CN114486440A - 一种颗粒物混匀系统以及检测仪器校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种颗粒物混匀系统，包括依次连接的静态混匀装置以及动态混匀装置，所述静态混匀装置中设置有顺次连接的静电中和器、静态混匀管以及颗粒物切割器转换器，所述颗粒物切割器转换器连通至所述动态混匀装置，所述动态混匀装置包括混匀箱以及颗粒物采样口，所述混匀箱为圆柱状中空结构，所述混匀箱的顶部连通所述颗粒物切割器转换器，所述混匀箱的侧面设置有混匀机构，所述混匀箱上设置有至少三个检测接口，所述检测接口至少包括被检仪器接口、标准检测仪接口以及重量法标准采样器接口，所述混匀箱的底部连接所述颗粒物采样口。

Description

一种颗粒物混匀系统以及检测仪器校准方法

技术领域

本发明涉及检测仪器校准领域，更具体地，涉及一种颗粒物混匀系统以及检测仪器校准方法。

背景技术

在城市空气质量日报或周报中的细颗粒物及可吸入颗粒物为人们逐渐熟悉的大气污染物。科学家用PM2.5和PM10表示每立方米空气中这种颗粒的含量，这个值越高，就代表空气污染越严重。

可入肺颗粒物PM2.5和可吸入颗粒物PM10会给人类造成很严重的健康影响，甚至可入肺颗粒物PM2.5对人类造成的健康影响将远远大于其他可吸入颗粒物。因此，展开对细颗粒物/可吸入颗粒物监测仪器检测方法的研究就显得尤为迫切和及时。

细颗粒物/可吸入颗粒物混匀装置作为细颗粒物/可吸入颗粒物质量浓度监测仪校准系统的核心部分，在细颗粒物/可吸入颗粒物监测仪器检测中起着关键作用。混匀装置主要使用在颗粒物质量浓度示值误差和颗粒物切割器切割效率的检测中，目前国内外针对细颗粒物/可吸入颗粒物质量浓度的校准过程中主要采用静态箱法，而对于细颗粒物/可吸入颗粒物切割器切割效率的校准过程中主要采用在分流法。

由于测试方法的不同，对颗粒物粒径的要求也不相同，而各个颗粒物的粒径的混匀方式不同，需要针对不同的检测方法配备不同的混匀系统，操作不便且成本较高。静态箱法浓度低时难以在短时间内达到完全混合均匀状态，混合均匀度难以把握。分流法主要使用单一粒径的标准粒子进行检测，这就需要发生后颗粒物和洁净空气均匀混合，以满足分流器达到上下游的颗粒物浓度保持一致的效果。但是目前国内的分流法用混匀装置很难实现颗粒物和洁净空气完全混合均匀，其测量存在一定的误差。

因此，需要一种新型的颗粒物混匀系统，能够解决上述问题。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种颗粒物混匀系统的新技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种颗粒物混匀系统，包括依次连接的静态混匀装置以及动态混匀装置，所述静态混匀装置中设置有顺次连接的静电中和器、静态混匀管以及颗粒物切割器转换器，所述颗粒物切割器转换器连通至所述动态混匀装置，所述动态混匀装置包括混匀箱以及颗粒物采样口，所述混匀箱为圆柱状中空结构，所述混匀箱的顶部连通所述颗粒物切割器转换器，所述混匀箱的侧面设置有混匀机构，所述混匀箱上设置有至少三个检测接口，所述检测接口至少包括被检仪器接口、标准检测仪接口以及重量法标准采样器接口，所述混匀箱的底部连接所述颗粒物采样口。

优选地，所述混匀箱的顶部以及所述静态混运管均连通至洁净空气管路。

优选地，所述混匀箱侧壁上设置有进风口和出风口，所述混匀机构包括风机、第一过滤器以及第二过滤器，所述进风口上连通有所述风机以及所述第一过滤器；所述出风口上设置有所述第二过滤器。

