CN114578199A - 高压电缆绝缘电树枝-dcic特性联合检测方法及系统 - Google Patents

高压电缆绝缘电树枝-dcic特性联合检测方法及系统 Download PDF

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CN114578199A CN202210094419.2A CN202210094419A CN114578199A CN 114578199 A CN114578199 A CN 114578199A CN 202210094419 A CN202210094419 A CN 202210094419A CN 114578199 A CN114578199 A CN 114578199A
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吕立翔
杨卓然
周平
王东海
姚天翼
刘霆
陈伟
李忠磊
王馥珏
姚悦
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Abstract

高压电缆绝缘电树枝‑DCIC特性联合检测方法及系统，包括将绝缘材料试样置于测量实验平台上，并采集试样在实验过程中的图像；基于时分复用策略，对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压，在施加电压的过程中交替进行电树枝劣化和DCIC‑Q(t)测量；在实验过程中采集电树枝劣化的形貌数据与DCIC‑Q(t)测量的特征数据，构成绝缘材料性能的测试数据集；以绝缘材料性能的测试数据集为模型的输入，使用训练好的绝缘材料性能测试模型输出绝缘材料性能检测结果。通过对绝缘介质电树枝劣化过程中的DCIC特性进行同步测量，获得绝缘材料发生电树枝劣化过程中的电荷动态特性，由此方法实现对高压电缆用绝缘材料性能的评估。

Description

高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法及系统
技术领域
本发明属于电气工程高电压与绝缘材料性能测试技术领域，具体涉及高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法及系统。
背景技术
高压电缆输电具有输送容量大、距离远、效率高、损耗低等优势，是满足大容量、远距离跨区输电需求的可靠技术手段，也是解决城市电网增容、新能源并网和海上孤岛供电等问题的最佳手段。
泄漏电流积分电荷(Direct Current Integrated Charge，简称DCIC)方法是一种获得绝缘介质材料内电荷动态特性的有效检测手段，其原理在于对绝缘介质内的泄漏电流(Leakage Current)进行积分计算，可以获得绝缘介电常数、空间电荷、介质电导、介电弛豫时间常数、载流子迁移率等特征参数。
现有技术1(CN113376483A)“一种XLPE电缆绝缘状态评估方法”，采用DCIC-q(t)技术测试出待测电缆的电荷量动态变化参数，根据电荷量动态变化参数，提取待测电缆的绝缘介质电导率，建立动态电荷参数分布的神经网络模型，获得待测电缆的绝缘状态，建立BP神经网络和FCM的XLPE电缆绝缘老化状态评估模型，并将电荷量动态变化参数输入到所述BP神经网络和FCM的XLPE电缆绝缘老化状态评估模型中。现有技术1通过提取电荷量动态变化参数，以及模糊C均值聚类(FCM)方法进行绝缘状态分类和判定，提出的评估模型可提高电缆绝缘老化状态评估的准确率。其中，DCIC-q(t)技术测试的方法包括：通过终端对高压直流源进行电压控制；通过积分电容检测通过试样的电流，并积分获得电荷信息，经过AD转换传输至zigbee接收器；zigbee接收器接收所述信号波，并分析处理将处理结果数据传输。然而，现有技术1中DCIC-q(t)技术测试出待测电缆的电荷量动态变化参数不仅仅是针对绝缘劣化过程，高压电缆绝缘材料电树枝劣化现象是威胁到绝缘可靠性的核心因素，而绝缘材料电树枝劣化的生成与发展与绝缘材料内的电荷动态密切相关，因此在电树枝劣化生成与发展的过程中检测电荷动态特性，对绝缘材料的性能评估具有重要意义。
发明内容
为解决现有技术中存在的不足，本发明的目的在于，提供高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法及系统，通过对绝缘介质电树枝劣化过程中的DCIC特性进行同步测量，获得绝缘材料发生电树枝劣化过程中的电荷动态特性，由此方法实现对高压电缆用绝缘材料性能的评估。
