CN114743856A - 半导体工艺设备 - Google Patents

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spiral coil
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林源为
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Abstract

本发明提供一种半导体工艺设备，包括工艺腔室、上射频源、射频线圈结构和线圈接地装置，其中，工艺腔室包括工艺腔体和介质腔体，介质腔体位于工艺腔体的上方，且介质腔体与工艺腔体密封连接；介质腔体的内径由上而下递增；射频线圈结构包括立体螺旋线圈，立体螺旋线圈环绕在介质腔体周围，且立体螺旋线圈的内径由上而下递增，并且立体螺旋线圈的两端均与上射频源电连接；线圈接地装置位置可调的与立体螺旋线圈电连接，且立体螺旋线圈通过线圈接地装置接地，接地位置位于立体螺旋线圈的两端之间。本发明提供的半导体工艺设备，可以提高等离子体分布均匀性。

Description

半导体工艺设备
技术领域
本发明涉及半导体制造领域，具体地，涉及一种半导体工艺设备。
背景技术
深硅刻蚀在集成电路(IC)、微机电系统(MEMS)和先进封装等领域有重要应用，是工业生产中非常重要的一种工艺过程。由于传统的湿法刻蚀属于各项同性刻蚀，只有各项异性的干法刻蚀可以实现深硅刻蚀。低温等离子体技术是干法刻蚀中的重要基础，其中，感应耦合等离子体(Inductive Coupled Plasma，ICP)和电容耦合等离子体(CapacitivelyCoupled Plasma，CCP)是半导体领域干法刻蚀和薄膜沉积常用的等离子体源。ICP源由高频电流通过线圈产生的高频电磁场激发气体产生等离子体，因其可以在较低腔室压力下工作，且具有等离子体密度高、对工件损伤小等特点，通常应用于对等离子体密度要求较高的深硅刻蚀。
伴随着半导体工业的发展，在大体积腔室、大尺寸晶圆上提升刻蚀工艺性能是降低生产成本的重要方法，但是，腔室尺寸越大，对等离子体分布均匀性也提出了更高的要求。因此，如何提高大尺寸腔室的等离子体分布均匀性是诸如深硅刻蚀、高密度等离子体化学气相沉积(HDPCVD)等的半导体领域中的一个重要挑战。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种半导体工艺设备，其可以提高等离子体分布均匀性，从而可以满足大尺寸腔室对工艺均匀性的要求。
为实现本发明的目的而提供一种半导体工艺设备，包括工艺腔室、上射频源、射频线圈结构和线圈接地装置，其中，所述工艺腔室包括工艺腔体和介质腔体，所述介质腔体位于所述工艺腔体的上方，且所述介质腔体与所述工艺腔体密封连接；所述介质腔体的内径由上而下递增；所述射频线圈结构包括立体螺旋线圈，所述立体螺旋线圈环绕在所述介质腔体周围，且所述立体螺旋线圈的内径由上而下递增，并且所述立体螺旋线圈的两端均与所述上射频源电连接；
所述线圈接地装置位置可调的与所述立体螺旋线圈电连接，且所述立体螺旋线圈通过所述线圈接地装置接地，接地位置位于所述立体螺旋线圈的两端之间。
可选的，所述线圈接地装置包括接地件和导电固定件，所述导电固定件位置可调的连接于所述立体螺旋线圈上，且所述导电固定件与所述立体螺旋线圈电导通；
所述导电固定件上设置有第一配合部，且所述接地件上设置有第二配合部，所述第一配合部与所述第二配合部可拆卸地电连接。
可选的，所述第一配合部和所述第二配合部中的一者为插槽，所述第一配合部和所述第二配合部中的另一者为插接件，所述插接件与所述插槽插接。
可选的，所述导电固定件与所述立体螺旋线圈沿所述立体螺旋线圈的螺旋方向滑动连接，且所述导电固定件上设置有紧固结构，用于在所述导电固定件滑动至预设接地位置时，将所述导电固定件与所述立体螺旋线圈固定连接。
可选的，所述线圈接地装置还包括滑轨，所述滑轨固定于所述介质腔体上方，且间隔地位于所述立体螺旋线圈远离所述介质腔体的一侧；所述滑轨上设置有滑槽，所述滑槽沿指定路径延伸设置，所述接地件与所述滑槽滑动配合，所述指定路径被设置为使所述接地件能够沿所述滑槽滑动至与所述导电固定件对应的位置处，以能够使所述第二配合部与所述第一配合部连接。
可选的，所述指定路径沿所述立体螺旋线圈的螺旋方向延伸设置；或者，沿所述立体螺旋线圈的径向，且相对于水平面倾斜延伸设置。
可选的，所述线圈接地装置包括多个所述接地件和多个所述导电固定件，多个所述导电固定件位置连接于所述立体螺旋线圈的不同位置，每个所述接地件分别与对应的所述导电固定件电连接，以使所述立体螺旋线圈在不同位置同时接地。
可选的，所述立体螺旋线圈为两个，两个所述立体螺旋线圈的各匝线圈一一对应地沿水平方向并排设置，并且两个所述立体螺旋线圈相对于所述介质腔体的轴向对称，且电流方向相同；各所述立体螺旋线圈的两端均与所述上射频源电连接；
其中一个所述立体螺旋线圈与对应的所述线圈接地装置的连接位置与另一个所述立体螺旋线圈与对应的所述线圈接地装置的连接位置相对于所述介质腔体的轴向对称，以使两个所述立体螺旋线圈在相对于所述介质腔体的轴向对称的位置接地。
可选的，与每个所述立体螺旋线圈对应的所述线圈接地装置均包括接地件和导电固定件，所述导电固定件连接于所述立体螺旋线圈上，且所述导电固定件与所述立体螺旋线圈电导通；所述导电固定件上设置有第一配合部，且所述接地件上设置有第二配合部，所述第一配合部与所述第二配合部可拆卸地电连接；