优选地，所述进风口设置有两个，对称设置于所述混匀箱的两侧。

优选地，所述颗粒物切割器转换器中设置有若干切割器，所述切割器包括Ⅰ级颗粒物切割器、Ⅱ级颗粒物切割器、Ⅲ级颗粒物切割器以及空白连接管。

根据本发明的第二方面，提供了一种采用上述颗粒物混匀系统的颗粒物质量浓度示值误差检测方法，包括如下步骤：

步骤11：调节颗粒物切割器转换器至所需的切割器；

步骤12：由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，通过静态混匀装置后到达动态混匀装置中；

步骤13：利用被检测仪和标准检测仪同时监测并记录混匀箱中的颗粒物浓度；

步骤14：调节颗粒物发生器发生的颗粒物浓度，使颗粒物浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的颗粒物浓度示值误差；

其中：ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,mg/m3；

标准仪器示值的平均值,mg/m3；

根据本发明的第三方面，提供了一种利用上述颗粒物混匀系统的颗粒物切割器切割效率检测方法，包括如下步骤：

步骤21：调节颗粒物切割器转换器至所需的切割器；

步骤22：由颗粒物发生器分别发生单分散颗粒物，通过静态混匀装置后到达动态混匀装置中；

步骤23：混匀箱中的多分散颗粒物经颗粒物采样头发送至被检测颗粒物切割器，由气溶胶光度计记录通过被检测切割器的颗粒物浓度；

步骤24：改变颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径，记录粒径谱仪的示值得到得到穿透率，通过曲线拟合，最后计算得到切割效率。

优选地，在步骤24中，PM₁₀切割器切割效率检测时，颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径为：3μm、5μm、7μm、9μm、11μm、13μm、15μm和17μm；

PM2.5切割器切割效率检测时，颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径为：1.5μm、2μm、2.2μm、2.5μm、2.8μm、3.0μm、3.5μm和4.0μm；

PM1.0切割器切割效率检测时，颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径为：0.6μm、0.8μm、1.0μm、1.2μm和1.4μm。

根据本公开的一个实施例，本系统能够直接对粉尘质量浓度示值误差以及切割器切割效率检测同时进行检测，无需针对不同的检测方式采用不同的混匀装置，提高了检测效率，降低了检测成本；

采用静态混匀管和动态混匀箱的组合方式，改变静态箱法，解决静态箱法浓度低时难以在短时间内达到完全混合均匀状态，混合均匀难以把握的问题；

采用静态混匀管和动态混匀箱的组合方式，改变传统分流法，创造新切割效率检测方法，以浓度示值方式改变计数方式来换算切割器透过率，效率更高，成本更低。

该装置改变单一发生源，可以发生不同粒径下不同浓度的颗粒物。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明实施例的颗粒物混匀系统的结构示意图。

图2是图1中颗粒物混匀系统在粉尘质量浓度示值误差检测以及颗粒物切割器切割效率检测时的结构框图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

实施例一

如图1和图2所示，本实施例中的颗粒物混匀系统包括依次连接的静态混匀装置100以及动态混匀装置，所述静态混匀装置100中设置有顺次连接的静电中和器110、静态混匀管120以及颗粒物切割器转换器130，所述颗粒物切割器转换器130连通至所述动态混匀装置，所述动态混匀装置包括混匀箱200以及颗粒物采样口210，所述混匀箱200为圆柱状中空结构，所述混匀箱200的顶部连通所述颗粒物切割器转换器130，所述混匀箱200的侧面设置有混匀机构，所述混匀箱200上设置有至少三个检测接口，所述检测接口至少包括被检仪器接口201、标准检测仪接口202以及重量法标准采样器接口203，所述混匀箱200的底部连接所述颗粒物采样口210。

其中，静电中和器110用于消除颗粒物静电，防止颗粒物静电聚合，改变其浓度和颗粒物粒径；

静态混匀管120是利用静态沉降原理的混匀装置，起到颗粒物均匀混合的作用，为初始混匀装置，为满足下一步切割粒径的均匀和充分。所述静态混运管120连通至洁净空气管路。

