CN114461150A - 一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质，方法包括：获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态；当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。通过实施本发明，通过获取自动测试设备一组测试站点的测试状态，在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。由此，在该测试状态下进行测试数据的转移，不会影响自动测试设备的测试速度；同时，通过将测试数据进行转移也可以避免内存溢出的问题。

Description

一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质
技术领域
本发明涉及自动测试设备技术领域，具体涉及一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质。
背景技术
自动测试设备在对被测设备进行测试时，通过自动测试设备上的测试站点连接被测设备向被测设备注入电刺激进行测试。在测试时，通常会设置多个测试站点进行连续测试。多个测试站点的连续测试由工作站驱动，使得被测设备(Device Under Test，DUT)从一个测试站点转移到另一个测试站点。每个测试站点在对被测设备进行测试时，是根据给定参数集测试DUT。
在测试过程中，自动测试设备将测试数据从测试站点发送到工作站。工作站将测试数据存储在缓存存储器或内存(易失性存储器)中，并最终将测试数据写入硬盘(永久存储器)。由于自动测试设备测试的连续性，在进行测试时工作站会不断接收到测试数据，测试数据会先存储在缓存存储器中，但是如果在测试期间将测试数据转移到硬盘中，会降低服务器性能，延长测试时间。测试后卸载非常耗时，并导致工作站暂时无法用于进一步的DUT测试。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了涉及一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质，以解决现有技术中在测试期间将测试数据转移到硬盘中，会降低服务器性能，延长测试时间；测试后卸载非常耗时，并导致工作站暂时无法用于进一步的DUT测试的技术问题。
本发明提出的技术方案如下：
本发明实施例第一方面提供一种用于自动测试设备数据聚合的方法，包括：获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态；当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。
结合本发明实施例第一方面，在本发明实施例第一方面第一实施方式中，当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘，包括：当自动测试设备的任一测试站点重新测试任一被测设备时，将测试数据从缓存存储器转移至内存中；当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
结合本发明实施例第一方面第一实施方式，在本发明实施例第一方面第二实施方式中，当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中，包括：当一组测试站点的任一非退出测试站点处，给定被测设备测试结果不符合测试要求，给定被测设备之后的被测设备在所述非退出测试站点的测试结果符合测试要求，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中；当一组测试站点的退出测试站点处，给定被测设备在所述退出测试站点完成测试后，检测到另一个待测试的被测设备时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
结合本发明实施例第一方面，在本发明实施例第一方面第三实施方式中，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：将测试参数平均划分到一组测试站点的每个测试站点上；当沿着该组测试站点测试被测设备队列时，将测试数据写入缓存存储器。
结合本发明实施例第一方面，在本发明实施例第一方面第四实施方式中，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：将测试不同硬件特性的测试参数划分到一组测试站点的每个测试站点上；当沿着该组测试站点测试被测设备队列时，将测试数据写入缓存存储器。
本发明实施例第二方面提供一种用于自动测试设备数据聚合的系统，包括：自动测试设备，设置有一组测试站点；工作站，连接所述自动测试设备，采用本发明实施例第一方面及第一方面任一项所述的用于自动测试设备数据聚合的方法进行自动测试设备测试数据的聚合。
结合本发明实施例第二方面，在本发明实施例第二方面第一实施方式中，所述工作站包括：缓存存储器、内存和硬盘；所述工作站存储有测试参数，所述工作站控制所述自动测试设备测试时，将所述测试参数发送到所述自动测试设备。
结合本发明实施例第二方面，在本发明实施例第二方面第二实施方式中，所述系统采用流水线或转盘、管道/传送带或重力进给的测试方式进行测试。
结合本发明实施例第二方面，在本发明实施例第二方面第三实施方式中，还包括：被测设备加载器、被测设备转盘及被测设备卸载器，所述被测设备加载器用于将未测试的被测设备加载到所述被测设备转盘上，所述被测设备转盘用于将未测试的被测设备移动至测试站点，所述被测设备卸载器用于将测试过的被测设备移出所述被测设备转盘。
本发明实施例第三方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如本发明实施例第一方面及第一方面任一项所述的用于自动测试设备数据聚合的方法。
本发明提供的技术方案，具有如下效果：
