CN114679830A - 一种拼接灯系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种拼接灯系统，拼接灯系统包括多个拼接灯单元以及控制组件，多个拼接灯单元以级联方式连接，第M级拼接灯单元的第一连接边与第M‑1级拼接灯单元的其中一个第二连接边对接，使得第M级拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端与第M‑1级拼接灯单元的第二连接边的信号输出端电连接，第M级拼接灯单元的第一连接边的返回信号输出端与第M‑1级拼接灯单元的第二连接边的信号输入端电连接。以解决现有技术中拼接灯的形状以及个体的连接关系不能直接确定的技术问题。

Description

一种拼接灯系统

技术领域

本发明涉及灯光控制技术领域，特别涉及一种拼接灯系统。

背景技术

现有技术中，拼接灯作为一种广泛应用于各种场合的氛围灯，由于其天然的可供造型以及灵活安装的特性，可灵活安装于各种场合，并可用于做各种造型。

但是，由于拼接灯是多个独立的灯体进行拼接后安装，因此其控制比较难，在安装完成后，用户必须借助于其他的传感器才能直达响应的拼接灯部位的安装位置，并需要借助处理器进行分析处理才能确定拼接完成后的图形，其确定过程非常麻烦。

发明内容

本发明的目的在于提供一种拼接灯系统，解决现有技术中拼接灯的形状以及个体的连接关系不能直接确定的技术问题。

为了实现上述目的，本发明提出一种拼接灯系统，所述拼接灯系统包括：

多个拼接灯单元，每一所述拼接灯单元包括一个第一连接边和N-1个第二连接边，所述拼接灯单元内设置有第一拼接灯工作电路，所述第一拼接灯工作电路包括：测试电路、位于所述第一连接边并与所述测试电路电连接的控制信号输入端和返回信号输出端、分别位于N-1个所述第二连接边并与所述测试电路电连接的N-1对信号输入端以及信号输出端；以及N-1个开关电路，任一所述开关电路与所述测试电路电连接并用于控制对应的一对所述信号输出端和信号输出端与所述测试电路的通断；

多个所述拼接灯单元以级联方式连接，第M级拼接灯单元的第一连接边与第M-1级拼接灯单元的其中一个所述第二连接边对接，使得第M级拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端与第M-1级拼接灯单元的第二连接边的信号输出端电连接，第M级拼接灯单元的第一连接边的返回信号输出端与第M-1级拼接灯单元的第二连接边的信号输入端电连接；

控制组件，与第一级拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端和返回信号输出端电连接，所述控制组件用于输出具有多个测试节数的测试信号，任一级拼接灯单元的测试电路提取接收到所述测试信号中的部分测试节数后将剩余测试信号传输至所述返回信号输出端或下一级拼接灯单元的测试电路，所述控制组件从所述返回信号输出端接收的剩余测试信号确定第一级拼接灯单元中所述第二连接边的连接情况；

其中，N以及M均为大于1的正整数。

可选地，任一所述拼接灯单元中的N-1个开关电路依次串联连接，所述开关电路包括：

受控端，与所述测试电路电连接，用于接收开关控制信号；

输入端，用于接收测试信号，以及，

输出端，用于输出测试信号；

其中，串联连接的第一个所述开关电路的受控端与所述测试电路电连接，输入端与测试电路电连接用于接收测试信号，输出端在所述开关控制信号的控制下与对应的信号输入端连接或与对应的信号输出端连接；

中间N-3个开关电路中的任一个开关电路的输入端与前一所述开关电路对应的信号输入端电连接，输出端在所述开关控制信号的控制下与自身对应的信号输入端或信号输出端连接；

末端的所述开关电路的输入端与前一所述开关电路对应的信号输入端电连接，输出端与所述返回信号输出端电连接。

可选地，任一所述拼接灯单元中的测试电路复用为灯光驱动电路。

可选地，任一所述拼接灯单元中的第一拼接灯工作电路还包括灯光驱动电路，所述灯光驱动电路与所述测试电路电连接。

可选地，所述测试信号中任一所述测试节数包括开关控制信号和灯光驱动信号。

可选地，所述控制组件设置于第一级拼接灯单元内。

可选地，所述测试电路包括D个测试芯片，所述测试芯片具有测试信号输入端以及测试信号输出端，D个所述测试芯片中还包括N-1个开关控制信号输出端；D个所述测试芯片还包括至少一个灯光控制信号输出端；