两个所述立体螺旋线圈上对应的所述导电固定件均为多个，且数量相同，每个所述立体螺旋线圈上不同的所述导电固定件位于所述立体螺旋线圈两端之间的不同位置处，且其中一个所述立体螺旋线圈上各所述导电固定件的位置与另一个所述立体螺旋线圈上各所述导电固定件的位置一一对应地相对于所述介质腔体的轴向对称；
每个所述立体螺旋线圈上的所述接地件选择性地与多个所述导电固定件中的任意一者连接，且其中一个所述立体螺旋线圈上的所述接地件所连接的所述导电固定件与另一个所述立体螺旋线圈上的所述接地件所连接的所述导电固定件相对于所述介质腔体的轴向对称。
可选的，所述上射频源包括两个射频电源和两个匹配器；所述立体螺旋线圈的一端通过其中一个所述匹配器与其中一个所述射频电源连接，所述立体螺旋线圈的另一端通过另一个所述匹配器与另一个所述射频电源电连接；或者，
所述上射频源包括一个射频电源和一个匹配器，所述立体螺旋线圈的两端均通过所述匹配器与所述射频电源电连接。
可选的，所述立体螺旋线圈的各端和与之连接的所述匹配器之间的电路上均设置有可调电容。
可选的，所述上射频源包括一个射频电源和一个匹配器，所述立体螺旋线圈的两端均通过所述匹配器与所述射频电源电连接；
所述立体螺旋线圈的两端和分别与两端相邻的所述接地件之间的线圈段分别为第一线圈段和第二线圈段；
其中，所述第一线圈段通过线缆与所述匹配器电连接，所述第一线圈段和所述线缆的长度之和与所述第二线圈段的长度之间的差值的绝对值等于所述射频电源输出的射频信号的波长的二分之一；或者，
所述第二线圈段通过所述线缆与所述匹配器电连接，所述第二线圈段和所述线缆的长度之和与所述第一线圈段的长度之间的差值等于所述射频电源输出的射频信号的波长的二分之一。
可选的，所述上射频源包括两个射频电源和两个匹配器；
所述立体螺旋线圈的一端通过其中一个所述匹配器与其中一个所述射频电源连接，所述立体螺旋线圈的另一端通过另一个所述匹配器与另一个所述射频电源电连接；
两个所述射频电源输出的射频信号的相位差等于所述射频信号的周期的二分之一。
本发明具有以下有益效果：
本发明提供的半导体工艺设备，其立体螺旋线圈的两端均作为射频馈入端与上射频源电连接，线圈接地装置位置可调的与立体螺旋线圈电连接，且立体螺旋线圈通过线圈接地装置接地，接地位置位于立体螺旋线圈的两端之间，由于线圈接地装置位置可调，该电导通位置作为射频馈出端是可调节的，通过调节该电导通位置，可以调节等离子体分布，从而增加了一种等离子体分布均匀性的调节手段，进而提高了工艺调节灵活性，从而可以提高等离子体分布均匀性，以满足大尺寸腔室对工艺均匀性的要求。
附图说明
图1为本实施例提供的半导体工艺设备的一种结构示意图；
图2为图1中半导体工艺设备的局部结构图；
图3为本实施例提供的半导体工艺设备的另一种结构示意图；
图4为图1中射频线圈结构在径向截面上的正投影的结构示意图；
图5为射频线圈结构不同区域对应的等离子体分布曲线的对比图；
图6为本实施例提供的半导体工艺设备的又一种结构示意图；
图7为图6中射频线圈结构在径向截面上的正投影的结构示意图；
图8为其中一立体螺旋线圈的射频馈入馈出的原理图；
图9为不同电导通位置对应的等离子体分布曲线的对比图；
图10为本实施例采用的导电固定件和接地件的结构示意图；
图11为本实施例采用的导轨和接地件的结构示意图；
图12为本实施例采用的线圈接地装置与立体螺旋线圈的位置关系图；
图13为单个立体螺旋线圈在径向截面上的正投影的结构示意图；
图14为本实施例采用的射频线圈结构的一种等效电路图；
图15为图14中其中一立体螺旋线圈的等效电路图；
图16为本实施例采用的射频线圈结构的另一种等效电路图；
图17为本实施例采用的射频线圈结构的又一种等效电路图。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图来对本发明提供的半导体工艺设备进行详细描述。
请一并参阅图1和图2，本实施例提供的半导体工艺设备，其包括工艺腔室、射频线圈结构5和上射频源(图中未示出)，其中，工艺腔室包括介质腔体1和工艺腔体2，介质腔体1例如采用陶瓷或石英制作，用以将射频线圈结构5提供的射频能量馈入至工艺腔室的内部，并且该介质腔体1由位于工艺腔体2的上方，且介质腔体1与工艺腔体2密封连接。在一些实施例中，介质腔体1与工艺腔体2可以一体成型，或者也可以采用紧固件等的可拆卸方式固定连接。此外，可选的，介质腔体1与射频线圈结构5之间例如可以设置法拉第屏蔽件。
并且，介质腔体1的顶部设置有进气口，该进气口与进气装置4连接，进气装置4能够通过进气口向工艺腔室中的工艺空间3通入工艺气体。在一些实施例中，可选的，进气口设置在介质腔体1的顶部中心位置处。
另外，可选的，工艺腔体2的内径在竖直方向上的不同位置处均相同，并且介质腔体1的最大内径与工艺腔体2的内径相同。
本实施例提供的半导体工艺设备还包括设置在工艺腔体2中的用于承载晶圆8的基座7，以及与基座7电连接的下射频源(图中未示出)，下射频源例如包括匹配器和偏压电源，用于向基座7输出下电极功率。基座7例如为静电卡盘，或者为机械卡盘。此外，在工艺腔体2的底部设置有排气装置(图中未示出)，用以排出工艺腔体2内的废气。
在一些可选的实施例中，在上述介质腔体1与工艺腔体2构成的工艺空间3内，且靠近介质腔体1与工艺腔体2的连接处的位置设置有匀气装置9，用以提高等离子体的分布均匀性。上述匀气装置9例如为匀流板或者整流筒。
在一些可选的实施例中，上述介质腔体1与工艺腔体2构成的工艺空间3的体积大于等于109L，例如可以应用于12寸晶圆的刻蚀工艺。当然，本发明实施例并不局限于此，在实际应用中，工艺空间3的体积还可以设定为其他任意数值，以满足不同尺寸晶圆的工艺要求，例如6英寸晶圆、8英寸晶圆等等。
