端以及第四射频开关的控制端通信连接，使得射频信号在经过第三衰减网络的第一级衰减后，由第三射频开关导向第四射频开关，继而通过第四射频开关导向第二可调衰减子模块，第二可调衰减子模块对衰减后的射频信号进行第二级衰减，经过二次衰减后的射频信号被射频连接模块14传送至待测产品2。基于此，第二衰减电路能够对射频收发模块12发出的射频信号进行二级衰减，使得最终经过衰减后的信号被射频连接模块14传输至待测产品2时，电平强度在-45dBm至-84dBm之间。此外，主控模块11通过SPI等数字接口与第二可调衰减子模块电连接。由此，当待测产品2接收到经过衰减后的信号，并将信号电平以及收到的数据包发送至主控模块11后，主控模块11根据射频收发模块12发送的数据包数量以及待测产品2接收到的数据包的数量，判断接收信号的包错误率是否满足要求，包错误率大于等于10%，则认为包错误率不满足要求，主控模块11调整射频收发模块12发出的射频信号，降低射频信号的信号电平，或者还可以调高第二可调衰减子模块的衰减值，重新对待测产品2的灵敏度进行测试。

进一步的，第一可调衰减子模块135，和/或第二可调衰减子模块为数字衰减器。

可以理解的是，在实际中，第一可调衰减子模块135和第二可调衰减子模块可以为同一个数字衰减器，该数字衰减器的型号可以为ADRF5720，衰减值的可调范围为2dB至32dB。

示例性的，第一衰减网络131和第三衰减网络为同一衰减网络；第三射频开关与第一射频开关132为同一射频开关，第四射频开关与第二射频开关134为同一射频开关。在实际中，第一衰减网络131、第二衰减网络133可以为相同的Π型衰减网络，第一射频开关132和第二射频开关134可以为相同的SKY13370-374LF型号的射频开关。

基于此，上述实施例中的第一衰减电路包括第一Π型衰减网络、第一射频开关132、第二Π型衰减网络、第二射频开关134以及数字衰减器。第二衰减电路包括第一Π型衰减网络、第一射频开关132、第二射频开关134以及数字衰减器。也就是说当射频信号需要经过第一衰减电路进行衰减时，主控模块11控制第一射频开关132导向第二Π型衰减网络，当射频信号需要经过第二衰减电路进行衰减时，主控模块11控制第一射频开关132导向第一射频开关132，不经过第二Π型衰减网络，以减小第二衰减电路的衰减值。

在一种可能的实现方式中，射频连接模块14包括依次电连接的射频连接器141、固定衰减器142以及射频线缆，射频连接器141还与衰减模块13电连接，射频线缆与待测产品2电连接。

上述射频连接器141具体可以为型号是东方旭普SMA-KFD59的SMA座子，射频连接器141的第一端与上述数字衰减器电连接，射频连接器141的第二端与固定衰减器142电连接，固定衰减器142通过射频电缆143与待测产品2电连接，用于将经过数字衰减器衰减后的射频信号传输至待测产品2。

在一种可能的实现方式中，产品测试电路板1还包括工作模式控制端15，工作模式控制端15与主控模块11电连接，用于控制产品测试电路板1对待测产品2进行射频灵敏度测试，或，控制产品测试电路板1对待测产品2进行校准。

具体的，如图1所示，工作模式控制端15通过IO控制电路与主控模块11电连接，当待测产品2与主控模块11通过UART与主控模块11电连接后，工作模式控制端15控制主控模块11处于测试模式，以对待测产品2进行灵敏度测试。在主控模块11判断待测产品2的灵敏度不满足目标灵敏度时，工作模式控制端15控制主控模块11处于校准模式，主控模式通过UART对待测产品2进行校准，例如更改待测产品2额定寄存器配置值等，校准之后，工作模式控制端15再次控制主控模块11调整到测试模式，再次对待测产品2进行灵敏度测试。重复上述过程，直至待测产品2的灵敏度符合目标灵敏度。