多个所述测试芯片依次级联，前一所述测试芯片的测试信号输出端与下一所述测试芯片的测试信号输入端连接，第一个所述测试芯片的测试信号输入端为所述测试电路的控制信号输入端，最后一个所述测试芯片的测试信号输出端为所述测试电路的返回信号输出端，所述第一测试电路的N-1个控制信号输出端设置于D个所述测试芯片中；

D为大于或等于1的正整数。

可选地，每一所述测试节数包括多个测试小节；

任一所述测试芯片，用于提取所述测试信号中的一个测试小节，根据所述测试小节确定开关控制信号以及灯光控制信号中的任意一个或多个，还用于将提取了一个测试字节的测试信号输出至下一测试芯片；

所述测试小节包括所述第一开关电路的控制信号以及所述灯光控制信号；或，

所述测试小节包括所述第一开关电路的控制信号；或，

所述测试小节包括所述灯光控制信号。

可选地，所述测试信号的测试节数的数量大于或等于M+1。

可选地，所述控制组件还用于执行以下控制方法：

步骤1：对每一所述拼接灯单元的第一连接边以及N-1个进行编码；

步骤2：对于第M级的所述拼接灯单元；

步骤3：控制每一所述拼接灯单元中的N-1个所述第一开关电路通断以使第M-1级的所述拼接灯单元的第一预设编码的第二连接边的第一信号输出端与第M级的所述拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端，并使第M-1级的所述拼接灯单元的第一预设编码的第二连接边的第一信号输入端与第M级的所述拼接灯单元的第一连接边的返回信号输入端；

步骤4：多次重复执行步骤3直至遍历每一拼接灯单元的第一连接边以及N-1个第二连接边，根据每一次返回的剩余测试信号的测试节数确定第一级拼接灯单元中的第二连接边的连接情况。

本发明基于一个第一连接边和N-1个第二连接边的多个拼接灯单元以及控制组件，通过所述控制组件输出多个具有多个测试节数的测试信号，任一级拼接灯单元的测试电路提取接收到所述测试信号中的部分测试节数后将剩余测试信号传输至所述返回信号输出端或下一级拼接灯单元的测试电路，所述控制组件从所述返回信号输出端接收的剩余测试信号确定第一级拼接灯单元中所述第二连接边的连接情况，根据所述通路关系以及N的取值确定测试灯系统的形状。通过上述方案，可以准确判定每一级拼接灯单元的N-1个第二连接边是否存在下一级拼接灯单元的第一连接边与之连接，并且由于此时的拼接灯单元的连接边数量等同，因此可以根据通路关系以及N的取值准确确定测试灯系统的形状，从而解决现有技术中拼接灯的形状以及个体的连接关系不能直接确定的技术问题。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明；