本发明采用如下的技术方案。
本发明一方面提出高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，包括：
步骤1，将绝缘材料试样置于测量实验平台上；
步骤2，基于时分复用策略，对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压，在施加电压的过程中交替进行电树枝劣化和DCIC-Q(t)测量；
步骤3，以设定的周期数量重复步骤2，在实验过程中采集电树枝劣化的形貌图像数据，并使用DCIC-Q(t)测量技术采集DCIC-Q(t)特征数据；以劣化形貌图像数据和DCIC-Q(t)特征数据构成绝缘材料性能的测试数据集；
步骤4，以绝缘材料性能的测试数据集为模型的输入，使用训练好的绝缘材料性能测试模型输出绝缘材料性能检测结果。
优选地，步骤2包括：
步骤2.1，向绝缘材料试样施加电压有效值不小于6kV且持续时间不小于10min的高压交流电压；当施加高压交流电压时，对绝缘材料试样进行电树枝劣化；
步骤2.2，向绝缘材料试样施加电压值不小于3kV且持续时间不小于5min的高压直流电压；当施加高压直流电压时，对绝缘材料试样进行DCIC-Q(t)测量。
优选地，步骤3中，设定的周期数量不小于4。
优选地，步骤3中，DCIC-Q(t)特征数据包括：绝缘试样等效电容Ca、空间电荷Qsc、绝缘试样电导Ga、弛豫时间常数τ、载流子迁移率μ。
优选地，绝缘试样等效电容Ca满足如下关系式：
∫Ichar(t)dt＝Q0＝CaUDC
式中，
Ichar(t)为充电电流，表征向电极充电并建立电场的位移电流，
Q0为电极上由充电电流积聚构成电容的电荷，即初始电荷，
UDC为直流电压。
优选地，空间电荷Qsc满足如下关系式：
Figure BDA0003490271320000031
式中，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性，
Qsc为绝缘介质内部的空间电荷量，包含了绝缘介质极化产生的极化电荷和高电场强度下电极注入电荷。
优选地，绝缘试样电导Ga满足如下关系式：
∫Icond(t)dt＝UDCGat
式中，
Icond(t)为电导电流，表征绝缘介质的直流电导，
UDC为直流电压。
优选地，弛豫时间常数τ满足如下关系式：
Figure BDA0003490271320000032
式中，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性，
Qsc为绝缘介质内部的空间电荷量，包含了绝缘介质极化产生的极化电荷和高电场强度下电极注入电荷。
优选地，载流子迁移率μ满足如下关系式：
Figure BDA0003490271320000033
式中，
J为绝缘试样内电流密度，
d为绝缘试样厚度，
E为施加直流电场强度，
ε0为真空介电常数，ε0＝8.865×10-12F/m，
εr为相对介电常数，取决于待测绝缘材料的材质。
优选地，泄漏电流积分电荷量Q(t)可表示为三个分电荷量的总和，满足如下关系式：
Q(t)＝∫Ichar(t)dt+∫Iabs(t)dt+∫Icond(t)dt
式中，充电电流Ichar(t)、吸收电流Iabs(t)和电导电流Icond(t)的和，是在高压直流电压作用下的响应电流I(t)，其中高压直流电压是一种阶跃电压。
优选地，步骤4中，绝缘材料性能测试模型是基于神经网络的模型，包括一个输入层，三个隐含层和一个输出层；
以机器学习过程对绝缘材料性能测试模型进行训练，得到DCIC-Q(t)特征数据与绝缘材料性能的映射关系，基于映射关系确定各层参数配置，得到训练好的绝缘材料性能测试模型。
本发明另一方面还提出高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统，包括：测量实验平台，第一时分复用模块，第二时分复用模块，高压直流电源，高压交流电源，DCIC-Q(t)测量模块，图像采集模块；
测量实验平台，用于放置绝缘材料试样；
第一时分复用模块，一端连接测量实验平台，另一端分别连接高压直流电源和高压交流电源；第一时分复用模块，用于基于时分复用策略对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压；