在实际中，上述工作模式控制端15可以是设置在产品测试电路板1侧边的按键，测试人员可以通过不同的按键来调整主控模块11的工作模式，例如测试模式按键和校准模式按键。或者，工作模式控制端15可以是集成在外部终端3，测试人员可以通过外部终端3控制主控模块11的工作模式。

可以理解的是，在产品测试电路板1的侧边还可以设置多个指示灯16，以表征产品测试电路板1当前的工作状态，指示灯16可以通过IO控制电路与主控模块11电连接。示例性的，指示灯16具体可以为LED灯，可以根据不同LED灯的闪烁来表示当前的工作状态，例如当第一个LED灯常亮时，表示校准完成，当第一个LED灯闪烁时，表示校准中，当第二个LED常亮时，表示校准失败，当第三个LED灯常亮时，表示测试完成，当第三个LED灯闪烁时，表示测试中，当第四个LED常亮时，表示测试失败。示例性的，还可以根据不同的LED灯的颜色来表示当前的工作状态，例如红色和绿色等。第一个LED灯绿色常亮时，表示校准完成，当第一个LED灯绿色闪烁时，表示校准中，当第一个LED红色常亮时，表示校准失败，当第二个LED灯绿色常亮时，表示测试完成，当第二个LED灯绿色闪烁时，表示测试中，当第二个LED红色常亮时，表示测试失败。

下面将结合图1详细说明本发明实施例中提供产品测试电路板1对待测产品2的测试过程。

待测产品2通过UART与主控模块11电连接，与主控模块11实时通信。主控模块11与射频收发模块12通过USB或者SDIO或PCIE等高速数字接口电连接，控制射频收发模块12进行射频信号的发送，并且设置合适的发送数据包的数量。例如，控制射频收发模块12发出射频信号，该射频信号的功率值记为P0，发包数量记为Y个（一般是1000个），第一Π型衰减网络对射频收发模块12发出的信号进行第一级衰减，衰减值记为A1，经过一级衰减后的信号通过第一射频开关132，第一射频开关132的损耗记为L1，此时信号电平的强度为P0-A1-L1。

当待测产品2接收信号的信号电平处于第一目标范围时，即强度在-65dBm至-104dBm区间时，主控模块11控制射频信号经过第一衰减电路：主控模块11控制第一射频开关132，使得第一射频开关132导向第二Π型衰减网络，第二Π型衰减网络对通过第一射频开关132的信号进行第二级衰减，衰减值记为A2，经过第二级衰减后的信号通过第二射频开关134，主控模块11控制第二射频开关134导向数字衰减器，第二射频开关134的损耗记为L2，然后数字衰减器对通过第二射频开关134的信号进行第三级衰减，主控模块11通过SPI等数字接口对数字衰减器的衰减值进行实时调整，衰减值记为A3，经过第三级衰减后的信号通过SMA座子、固定衰减器142、射频线缆后，传输至待测产品2，SMA座子、固定衰减器142、射频线缆的损耗记为L3，此时待测产品2接收的信号强度为P0-A1-L1-A2-L2-A3-L3。待测产品2将接收到的信号电平和接收到的数据包数量(记为X1个)通过UART发送给主控模块11，若（1-X1/Y）满足PER要求（小于10%），则待测产品2接收信号的信号电平为P0-A1-L1-A2-L2-A3-L3；若（1-X1/Y）不满足PER要求（小于10%），则降低P0和增大A3后，再进行测试，直至（1-X1/Y）满足PER要求（小于10%）。若此时待测产品2接收信号的信号电平符合灵敏度要求，则该值就是待测产品2的最小接收灵敏度；若此时待测产品2接收信号的信号电平不符合灵敏度要求，主控模块11将待测产品2接收信号的信号电平与目标灵敏度进行对比，计算得出差值并告知待测产品2，通过更改待测产品2的寄存器配置值进行校准后，再对待测产品2进行灵敏度测试，直至此时待测产品2接收信号的信号电平符合灵敏度要求。

