CN114679775B

CN114679775B - 内环功率控制性能优化方法及装置

Info

Publication number: CN114679775B
Application number: CN202210382793.2A
Authority: CN
Inventors: 武娜娜
Original assignee: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd
Current assignee: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd
Priority date: 2022-04-08
Filing date: 2022-04-08
Publication date: 2024-02-20
Anticipated expiration: 2042-04-08
Also published as: CN114679775A

Abstract

本申请公开一种内环功率控制性能优化方法及装置，该方法包括：确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下切换点功率对应的发射增益；选择一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式；固定确定的发射增益，在基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系，以及在待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系；根据述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定待调整模式PA的工作参数。本申请方案可以快速准确定位PA最佳工作参数，降低ILPC在切换点失败的概率，优化ILPC性能。

Description

内环功率控制性能优化方法及装置

技术领域

本申请涉及通信技术领域，具体涉及一种内环功率控制性能优化方法及装置。

背景技术

ILPC(Inner Loop Power Control，内环功率控制)的目的是为了让发射机以对应于当前无线环境最小的功率来获得可接受的通话需求，从而最大限度地减少干扰。ILPC的工作过程如下：基站通过检测接收信号的SIR(signal to interference radio，信干比)，并将接收SIR与目标SIR进行比较，如果接收SIR大于目标SIR，则向相应终端发送功率控制指令，指示终端降低发射功率；反之，指示终端提高发射功率。相应地，终端根据基站的指示对发射功率进行功率调整。

在WCDMA(Wideband Code Division Multiple Access，宽带码分多址)系统中，终端所使用的线性功率放大器通常包含两个或三个功率模式，不同的功率模式下，PA(PowerAmplifier，功率放大器)具有不同的增益，不同功率模式可通过一定的逻辑控制信号来进行切换。但是现有的终端设备的射频前端对于内环功控在PA模式切换点位置的功率跳变，经常会存在功率调控失败的问题。针对该问题，通常有以下两种解决方案：

(1)手动调整PA的BIAS(PA的偏置设置)和VCC(PA的供电电压)，观察内环功控的改善情况，重复多次直至满足要求。这种方法有一定盲目性，基本上是在供应商推荐值附近盲调，非常依赖操作者的经验和对PA性能的了解，且反复迭代导致优化效率偏低。

(2)针对PA不同模式分别进行功率补偿，可消除不同模式切换点上功率跳变导致的fail。但这种方法受制于硬件性能的具体情况，有时无法解决上述问题。

发明内容

本申请实施例提供一种内环功率控制性能优化方法及装置，以快速准确定位PA最佳工作参数，降低ILPC在切换点失败的概率，优化ILPC性能。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供如下技术方案：

一方面，本申请实施例提供一种内环功率控制性能优化方法，所述方法包括：

确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；

分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率对应的发射增益；

选择所述第一工作模式和第二工作模式中的一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式；

固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系；

固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系；

根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数。

可选地，所述分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益包括：通过预扫描分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益。

可选地，所述固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系包括：固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系。

可选地，所述固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系：固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下依次扫描多个不同的工作参数，测量每个工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系。

可选地，所述根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数包括：

根据所述PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系生成一条基准曲线；

根据所述PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系生成多条参考曲线，每条参考曲线对应一个特定的工作参数；

确定所述参考曲线与所述基准曲线最近的点，并将该点所在参考曲线对应的工作参数作为所述待调整模式PA的工作参数。

另一方面，本申请实施例还提供一种内环功率控制性能优化装置，所述装置包括：

切换点确定模块，用于确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；

发射增益确定模块，用于分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率对应的发射增益；

选择模块，用于选择第一工作模式和第二工作模式中的一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式；

测量模块，用于固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系；以及固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系；

优化处理模块，用于根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数。

可选地，所述发射增益确定模块，具体用于通过预扫描分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益。

可选地，所述测量模块通过固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系。

可选地，所述测量模块通过固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下依次扫描多个不同的工作参数，测量每个工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系。

可选地，所述优化处理模块包括：

曲线生成单元，用于根据所述PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系生成一条基准曲线；根据所述PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系生成多条参考曲线，每条参考曲线对应一个特定的工作参数；

选择单元，用于确定所述参考曲线与所述基准曲线最近的点，并将该点所在参考曲线对应的工作参数作为所述待调整模式PA的工作参数。

另一方面，本申请实施例还提供一种终端设备，所述终端设备包括前面所述的内环功率控制性能优化装置。

另一方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时使得前面所述方法被执行。

另一方面，本申请实施例还提供一种内环功率控制性能优化装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时使得前面所述方法被执行。

