CN114490423A - 一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

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CN114490423A CN202210170028.4A CN202210170028A CN114490423A CN 114490423 A CN114490423 A CN 114490423A CN 202210170028 A CN202210170028 A CN 202210170028A CN 114490423 A CN114490423 A CN 114490423A
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Abstract

本申请实施例公开了一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及计算机技术领域。其中,该方法包括:对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致测试内容失败的环境因素;确定环境因素对应的至少一个参数变量,将至少一个参数变量添加至测试用例中,得到目标测试用例;运行目标测试用例得到待测部件的测试结果;根据测试结果确定导致测试内容的测试失败原因。本申请实施例提供的技术方案,可以避免开发人员通过对待测部件的缺陷进行复现来定位测试失败原因,可以快速定位测试内容的测试失败原因,进而可以提高开发效率。

Description

一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本申请实施例涉及计算机技术领域,尤其涉及一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
目前汽车电控单元的开发流程为先由开发人员进行开发,开发完成后测试人员进行测试并将测试结果反馈开发人员,开发人员再进行修改,以此流程迭代进行。现有技术中的测试方法为自动化测试,测试人员在交给开发人员的测试报告中只有测试内容为通过或不通过。对于不通过的测试内容,开发人员往往需要再根据测试用例对问题或缺陷进行复现;在复现过程中进一步定位测试失败原因,定位到测试失败原因之后开发人员才能着手修改问题或缺陷。而如果开发人员对测试用例不够了解,那对测试失败原因的定位将花费开发人员很大的劳动量。因此,现有技术中的测试方法无法定位测试内容的测试失败原因,进而导致开发效率慢。
发明内容
本申请实施例提供了一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质,可以实现快速定位测试内容的测试失败原因,进而可以提高开发效率。
第一方面,本申请实施例提供了一种自动化测试方法,该方法包括:
对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素;
确定所述环境因素对应的至少一个参数变量,将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中,得到目标测试用例;
运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果;
根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。
第二方面,本申请实施例提供了一种自动化测试装置,该装置包括:
环境因素确定模块,用于对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素;
测试用例确定模块,用于确定所述环境因素对应的至少一个参数变量,将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中,得到目标测试用例;
测试结果确定模块,用于运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果;
失败原因确定模块,用于根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。
第三方面,本申请实施例提供了一种电子设备,该电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现本申请任意实施例所述的自动化测试方法。
第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现本申请任意实施例所述的自动化测试方法。
本申请实施例提供了一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致测试内容失败的环境因素;确定环境因素对应的至少一个参数变量,将至少一个参数变量添加至测试用例中,得到目标测试用例;运行目标测试用例得到待测部件的测试结果;根据测试结果确定导致测试内容的测试失败原因。本申请在测试之前先分析可能会导致测试内容失败的环境因素,设计对应的目标测试用例,并在测试过程中确定环境因素对应的参数变量的测试结果,以使开发人员根据参数变量的测试结果判断测试失败的原因是否是环境因素导致的。本申请可以避免开发人员通过对待测部件的缺陷进行复现来定位测试失败原因,可以快速定位测试内容的测试失败原因,进而可以提高开发效率。