图1为一个实施例中拼接灯系统的模块示意图。

图2为一个实施例中拼接灯系统的测试信号示意图。

图3为一个实施例中拼接灯系统的部分电路示意图。

图4为一个实施例中拼接灯系统的部分电路示意图。

图5为一个实施例中拼接灯系统的一实施例的电路示意图。

图6为一个实施例中拼接灯系统的结构示意图。

具体实施方式

本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。

为了解决现有技术中拼接灯的形状以及个体的连接关系不能直接确定，本发明提出一种拼接灯系统以及装置、存储介质及电子设备。

在一实施例中，如图1、图3以及图6所示，一种拼接灯系统，拼接灯系统包括多个拼接灯单元20以及控制组件10，每一所述拼接灯单元20包括一个第一连接边和N-1个第二连接边，所述拼接灯单元20内设置有第一拼接灯工作电路，所述第一拼接灯工作电路包括：测试电路2013、位于所述第一连接边并与所述测试电路2013电连接的控制信号输入端2011和返回信号输出端2012、分别位于N-1个所述第二连接边并与所述测试电路2013电连接的N-1对信号输入端O2以及信号输出端O1；以及N-1个开关电路2014，任一所述开关电路2014与所述测试电路2013电连接并用于控制对应的一对所述信号输出端O1和信号输出端O1与所述测试电路2013的通断；多个所述拼接灯单元20以级联方式连接，第M级拼接灯单元20的第一连接边与第M-1级拼接灯单元20的其中一个所述第二连接边对接，使得第M级拼接灯单元20的第一连接边的控制信号输入端2011与第M-1级拼接灯单元20的第二连接边的信号输出端O1电连接，第M级拼接灯单元20的第一连接边的返回信号输出端2012与第M-1级拼接灯单元20的第二连接边的信号输入端O2电连接。控制组件，与第一级拼接灯单元20的第一连接边的控制信号输入端2011和返回信号输出端2012电连接。

其中，控制组件用于输出具有多个测试节数的测试信号，任一级拼接灯单元20的测试电路2013提取接收到所述测试信号中的部分测试节数后将剩余测试信号传输至所述返回信号输出端2012或下一级拼接灯单元20的测试电路2013，所述控制组件从所述返回信号输出端2012接收的剩余测试信号确定第一级拼接灯单元20中所述第二连接边的连接情况。其中，N以及M均为大于1的正整数。

在上述方案中，此时的拼接灯单元20的连接边数量等同，因此，在根据剩余的测试信号准确判定每一级拼接灯单元20的N-1个第二连接边是否存在下一级拼接灯单元20的第一连接边与之连接之后，从而根据所述通路关系以及N的取值确定测试灯系统的形状，从而解决现有技术中拼接灯的形状以及个体的连接关系不能直接确定的技术问题。

可选地，所述测试信号中任一所述测试节数包括开关控制信号和灯光驱动信号。

在一实施例中，任一所述拼接灯单元20中的N-1个开关电路2014依次串联连接，所述开关电路2014包括：

受控端，与所述测试电路2013电连接，用于接收开关控制信号；

输入端1，用于接收测试信号，以及，

输出端，用于输出测试信号；

其中，串联连接的第一个所述开关电路2014的受控端与所述测试电路2013电连接，输入端与测试电路2013电连接用于接收测试信号，输出端在所述开关控制信号的控制下与对应的信号输入端O2连接或与对应的信号输出端O1连接；

中间N-3个开关电路2014中的任一个开关电路2014的输入端与前一所述开关电路2014对应的信号输入端O2电连接，输出端在所述开关控制信号的控制下与自身对应的信号输入端O2或信号输出端O1连接；

末端的所述开关电路2014的输入端与前一所述开关电路2014对应的信号输入端O2电连接，输出端与所述返回信号输出端2012电连接。

其中，测试电路2013获取多个具有多个测试节数的测试信号，依据所需测试节数对所述具有多个测试节数的测试信号进行测试节数提取并输出提取后的所述测试信号；N-1个所述开关电路2014根据所述测试信号导通或者关断，以使提取后的所述测试信号通过拼接灯单元20的任一第二连接边的信号输出端O1输出，并通过对应的第二连接边的信号输入端O2返回剩余测试信号至所述返回信号输出端2012。

基于上述测试流程，所述控制组件10输出多个具有多个测试节数的测试信号，在一个测试周期，仅对拼接灯单元20的某一第二连接边的连接关系进行测试，从而可以确定对应边是否存在其他拼接灯单元20的连接关系，并依据通路测定所连接的其他组件的连接关系，此时，在每一测试周期均能从所述控制组件10的返回信号输入端O2接收一个剩余测试信号，依次遍历多个测试周期获取多个剩余测试信号，并根据多个所述剩余测试信号确定所述拼接灯单元20的每一连接边与其余拼接灯单元20的每一连接边边的通路关系，根据所述通路关系以及N的取值确定测试灯系统的形状。通过上述过程，可以准确测定最后的测试灯系统的形状。