在一定的腔室压力(即真空度)下，射频线圈产生的交变电磁场向腔室内的气体分子提供的能量，此时距离射频线圈最近的气体分子最先开始离化，而后上述能量会逐渐向腔室下方传递，从而实现整个腔室内的均匀启辉。但是，现有技术中通常采用介质筒或者介质窗等的介质部件将射频线圈提供的射频能量馈入至介质腔体的内部，这种介质部件与工艺腔体构成的内部空间在竖直方向上的内径相同。在这种情况下，尤其是对于大体积腔室、大尺寸晶圆，较低的腔室压力和上电极功率会导致射频能量在腔室中的传递受阻，只有靠近线圈的气体分子离化而不能“点燃”整个腔室，这种现象称为灭辉。虽然可以通过提高腔室压力和上电极功率的方式实现等离子体启辉，但是为了工艺对均匀性和刻蚀形貌的要求，具体来说，采用较低的腔室压力可以提高等离子体的平均自由程和均匀性，而采用较低的上电极功率，可以降低刻蚀损伤，提高刻蚀形貌的表面粗糙度，因此，在低腔室压力和低上电极功率的条件下，实现等离子体启辉是目前亟待解决的问题。
为了解决上述问题，本发明实施例提供的半导体工艺设备，其介质腔体1的内径由上而下递增；射频线圈结构5包括立体螺旋线圈，该立体螺旋线圈环绕在介质腔体1周围，且立体螺旋线圈的内径由上而下递增。由于介质腔体1靠近进气口处的内径较小，通过射频线圈结构5产生的交变电磁场向腔室内的气体分子提供的能量，能够使经过该内径所在平面的大部分气体分子得到离化，同时由于介质腔体1的内径由上而下递增，这使得将气体离化的能量能够顺利向腔室下方传递，避免因腔室空间过大而导致能量传递受阻，从而即使在低腔室压力和低上电极功率的条件下，也可以实现等离子体启辉，进而可以提高等离子体的平均自由程和均匀性，而且还可以降低刻蚀损伤，提高刻蚀形貌的表面粗糙度。并且，通过使介质腔体1的内径由上而下递增，可以使腔室的体积大小增大至工艺要求的尺寸，例如对于直径为8英寸或者12英寸的晶圆，介质腔体的最大内径增大至200mm或者300mm以上，从而可以兼容大尺寸晶圆。
需要说明的是，通过使立体螺旋线圈的内径由上而下递增，可以使得立体螺旋线圈与介质腔体1在竖直方向上的不同位置处的间距不会过大，从而可以保证立体螺旋线圈不同内径处提供的能量均能够通过介质腔体1馈入封闭空间3中。在一些可选的实施例中，立体螺旋线圈与介质腔体1在竖直方向上的不同位置处的间距相同，这样有助于提高等离子体分布均匀性。
上述介质腔体1的结构可以有多种，例如，如图2所示，介质腔体1在其轴向截面上的正投影形状为圆拱形，从而实现介质腔体1的内径由上而下递增。但是，本发明实施例并不局限于此，在实际应用中，介质腔体还可以采用其他结构，例如，如图3所示，介质腔体1’包括沿其轴向依次设置的多个圆柱形子腔体，图3示出了5个圆柱形子腔体(1a,1b,1c,1d,1e)，构成了类似台阶状腔体结构。例如，5个圆柱形子腔体均包括环形上盖和环形侧壁，其中，每个圆柱形子腔体的环形侧壁的上端与环形上盖的外边缘连接，且每个圆柱形子腔体的环形侧壁的下端和位于其下方，且与之相邻的圆柱形子腔体的环形上盖的内边缘连接；并且，位于最上方的圆柱形子腔体包括平板上盖和环形侧壁，该环形侧壁和位于其下方，且与之相邻的圆柱形子腔体的环形上盖的内边缘连接；该平板上盖中设置有进气口，该进气口与进气装置4连接，进气装置4能够通过进气口向上述封闭空间3通入工艺气体。在一些实施例中，可选的，进气口设置在介质腔体1’的顶部中心位置处。
并且，多个圆柱形子腔体的内径由上而下递增。例如，如图3所示，5个圆柱形子腔体(1a,1b,1c,1d,1e)的环形侧壁的内径由上而下依次增大。射频线圈结构5中，立体螺旋线圈的内径由上而下递增。由于介质腔体1靠近进气口处的内径较小，通过射频线圈结构5产生的交变电磁场向腔室内的气体分子提供的能量，能够使经过该内径所在平面的大部分气体分子得到离化，同时由于介质腔体1’的内径由上而下递增，这使得将气体离化的能量能够顺利向腔室下方传递，避免因腔室空间过大而导致能量传递受阻，从而即使在低腔室压力和低上电极功率的条件下，也可以实现等离子体启辉，进而可以提高等离子体的平均自由程和均匀性，而且还可以降低刻蚀损伤，提高刻蚀形貌的表面粗糙度。并且，通过使介质腔体1的内径由上而下递增，可以使腔室的体积大小增大至工艺要求的尺寸，例如对于直径为8英寸或者12英寸的晶圆，介质腔体的最大内径增大至200mm或者300mm以上，从而可以兼容大尺寸晶圆。可选的，多个圆柱形子腔体之间可以一体成型。
在本实施例中，以图2示出的介质腔体1为例，如图4所示，射频线圈结构5包括两个立体螺旋线圈(5a，5b)，两个立体螺旋线圈(5a，5b)的各匝线圈一一对应地沿水平方向并排设置，并且两个立体螺旋线圈(5a，5b)相对于介质腔体1的轴向对称，且电流方向相同，例如图4中示出的两个立体螺旋线圈(5a，5b)的电流方向均沿顺时针方向流动。通过使两个立体螺旋线圈(5a，5b)相对于介质腔体1的轴向对称，可以弥补因单个立体螺旋线圈在结构上的不对称性而造成的等离子体分布不均匀的情况，从而可以提高等离子体分布均匀性。
在一些可选的实施例中，两个立体螺旋线圈(5a，5b)可以通过设置在介质腔体1外部的支撑结构进行固定，该支撑结构例如由多个环形的支撑板组成，各个支撑板一一对应地支撑立体螺旋线圈的各匝线圈。或者，也可以不设置上述支撑结构，而仅利用两个立体螺旋线圈(5a，5b)的重力作用固定在介质腔体1的外部。