应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本申请的范围。本申请的其他特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
附图用于更好地理解本方案,不构成对本申请的限定。其中:
图1为本申请实施例提供的一种自动化测试方法的第一流程示意图;
图2为本申请实施例提供的一种自动化测试方法的第二流程示意图;
图3为本申请实施例提供的一种自动化测试装置的结构示意图;
图4是用来实现本申请实施例的一种自动化测试方法的电子设备的框图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
实施例一
图1为本申请实施例提供的一种自动化测试方法的第一流程示意图,本实施例可适用于对待测部件进行自动化测试的情况。本实施例提供的一种自动化测试方法可以由本申请实施例提供的自动化测试装置来执行,该装置可以通过软件和/或硬件的方式实现,并集成在执行本方法的电子设备中。优选的,本申请实施例中的电子设备可以是测试仪器。
参见图1,本实施例的方法包括但不限于如下步骤:
S110、对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致测试内容失败的环境因素。
其中,待测部件是指开发人员所研发的电子控制单元,如汽车电控单元。测试内容是指对待测部件进行测试的内容,也称为测试项,如汽车电控单元执行某一功能的触发条件,该触发条件就可以是测试内容。测试用例是指对待测部件进行测试的方法和流程。
在本申请实施例中,可以预先配置一个环境因素数据库,用于收集各个待测部件的各个测试内容所包含的环境因素。不同测试部件可以有多个不同的测试内容,不同的测试内容可以有多个不同的环境因素。
在本申请实施例中,测试仪器先获取待测部件的测试内容和测试用例,再从环境因素数据库中查找测试内容和测试用例对应的环境因素,找到可能会导致测试内容失败的环境因素。
S120、确定环境因素对应的至少一个参数变量,将至少一个参数变量添加至测试用例中,得到目标测试用例。
其中,参数变量是指待测部件的内部软件中的参数变量。
在本申请实施例中,测试仪器得到可能会导致测试内容失败的环境因素之后,再确定该环境因素在待测部件的内部程序代码中对应的参数变量,其中,参数变量可以是一个也可以时多个。测试仪器通过通信或标定等其他手段将该参数变量进行标记,并将该参数变量添加到测试用例中,得到目标测试用例。
S130、运行目标测试用例得到待测部件的测试结果。
在本申请实施例中,根据目标测试用例和测试内容对待测部件进行自动化测试,得到待测部件的测试结果,并生成测试报告。
优选的,在自动化测试过程中提取出参数变量,并测试得到参数变量的数值,并将参数变量的数值写入到测试报告中。
具体的,运行目标测试用例得到待测部件的测试结果,包括:运行目标测试用例得到待测内容对应的第一测试结果和至少一个参数变量对应的第二测试结果。在本申请实施例中,测试结果中不仅包括待测内容的测试结果,还包括至少一个参数变量的测试结果。其中,参数变量的测试结果可以是该参数变量的数值。
S140、根据测试结果确定导致测试内容的测试失败原因。
在本申请实施例中,测试结果中不仅包括待测内容的测试结果,还包括参数变量的测试结果。这样开发人员在拿到测试报告时,就能根据参数变量的数值来判断测试失败的原因是否是环境因素导致的,以此来快速定位测试失败原因。
可选的,根据测试结果确定导致测试内容的测试失败原因,包括:判断第二测试结果是否符合预设标准;若不符合,则确定测试失败原因为待测部件的测试环境。
进一步的,若第二测试结果符合预设标准,则生成待测部件的测试成功信息。
示例性的,在对汽车电控单元的某个测试内容的测试过程中,假设可能会导致该测试内容失败的环境因素为温度,那么在测试用例中添加温度这一参数变量。测试结果中包括测试内容的测试结果(即第一测试结果)和温度的数值(即第二测试结果)。当温度的数值不在标准范围内,表明该测试内容的测试结果发生偏差是受到了温度的影响,则确定测试失败原因为待测部件的测试环境。当温度的数值在标准范围内,表明该测试内容的测试结果没有受到温度的影响,表明待测部件测试成功,则在测试报告中生成测试成功信息。
本实施例提供的技术方案,通过对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致测试内容失败的环境因素;确定环境因素对应的至少一个参数变量,将至少一个参数变量添加至测试用例中,得到目标测试用例;运行目标测试用例得到待测部件的测试结果。本申请在测试之前先分析可能会导致测试内容失败的环境因素,设计对应的目标测试用例,并在测试过程中确定环境因素对应的参数变量的测试结果,以使开发人员根据参数变量的测试结果判断测试失败的原因是否是环境因素导致的。本申请可以避免开发人员通过对待测部件的缺陷进行复现来定位测试失败原因,可以快速定位测试内容的测试失败原因,进而可以提高开发效率。
实施例二
图2为本申请实施例提供的一种自动化测试方法的第二流程示意图。本申请实施例是在上述实施例的基础上进行优化,具体优化为:本实施例对测试失败原因的确定过程进行详细的解释说明。
参见图2,本实施例的方法包括但不限于如下步骤:
S210、对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致测试内容失败的环境因素。