第二时分复用模块，一端连接测量实验平台，另一端分别连接第一接地端和DCIC-Q(t)测量模块；第二时分复用模块，用于根据第一时分复用模块提供的时分信号，在施加高压交流电压的过程中，对绝缘材料试样进行电树枝劣化，在施加高压直流电压过程中，对绝缘材料试样进行DCIC-Q(t)测量；
图像采集模块，用于采集绝缘材料试样在实验过程中的图像数据。
优选地，当第一时分复用模块使得绝缘材料试样的一端连接高压直流电压时，第二时分复用模块使得绝缘材料试样的另一端通过第一接地端接地。
优选地，当第一时分复用模块使得绝缘材料试样的一端连接高压交流电压时，第二时分复用模块使得绝缘材料试样的另一端连接DCIC-Q(t)测量模块，采用DCIC-Q(t)测量模块采集绝缘材料试样电树枝劣化时的DCIC-Q(t)测量特征数据；其中，DCIC-Q(t)测量模块通过第二接地端接地。
优选地，图像采集模块采集到的绝缘材料试样在实验过程中的图像包括：绝缘材料试样的电树枝劣化的形貌图像数据。
本发明的有益效果在于，与现有技术相比：
1、准确测量绝缘材料电树枝劣化的生成与发展过程中的绝缘材料内的电荷动态特性，基于电荷动态特性对绝缘材料的性能进行检测和评估，实现基于电树枝生长特性与DCIC特征参量的绝缘介质性能联合评价，提高了检测结果的可信度；
2、通过DCIC-Q(t)测量，能够对绝缘材料的泄漏电流积分电荷特性进行阶段划分，有利于对绝缘材料劣化程度进行定量评估，以及根据泄漏电流积分电荷特性所处的阶段给出绝缘材料劣化预警提升和劣化发展态势预测；
3、采集绝缘材料试样的电树枝劣化的形貌图像数据，有利于验证绝缘材料试样性能检测的准确性。
附图说明
图1是本发明高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法的步骤框图；
图2是本发明一实施例中绝缘材料性能测试模型的结构示意图；
图3是本发明高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统的结构示意图；
图3中附图标记说明如下：
1-测量实验平台；21-第一时分复用模块；22-第二时分复用模块；31-高压直流电源；32-高压交流电源；4-DCIC-Q(t)测量模块；5-图像采集模块；61-第一接地端；62-第二接地端；
图4是本发明一实施例中绝缘材料电树枝劣化形貌与DCIC测试结果曲线图；
图5是本发明一实施例中不同测试周期下的绝缘材料电树枝劣化形貌图像。
具体实施方式
下面结合附图对本申请作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本申请的保护范围。
如图1，本发明一方面提出高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，包括步骤1至4。
步骤1，将绝缘材料试样置于测量实验平台上。
步骤2，基于时分复用策略，对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压，在施加电压的过程中交替进行电树枝劣化和DCIC-Q(t)测量。
优选地，步骤2包括：
步骤2.1，向绝缘材料试样施加电压有效值不小于6kV且持续时间不小于10min的高压交流电压；当施加高压交流电压时，对绝缘材料试样进行电树枝劣化。
步骤2.2，向绝缘材料试样施加电压值不小于3kV且持续时间不小于5min的高压直流电压；当施加高压直流电压时，对绝缘材料试样进行DCIC-Q(t)测量。
值得注意的是，本发明优选实施例中，高压交流电压和高压直流电压的电压值和持续时间是一种非限制性的较优选择，本领域技术人员可以根据绝缘测试的精度等要求，向绝缘材料试样施加不同电压值和持续时间的高压交流电压或高压直流电压。
步骤3，以设定的周期数量重复步骤2，在实验过程中采集电树枝劣化的形貌图像数据，并使用DCIC-Q(t)测量技术采集DCIC-Q(t)特征数据；以劣化形貌图像数据和DCIC-Q(t)特征数据构成绝缘材料性能的测试数据集。
优选地，步骤3中，设定的周期数量不小于4。值得注意的是，本发明优选实施例中，设定的周期数量不小于4，是一种非限制性的较优选择。
优选地，步骤3中，DCIC-Q(t)特征数据包括：绝缘试样等效电容Ca、空间电荷Qsc、绝缘试样电导Ga、弛豫时间常数τ、载流子迁移率μ。
基于绝缘介质响应理论，在以阶跃电压形式呈现的高压直流电压作用下响应电流I(t)满足如下关系式：
I(t)＝Ichar(t)+Iabs(t)+Icond(t)
式中，