在一些实施例中，立体螺旋线圈5a的第一端51a和第二端52a分别与上射频源和地电连接；立体螺旋线圈5b的第一端51b和第二端52b也分别与上射频源和地电连接，即，每个立体螺旋线圈的一端为射频馈入端，另一端为射频馈出端。但是，在这种情况下，等离子体分布均匀性的调节手段有限，例如通过调节加载至立体螺旋线圈对应腔室径向上不同区域的各螺旋段上的射频功率大小，来调节等离子体分布均匀性。举例来说，同一立体螺旋线圈在介质腔体1的轴向(即，竖直方向)上分为两个螺旋段，且两个螺旋段相互并联，即，两个螺旋段各自具有射频馈入端，且均与上射频源电连接，两个螺旋段各自具有射频馈出端，并接地。而且，两个螺旋段中对应介质腔体1的中心区域的一者为第一螺旋段，对应介质腔体1的边缘区域的另一者为第二螺旋段，如图5所示，曲线A为向第一螺旋段加载第一射频功率产生的等离子体分布曲线(横向为腔室径向上的位置，纵向为等离子体密度)；曲线B为向第二螺旋段加载第二射频功率产生的等离子体分布曲线；曲线C为曲线A与曲线B组合后形成的等离子体分布曲线。当调节上述第一射频功率和第二射频功率的大小时，曲线A和曲线B会随射频功率大小的变化而沿图5中的Y方向移动，以实现等离子体分布均匀性的调节。
发明人发现：仅依靠射频功率大小的调节只能使曲线A和曲线B沿图5中的Y方向移动，而无法沿腔室径向(垂直于Y方向)移动，因此，等离子体分布均匀性的调节手段有限，等离子体分布均匀性的调节效果较差，尤其无法满足大体积腔室、大尺寸晶圆的应用对等离子体分布均匀性的要求。
对此，为了进一步提高等离子体分布均匀性，本发明实施例提供的半导体工艺设备，在采用上述介质腔体的基础上，还对半导体工艺设备作了以下改进，如图6所示，立体螺旋线圈5a的第一端51a和第二端52a均与上射频源电连接；立体螺旋线圈5b的第一端51b和第二端52b也均与上射频源电连接，即，每个立体螺旋线圈的两端均为射频馈入端。
在此基础上，本发明实施例提供的半导体工艺设备还包括线圈接地装置，该线圈接地装置位置可调的与立体螺旋线圈电连接，且该立体螺旋线圈通过线圈接地装置接地，接地位置位于立体螺旋线圈的两端之间。由于线圈接地装置位置可调，该电导通位置作为射频馈出端是可调节的，通过调节该电导通位置，可以调节等离子体分布，从而增加了一种等离子体分布均匀性的调节手段，进而提高了工艺调节灵活性，从而可以提高等离子体分布均匀性，以满足大尺寸腔室对工艺均匀性的要求。
在一些可选的实施例中，上述线圈接地装置包括接地件和导电固定件。如图6和图7所示，以有两个立体螺旋线圈(5a，5b)为例，立体螺旋线圈5a例如对应有一个接地件6a和一个导电固定件7a，立体螺旋线圈5b例如对应有一个接地件6b和一个导电固定件7a。其中，导电固定件7a位置可调的对应连接于立体螺旋线圈5a上，例如位于电导通位置Fa处，且导电固定件7a与立体螺旋线圈5a电导通；导电固定件7b位置可调的对应连接于立体螺旋线圈5b上，例如位于电导通位置Fb处，且导电固定件7b与立体螺旋线圈5b电导通。如图7所示，接地件6a与立体螺旋线圈5a的电导通位置Fa间隔地位于立体螺旋线圈5a的两端(51a，52a)之间，即，电导通位置Fa与两端(51a，52a)不重合。同样的，接地件6b与立体螺旋线圈5b的电导通位置Fb间隔地位于立体螺旋线圈5b的两端(51b，52b)之间，即，电导通位置Fb与两端(51a，52a)不重合。
而且，上述导电固定件7a和导电固定件7b中的每一者上均设置有第一配合部，且接地件6a和接地6b中的每一者上均设置有第二配合部，该第一配合部与第二配合部可拆卸地电连接，且相互电导通。这样，接地件可以通过导电固定件固定于立体螺旋线圈上，且与之电导通，而且由于第一配合部与第二配合部可拆卸地电连接，这可以实现将接地件与导电固定件之间的安装和拆卸，从而可以实现选择性地将接地件与同一立体螺旋线圈上的多个导电固定件中的任意一者连接，或者可以实现接地件的更换。
第一配合部与第二配合部可拆卸地连接的方式可以有多种，在一些可选的实施例中，上述第一配合部和第二配合部中的一者为插槽，第一配合部和第二配合部中的另一者为插接件，该插接件与插槽插接。例如，如图10所示，接地件6a和接地件6b中的每一者均包括连接杆61和分别设置在其两端的插接件62和手柄63，导电固定件7a和导电固定件7b中的每一者均设置有插槽71和设置于插槽71相对的两个侧壁上的限位件72，其中，插接件62和限位件72均为弹性件，在需要将接地件插入导电固定件上时，插接件62在穿过两个限位件72之间的间隙时，插接件62与限位件72相互作用产生弹性变形，以使插接件62能够插入插槽71中，在插入之后，插接件62与限位件72恢复原始形状，此时二者相配合，以将插接件62限定在插槽71中。类似的，在需要将接地件从导电固定件拆下时，插接件62与限位件72通过相互作用产生弹性变形来使插接件62能够通过两个限位件72之间的间隙移出插槽71。
电导通位置的调节方式可以有多种，在一些可选的实施例中，例如，导电固定件位置可调的连接于所述立体螺旋线圈上。由于导电固定件的位置可调，其可以改变接地件6a在立体螺旋线圈5a上的位置，该位置可以选择立体螺旋线圈5a上位于其两端(51a，52a)之间的任意位置；以及，改变接地件6b在立体螺旋线圈5b上的位置，该位置可以选择立体螺旋线圈5b上位于其两端(51b，52b)之间的任意位置。
又如，两个立体螺旋线圈上对应的导电固定件均为多个，且数量相同，例如均为一个，或者均为两个。每个立体螺旋线圈上不同的导电固定件位于立体螺旋线圈两端之间的不同位置处，为了保证两个立体螺旋线圈(5a，5b)上各个位置处的电流方向相同，其中一个立体螺旋线圈上各导电固定件的位置与另一个立体螺旋线圈上各导电固定件的位置一一对应地相对于介质腔体的轴向对称；每个立体螺旋线圈上的接地件可以为至少一个，接地件可以选择性地与同一立体螺旋线圈上的多个导电固定件中的任意一者连接，以实现电导通位置的调节。在不同的导电固定件之间选择其中一个导电固定件之后，可以采用手动的方式将接地件与所选择的导电固定件连接，同样地，也可以采用手动的方式将接地件在不同的导电固定件之间更换。