其中,待测部件是指开发人员所研发的电子控制单元,如汽车电控单元。测试内容是指对待测部件进行测试的内容,也称为测试项,如汽车电控单元执行某一功能的触发条件,该触发条件就可以是测试内容。测试用例是指对待测部件进行测试的方法和流程。
在本申请实施例中,可以预先配置一个环境因素数据库,用于收集各个待测部件的各个测试内容所包含的环境因素。不同测试部件可以有多个不同的测试内容,不同的测试内容可以有多个不同的环境因素。
在本申请实施例中,测试仪器先获取待测部件的测试内容和测试用例,再从环境因素数据库中查找测试内容和测试用例对应的环境因素,找到可能会导致测试内容失败的环境因素。
示例性的,在汽车电控单元的通信模块测试中,有一个关于诊断电压的测试内容,在该测试内容中规定了当电压下降到9.2V到8.8V之间时,电控单元应当关闭诊断功能。其中,关闭诊断功能时的电压就是测试内容。在自动化测试之前,对电控单元的测试内容和测试用例进行分析,找到对该电压可能产生影响的环境因素,如:程控电源电压输出不精准、测试线束因老化导致传输电压损耗、电控单元内部程序算法不正确。
S220、确定环境因素对应的至少一个参数变量,将至少一个参数变量添加至测试用例中,得到目标测试用例。
其中,参数变量是指待测部件的内部软件中的参数变量。参数变量为待测部件的内部软件的变量,这样可以提高测试透明程度。
在本申请实施例中,测试仪器得到可能会导致测试内容失败的环境因素之后,再确定该环境因素在待测部件的内部程序代码(即内部软件)中对应的参数变量,其中,参数变量可以是一个也可以时多个。测试仪器通过通信或标定等其他手段将该参数变量进行标记,并将该参数变量添加到测试用例中,得到目标测试用例。
S230、运行目标测试用例得到待测内容对应的第一测试结果和至少一个参数变量对应的第二测试结果。
在本申请实施例中,测试结果中不仅包括待测内容的测试结果,即第一测试结果,还包括至少一个参数变量的测试结果,即第二测试结果。其中,待测内容也可以是一个参数变量,待测内容和参数变量可以是同一个参数变量。
在本申请实施例中,在目标测试用例中可以预先配置一个数据采集组件和数据运算组件,通过数据采集组件采集参数变量的数值,再根据数据运算组件对该数值进行运算得到参数变量对应的第二测试结果。运行目标测试用例得到待测内容对应的第一测试结果。
这样设置的好处在于,丰富自动化测试的测试结果,减轻甚至省去开发人员在测试失败原因上的定位排查工作,使开发人员能更快速方便的解决问题或缺陷,能够缩短缺陷分析定位周期,提升开发效率。
S240、若第一测试结果和第二测试结果的偏差在预设范围之内,则确定测试失败原因为待测部件的内部软件。
示例性的,在汽车电控单元的通信模块测试中,有一个关于诊断电压的测试内容。根据对该电压可能产生影响的环境因素,提取出电控单元内部程序的一个参数变量,该参数变量的值反映了输入到电控单元的电压,可以通过内部采集电路来计算实际电控单元采集到的电压值。将该参数变量通过标定的方式在进行自动化测试中同时读取,再根据数据运算组件将该参数变量转化为实际输入的电压值(即第二测试结果)。最后在测试报告中展示测试设定电压值(即第一测试结果)和实际输入的电压值(即第二测试结果)。当开发人员拿到测试报告时,如果测试设定电压值和实际输入的电压值的偏差在预设范围之内,则确定测试失败原因为待测部件的内部软件,那么可能就需要电控单元软件的内部软件进行修改。
进一步的,在确定测试失败原因为待测部件的内部软件之后,还包括:生成内部软件的修改提示信息,以提示软件开发人员对内部软件进行修改。
S250、若第一测试结果和第二测试结果的偏差大于预设范围,则确定测试失败原因为待测部件的测试环境。
示例性的,在汽车电控单元的通信模块测试中,有一个关于诊断电压的测试内容。根据对该电压可能产生影响的环境因素,提取出电控单元内部程序的一个参数变量,该参数变量的值反映了输入到电控单元的电压,可以通过内部采集电路来计算实际电控单元采集到的电压值。将该参数变量通过标定的方式在进行自动化测试中同时读取,再根据数据运算组件将该参数变量转化为实际输入的电压值(即第二测试结果)。最后在测试报告中展示测试设定电压值(即第一测试结果)和实际输入的电压值(即第二测试结果)。当开发人员拿到测试报告时,如果测试设定电压值和实际输入的电压值的偏差大于预设范围,那么问题就出现电压传输过程上(即测试环境),电控单元内部软件不需要修改。
进一步的,在确定测试失败原因为待测部件的测试环境之后,还包括:生成待测部件的测试成功信息。
本实施例提供的技术方案,通过对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致测试内容失败的环境因素;确定环境因素对应的至少一个参数变量,将至少一个参数变量添加至测试用例中,得到目标测试用例;运行目标测试用例得到待测内容对应的第一测试结果和至少一个参数变量对应的第二测试结果;若第一测试结果和第二测试结果的偏差在预设范围之内,则确定测试失败原因为待测部件的内部软件;若第一测试结果和第二测试结果的偏差大于预设范围,则确定测试失败原因为待测部件的测试环境。本申请在测试之前先分析可能会导致测试内容失败的环境因素,设计对应的目标测试用例,并在测试过程中确定环境因素对应的参数变量的测试结果,以使开发人员根据参数变量的测试结果判断测试失败的原因是否是环境因素导致的。本申请可以避免开发人员通过对待测部件的缺陷进行复现来定位测试失败原因,可以快速定位测试内容的测试失败原因,进而可以提高开发效率。
实施例三
图3为本申请实施例提供的一种自动化测试装置的结构示意图,如图3所示,该装置300可以包括:
环境因素确定模块310,用于对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素。
测试用例确定模块320,用于确定所述环境因素对应的至少一个参数变量,将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中,得到目标测试用例。
测试结果确定模块330,用于运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果。
失败原因确定模块340,用于根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。
进一步的,上述测试结果确定模块330,可以具体用于:运行所述目标测试用例得到所述待测内容对应的第一测试结果和所述至少一个参数变量对应的第二测试结果。
进一步的,上述失败原因确定模块340,可以具体用于:若所述第一测试结果和所述第二测试结果的偏差在预设范围之内,则确定所述测试失败原因为所述待测部件的内部软件;若所述第一测试结果和所述第二测试结果的偏差大于所述预设范围,则确定所述测试失败原因为所述待测部件的测试环境。
进一步的,上述自动化测试装置,还可以包括:修改提示模块;
所述修改提示模块,用于在确定所述测试失败原因为所述待测部件的内部软件之后,生成所述内部软件的修改提示信息,以提示软件开发人员对所述内部软件进行修改。
进一步的,上述自动化测试装置,还可以包括:成功提示模块;
所述成功提示模块,用于在确定所述测试失败原因为所述待测部件的测试环境之后,生成所述待测部件的测试成功信息。
进一步的,上述失败原因确定模块340,可以具体用于:判断所述第二测试结果是否符合预设标准;若不符合,则确定所述测试失败原因为所述待测部件的测试环境。
进一步的,上述成功提示模块,还可以用于:若符合,则生成所述待测部件的测试成功信息。
本实施例提供的自动化测试装置可适用于上述任意实施例提供的自动化测试方法,具备相应的功能和有益效果。
实施例四
图4是用来实现本申请实施例的一种自动化测试方法的电子设备的框图,图4示出了适于用来实现本申请实施例实施方式的示例性电子设备的框图。图4显示的电子设备仅仅是一个示例,不应对本申请实施例的功能和适用范围带来任何限制。该电子设备典型可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、车载终端以及可穿戴设备等。优选的,本申请实施例中的电子设备可以是测试仪器。
如图4所示,电子设备400以通用计算设备的形式表现。电子设备400的组件可以包括但不限于:一个或者多个处理器或者处理单元416,存储器428,连接不同系统组件(包括存储器428和处理单元416)的总线418。
总线418表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储器总线或者存储器控制器,外围总线,图形加速端口,处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说,这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线,微通道体系结构(MAC)总线,增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。
电子设备400典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备400访问的可用介质,包括易失性和非易失性介质,可移动的和不可移动的介质。
存储器428可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质,例如随机存取存储器(RAM)430和/或高速缓存存储器432。电子设备400可以进一步包括其他可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例,存储系统434可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图4未显示,通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图4中未示出,可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器,以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM,DVD-ROM或者其他光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下,每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线418相连。存储器428可以包括至少一个程序产品,该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块,这些程序模块被配置以执行本申请各实施例的功能。
具有一组(至少一个)程序模块442的程序/实用工具440,可以存储在例如存储器428中,这样的程序模块442包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其他程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块442通常执行本申请实施例所描述的功能和/或方法。