Ichar(t)为充电电流，表征向电极充电并建立电场的位移电流，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性
Icond(t)为电导电流，表征绝缘介质的直流电导。因此，泄漏电流积分电荷量Q(t)可表示为三个分电荷量的总和，满足如下关系式：
Q(t)＝∫Ichar(t)dt+∫Iabs(t)dt+∫Icond(t)dt
进一步地，对于充电电流分量满足如下关系式：
∫Ichar(t)dt＝Q0＝CaUDC
式中，
Ca为绝缘试样等效电容，
Ichar(t)为充电电流，表征向电极充电并建立电场的位移电流，
Q0为电极上由充电电流积聚构成电容的电荷，即初始电荷，
UDC为直流电压。
进一步地，对于吸收电流分量满足如下关系式：
Figure BDA0003490271320000071
式中，
Qsc为空间电荷，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性，
Qsc为绝缘介质内部的空间电荷量，包含了绝缘介质极化产生的极化电荷和高电场强度下电极注入电荷。
进一步地，吸收电流衰减规律符合负指数函数，因此可用一负指数函数表示吸收电流的积分值，满足如下关系式：
∫Icond(t)dt＝UDCGat
式中，
Ga为绝缘试样电导，
Icond(t)为电导电流，表征绝缘介质的直流电导，
UDC为直流电压。
进一步地，对于直流电导电流分量满足如下关系式：
Figure BDA0003490271320000072
式中，
τ为弛豫时间常数，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性，
Qsc为绝缘介质内部的空间电荷量，包含了绝缘介质极化产生的极化电荷和高电场强度下电极注入电荷。
进一步，载流子迁移率μ满足如下关系式：
Figure BDA0003490271320000081
式中，
J为绝缘试样内电流密度，
d为绝缘试样厚度，
E为施加直流电场强度，
ε0为真空介电常数，ε0＝8.865×10-12F/m，
εr为相对介电常数，取决于待测绝缘材料的材质。
绝缘介质材料的DCIC-Q(t)典型结果可描述为三部分，分别如下：
(一)初始电荷积聚阶段，此阶段持续时间很短，施加电场后电极两端瞬间积累电荷形成电容；
(二)吸收电荷积聚阶段，此阶段电荷积累呈现负指数上升，电荷在绝缘介质内部构成极化电场；
(三)电导阶段，此阶段吸收电流已经衰减，泄漏电流均为直流电导电流，积分电荷积累情况呈现线性上升趋势。
步骤4，以绝缘材料性能的测试数据集为模型的输入，使用训练好的绝缘材料性能测试模型输出绝缘材料性能检测结果。
优选地，步骤4中，如图2，绝缘材料性能测试模型是基于神经网络的模型，包括一个输入层Input Layer，三个隐含层Hidden Layer和一个输出层Output Layer。
以机器学习过程对绝缘材料性能测试模型进行训练，得到DCIC-Q(t)特征数据与绝缘材料性能的映射关系，基于映射关系确定各层参数配置，得到训练好的绝缘材料性能测试模型。
本发明另一方面还提出高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统，如图3，包括：测量实验平台1，第一时分复用模块21，第二时分复用模块22，高压直流电源31，高压交流电源32，DCIC-Q(t)测量模块4，图像采集模块5。
测量实验平台1，用于放置绝缘材料试样。
第一时分复用模块21，一端连接测量实验平台1，另一端分别连接高压直流电源31和高压交流电源32；第一时分复用模块21，用于基于时分复用策略对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压。
第二时分复用模块22，一端连接测量实验平台1，另一端分别连接第一接地端和DCIC-Q(t)测量模块4；第二时分复用模块22，用于根据第一时分复用模块21提供的时分信号，在施加高压交流电压的过程中，对绝缘材料试样进行电树枝劣化，在施加高压直流电压过程中，对绝缘材料试样进行DCIC-Q(t)测量。
图像采集模块5，用于采集绝缘材料试样在实验过程中的图像数据。
优选地，当第一时分复用模块21使得绝缘材料试样的一端连接高压直流电压时，第二时分复用模块22使得绝缘材料试样的另一端通过第一接地端61接地。