该实施例中的静态混匀管120的直径为50mm，全长706mm，中间段长497mm，上端长109mm，下端长100mm，采样口直径10mm。内表面镜面抛光处理，经试验，静态混匀管120的混匀效果在小粒径的粒子方面要优于传统的混匀罐。混匀箱200体积约120L，为两端带弧形封顶的圆形筒，直径35cm，高度130cm，材料为304不锈钢板，内壁面均经过特殊刨光处理，表面粗糙度小于0.0025mm，以防止静电及颗粒吸附，设计气流无死角，内部流场湍流剧烈、平均湍流强度达到90％以上，颗粒混合均匀，确保了不同仪器采集的颗粒浓度及粒径分布偏差不超过5％。

通过本实施例该方案，粉尘(各粒径的都有)首先需要先进入静态混匀管120中进行充分混匀，然后进入切割器进行分级切割，得到不同粒径下的颗粒物，在混匀箱200中在进一步进行混匀，使得固定粒径下的颗粒物充分混匀。解决了现有的混匀装置只是能混匀粉尘或者单粒径的颗粒物，不能有效进行颗粒物分解混匀，无法实现颗粒物精准测量的问题。

本系统能够直接对粉尘质量浓度示值误差以及切割器切割效率检测同时进行检测，无需针对不同的检测方式采用不同的混匀装置，提高了检测效率，降低了检测成本；

采用静态混匀管和动态混匀箱的组合方式，改变静态箱法，解决静态箱法浓度低时难以在短时间内达到完全混合均匀状态，混合均匀难以把握的问题；

采用静态混匀管和动态混匀箱的组合方式，改变传统分流法，创造新切割效率检测方法，以浓度示值方式改变计数方式来换算切割器透过率，效率更高，成本更低。

动态混匀装置中，将颗粒物吹入混匀箱200中并吹入洁净空气，利用混匀机构对混匀箱200中的气流进行搅动，能够对各种粒径、各种浓度的颗粒物进行混匀，且混匀效果更好，适用范围更广，适合多种检测方式时颗粒物的混匀使用。

本实施例中的混匀箱200选用不锈钢材料，对管内表面进行抛光处理，混匀箱200与气路的接口优选不锈钢材料并进行抛光处理，减小摩擦以及静电的产生。混匀箱200顶端有三个进口，最中间的进口为颗粒物进口，两边洁净空气接口204分别与被处理过的洁净空气相连接。顶部的颗粒物接口用于连接颗粒物发生器，将一定粒径的颗粒物输送进入混匀箱200，两侧的洁净空气接口204通入的洁净空气作为悬浮介质与颗粒物进行混匀，并且辅助吹动颗粒物在混匀箱200中搅拌混匀；干燥的洁净空气，保证整体颗粒物干燥，不会产生聚合，凝水聚合。

在本实施例或其他实施例中，所述混匀箱200侧壁上设置有进风口205和出风口206，所述混匀机构包括风机、第一过滤器以及第二过滤器(图中均未示出)，所述进风口205上连通有所述风机以及所述第一过滤器；所述出风口206上设置有所述第二过滤器。风机能够加速空气流动，将外部空气经过第一过滤器过滤后，洁净空气吹入混匀箱中起到搅动混匀箱200中混合物的作用，出风口206能够使气流在混匀箱200中起到循环平衡的作用，第二过滤器避免混匀箱200中的颗粒物排出混匀箱200造成外部环境的污染以及颗粒物浓度的变化。

改变传统混匀装置，传统的混匀装置中设置有转动刷，对进入的气溶胶颗粒进行分散混合，然后气溶胶进入一个铝制蜂窝层，以去除产生的涡流，实现静态混匀。本装置采用动态混匀，去除了转动刷和铝制蜂窝层，结构更加简单。

该实施例中的第一过滤器以及第二过滤器均为高效过滤器，通过密封圈密封连接至混匀箱200上，使进风口205或出风口206连通混匀箱200内外。

混匀箱200中的气压会在底部检测口的负压下产生微负压的状态，进一步避免混匀箱200中颗粒物的溢出。

在本实施例或其他实施例中，所述进风口205设置有两个，对称设置于所述混匀箱200的两侧。对风机进行倾斜排布后，两侧均设置有进风口205能够使气流在混匀箱200中进行环状的上中下分层环流，进一步充分混匀颗粒物，提高颗粒物混匀的均匀性。