以下例举一实施例说明在测试任一连接边的时候说明N-1个开关电路2014的工作状态，以N为3为例，参考图3所示，将第一连接边编码为1，2个第二连接边分别编码为2和3，在对第二连接边3进行测试时，第二连接边3对应的开关K2的输出端1连接至与信号输出端O1被导通，第二连接边2对应的开关K1的输出端1与信号输入端O2被导通形成导通线路，从而测试信号可以直接流经支路开关K1不被提取，也即避开第二连接边2对下一连接边3进行测试，因此，此时的测试信号仅仅测试第二连接边3所连接的第二组件的数量以及连接情况。

在对第二连接边2进行测试时，第二连接边2对应的开关K1的输入端1与信号输出端O1被导通，第二连接边3对应的开关K2的输入端1与信号输入端O2被导通形成导通线路，从而测试信号可以直接流经支路开关K2不被提取，也即第二连接边2剩余的测试信号直接经由开关K2形成的导线通路返回至返回信号输出端2012，因此，此时的测试信号仅仅测试第二连接边2所连接的拼接灯单元20的数量以及连接情况。

在一实施例中，所述控制组件设置于所述第一级拼接灯单元20中内或设于所述第一级拼接灯单元20中之外，从而可以方便集成以及生产使用，且能方便安装和设计，避免电路的裸露以及另外设置。实现美观以及整体安装的要求。

可选地，开关可以选用多种类型的控制开关，仅需要控制开关能经由高低电平信号控制即可。

可选地，测试信号的测试节数的数量大于或等于N+1。

当测试信号的测试节数的数量大于或等于N+1可以保证不会出现漏测的情况，保证检测结果的准确性和完整性。

在一实施例中，所述测试电路2013包括D个测试芯片，所述测试芯片具有测试信号输入端O2以及测试信号输出端O1，D个所述测试芯片中还包括N-1个开关控制信号输出端O1；D个所述测试芯片还包括至少一个灯光控制信号输出端O1；

多个所述测试芯片依次级联，前一所述测试芯片的测试信号输出端O1与下一所述测试芯片的测试信号输入端O2连接，第一个所述测试芯片的测试信号输入端O2为所述测试电路2013的控制信号输入端2011，最后一个所述测试芯片的测试信号输出端O1为所述测试电路2013的返回信号输出端2012，所述第一测试电路2013的N-1个控制信号输出端O1设置于D个所述测试芯片中；

D为大于或等于1的正整数。

其中，任一所述测试芯片，用于提取所述测试信号中的一个测试小节，根据所述测试小节确定开关控制信号以及灯光控制信号中的任意一个或多个，还用于将提取了一个测试小节的测试信号输出，根据所述测试小节中所包含测试信号确定开关控制信号和/或灯光控制信号，并根据所述灯光控制信号控制灯管的工作和/或根据所述开关控制信号控制开关的工作，还用于将提取了一个测试信号的剩余测试信号输出；所述开关根据所述开关控制信号工作。通过上述实施例，可以在当前连接边的信号输入端O2有输入时，确定当前所在的拼接灯单元20的连接边有连接，并可以根据返回的剩余测试信号的长度确定对应边的连接数量，由于测试顺序是依次测试，所以可以根据返回信号依次判断哪个边有连接到下一级拼接灯单元20的哪个连接边，由于此时的连接边的数量已经固定，所以可以通过上述具体边之间的连接关系快速确定测试灯系统的形状，通过上述过程，可以经过简单的分析就可以确定每一组件之间的相互连接关系，而不用再行建模或者经由其他检测或者计算就可以确定，大大节约了其测试时间。

需要说明的是，D个所述测试芯片中的N-1个开关控制信号输出端O1与N-1个所述开关的受控端一对一连接中，N-1个开关控制信号输出端O1可以设置在一个测试芯片中，也可以设置在多个测试芯片中，将总的数量控制为N-1个即可，此时，测试信号只需要在对应的测试节数中将灯光控制信号用开关控制信号替换即可。D为大于或等于1的正整数。