电子设备400也可以与一个或多个外部设备414(例如键盘、指向设备、显示器424等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备400交互的设备通信,和/或与使得该电子设备400能与一个或多个其他计算设备进行通信的任何设备(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口422进行。并且,电子设备400还可以通过网络适配器420与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图4所示,网络适配器420通过总线418与电子设备400的其他模块通信。应当明白,尽管图4中未示出,可以结合电子设备400使用其他硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
处理单元416通过运行存储在存储器428中的程序,从而执行各种功能应用以及数据处理,例如实现本申请任一实施例所提供的自动化测试方法。
实施例五
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序(或称为计算机可执行指令),该程序被处理器执行时可以用于执行本申请上述任一实施例所提供的自动化测试方法。
本申请实施例的计算机存储介质,可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦拭可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括——但不限于无线、电线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请实施例操作的计算机程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

Claims (10)

1.一种自动化测试方法,其特征在于,所述方法包括:
对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素;
确定所述环境因素对应的至少一个参数变量,将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中,得到目标测试用例;
运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果;
根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。
2.根据权利要求1所述的自动化测试方法,其特征在于,所述运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果,包括:
运行所述目标测试用例得到所述待测内容对应的第一测试结果和所述至少一个参数变量对应的第二测试结果。
3.根据权利要求2所述的自动化测试方法,其特征在于,所述根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因,包括:
若所述第一测试结果和所述第二测试结果的偏差在预设范围之内,则确定所述测试失败原因为所述待测部件的内部软件;
若所述第一测试结果和所述第二测试结果的偏差大于所述预设范围,则确定所述测试失败原因为所述待测部件的测试环境。
4.根据权利要求3所述的自动化测试方法,其特征在于,在确定所述测试失败原因为所述待测部件的内部软件之后,还包括:
生成所述内部软件的修改提示信息,以提示软件开发人员对所述内部软件进行修改。
5.根据权利要求3所述的自动化测试方法,其特征在于,在确定所述测试失败原因为所述待测部件的测试环境之后,还包括:
生成所述待测部件的测试成功信息。
6.根据权利要求2所述的自动化测试方法,其特征在于,所述根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因,包括:
判断所述第二测试结果是否符合预设标准;
若不符合,则确定所述测试失败原因为所述待测部件的测试环境。
7.根据权利要求6所述的自动化测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
若符合,则生成所述待测部件的测试成功信息。
8.一种自动化测试装置,其特征在于,所述装置包括:
环境因素确定模块,用于对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析,得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素;
测试用例确定模块,用于确定所述环境因素对应的至少一个参数变量,将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中,得到目标测试用例;
测试结果确定模块,用于运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果;
失败原因确定模块,用于根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1至7中任一所述的自动化测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一所述的自动化测试方法。
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