优选地，当第一时分复用模块21使得绝缘材料试样的一端连接高压交流电压时，第二时分复用模块22使得绝缘材料试样的另一端连接DCIC-Q(t)测量模块4，采用DCIC-Q(t)测量模块4采集绝缘材料试样电树枝劣化时的DCIC-Q(t)测量特征数据；其中，DCIC-Q(t)测量模块4通过第二接地端62接地。
优选地，图像采集模块5采集到的绝缘材料试样在实验过程中的图像包括：绝缘材料试样的电树枝劣化的形貌图像数据。
使用高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法及系统，获得的绝缘材料电树枝劣化形貌与DCIC测试结果曲线图详见图4，不同测试周期下的绝缘材料电树枝劣化形貌图像详见图5。
本发明的有益效果在于，与现有技术相比：
1、准确测量绝缘材料电树枝劣化的生成与发展过程中的绝缘材料内的电荷动态特性，基于电荷动态特性对绝缘材料的性能进行检测和评估，实现基于电树枝生长特性与DCIC特征参量的绝缘介质性能联合评价，提高了检测结果的可信度；
2、通过DCIC-Q(t)测量，能够对绝缘材料的泄漏电流积分电荷特性进行阶段划分，有利于对绝缘材料劣化程度进行定量评估，以及根据泄漏电流积分电荷特性所处的阶段给出绝缘材料劣化预警提升和劣化发展态势预测；
3、采集绝缘材料试样的电树枝劣化的形貌图像数据，有利于验证绝缘材料试样性能检测的准确性。
本发明申请人结合说明书附图对本发明的实施示例做了详细的说明与描述，但是本领域技术人员应该理解，以上实施示例仅为本发明的优选实施方案，详尽的说明只是为了帮助读者更好地理解本发明精神，而并非对本发明保护范围的限制，相反，任何基于本发明的发明精神所作的任何改进或修饰都应当落在本发明的保护范围之内。

Claims (15)

1.高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，所述方法包括：
步骤1，将绝缘材料试样置于测量实验平台上；
步骤2，基于时分复用策略，对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压，在施加电压的过程中交替进行电树枝劣化和DCIC-Q(t)测量；
步骤3，以设定的周期数量重复步骤2，在实验过程中采集电树枝劣化的形貌图像数据，并使用DCIC-Q(t)测量技术采集DCIC-Q(t)特征数据；以劣化形貌图像数据和DCIC-Q(t)特征数据构成绝缘材料性能的测试数据集；
步骤4，以绝缘材料性能的测试数据集为模型的输入，使用训练好的绝缘材料性能测试模型输出绝缘材料性能检测结果。
2.根据权利要求1所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
步骤2包括：
步骤2.1，向绝缘材料试样施加电压有效值不小于6kV且持续时间不小于10min的高压交流电压；当施加高压交流电压时，对绝缘材料试样进行电树枝劣化；
步骤2.2，向绝缘材料试样施加电压值不小于3kV且持续时间不小于5min的高压直流电压；当施加高压直流电压时，对绝缘材料试样进行DCIC-Q(t)测量。
3.根据权利要求1所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
步骤3中，设定的周期数量不小于4。
4.根据权利要求3所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
步骤3中，DCIC-Q(t)特征数据包括：绝缘试样等效电容Ca、空间电荷Qsc、绝缘试样电导Ga、弛豫时间常数τ、载流子迁移率μ。
5.根据权利要求3所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
绝缘试样等效电容Ca满足如下关系式：
∫Ichar(t)dt＝Q0＝CaUDC
式中，
Ichar(t)为充电电流，表征向电极充电并建立电场的位移电流，
Q0为电极上由充电电流积聚构成电容的电荷，即初始电荷，
UDC为直流电压。
6.根据权利要求3所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
空间电荷Qsc满足如下关系式：
Figure FDA0003490271310000021
式中，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性，
Qsc为绝缘介质内部的空间电荷量，包含了绝缘介质极化产生的极化电荷和高电场强度下电极注入电荷。
7.根据权利要求3所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