在一些可选的实施例中，为了保证两个立体螺旋线圈(5a，5b)上各个位置处的电流方向相同，其中一个立体螺旋线圈对应的各接地件所在的电导通位置(即所连接的导电固定件)与另一个立体螺旋线圈对应的各接地件所在的电导通位置(即所连接的导电固定件)一一对应地相对于介质腔体1的轴向对称。例如，如图7所示，立体螺旋线圈5a对应有一个接地件6a，立体螺旋线圈5b对应有一个接地件6b。而且，电导通位置Fa与电导通位置Fb相对于介质腔体1的轴向对称。又如，如图12所示，以立体螺旋线圈5a上设置有三个导电固定件为例，三者对应位于沿立体螺旋线圈5a的径向排成一排的三个指定的电导通位置(Fa1～Fa3)，在这种情况下，接地件6a可以选择性地与三个电导通位置(Fa1～Fa3)中的任意一者对应的导电固定件连接。同样的，立体螺旋线圈5b上设置有三个导电固定件，三者对应位于沿立体螺旋线圈5b的径向排成一排的三个指定的电导通位置(Fb1～Fb3)，接地件6b可以选择性地与三个电导通位置(Fb1～Fb3)中的任意一者对应的导电固定件连接。为了保证两个立体螺旋线圈(5a，5b)上各个位置处的电流方向相同，当接地件6a与电导通位置Fa1对应的导电固定件连接时，接地件6b与电导通位置Fb1对应的导电固定件连接；当接地件6a与电导通位置Fa2对应的导电固定件连接时，接地件6b与电导通位置Fb2对应的导电固定件连接；当接地件6a与电导通位置Fa3对应的导电固定件连接时，接地件6b与电导通位置Fb3对应的导电固定件连接。当然，在实际应用中，根据不同的需求，两个立体螺旋线圈(5a，5b)对应的接地件所在的电导通位置也可以不对称。
下面以立体螺旋线圈5a上设置有一个接地件6a为例，对通过调节电导通位置Fa来调节等离子体分布均匀性的原理进行详细说明。具体地，如图8所示，立体螺旋线圈5a的第一端51a和第二端52a均作为射频馈入端与上射频源电连接，而接地件6a与立体螺旋线圈5a的电导通位置Fa作为射频馈出端通过接地件6a接地，在这种情况下，立体螺旋线圈5a位于电导通位置Fa两侧的两个线圈段中的电流方向相反。如果立体螺旋线圈5a的两端(51a，52a)馈入的射频功率是相同的，那么若电导通位置Fa更靠近腔室中心的第一端51a，该电导通位置Fa与第一端51a之间的线圈段(靠近腔室中心)上的阻抗小于电导通位置Fa与第二端52a之间的线圈段(靠近腔室边缘)的阻抗，则分配至电导通位置Fa与第一端51a之间的线圈段(靠近腔室中心)的射频功率大于分配至电导通位置Fa与第二端52a之间的线圈段(靠近腔室边缘)的射频功率，如图9所示，曲线A1为立体螺旋线圈5a靠近腔室中心的线圈段产生的等离子体分布曲线(横向为腔室径向上的位置，纵向为等离子体密度)；曲线B1为立体螺旋线圈5a靠近腔室边缘的线圈段产生的等离子体分布曲线；曲线C1为曲线A1与曲线B1组合后形成的等离子体分布曲线。由曲线C1表现的等离子体分布情况可以看出，对应腔室中心区域的等离子体密度明显高于对应腔室边缘区域的等离子体密度，等离子体分布均匀性较差。
在这种情况下，可以通过改变电导通位置Fa来改善等离子体分布均匀性，例如，如果自电导通位置Fa朝远离距离腔室中心的第一端51a的方向调节至新的电导通位置，如图9所示，曲线A2为调节后的立体螺旋线圈5a靠近腔室中心的线圈段产生的等离子体分布曲线(横向为腔室径向上的位置，纵向为等离子体密度)；曲线B2为调节后的立体螺旋线圈5a靠近腔室边缘的线圈段产生的等离子体分布曲线；曲线C2为曲线A2与曲线B2组合后形成的等离子体分布曲线。由曲线C2表现的等离子体分布情况可以看出，对应腔室中心区域的等离子体密度与对应腔室边缘区域的等离子体密度之间的差异在调节后明显减小，从而提高了等离子体分布均匀性。而且，对比调节前的曲线A1与调节后的曲线A2，以及对比调节前的曲线B1与调节后的曲线B2可知，通过调节电导通位置，可以使调节前的曲线A1和曲线B1均沿X方向展开，这种移动是前述依靠射频功率大小的调节无法实现的，因此，通过调节电导通位置，增加了一种等离子体分布均匀性的调节手段，从而提高了工艺调节灵活性，进而可以提高等离子体分布均匀性，以满足大尺寸腔室对工艺均匀性的要求。
需要说明的是，在实际应用中，同一立体螺旋线圈也可以对应设置有多个接地件，且不同的接地件位于不同的电导通位置，即，接地件与立体螺旋线圈电导通的位置不重合。另外需要说明的是，对于同一立体螺旋线圈对应设置有两个接地件的情况，该立体螺旋线圈位于两个接地件之间的线圈段因被短接而没有电流通过，类似的，对于同一立体螺旋线圈对应设置有三个以上接地件的情况，只有立体螺旋线圈的两端和分别与两端相邻的两个接地件之间的两个线圈段有电流通过，而位于这两个接地件之间的其他所有线圈段均因被短接而没有电流通过，由此可知，同一立体螺旋线圈最多设置两个接地件即可。
为了实现电导通位置调节的便捷性，在另一些可选的实施例中，上述导电固定件与立体螺旋线圈沿立体螺旋线圈的螺旋方向滑动连接，且该导电固定件上设置有紧固结构，用于在导电固定件滑动至预设接地位置时，将导电固定件与立体螺旋线圈固定连接。具体地，如图13所示，以立体螺旋线圈为一个为例，导电固定件与立体螺旋线圈沿立体螺旋线圈的螺旋方向(例如图13中的G方向)滑动连接，这样导电固定件可以滑动至立体螺旋线圈上位于其两端(51,52)之间的任一位置处。导电固定件上设置有紧固结构，用于在导电固定件滑动至对应的电导通位置(例如图13中的位置F)时，将导电固定件与立体螺旋线圈固定连接。上述紧固结构可以有多种不同的结构，例如为阻尼器或者紧固件等等。当导电固定件滑动至指定位置时与立体螺旋线圈固定不动，再将接地件与导电固定件连接，上述指定位置即为电导通位置，当然也可以先将接地件与导电固定件连接，后驱动导电固定件带动接地件一起滑动，本发明实施例对此没有特别的限制。此外，导电固定件滑动可以是手动驱动也可以是利用电机、气缸或者其他驱动装置自动驱动。