在一实施例中，参考图2所示，可选地，若每一所述测试节数的字节数为m，则测试信号字节数大于或等于N+1与m的乘积。测试节数包括多个测试小节。也即与测试芯片数量对应的D个测试小节。

需要说明的是，上述测试字节数需要根据测试芯片的性能进行测试，若需要实现更多开关的控制，则可以将灯光控制信号改为开关控制信号，仅仅需要改变硬件连接关系以及灯光控制信号的类型即可实现。例如，在本申请中，参考图2所示，测试芯片为WS2811时，其每一所述测试小节D的字节数为24bit，当D为3时，此时D3输出的剩余字节数就减少了3*24，具体参见图2，此时测试信号的字节数最少为72bit，由于此时存在多位，可以选用多种类型的控制信号。通过上述过程，将原本型号为WS2811的灯光控制信号复用为测试芯片，不用额外增加控制芯片就可以实现开关的控制以及灯光的控制实现复用，从而可以基于现有的测试电路2013进行小幅度改进，再搭载本申请的测试方案，实现了快速且准确的测试灯系统的形状，而无需借助其他传感器或者人工进行形状的确定。以方便系统的确定形状后的后续智能驱动，实现拼接灯系统安装时形状变换后时的智能驱动。

可选地，所述测试信号中任一所述测试节数包括开关控制信号和灯光驱动信号。

在上述实施例中，测试节中可以包括至少一个灯管的灯光驱动信号和/或至少一个开关的开关控制信号。因此，一个芯片可以控制至少一个灯管或者至少一个开关。也可以是两者均可控制，从而实现多样化测试信号的设置。

可选地，任一所述拼接灯单元20中的测试电路2013复用为灯光驱动电路。

其具体实现过程以测试芯片的型号为WS2811为例进行说明：

本申请在此测试芯片的基础上，创造性的将其提取控制信号以单独控制多路灯管的特性加以复用，从而可以通过提取控制信号以将其分流为开关控制信号以及灯光控制信号以及下一第二组件的测试信号。从而可以通过较便宜稳定的芯片实现对测试灯系统的形状的确定，降低测试灯系统的硬件成本。因此，测试电路2013还可以实现灯光驱动的功能，也即可以复用为灯光驱动电路。

可选地，所述测试信号中任一所述测试节数包括开关控制信号和灯光驱动信号。

可选地，任一所述拼接灯单元20中的第一拼接灯工作电路还包括灯光驱动电路，所述灯光驱动电路与所述测试电路2013电连接。

可选地，所述拼接灯单元20还包括灯管，所述测试芯片还包括灯光控制信号输出端O1，所述测试芯片的灯光控制信号输出端O1与灯管连接；其中，所述灯管根据所述灯光控制信号工作。

可选地，在测试信号的一测试小节中，包括开关控制信号。

可选地，在测试信号的一测试小节中，包括灯光控制信号以及开关控制信号。

可选地，在测试信号的一测试小节中，包括灯光控制信号。

可选地，当所述第一组件10的任意一个信号输出端O1可输出测试信号时，所述控制组件未接收到测试信号的返回信号，则确定所述第一组件的当前信号端并未连接其他第二组件20。

可选地，所述控制组件10为灯光控制器。

可选地，所述控制组件还用于执行以下控制方法：

步骤1：对每一所述拼接灯单元20的第一连接边以及N-1个进行编码；

步骤2：对于第M级的所述拼接灯单元20；

步骤3：控制每一所述拼接灯单元20中的N-1个所述第一开关电路2014通断以使第M-1级的所述拼接灯单元20的第一预设编码的第二连接边的第一信号输出端O1与第M级的所述拼接灯单元20的第一连接边的控制信号输入端2011，并使第M-1级的所述拼接灯单元20的第一预设编码的第二连接边的第一信号输入端O2与第M级的所述拼接灯单元20的第一连接边的返回信号输入端O2；