本申请实施例提供的内环功率控制性能优化方法及装置，通过确定切换点功率的发射增益，然后通过简单的非信令自动测试，快速准确定位PA不同工作模式下的最优工作参数配置，进而可以根据该最优工作参数设置或调整PA的工作参数，使得终端在切换前后的两种工作模式下PA功率变化受温度影响尽可能一致，从而使ILPC性能得到优化，降低ILPC在切换点失败的概率。

附图说明

图1是本申请实施例内环功率控制性能优化方法的一种流程图；

图2是本申请实施例中在不同PA工作参数下功率与温度变化关系示意图；

图3是本申请实施例内环功率控制性能优化装置的一种结构示意图。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施例做详细的说明。

在内环功率控制中，基站侧接收到终端发射信号，基站评估信号质量后给出终端提高还是降低发射功率的命令。在测试时，仪表会连续发送提高或降低发射功率的指令，例如仪表下发+1db，终端会做出响应，上调功率。

终端不同的发射功率使用PA不同工作模式，例如PA mid mode(中功率模式)对应功率：17～0dbm，low mode(低功率模式)对应2～-40dbm。由于PA不同工作模式的性能是有差异的，尤其是温度响应，而测试时PA工作会发热，所有切换点的功率控制会高概率失败。比如，终端发射1dbm时PA工作模式是mid mode，发射0dbm时PA工作模式切换到low mode，那么在0dbm就是PA工作模式切换点。由于切换了一种工作模式，PA在low mode工作模式下受温度的影响和PA在mid mode工作模式下受温度的影响可能是不一样的，因此这个功率点即0dbm，就很容易出现功率调控失败的问题。所谓功率调控失败是指功率调控超过协议标准规定的门限，比如功率调控超过协议标准±0.6dbm，则认为功率控制失败。

WCDMA终端PA工作模式通常有三种，即：high mode(高功率模式)、mid mode、lowmode，不同工作模式对应不同的功率分段，而PA不同工作模式对温度的响应是有差异的，因此ILPC高概率失败的位置通常是在PA工作模式的切换点。如果准确定位PA的最佳工作参数，则可以有效降低ILPC在切换点失败的概率。为此，本申请实施例提供一种内环功率控制性能优化方法及装置，针对PA不同工作模式切换时，在切换点功率容易出现功率调控失败的问题，通过确定切换点功率的发射增益，然后固定所述发射增益，分别测量确定PA在需要切换的这两种不同工作模式下各自的功率与温度变化的关系。根据测量结果可以找到两种不同工作模式下受温度影响相同的功率响应，以此来确定PA对应的工作参数，进而调整PA的工作参数设置，优化ILPC性能。

如图1所示，是本申请实施例内环功率控制性能优化方法的一种流程图。该方法包括以下步骤：

首先，在步骤101，确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率。

不同工作模式对应不同的功率分段，内环功控测试范围包含所有功率点，因此在对终端进行测试时，会涉及到PA不同工作模式的切换。而且，终端在实际使用中，随着周围环境的变化，也会发生PA不同工作模式的切换。

比如，终端发射1dbm时PA工作模式是mid mode，发射0dbm时PA工作模式切换到lowmode，那么0dbm就是PA工作模式切换点功率。为了便于描述，将切换前的工作模式称为第一工作模式，切换后的工作模式称为第二工作模式。

需要说明的是，PA不同工作模式的切换点功率基本是在两个模式对应的功率重叠区。比如，第一工作模式对应的功率范围为[17dbm，0dbm]，第二工作模式对应的功率范围为[2dbm，-40dbm]，那么不论功控是从大功率测到小功率，即从第一工作模式切换到第二工作模式，还是功控从小功率测到大功率，即从第二工作模式切换到第一工作模式，切换点都是在[3dbm，-1dbm]之间。但由第一工作模式切换到第二工作模式的切换点功率和由第二工作模式切换到第一工作模式的具体切换点功率有时是不同的。

内环功控测试范围包含所有功率点，因此对于上述三种不同工作模式，需要确定的切换点功率有以下几种情况：

low mode切换到mid mode，mid mode切换到highmode；

highmode切换到mid mode，mid mode切换到low mode。

在具体应用中，所述切换点功率可以根据终端设备厂商推荐的设置参数来确定。

步骤102，分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率对应的发射增益。

在本申请实施例中，可以通过预扫描分别确定PA第一工作模式下和第二工作模式下所述切换点功率对应的发射增益。所述发射增益是指gainword(增益字)。

在预扫描过程中，PA的工作参数按照终端设备厂商推荐值设置，射频模块设置不同的gainword(增益字)测试发射功率，当发射功率为所述切换点功率左右时，记录此时的gainword。