另外需要说明的是，在实际应用中，也可以不设置上述导电固定件，并使接地件直接与立体螺旋线圈滑动连接，本发明实施例对此没有特别的限制。
如图6和图11所示，对应于每个立体螺旋线圈，线圈接地装置还包括滑轨，以有两个立体螺旋线圈(5a，5b)为例，立体螺旋线圈5a对应有一个滑轨8a，立体螺旋线圈5b对应有一个滑轨8b。滑轨8a和滑轨8b中的每一者固定于介质腔体1上方，且间隔地位于立体螺旋线圈远离介质腔体1的一侧，即，滑轨与立体螺旋线圈不相接触，该滑轨可以通过固定支架固定于介质腔体1上方；如图11所示，滑轨8a和滑轨8b中的每一者上设置有滑槽81，该滑槽81沿指定路径延伸设置，接地件与滑槽81滑动配合，例如，如图6所示，接地件的连接杆61穿设于滑槽81中，且能够沿图6中的D方向滑动，该D方向即为上述指定路径，该指定路径被设置为使接地件能够沿滑槽81滑动至与导电固定件对应的位置处，以能够使第二配合部与第一配合部连接。例如，指定路径沿立体螺旋线圈的径向，且相对于水平面倾斜延伸设置，以使接地件能够移动至多匝不同半径的线圈中的任意一者所在的位置处。
在一些可选的实施例中，线圈接地装置包括多个接地件和多个导电固定件，多个导电固定件位置可调节的连接于立体螺旋线圈的不同位置，每个接地件分别与对应的导电固定件电连接，以使立体螺旋线圈在不同位置同时接地。例如，如图12所示，两个立体螺旋线圈(5a，5b)的各匝线圈一一对应地沿水平方向并排设置，并且两个立体螺旋线圈(5a，5b)相对于介质腔体1的轴向对称，且电流方向相同；各立体螺旋线圈的两端均与上射频源电连接；并且，其中一个立体螺旋线圈5a与对应的线圈接地装置的连接位置与另一个立体螺旋线圈5b与对应的线圈接地装置的连接位置相对于介质腔体1的轴向对称，以使两个立体螺旋线圈(5a，5b)在相对于介质腔体1的轴向对称的位置接地。具体地，以立体螺旋线圈5a上设置有三个导电固定件为例，三者对应位于沿立体螺旋线圈5a的径向排成一排的三个指定的电导通位置(Fa1～Fa3)，上述滑轨8a上滑槽81的指定路径沿三个电导通位置(Fa1～Fa3)的排列方向延伸设置，在这种情况下，接地件6a可以选择性地沿滑槽81滑动至三个电导通位置(Fa1～Fa3)中的任意一者对应的位置处，并与对应的导电固定件连接。同样的，立体螺旋线圈5b上设置有三个导电固定件，三者对应位于沿立体螺旋线圈5b的径向排成一排的三个指定的电导通位置(Fb1～Fb3)，上述滑轨8b上滑槽81的指定路径沿三个电导通位置(Fb1～Fb3)的排列方向延伸设置，在这种情况下，接地件6b可以选择性地沿滑槽81滑动至三个电导通位置(Fb1～Fb3)中的任意一者对应的位置处，并与对应的导电固定件连接。
在一些可选的实施例中，为了保证两个立体螺旋线圈(5a，5b)上各个位置处的电流方向相同，两个立体螺旋线圈(5a，5b)对应的接地件的数量相同，例如均为一个，或者均为两个。而且，其中一个立体螺旋线圈对应的各接地件所在的电导通位置与另一个立体螺旋线圈对应的各接地件所在的电导通位置一一对应地相对于介质腔体1的轴向对称。例如，如图12所示，立体螺旋线圈5a对应有一个接地件6a，立体螺旋线圈5b对应有一个接地件6b。而且，三个电导通位置(Fa1～Fa3)与三个电导通位置(Fb1～Fb3)一一对应地相对于介质腔体1的轴向对称。在使用时，接地件6a所在的电导通位置应与接地件6b所在的电导通位置相对于介质腔体1的轴向对称，即，若接地件6a位于电导通位置Fa1，则接地件6b位于电导通位置Fb1；若接地件6a位于电导通位置Fa2，则接地件6b位于电导通位置Fb2；若接地件6a位于电导通位置Fa3，则接地件6b位于电导通位置Fb3。
优选的，为了保证滑轨与立体螺旋线圈不同位置之间的间距相等，滑轨与介质腔体1的形状相似，例如呈圆弧状。借助上述滑轨，可以使接地件沿滑轨上的滑槽81移动至相应的位置处，然后通过使接地件沿靠近导电固定件的方式(即，E方向)移动，以能够与对应的导电固定件连接，从而可以提高电导通位置调节的便捷性。在实际应用中，可以采用手动的方式使接地件沿D方向滑动以及沿E方向移动，或者也可以利用电机、气缸或者其他驱动装置自动驱动接地件沿D方向滑动以及沿E方向移动。
需要说明的是，上述指定路径并不局限于采用上述D方向，在实际应用中，指定路径还可以是其他任意方向，其被设置为使各接地件能够沿滑槽滑动至与任一导电固定件对应的位置处，以实现电导通位置的调节即可。例如，指定路径还可以沿立体螺旋线圈的螺旋方向延伸设置，在这种情况下，接地件可以滑动至立体螺旋线圈上位于其两端之间的任一位置处。
还需要说明的是，立体螺旋线圈的数量并不局限于两个，在实际应用中，立体螺旋线圈也可以为一个，例如如图13中示。
在一些可选的实施例中，如图14所示，上射频源包括一个射频电源9和一个匹配器10，每个立体螺旋线圈的两端均通过匹配器10与射频电源9电连接。以有两个立体螺旋线圈(5a，5b)为例，通过使两个立体螺旋线圈(5a，5b)的第一端(51a，51b)和第二端(52a，52b)均与同一上射频源电连接，即，两个立体螺旋线圈共用一个上射频源，这可以减少上射频源的配置，降低成本。