步骤4：多次重复执行步骤3直至遍历每一拼接灯单元20的第一连接边以及N-1个第二连接边，根据每一次返回的剩余测试信号的测试节数确定第一级拼接灯单元20中的第二连接边的连接情况。

基于上述实施例，以下例举实施例说明本发明的工作过程：

如图4所示，以N为3为例；将拼接灯单元20的连接边分别记为第一连接边1、第二连接边2以及第二连接边3。

假设拼接灯单元20的数量为5个，将第1级的1个拼接灯单元20记为A，其他分别将其记为B、C、D、E，

在一测试刷新周期中，测试信号的测试节数为5，依次经过A2B2C2，返回两个测试字节的测试信号，由此确定第一组件的第二连接边连接有两个第二组件。然后再给出一测试信号，依次经过A2B3，未返回测试信号，则第二组件B的第三连接边3未连接其余组件，依次类推，根据每次返回的剩余测试信号则可以准确确定每一组件的每一连接边的连接情况。

依次遍历多个测试刷新周期以获取多个返回信号，并根据多个所述返回信号确定所述拼接灯单元20的每一连接边与其他拼接灯单元20的每一连接边的连接关系，根据所述连接关系以及N的取值确定测试灯系统的形状。

其中，以连接边的数量为三，即拼接灯单元20为三边形说明上述实施例的工作原理，参照图3、图3以及图5所示，此时N＝2；连接边分别编号记为第一连接边1，第二连接边2以及第二连接边3，开关记为开关K1和开关K2，在拼接灯单元20中，在测试第二连接边2时，第二连接边2对应的开关K1的信号输出端O1被导通，第三连接边对应的开关K2的信号输入端O2被导通，因此，此时的测试信号仅仅测试第二连接边所连接的第二组件30的数量以及连接情况。

在测试第二连接边3时，第二连接边3对应的开关K2的信号输出端O1被导通，第二连接边2对应的开关K1的信号输入端O2被导通，因此，此时的测试信号仅仅测试第三连接所连接的第二组件的数量以及连接情况。

此时，由于拼接灯单元20的结构等同，也即电路结构以及连接关系等同，因此，可以根据测试信号的节数确定任意任一拼接灯单元20中级联的测试芯片的数量，同时根据开关的导通时序，可以确定拼接灯单元20连接的哪一连接边，通过每一测试一连接边的连接数量，最后将情况汇总，即可准确确定最后的测试灯系统的形状。可选地，当所述拼接灯单元20的任意一个信号输出端O1可输出测试信号时，所述控制组件接收到对应测试信号的剩余测试信号，根据所述剩余测试信号确定所述拼接灯单元20的当前信号输出端O1所连接的组件数量。通过编号，可以避免在测试时错过测试某一通路，保证检测的准确性。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

Claims (10)

1.一种拼接灯系统，其特征在于，所述拼接灯系统包括：

多个拼接灯单元，每一所述拼接灯单元包括一个第一连接边和N-1个第二连接边，所述拼接灯单元内设置有第一拼接灯工作电路，所述第一拼接灯工作电路包括：测试电路、位于所述第一连接边并与所述测试电路电连接的控制信号输入端和返回信号输出端、分别位于N-1个所述第二连接边并与所述测试电路电连接的N-1对信号输入端以及信号输出端；以及N-1个开关电路，任一所述开关电路与所述测试电路电连接并用于控制对应的一对所述信号输出端和信号输入端与所述测试电路的通断；

多个所述拼接灯单元以级联方式连接，第M级拼接灯单元的第一连接边与第M-1级拼接灯单元的其中一个所述第二连接边对接，使得第M级拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端与第M-1级拼接灯单元的第二连接边的信号输出端电连接，第M级拼接灯单元的第一连接边的返回信号输出端与第M-1级拼接灯单元的第二连接边的信号输入端电连接；

控制组件，与第一级拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端和返回信号输出端电连接，所述控制组件用于输出具有多个测试节数的测试信号，任一级拼接灯单元的测试电路提取接收到所述测试信号中的部分测试节数后将剩余测试信号传输至所述返回信号输出端或下一级拼接灯单元的测试电路，所述控制组件从所述返回信号输出端接收的剩余测试信号确定第一级拼接灯单元中所述第二连接边的连接情况；