本发明实施例提供的用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质，通过获取自动测试设备一组测试站点的测试状态，在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。由此，在该测试状态下进行测试数据的转移，不会影响自动测试设备的测试速度；同时，通过将测试数据进行转移也可以避免内存溢出的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例的用于自动测试设备数据聚合的方法的流程图；
图2是根据本发明另一实施例的用于自动测试设备数据聚合的方法的流程图；
图3是根据本发明实施例的用于自动测试设备数据聚合的系统的结构框图；
图4是根据本发明另一实施例的用于自动测试设备数据聚合的系统的结构框图；
图5是根据本发明另一实施例的用于自动测试设备数据聚合的系统的结构框图；
图6是根据本发明实施例提供的计算机可读存储介质的结构示意图；
图7是根据本发明实施例提供的用于自动测试设备数据聚合的系统中的工作站的结构示意图。
具体实施方式
正如在背景技术中所述，在采用自动测试设备进行连续测试时，测试数据会不断保存进入到缓存存储器中，如果在测试期间没有对测试数据进行转移，自动测试设备工作站会出现内存溢出，而内存溢出会导致工作站执行速度变慢，或工作站挂起，从而导致测试时间延长或测试停止。但是，在连续测试期间对测试数据进行转移则会出现工作站资源争用(数据传输也需要资源)，这会减慢测试速度。
有鉴于此，本发明实施例提供一种用于自动测试设备数据聚合的方法，包括：获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态；当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种用于自动测试设备数据聚合的方法，如图1所示，该方法包括如下步骤：
步骤S101：获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态。
步骤S102：当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。
具体地，在自动测试设备的测试过程中，每个测试站点根据给定参数集测试被测设备。在测试过程中，如果在任一测试站点的被测设备的测试结果未满足预定标准，则被测设备将退出该组测试站点。并且，在测试过程中，测试站点连接到被测设备的机械探针可能存在放置未对准的情况，即存在连接不可靠的情况，在此种情况下进行测试的测试结果也可以准确，需要重新测试。由此，可以在任一测试站点触发被测设备进行任意次数的重新测试。重新测试会暂时停止DUT队列进入该组测试站点。因此，根据上述分析，可以在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。
本发明实施例提供的用于自动测试设备数据聚合的方法，通过获取自动测试设备一组测试站点的测试状态，在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。由此，在该测试状态下进行测试数据的转移，不会影响自动测试设备的测试速度；同时，通过将测试数据进行转移也可以避免内存溢出的问题。
作为本发明实施例的一种可选地实施方式，如图2所示，当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘，包括如下步骤：
步骤S201：当自动测试设备的任一测试站点重新测试任一被测设备时，将测试数据从缓存存储器转移至内存中；具体地，当在某一测试站点重新测试被测设备队列中的被测设备时，此时，被测设备队列暂时停止，可以在此时将测试数据存储在缓存存储器中的测试数据移至内存中。其中，当需要较大容量的存储器时，也可以采用随机存储器。但是缓存存储器更接近CPU，采用缓存存储器可以实现测试数据的快速保存。
步骤S202：当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
在一实施方式中，当一组测试站点的任一非退出测试站点处，给定被测设备测试结果不符合测试要求，给定被测设备之后的被测设备在所述非退出测试站点的测试结果符合测试要求时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中；或者，当一组测试站点的退出测试站点处，给定被测设备在所述退出测试站点完成测试后，检测到另一个待测试的被测设备时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
具体地，可以在测试状态满足上述条件时将测试数据转移到硬盘中。其中，不仅可以将内存中的测试数据转移到硬盘中，也可以将缓存存储器中的测试数据转移到硬盘中。
作为本发明实施例的一种可选地实施方式，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：将测试参数平均划分到一组测试站点的每个测试站点上；当沿着该组测试站点测试被测设备队列时，将测试数据写入缓存存储器。具体地，在对一组测试站点中的每个测试站点分配测试参数时，可以采用平均分配的方式分配测试参数，从而使得每个测试站点的测试次数相等或者接近相等。其中，当缓存存储器内存不足时，也可以直接将测试数据写入到内存中。
作为本发明实施例的一种可选地实施方式，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：将测试不同硬件特性的测试参数划分到一组测试站点的每个测试站点上；当沿着该组测试站点测试被测设备队列时，将测试数据写入缓存存储器。具体地，在对一组测试站点中的每个测试站点分配测试参数时，也可以根据测试的不同硬件特性分配测试参数，从而使得每个测试站点测试特定类型的硬件特性，其中，该硬件特性包括WIFI、蓝牙、功率等特性。其中，当缓存存储器内存不足时，也可以直接将测试数据写入到内存中。
本发明实施例还提供一种用于自动测试设备数据聚合的系统，如图3所示，该系统包括：自动测试设备10，设置有一组测试站点11；工作站20，连接所述自动测试设备10，采用上述实施例所述的用于自动测试设备数据聚合的方法进行自动测试设备测试数据的聚合。