当待测产品2接收信号的信号电平处于第二目标范围时，即强度在-45dBm至-84dBm区间时，主控模块11控制射频信号经过第二衰减电路：主控模块11控制第一射频开关132，使得第一射频开关132导向第二射频开关134，主控模块11控制第二射频开关134导向数字衰减器，第二射频开关134的损耗记为L2，然后数字衰减器对通过第二射频开关134的信号进行第二级衰减，主控模块11通过SPI等数字接口对数字衰减器的衰减值进行实时调整，衰减值记为B1，经过第二级衰减后的信号通过SMA座子、固定衰减器142、射频线缆后，传输至待测产品2，SMA座子、固定衰减器142、射频线缆的损耗记为L3，此时待测产品2接收的信号强度为P0-A1-L1-L2-B1-L3。待测产品2将接收到的信号电平和接收到的数据包数量(记为X2个)通过UART发送给主控模块11，若（1-X2/Y）满足PER要求（小于10%），则待测产品2接收信号的信号电平为P0-A1-L1-L2-B1-L3；若（1-X2/Y）不满足PER要求（小于10%），则降低P0和增大A3后，再进行测试，直至（1-X2Y）满足PER要求（小于10%）。若此时待测产品2接收信号的信号电平符合灵敏度要求，则该值就是待测产品2的最小接收灵敏度；若此时待测产品2接收信号的信号电平不符合灵敏度要求，主控模块11将待测产品2接收信号的信号电平与目标灵敏度进行对比，计算得出差值并告知待测产品2，通过更改待测产品2的寄存器配置值进行校准后，再对待测产品2进行灵敏度测试，直至此时待测产品2接收信号的信号电平符合灵敏度要求。

下面结合具体数值，进一步说明本发明实施例中产品测试电路板1的测试过程。

首先，通过工作状态控制端控制产品测试电路板1处于测试模式，主控芯片T40通过UART与待测产品2通信，使其处于信号接收状态，主控芯片T40控制WiFi射频芯片发出0dBm到10dBm的射频信号，发包数量为1000；

第一Π型衰减网络对WiFi射频芯片发出的信号进行第一级衰减，衰减值为20dB，经过一级衰减后的信号通过第一射频开关132，第一射频开关132的损耗记为0.5dB。

当主控芯片T40控制射频信号经过第一衰减电路时：主控芯片T40控制第一射频开关132导向第二Π型衰减网络，第二Π型衰减网络对通过第一射频开关132的信号进行第二级衰减，衰减值为20dB，经过第二级衰减后的信号通过第二射频开关134，主控芯片T40控制第二射频开关134导向数字衰减器，第二射频开关134的损耗为0.5dB，然后数字衰减器对通过第二射频开关134的信号进行第三级衰减，主控模块11通过SPI等数字接口对数字衰减器的衰减值进行实时调整，衰减可调范围为2dB至32dB，经过第三级衰减后的信号通过SMA座子、固定衰减器142、射频线缆后，传输至待测产品2，SMA座子、固定衰减器142、射频线缆的损耗为32dB，则待测产品2接收的信号强度最大值为-65dBm（10dBm-20dB-0.5dB-20dB-0.5dB-2dB-32dB），待测产品2接收的信号强度最小值为-104dBm（0dBm-20dB-0.5dB-20dB-0.5dB-31dB-32dB）。

当主控芯片T40控制射频信号经过第二衰减电路时：主控芯片T40控制第一射频开关132导向第二射频开关134，主控芯片T40控制第二射频开关134导向数字衰减器，第二射频开关134的损耗记0.5dB，然后数字衰减器对通过第二射频开关134的信号进行第二级衰减，主控模块11通过SPI等数字接口对数字衰减器的衰减值进行实时调整，衰减可调范围为2dB至32dB，经过第二级衰减后的信号通过SMA座子、固定衰减器142、射频线缆后，传输至待测产品2，SMA座子、固定衰减器142、射频线缆的损耗为32dB，则待测产品2接收的信号强度最大值为-45dBm（10dBm-20dB-0.5dB-0.5dB-2dB-32dB），待测产品2接收的信号强度最小值为-84dBm（0dBm-20dB-0.5dB-0.5dB-31dB-32dB）。