在本实施例或其他实施例中，所述颗粒物切割器转换器中设置有若干切割器，所述切割器包括Ⅰ级颗粒物切割器、Ⅱ级颗粒物切割器、Ⅲ级颗粒物切割器以及空白连接管。在单分散颗粒物发生或者分散颗粒物发生时，根据实际被检测仪器的浓度大小和被检测仪器要检测粒径大小可自动选择Ⅰ级颗粒物切割器或Ⅱ级颗粒物切割器或Ⅲ级颗粒物切割器或空白连接管。当总尘发生或者单分散颗粒物发生时选择空白连接管；当选择不同粒径或者不同浓度检测时可自动选则Ⅰ级颗粒物切割器或Ⅱ级颗粒物切割器或Ⅲ级颗粒物切割器，Ⅰ级颗粒物切割器选用冲击式切割器，Ⅱ级颗粒物切割器选用旋风式切割器，Ⅲ级颗粒物切割器是联用了冲击式切割器和旋风式切割器。

该实施例中的切割器可拆卸连接至颗粒物切割器转换器中，根据需要进行拆卸和更换不同的切割器，切割器也可以是旋转盘式结构，能够通过旋转更换至不同的切割器。

在该实施例中，混匀箱中的均匀性主要受流速影响，流速主要有颗粒物入口流速、洁净空气入口流速、左侧风机、右侧风机，以及三个检测接口分别的流速和采样头中的流速。为了达到动态平衡，就需要保证颗粒物入口流速、洁净空气入口流速、三个检测接口分别的流速和采样头中的流速均不大于左侧风机和右侧风机形成动态循环流速，这样才能避免造成较大误差，使颗粒物浓度始终达到均匀稳定。

实施例二

本实施例中采用上述实施例中颗粒物混匀系统的颗粒物质量浓度示值误差检测具体包括如下步骤：

步骤11：根据当前检测的需要，调节颗粒物切割器转换器至所需的切割器；

步骤12：在静态混匀装置上连通颗粒物发生器，由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，通过静态混匀装置后到达动态混匀装置中；

步骤13：利用被检测仪和标准检测仪同时监测并记录混匀箱中的颗粒物浓度；其中被检测仪和标准检测仪分别连接至混匀箱的被检仪器接口、标准检测仪接口或者重量法标准采样器接口。

步骤14：调节颗粒物发生器发生的颗粒物浓度，使颗粒物浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的颗粒物浓度示值误差；

其中：ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,mg/m3；

标准仪器示值的平均值,mg/m3；

由此完成了的颗粒物质量浓度示值误差检测，以下通过具体的例子来进行详细步骤的介绍：

1、粉尘浓度示值误差检测

由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀并降低其浓度，选择空白连接管直接连接混匀箱，经混匀箱进行颗粒物混匀和浓度再次降低，通过连接被检测仪连接口和标准检测仪接口，同时监测并记录被检仪器和标准仪器的检测值。调节颗粒物发生器发生浓度，将最终检测浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，对其三点分别进行以上步骤，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的浓度示值误差。

ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,mg/m3；

标准仪器示值的平均值,mg/m3。

2、PM10质量浓度示值误差检测

由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀并降低其浓度，选择Ⅰ级颗粒物切割器直接连接混匀箱，经混匀箱进行颗粒物混匀和浓度再次降低，通过连接被检测仪连接口和标准检测仪接口，同时监测并记录被检仪器和标准仪器的检测值。调节颗粒物发生器发生浓度，将最终检测浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，对其三点分别进行以上步骤，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的浓度示值误差。

ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,μg/m3；

标准仪器示值的平均值,μg/m3。

3、PM2.5质量浓度示值误差检测

由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀并降低其浓度，选择Ⅱ级颗粒物切割器直接连接混匀箱，经混匀箱进行颗粒物混匀和浓度再次降低，通过连接被检测仪连接口和标准检测仪接口，同时监测并记录被检仪器和标准仪器的检测值。调节颗粒物发生器发生浓度，将最终检测浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，对其三点分别进行以上步骤，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的浓度示值误差。

ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,μg/m3；

标准仪器示值的平均值,μg/m3。

4、PM1质量浓度示值误差检测

由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀并降低其浓度，选择Ⅲ级颗粒物切割器直接连接混匀箱，经混匀箱进行颗粒物混匀和浓度再次降低，通过连接被检测仪连接口和标准检测仪接口，同时监测并记录被检仪器和标准仪器的检测值。调节颗粒物发生器发生浓度，将最终检测浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，对其三点分别进行以上步骤，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的浓度示值误差。

ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,μg/m3；

标准仪器示值的平均值,μg/m3。

实施例三

本实施例中采用实施例一的颗粒物混匀系统进行颗粒物切割器切割效率检测方法的具体步骤如下：

步骤21：调节颗粒物切割器转换器至连接管；

步骤22：由颗粒物发生器分别发生单分散颗粒物，通过静态混匀装置后到达动态混匀装置中；

步骤23：混匀箱中的多分散颗粒物经颗粒物采样头发送至被检测颗粒物切割器，由气溶胶光度计记录通过被检测切割器的颗粒物浓度；

步骤24：改变颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径，记录粒径谱仪的示值得到得到穿透率，通过曲线拟合，最后计算得到切割效率。

在实际使用过程中，详细的检测步骤如下：

1、PM10切割器切割效率检测

由颗粒物发生器发生单分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀，选择空白连接管直接连接混匀箱，经动态混匀箱进行颗粒物混匀，通过底部的颗粒物采样口，连接被检测切割头，通过气溶胶光度计分别记录通过切割器的颗粒物浓度。分别发生3μm、5μm、7μm、9μm、11μm、13μm、15μm和17μm的单分散颗粒物，并记录粒径谱仪的示值，得到得到穿透率，通过曲线拟合，最后计算得到切割效率。

2、PM2.5切割器切割效率检测

由颗粒物发生器发生单分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀，选择空白连接管直接连接混匀箱，经动态混匀箱进行颗粒物混匀，通过底部的颗粒物采样口，连接被检测切割头，通过气溶胶光度计分别记录通过切割器的颗粒物浓度。分别发生1.5μm、2μm、2.2μm、2.5μm、2.8μm、3.0μm、3.5μm和4.0μm的单分散颗粒物，并记录粒径谱仪的示值，得到得到穿透率，通过曲线拟合，最后计算得到切割效率。

3、PM1.0切割器切割效率检测

由颗粒物发生器发生单分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀，选择空白连接管直接连接混匀箱，经动态混匀箱进行颗粒物混匀，通过底部的颗粒物采样口，连接被检测切割头，通过气溶胶光度计分别记录通过切割器的颗粒物浓度。分别发生0.6μm、0.8μm、1.0μm、1.2μm和1.4μm的单分散颗粒物，并记录粒径谱仪的示值，得到得到穿透率，通过曲线拟合，最后计算得到切割效率。

实施例四

在该实施例中，能够同时对实施例三的颗粒物质量浓度示值误差以及颗粒物切割器切割效率进行检测，具体方式如下：

由颗粒物发生器发生单分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀，选择空白连接管直接连接混匀箱，经动态混匀箱进行颗粒物混匀，通过被检测仪连接口和标准检测仪接口，可以检测被检仪器的质量浓度示值误差，通过底部的颗粒物采样口，能检测被检切割器的切割效率。

实施例五

在该实施例中，本颗粒物混匀系统能够对标准仪器进行标定，具体方式如下：

由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，经过静电中和器进行静电处理，进入静态混匀管使颗粒物达到混匀并降低其浓度，根据不同的标准仪器选择Ⅰ级、Ⅱ级、Ⅲ级颗粒物切割器或空白连接管，然后连接混匀箱，经动态混匀箱进行颗粒物混匀和浓度再次降低，通过被检测仪连接口、标准检测仪接口以及重量法标准采样器连接口，设定相同的检测时间，同时监测并记录标准检测仪接口上标准仪器的检测值，待检测时间到达后，将重量法标准采样器连接口中的采集滤膜进行称重得到其浓度值，根据其得到的浓度值，判断标准仪器是否准确，如不准确将对标准仪器进行标定。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (8)