在此基础上，如图14和图15所示，两个立体螺旋线圈(5a，5b)中，立体螺旋线圈5a等效为电感L1，立体螺旋线圈5a的两端和分别与两端相邻的接地件6a之间的线圈段分别为第一线圈段和第二线圈段，二者等效为第一子电感L11和第二子电感L12，而且第二线圈段(即，第二子电感L12)相对于第一线圈段(即，第一子电感L11)更靠近介质腔体1的中心。具体来说，立体螺旋线圈5a对应有一个接地件6a，该接地件6a必然同时与立体螺旋线圈5a的两端相邻，但如果接地件6a为两个，如图16所示，则其中一个接地件6a与立体螺旋线圈5a的其中一端相邻，另一个接地件6a与立体螺旋线圈5a的另一端相邻，在这种情况下，电感L1分为三个子电感，分别为第一子电感L11、第二子电感L12和位于二者之间的第三子电感L13，该第三子电感L13因被短接而没有电流通过，电流仅通过第一子电感L11和第二子电感L12。
而且，对于使用单个射频电源9同时向两个立体螺旋线圈(5a，5b)输出射频功率来说，由于每个立体螺旋线圈位于电导通位置两侧的两个线圈段中的电流方向相反，为了使两个线圈段形成的磁场方向一致，如图15所示，在立体螺旋线圈与第一线圈段(即，第一子电感L11)相邻的一端与匹配器10之间增加一段线缆(等效为电感L3)，且第一线圈段(即，第一子电感L11)和线缆(等效为电感L3)的长度之和(H1+H3)与第二线圈段(即，第二子电感L12)的长度H2之间的差值(H1+H3-H2)，等于射频电源输出的射频信号的波长的二分之一，以使射频电源9向各立体螺旋线圈的两端同时输出的射频信号的相位差等于该射频信号的周期的二分之一。在实际应用中，可以通过调节线缆(等效为电感L3)的长度H3来使上述差值(H1+H3-H2)等于射频电源输出的射频信号的波长的二分之一，例如，若射频电源9的射频频率为13.56MHz，则根据公式c＝λf(其中，c代表光速，例如取300000km/s，λ代表射频信号的波长，f代表射频电源9的射频频率)可以计算出波长λ等于22.12m，从而计算出上述差值(H1+H3-H2)等于11.06m，第一线圈段(即，第一子电感L11)的长度H1和第二线圈段(即，第二子电感L12)的长度H2是已知的，进而可以计算出所需的线缆(等效为电感L3)的长度H3。
同样的，立体螺旋线圈5b等效为电感L2，立体螺旋线圈5b的两端和分别与两端相邻的接地件6b之间的线圈段分别为第一线圈段和第二线圈段，二者等效为第一子电感L21和第二子电感L22，而且第二线圈段(即，第二子电感L22)相对于第一线圈段(即，第一子电感L21)更靠近介质腔体1的中心。如果接地件6b为两个，如图16所示，则其中一个接地件6b与立体螺旋线圈5b的其中一端相邻，另一个接地件6b与立体螺旋线圈5b的另一端相邻，在这种情况下，电感L2分为三个子电感，分别为第一子电感L21、第二子电感L22和位于二者之间的第三子电感L23，该第三子电感L23因被短接而没有电流通过，电流仅通过第一子电感L21和第二子电感L22。
在一些可选的实施例中，如图14所示，各立体螺旋线圈的各端和与之连接的匹配器10之间的电路上均设置有可调电容。例如，如图14所示，两个立体螺旋线圈(5a，5b)共有四个射频馈入端，四者与匹配器10之间的四条电路上分别设置有四个可调电容(C51～C54)，通过对四个可调电容(C51～C54)中的至少一者进行调节，可以对射频电源9输出的射频功率进行分配，具体地，如何需要增加其中一个射频馈入端与匹配器10之间的电路上分配到的功率比例，就需要降低该电路上的阻抗，在这种情况下，可以通过可调电容提高该电路上的电容，来降低该电路上的阻抗。
在另一些可选的实施例中，如图17所示，上射频源还可以包括两个射频电源(9a，9b)和两个匹配器(10a，10b)，两个立体螺旋线圈(5a，5b)中的每一者，一端通过两个匹配器(10a，10b)中的一者与两个射频电源(9a，9b)中的一者电连接，另一端通过两个匹配器(10a，10b)中的另一者与两个射频电源(9a，9b)中的另一者电连接。对于使用两个射频电源(9a，9b)同时向两个立体螺旋线圈(5a，5b)输出射频功率来说，由于每个立体螺旋线圈位于电导通位置两侧的两个线圈段中的电流方向相反，为了使两个线圈段形成的磁场方向一致，两个射频电源(9a，9b)输出的射频信号的相位差等于射频信号的周期的二分之一。在实际应用中，可以通过调节两个射频电源(9a，9b)中的晶振器来调节二者输出的射频信号的相位差。
综上所述，本发明提供的半导体工艺设备，其立体螺旋线圈的两端均作为射频馈入端与上射频源电连接，线圈接地装置位置可调的与立体螺旋线圈电连接，且立体螺旋线圈通过线圈接地装置接地，接地位置位于立体螺旋线圈的两端之间，由于线圈接地装置位置可调，该电导通位置作为射频馈出端是可调节的，通过调节该电导通位置，可以调节等离子体分布，从而增加了一种等离子体分布均匀性的调节手段，进而提高了工艺调节灵活性，从而可以提高等离子体分布均匀性，以满足大尺寸腔室对工艺均匀性的要求。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (13)

1.一种半导体工艺设备，其特征在于，包括工艺腔室、上射频源、射频线圈结构和线圈接地装置，其中，所述工艺腔室包括工艺腔体和介质腔体，所述介质腔体位于所述工艺腔体的上方，且所述介质腔体与所述工艺腔体密封连接；所述介质腔体的内径由上而下递增；所述射频线圈结构包括立体螺旋线圈，所述立体螺旋线圈环绕在所述介质腔体周围，且所述立体螺旋线圈的内径由上而下递增，并且所述立体螺旋线圈的两端均与所述上射频源电连接；
所述线圈接地装置位置可调的与所述立体螺旋线圈电连接，且所述立体螺旋线圈通过所述线圈接地装置接地，接地位置位于所述立体螺旋线圈的两端之间。
2.根据权利要求1所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述线圈接地装置包括接地件和导电固定件，所述导电固定件位置可调的连接于所述立体螺旋线圈上，且所述导电固定件与所述立体螺旋线圈电导通；