需要注意的是，虽然本发明实施例中仅描述了射频信号由射频收发模块12发出至待测产品2的，在实际中，待测产品2也可以发出射频信号至射频收发模块12，以测试待测产品2的接收通路和发射通路。当测试待测产品2的发射通路时，主控模块11可以控制第一射频开关132以及第二射频开关134的导向，从而使待测产品2发出的能够射频信号正常流向射频收发模块12，此处不做赘述。

如图2所示，本发明实施例中提供的产品测试电路板1中，多个隔离件设置在上述实施例中各个模块的外侧，用于主控模块11、射频收发模块12、衰减模块13以及射频连接模块14中的任意两者进行隔离，以保证产品测试电路板1的隔离度。在实际中，电路板本体10上还集成有电源模块17，用于通过电路板本体10向其余各模块供电，使得产品测试电路板1可以正常工作。可以理解的是，产品测试电路板1与外部终端3连接的调试串口可以与工作状态控制端以及指示灯16共同集成在一个区域内。此外，从图2中可以看出，每个模块之间还存在隔离区域，便于将隔离件焊接在电路板本体10上。隔离件具体可以为铝合金材质的隔离罩，本发明实施例对此不做具体限定。

在实际应用中，上述实施例中提供的产品测试电路板1还包括用于支撑电路板本体10的底座，以及与底座固定连接的屏蔽罩，屏蔽罩和底座共同形成屏蔽腔，电路板本体10与集成在电路板本体10上的各个模块均位于屏蔽腔内部，以隔绝外部同频段信号对产品测试电路板1的干扰。

本发明实施例还提供一种产品测试系统，包括上述实施例中提供的产品测试电路板1，以及与产品测试电路板1电连接的外部终端3。

与现有技术相比，本发明实施例提供的产品测试系统的有益效果与上述实施例中所述产品测试电路板1的有益效果相同，此处不做赘述。

本发明实施例还提供一种产品测试方法，应用于上述实施例中提供的产品测试电路板1，产品测试方法包括：

主控模块11控制射频收发模块12发出射频信号；

衰减模块13对射频信号进行衰减，并将衰减后的射频信号通过射频连接模块14传输至待测产品2；

待测产品2接收到衰减后的射频信号，并将衰减后的射频信号传输至主控模块11；

当待测产品2接收到的衰减后的射频信号满足目标灵敏度时，主控模块11将衰减后的射频信号发送至外部终端3，当待测产品2接收到的衰减后的射频信号不满足目标灵敏度时，主控模块11对待测产品2进行校准。

与现有技术相比，本发明实施例提供的产品测试方法的有益效果与上述实施例中所述产品测试电路板1的有益效果相同，此处不做赘述。

尽管在此结合各实施例对本发明进行了描述，然而，在实施所要求保护的本发明过程中，本领域技术人员通过查看附图、公开内容、以及所附权利要求书，可理解并实现公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”（comprising）一词不排除其他组成部分或步骤，“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施，但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。

尽管结合具体特征及其实施例对本发明进行了描述，显而易见的，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可对其进行各种修改和组合。相应地，本说明书和附图仅仅是所附权利要求所界定的本发明的示例性说明，且视为已覆盖本发明范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种产品测试电路板，其特征在于，用于对待测产品的射频灵敏度进行校准测试，包括：多个隔离件、电路板本体以及集成在所述电路板本体上的主控模块、射频收发模块、衰减模块和射频连接模块，其中：

所述多个隔离件分别设置在所述主控模块、所述射频收发模块、所述衰减模块以及所述射频连接模块的外侧，且与所述电路板本体固定连接，用于将所述主控模块、所述射频收发模块、所述衰减模块以及所述射频连接模块中的任意两者进行隔离；