绝缘试样电导Ga满足如下关系式：
∫Icond(t)dt＝UDCGat
式中，
Icond(t)为电导电流，表征绝缘介质的直流电导，
UDC为直流电压。
8.根据权利要求3所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
弛豫时间常数τ满足如下关系式：
Figure FDA0003490271310000022
式中，
Iabs(t)为吸收电流，包含了绝缘介质极化过程与电荷注入过程的电流，具有衰减特性，
Qsc为绝缘介质内部的空间电荷量，包含了绝缘介质极化产生的极化电荷和高电场强度下电极注入电荷。
9.根据权利要求3所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
载流子迁移率μ满足如下关系式：
Figure FDA0003490271310000031
式中，
J为绝缘试样内电流密度，
d为绝缘试样厚度，
E为施加直流电场强度，
ε0为真空介电常数，ε0＝8.865×10-12F/m，
εr为相对介电常数，取决于待测绝缘材料的材质。
10.根据权利要求5至7中任一项所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
泄漏电流积分电荷量Q(t)可表示为三个分电荷量的总和，满足如下关系式：
Q(t)＝∫Ichar(t)dt+∫Iabs(t)dt+∫Icond(t)dt
式中，充电电流Ichar(t)、吸收电流Iabs(t)和电导电流Icond(t)的和，是在高压直流电压作用下的响应电流I(t)，其中高压直流电压是一种阶跃电压。
11.根据权利要求1所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法，其特征在于，
步骤4中，绝缘材料性能测试模型是基于神经网络的模型，包括一个输入层，三个隐含层和一个输出层；
以机器学习过程对绝缘材料性能测试模型进行训练，得到DCIC-Q(t)特征数据与绝缘材料性能的映射关系，基于映射关系确定各层参数配置，得到训练好的绝缘材料性能测试模型。
12.利用权利要求1至11中任一项所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测方法而实现的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统，其特征在于，检测系统包括：
测量实验平台，第一时分复用模块，第二时分复用模块，高压直流电源，高压交流电源，DCIC-Q(t)测量模块，图像采集模块；
测量实验平台，用于放置绝缘材料试样；
第一时分复用模块，一端连接测量实验平台，另一端分别连接高压直流电源和高压交流电源；第一时分复用模块，用于基于时分复用策略对绝缘材料试样交替施加高压交流电压和高压直流电压；
第二时分复用模块，一端连接测量实验平台，另一端分别连接第一接地端和DCIC-Q(t)测量模块；第二时分复用模块，用于根据第一时分复用模块提供的时分信号，在施加高压交流电压的过程中，对绝缘材料试样进行电树枝劣化，在施加高压直流电压过程中，对绝缘材料试样进行DCIC-Q(t)测量；
图像采集模块，用于采集绝缘材料试样在实验过程中的图像数据。
13.根据权利要求12所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统，其特征在于，
当第一时分复用模块使得绝缘材料试样的一端连接高压直流电压时，第二时分复用模块使得绝缘材料试样的另一端通过第一接地端接地。
14.根据权利要求12所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统，其特征在于，
当第一时分复用模块使得绝缘材料试样的一端连接高压交流电压时，第二时分复用模块使得绝缘材料试样的另一端连接DCIC-Q(t)测量模块，采用DCIC-Q(t)测量模块采集绝缘材料试样电树枝劣化时的DCIC-Q(t)测量特征数据；其中，DCIC-Q(t)测量模块通过第二接地端接地。
15.根据权利要求11所述的高压电缆绝缘电树枝-DCIC特性联合检测系统，其特征在于，
图像采集模块采集到的绝缘材料试样在实验过程中的图像包括：绝缘材料试样的电树枝劣化的形貌图像数据。
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