所述导电固定件上设置有第一配合部，且所述接地件上设置有第二配合部，所述第一配合部与所述第二配合部可拆卸地电连接。
3.根据权利要求2所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述第一配合部和所述第二配合部中的一者为插槽，所述第一配合部和所述第二配合部中的另一者为插接件，所述插接件与所述插槽插接。
4.根据权利要求2所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述导电固定件与所述立体螺旋线圈沿所述立体螺旋线圈的螺旋方向滑动连接，且所述导电固定件上设置有紧固结构，用于在所述导电固定件滑动至预设接地位置时，将所述导电固定件与所述立体螺旋线圈固定连接。
5.根据权利要求2所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述线圈接地装置还包括滑轨，所述滑轨固定于所述介质腔体上方，且间隔地位于所述立体螺旋线圈远离所述介质腔体的一侧；所述滑轨上设置有滑槽，所述滑槽沿指定路径延伸设置，所述接地件与所述滑槽滑动配合，所述指定路径被设置为使所述接地件能够沿所述滑槽滑动至与所述导电固定件对应的位置处，以能够使所述第二配合部与所述第一配合部连接。
6.根据权利要求5所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述指定路径沿所述立体螺旋线圈的螺旋方向延伸设置；或者，沿所述立体螺旋线圈的径向，且相对于水平面倾斜延伸设置。
7.根据权利要求2所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述线圈接地装置包括多个所述接地件和多个所述导电固定件，多个所述导电固定件位置可调节的连接于所述立体螺旋线圈的不同位置，每个所述接地件分别与对应的所述导电固定件电连接，以使所述立体螺旋线圈在不同位置同时接地。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述立体螺旋线圈为两个，两个所述立体螺旋线圈的各匝线圈一一对应地沿水平方向并排设置，并且两个所述立体螺旋线圈相对于所述介质腔体的轴向对称，且电流方向相同；各所述立体螺旋线圈的两端均与所述上射频源电连接；
其中一个所述立体螺旋线圈与对应的所述线圈接地装置的连接位置与另一个所述立体螺旋线圈与对应的所述线圈接地装置的连接位置相对于所述介质腔体的轴向对称，以使两个所述立体螺旋线圈在相对于所述介质腔体的轴向对称的位置接地。
9.根据权利要求8所述的半导体工艺设备，其特征在于，与每个所述立体螺旋线圈对应的所述线圈接地装置均包括接地件和导电固定件，所述导电固定件连接于所述立体螺旋线圈上，且所述导电固定件与所述立体螺旋线圈电导通；所述导电固定件上设置有第一配合部，且所述接地件上设置有第二配合部，所述第一配合部与所述第二配合部可拆卸地电连接；
两个所述立体螺旋线圈上对应的所述导电固定件均为多个，且数量相同，每个所述立体螺旋线圈上不同的所述导电固定件位于所述立体螺旋线圈两端之间的不同位置处，且其中一个所述立体螺旋线圈上各所述导电固定件的位置与另一个所述立体螺旋线圈上各所述导电固定件的位置一一对应地相对于所述介质腔体的轴向对称；
每个所述立体螺旋线圈上的所述接地件选择性地与多个所述导电固定件中的任意一者连接，且其中一个所述立体螺旋线圈上的所述接地件所连接的所述导电固定件与另一个所述立体螺旋线圈上的所述接地件所连接的所述导电固定件相对于所述介质腔体的轴向对称。
10.根据权利要求1-7任意一项所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述上射频源包括两个射频电源和两个匹配器；所述立体螺旋线圈的一端通过其中一个所述匹配器与其中一个所述射频电源连接，所述立体螺旋线圈的另一端通过另一个所述匹配器与另一个所述射频电源电连接；或者，
所述上射频源包括一个射频电源和一个匹配器，所述立体螺旋线圈的两端均通过所述匹配器与所述射频电源电连接。
11.根据权利要求10所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述立体螺旋线圈的各端和与之连接的所述匹配器之间的电路上均设置有可调电容。
12.根据权利要求10所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述上射频源包括一个射频电源和一个匹配器，所述立体螺旋线圈的两端均通过所述匹配器与所述射频电源电连接；
所述立体螺旋线圈的两端和分别与两端相邻的所述接地件之间的线圈段分别为第一线圈段和第二线圈段；
其中，所述第一线圈段通过线缆与所述匹配器电连接，所述第一线圈段和所述线缆的长度之和与所述第二线圈段的长度之间的差值的绝对值等于所述射频电源输出的射频信号的波长的二分之一；或者，
所述第二线圈段通过所述线缆与所述匹配器电连接，所述第二线圈段和所述线缆的长度之和与所述第一线圈段的长度之间的差值等于所述射频电源输出的射频信号的波长的二分之一。
13.根据权利要求10所述的半导体工艺设备，其特征在于，所述上射频源包括两个射频电源和两个匹配器；
所述立体螺旋线圈的一端通过其中一个所述匹配器与其中一个所述射频电源连接，所述立体螺旋线圈的另一端通过另一个所述匹配器与另一个所述射频电源电连接；
两个所述射频电源输出的射频信号的相位差等于所述射频信号的周期的二分之一。
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