其中，N以及M均为大于1的正整数。

2.如权利要求1所述的拼接灯系统，其特征在于，任一所述拼接灯单元中的N-1个开关电路依次串联连接，所述开关电路包括：

受控端，与所述测试电路电连接，用于接收开关控制信号；

输入端，用于接收测试信号，以及，

输出端，用于输出测试信号；

其中，串联连接的第一个所述开关电路的受控端与所述测试电路电连接，输入端与测试电路电连接用于接收测试信号，输出端在所述开关控制信号的控制下与对应的信号输入端连接或与对应的信号输出端连接；

中间N-3个开关电路中的任一个开关电路的输入端与前一所述开关电路对应的信号输入端电连接，输出端在所述开关控制信号的控制下与自身对应的信号输入端或信号输出端连接；

末端的所述开关电路的输入端与前一所述开关电路对应的信号输入端电连接，输出端与所述返回信号输出端电连接。

3.如权利要求2所述的拼接灯系统，其特征在于，任一所述拼接灯单元中的测试电路复用为灯光驱动电路。

4.如权利要求2所述的拼接灯系统，其特征在于，任一所述拼接灯单元中的第一拼接灯工作电路还包括灯光驱动电路，所述灯光驱动电路与所述测试电路电连接。

5.如权利要求3或4所述的拼接灯系统，其特征在于，所述测试信号中任一所述测试节数包括开关控制信号和灯光驱动信号。

6.如权利要求1所述的拼接灯系统，其特征在于，所述控制组件设置于第一级拼接灯单元内。

7.如权利要求1所述的拼接灯系统，其特征在于，所述测试电路包括D个测试芯片，所述测试芯片具有测试信号输入端以及测试信号输出端，D个所述测试芯片中还包括N-1个开关控制信号输出端；D个所述测试芯片还包括至少一个灯光控制信号输出端；

多个所述测试芯片依次级联，前一所述测试芯片的测试信号输出端与下一所述测试芯片的测试信号输入端连接，第一个所述测试芯片的测试信号输入端为所述测试电路的控制信号输入端，最后一个所述测试芯片的测试信号输出端为所述测试电路的返回信号输出端，所述第一测试电路的N-1个控制信号输出端设置于D个所述测试芯片中；

D为大于或等于1的正整数。

8.如权利要求7所述的拼接灯系统，其特征在于，每一所述测试节数包括多个测试小节；

任一所述测试芯片，用于提取所述测试信号中的一个测试小节，根据所述测试小节确定开关控制信号以及灯光控制信号中的任意一个或多个，还用于将提取了一个测试字节的测试信号输出至下一测试芯片；

所述测试小节包括所述第一开关电路的控制信号以及所述灯光控制信号；或，

所述测试小节包括所述第一开关电路的控制信号；或，

所述测试小节包括所述灯光控制信号。

9.如权利要求1所述的拼接灯系统，其特征在于，所述测试信号的测试节数的数量大于或等于M+1。

10.如权利要求1-9任一项所述的拼接灯系统，其特征在于，所述控制组件还用于执行以下控制方法：

步骤1：对每一所述拼接灯单元的第一连接边以及N-1个进行编码；

步骤2：对于第M级的所述拼接灯单元；

步骤3：控制每一所述拼接灯单元中的N-1个所述第一开关电路通断以使第M-1级的所述拼接灯单元的第一预设编码的第二连接边的第一信号输出端与第M级的所述拼接灯单元的第一连接边的控制信号输入端，并使第M-1级的所述拼接灯单元的第一预设编码的第二连接边的第一信号输入端与第M级的所述拼接灯单元的第一连接边的返回信号输入端；

步骤4：多次重复执行步骤3直至遍历每一拼接灯单元的第一连接边以及N-1个第二连接边，根据每一次返回的剩余测试信号的测试节数确定第一级拼接灯单元中的第二连接边的连接情况。

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