需要说明的是，扫描过程中只改变gainword，也就是说，对不同的gainword进行扫描，而保持其它参数不变。

步骤103，选择第一工作模式和第二工作模式中的一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式。

需要说明的是，在测试时，如果第一工作模式PA的工作参数已经做了测试优化，可以优先选择第一工作模式作为基准模式，优化第二工作模式PA的工作参数来匹配第一工作模式，使第二工作模式下PA受温度影响的功率响应与第一工作模式下PA受温度影响的功率响应相同。如果两种工作模式PA的工作参数都未进行测试优化，则可以任意选择其中一种工作模式作为基准模式，使两种不同工作模式下PA受温度影响的功率响应相同。

步骤104，固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系。

具体地，固定上面步骤102中确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率P_l,n、P’_l,n，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系，比如，可以计算两个功率P_l,n、P’_l,n的差值δ_1,n，建立该差值δ_1,n与设定的工作参数的关系曲线。

步骤105，固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系。

步骤105的具体测量方式与步骤104相同，只是固定上面步骤102中确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下依次扫描多个不同的工作参数，测量每个工作参数下对应不同温度的功率P_m,n、P'_m,n，并根据测量值确定PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系。

在本申请实施例中，PA的工作参数可以包括VCC和BIAS。

其中，多个不同的VCC和BIAS可以根据终端设备厂商提供的对应所述切换点功率的推荐值来确定。在分别选定VCC和BIAS的范围后，对应每一个VCC和BIAS的组合，都需要在该VCC和BIAS组合下，测量对应不同温度的功率P_m,n、P'_m,n。相应地，可以计算这两个功率P_m,n、P'_m,n的差值δ_m,n，建立该差值δ_m,n与该VCC和BIAS组合的关系曲线，从而得到多条各自对应不同VCC和BIAS组合下的功率变化与设定的VCC和BIAS的关系曲线。需要说明的是，所述关系曲线实质上是一些测试及计算得到的离散点，为了便于描述，将这些离散点描述的对应关系称为关系曲线。

需要说明的是，上述步骤104和步骤105测试的主要目的是为了找到对应切换点功率最优的BAIS和VCC配置，使得两相邻的工作模式在温度发生变化的情况下PA的增益变化基本一致。PA在不同温度下增益等性能有差异是正常的，因此在不同温度下相同配置发射功率不同是正常的，因此只需要保证PA的不同工作模式受温度的影响基本一致。

另外需要说明的是，上述步骤104和步骤105并没有时间先后的顺序关系，也就是说，也可以先执行步骤105，再执行步骤104。

PA的每个工作模式都可以设置该工作模式的VCC和BIAS，不同工作模式的VCC和BIAS可以是不同的，因此两种不同工作模式可以分别确定各自的VCC和BIAS，若有一个工作模式的VCC和BIAS已经确定，则只需要优化另一个工作模式的VCC和BIAS，因此可根据实际情况进行测试扫描，通常情况下只需要扫描一个工作模式来匹配另一个工作模式，也可以都扫描进行匹配。PA不同的工作模式会分别对应不同的功率分段，因此每个模式确定的VCC和BIAS会对应一段功率。

步骤106，根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数。

比如，ILPC测试时，发送指令TPC＝-1db，即发射功率从大到小1db递减，PA从第一工作模式切到第二工作模式时功控失败。为简化描述，假设PA第一工作模式已经确认了工作参数，下面主要说明如何测试得到PA第二工作模式下不同BAIS和VCC时功率随不同温度的变化关系。

如图2中所示，纵坐标δ_power(LT-HT)表示低温(LT)下功率和高温(HT)下功率的差值；横坐标N_(BIAS,VCC)表示N种不同的BIAS(2个取值,序号1、2)和VCC(11个取值,序号1、2…10、11)组合，共22种排列组合(1,1),(1,2),(1,3),…(1,11),(2,1),…(2,11)。

在PA第二工作模式下，首先取第一组BAIS和VCC参数(1,1)，可以在温箱中分别测试高温和低温下的功率，低温下测得功率减去高温测得功率，即是该组参数下功率随不同温度的变化值δ_1(LT-HT)。同理可以测得如图中下方所示的PA在第二工作模式时不同BAIS和VCC参数下，功率随不同温度的变化值δ_power(LT-HT)。再结合PA第一工作模式，已假设PA第一工作模式已固定BIAS和VCC参数无法修改，用如上方法可以测得PA第一工作模式下该BIAS和VCC参数下功率在不同温度下的功率值，并计算两者的差值。因此需要找到第二工作模式下功率差值和第一工作模式下的功率差值最接近的一组配置，即图2中两组关系曲线的交点，对应第二工作模式的第20组配置。进而可以将第二工作模式的PA的BIAS和VCC设置或调整为第20组对应的BIAS和VCC。这样，在PA由第一工作模式切换到第二工作模式时，由于调整后的PA工作参数(即BIAS和VCC)可以使得PA第二工作模式下由于温度变化而引起的PA功率变化特性与PA第一工作模式下由于温度变化而引起的PA功率变化特性一致，因此可以大大降低ILPC在切换点失败的概率。