1.一种颗粒物混匀系统，包括依次连接的静态混匀装置以及动态混匀装置，其特征在于，所述静态混匀装置中设置有顺次连接的静电中和器、静态混匀管以及颗粒物切割器转换器，所述颗粒物切割器转换器连通至所述动态混匀装置，所述动态混匀装置包括混匀箱以及颗粒物采样口，所述混匀箱为圆柱状中空结构，所述混匀箱的顶部连通所述颗粒物切割器转换器，所述混匀箱的侧面设置有混匀机构，所述混匀箱上设置有至少三个检测接口，所述检测接口至少包括被检仪器接口、标准检测仪接口以及重量法标准采样器接口，所述混匀箱的底部连接所述颗粒物采样口。

2.根据权利要求1所述的颗粒物混匀系统，其特征在于，所述混匀箱的顶部以及所述静态混运管均连通至洁净空气管路。

3.根据权利要求2所述的颗粒物混匀系统，其特征在于，所述混匀箱侧壁上设置有进风口和出风口，所述混匀机构包括风机、第一过滤器以及第二过滤器，所述进风口上连通有所述风机以及所述第一过滤器；所述出风口上设置有所述第二过滤器。

4.根据权利要求3所述的颗粒物混匀系统，其特征在于，所述进风口设置有两个，对称设置于所述混匀箱的两侧。

5.根据权利要求1所述的颗粒物混匀系统，其特征在于，所述颗粒物切割器转换器中设置有若干切割器，所述切割器包括Ⅰ级颗粒物切割器、Ⅱ级颗粒物切割器、Ⅲ级颗粒物切割器以及空白连接管。

6.一种采用权利要求1至5任一项所述颗粒物混匀系统的颗粒物质量浓度示值误差检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤11：调节颗粒物切割器转换器至所需的切割器；

步骤12：由颗粒物发生器发生多分散颗粒物，通过静态混匀装置后到达动态混匀装置中；

步骤13：利用被检测仪和标准检测仪同时监测并记录混匀箱中的颗粒物浓度；

步骤14：调节颗粒物发生器发生的颗粒物浓度，使颗粒物浓度分别调节为被检仪器量程的高中低三点，并记录标准仪器和被检仪器的数值，通过以下公式计算其被检仪器的颗粒物浓度示值误差；

其中：ΔC：质量浓度示值误差,％；

被检仪器示值的平均值,mg/m3；

标准仪器示值的平均值,mg/m3。

7.一种采用权利要求1至5任一项所述颗粒物混匀系统的颗粒物切割器切割效率检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤21：调节颗粒物切割器转换器至所需的切割器；

步骤22：由颗粒物发生器分别发生单分散颗粒物，通过静态混匀装置后到达动态混匀装置中；

步骤23：混匀箱中的多分散颗粒物经颗粒物采样头发送至被检测颗粒物切割器，由气溶胶光度计记录通过被检测切割器的颗粒物浓度；

步骤24：改变颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径，记录粒径谱仪的示值得到得到穿透率，通过曲线拟合，最后计算得到切割效率。

8.根据权利要求7所述的颗粒物切割器切割效率检测方法，其特征在于，在步骤24中，PM₁₀切割器切割效率检测时，颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径为：3μm、5μm、7μm、9μm、11μm、13μm、15μm和17μm；

PM2.5切割器切割效率检测时，颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径为：1.5μm、2μm、2.2μm、2.5μm、2.8μm、3.0μm、3.5μm和4.0μm；

PM1.0切割器切割效率检测时，颗粒物发生器发生的单分散颗粒物的粒径为：0.6μm、0.8μm、1.0μm、1.2μm和1.4μm。

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