所述主控模块的第一端与外部终端电连接，所述主控模块的第二端分别与所述射频收发模块的第一端、所述衰减模块以及所述待测产品电连接；所述射频收发模块的第二端、所述衰减模块、所述射频连接模块以及所述待测产品依次电连接；

所述衰减模块包括第一衰减电路以及第二衰减电路；其中：

所述主控模块分别与所述第一衰减电路以及所述第二衰减电路电连接；

当所述待测产品接收信号的信号电平处于第一目标范围时，所述主控模块用于控制所述射频收发模块发出的射频信号通过所述第一衰减电路进行衰减；

当所述待测产品接收信号的信号电平处于第二目标范围时，所述主控模块用于控制所述射频信号通过所述第二衰减电路进行衰减；

其中，所述第一衰减电路的衰减值大于所述第二衰减电路的衰减值。

2.根据权利要求1所述的产品测试电路板，其特征在于，所述第一衰减电路包括依次电连接的第一衰减网络、第一射频开关、第二衰减网络、第二射频开关以及第一可调衰减子模块，所述第一衰减网络与所述射频收发模块电连接，所述第一可调衰减子模块与所述射频连接模块电连接；其中：

所述主控模块的第二端分别与所述第一射频开关控制端以及所述第二射频开关控制端电连接，用于当所述信号电平处于所述第一目标范围时，控制所述射频信号通过所述第一衰减网络和所述第二衰减网络；

所述主控模块的第二端还与所述第一可调衰减子模块电连接，用于根据所述待测产品接收信号的包错误率，控制所述第一可调衰减子模块的衰减值。

3.根据权利要求2所述的产品测试电路板，其特征在于，所述第二衰减电路包括依次电连接的第三衰减网络、第三射频开关、第四射频开关以及第二可调衰减子模块，所述第三衰减网络与所述射频收发模块电连接，所述第二可调衰减子模块与所述射频连接模块电连接；其中：

所述主控模块的第二端还分别与所述第三射频开关的控制端以及所述第四射频开关的控制端电连接，用于当所述信号电平处于所述第二目标范围时，控制所述射频信号通过所述第三衰减网络；

所述主控模块的第二端还与所述第二可调衰减子模块电连接，用于根据所述待测产品接收信号的包错误率，控制所述第二可调衰减子模块的衰减值。

4.根据权利要求3所述的产品测试电路板，其特征在于，所述第一可调衰减子模块，和/或所述第二可调衰减子模块为数字衰减器。

5.根据权利要求3所述的产品测试电路板，其特征在于，所述第一衰减网络和第三衰减网络为同一衰减网络；所述第三射频开关与所述第一射频开关为同一射频开关，所述第四射频开关与所述第二射频开关为同一射频开关。

6.根据权利要求1所述的产品测试电路板，其特征在于，所述射频连接模块包括依次电连接的射频连接器、固定衰减器以及射频线缆，所述射频连接器还与所述衰减模块电连接，所述射频线缆与所述待测产品电连接。

7.根据权利要求1所述的产品测试电路板，其特征在于，所述产品测试电路板还包括工作模式控制端，所述工作模式控制端与所述主控模块电连接，用于控制所述产品测试电路板对所述待测产品进行射频灵敏度测试，或，控制所述产品测试电路板对所述待测产品进行校准。

8.一种产品测试系统，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的产品测试电路板，以及与所述产品测试电路板电连接的外部终端。

9.一种产品测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-7任一项所述的产品测试电路板，所述产品测试方法包括：

主控模块控制射频收发模块发出射频信号；

衰减模块对所述射频信号进行衰减，并将衰减后的射频信号通过射频连接模块传输至待测产品；

所述待测产品接收到所述衰减后的射频信号，并将所述衰减后的射频信号传输至所述主控模块；

当所述待测产品接收到的所述衰减后的射频信号满足目标灵敏度时，所述主控模块将所述衰减后的射频信号发送至外部终端，当所述待测产品接收到的所述衰减后的射频信号不满足所述目标灵敏度时，所述主控模块对所述待测产品进行校准。

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