本申请实施例提供的内环功率控制性能优化方法，通过确定切换点功率的发射增益，然后通过简单的非信令自动测试，快速准确定位PA不同工作模式下的最优工作参数配置，进而可以根据该最优工作参数设置或调整PA的工作参数，使得终端在切换前后的两种工作模式下PA功率变化受温度影响尽可能一致，从而使ILPC性能得到优化，降低ILPC在切换点失败的概率。

相应地，本申请实施例还提供一种内环功率控制性能优化装置，如图3所示，是本申请实施例内环功率控制性能优化装置的一种结构示意图。

该内环功率控制性能优化装置300包括以下模块：

切换点确定模块301，用于确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；

发射增益确定模块302，用于分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益；比如，可以通过预扫描确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益；

选择模块303，用于选择第一工作模式和第二工作模式中的一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式；

测量模块304，用于定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系；以及固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系；

优化处理模块305，用于根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数。

所述优化处理模块305具体可以包括以下各单元：

关于上述内环功率控制性能优化装置200的工作原理、工作方式的更多内容，可以参照图1及其对应实施例的相关描述，在此不再赘述。

本申请实施例提供的内环功率控制性能优化装置，通过确定切换点功率的发射增益，然后通过简单的非信令自动测试，快速准确定位PA不同工作模式下的最优工作参数配置，进而可以根据该最优工作参数设置或调整PA的工作参数，使得终端在切换前后的两种工作模式下PA功率变化受温度影响尽可能一致，从而使ILPC性能得到优化，降低ILPC在切换点失败的概率。

在具体实施中，上述内环功率控制性能优化装置可以对应于终端设备中相应功能的芯片，例如SOC(System-On-a-Chip，片上系统)、基带芯片、芯片模组等。

在具体实施中，关于上述实施例中描述的各个装置、产品包含的各个模块/单元，其可以是软件模块/单元，也可以是硬件模块/单元，或者也可以部分是软件模块/单元，部分是硬件模块/单元。

例如，对于应用于或集成于芯片的各个装置、产品，其包含的各个模块/单元可以都采用电路等硬件的方式实现，或者，至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现，该软件程序运行于芯片内部集成的处理器，剩余的(如果有)部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现；对于应用于或集成于芯片模组的各个装置、产品，其包含的各个模块/单元可以都采用电路等硬件的方式实现，不同的模块/单元可以位于芯片模组的同一组件(例如芯片、电路模块等)或者不同组件中，或者，至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现，该软件程序运行于芯片模组内部集成的处理器，剩余的(如果有)部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现；对于应用于或集成于终端的各个装置、产品，其包含的各个模块/单元可以都采用电路等硬件的方式实现，不同的模块/单元可以位于终端内同一组件(例如，芯片、电路模块等)或者不同组件中，或者，至少部分模块/单元可以采用软件程序的方式实现，该软件程序运行于终端内部集成的处理器，剩余的(如果有)部分模块/单元可以采用电路等硬件方式实现。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述各方法实施例中的步骤。

本申请实施例还提供了一种内环功率控制性能优化装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行上述各方法实施例中的步骤。

应理解，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/“，表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本申请实施例中出现的“多个”是指两个或两个以上。

本申请实施例中出现的第一、第二等描述，仅作示意与区分描述对象之用，没有次序之分，也不表示本申请实施例中对设备个数的特别限定，不能构成对本申请实施例的任何限制。

本申请所提供的各实施例，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或其他任意组合来实现。当使用软件实现时，上述实施例可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令或计算机程序。在计算机上加载或执行所述计算机指令或计算机程序时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以为通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线或无线方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法、装置和系统，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的；例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式；例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理布置，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

虽然本申请披露如上，但本申请并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本申请的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本申请的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims

1.一种内环功率控制性能优化方法，其特征在于，所述方法包括：

确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益包括：

通过预扫描分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系包括：

固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系：

固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下依次扫描多个不同的工作参数，测量每个工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数包括：

6.一种内环功率控制性能优化装置，其特征在于，所述装置包括：

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述发射增益确定模块，具体用于通过预扫描分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述测量模块通过固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述测量模块通过固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下依次扫描多个不同的工作参数，测量每个工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系。

10.根据权利要求6至9任一项所述的装置，其特征在于，所述优化处理模块包括：

11.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括如权利要求6至10任一项所述的内环功率控制性能优化装置。

12.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时使得权利要求1至5中任一项所述方法被执行。

13.一种内环功率控制性能优化装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器运行所述计算机程序时使得权利要求1至5中任一项所述方法被执行。