具体地，在自动测试设备的测试过程中，每个测试站点根据给定参数集测试被测设备。在测试过程中，如果在任一测试站点的被测设备的测试结果未满足预定标准，则被测设备将退出该组测试站点。并且，在测试过程中，测试站点连接到被测设备的机械探针可能存在放置未对准的情况，即存在连接不可靠的情况，在此种情况下进行测试的测试结果也可以准确，需要重新测试。由此，可以在任一测试站点触发被测设备进行任意次数的重新测试。重新测试会暂时停止DUT队列进入该组测试站点。因此，根据上述分析，可以在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。
本发明实施例提供的用于自动测试设备数据聚合的系统，其工作站通过获取自动测试设备一组测试站点的测试状态，在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。由此，在该测试状态下进行测试数据的转移，不会影响自动测试设备的测试速度；同时，通过将测试数据进行转移也可以避免内存溢出的问题。
在一实施方式中，如图3所示，所述工作站20包括：缓存存储器21、内存22和硬盘23；所述工作站20存储有测试参数，所述工作站20控制所述自动测试设备10测试时，将所述测试参数发送到所述自动测试设备10。具体地，工作站能够根据测试参数控制自动测试设备的测试站点完成测试，同时获取到被测设备的测试数据，将测试数据写入到缓存数据器，当缓存存储器内存不足时，也可以直接将测试数据写入到内存中。然后，当自动测试设备的任一测试站点重新测试任一被测设备时，将测试数据从缓存存储器转移至内存中；当一组测试站点的任一非退出测试站点处，给定被测设备测试结果不符合测试要求，给定被测设备之后的被测设备在所述非退出测试站点的测试结果符合测试要求，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中；当一组测试站点的退出测试站点处，给定被测设备在所述退出测试站点完成测试后，检测到另一个待测试的被测设备时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
其中，工作站20采用缓存存储器21保存测试数据，缓存存储器的更接近CPU，采用缓存存储器写入测试数据相比随机存储器写入速度更快。
在一实施方式中，用于自动测试设备数据聚合的系统采用流水线或转盘、管道/传送带或重力进给的测试方式进行测试。
其中，如图4所示为采用流水线或转盘的测试方式。采用该测试方式的系统，除自动测试设备10和工作站20外，还包括：被测设备加载器30、被测设备转盘40及被测设备卸载器50，所述被测设备加载器30用于将未测试的被测设备(DUT)加载到所述被测设备转盘40上，所述被测设备转盘40用于将未测试的被测设备移动至测试站点，所述被测设备卸载器50用于将测试过的被测设备移出所述被测设备转盘40。此外，如图5所示，当采用重力进给的测试方式测试时，该系统也包括被测设备加载器30及被测设备卸载器50，但是无需采用被测设备转盘。
本发明实施例提供的用于自动测试设备数据聚合的系统的功能描述详细参见上述实施例中用于自动测试设备数据聚合的方法描述。
本发明实施例还提供一种存储介质，如图6所示，其上存储有计算机程序601，该指令被处理器执行时实现上述实施例中用于自动测试设备数据聚合的方法的步骤。该存储介质上还存储有音视频流数据，特征帧数据、交互请求信令、加密数据以及预设数据大小等。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
本发明实施例提供用于自动测试设备数据聚合的系统中的工作站，如图7所示，该工作站可以包括处理器51和存储器52，其中处理器51和存储器52可以通过总线或者其他方式连接，图7中以通过总线连接为例。
处理器51可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器51还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
存储器52作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的对应的程序指令/模块。处理器51通过运行存储在存储器52中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的用于自动测试设备数据聚合的方法。
存储器52可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作装置、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器51所创建的数据等。此外，存储器52可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器52可选包括相对于处理器51远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器51。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
所述一个或者多个模块存储在所述存储器52中，当被所述处理器51执行时，执行如图1－2所示实施例中的用于自动测试设备数据聚合的方法。
上述工作站具体细节可以对应参阅图1至图2所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。

Claims (10)

1.一种用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，包括：
获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态；
当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。
2.根据权利要求1所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘，包括：
当自动测试设备的任一测试站点重新测试任一被测设备时，将测试数据从缓存存储器转移至内存中；
当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
3.根据权利要求2所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中，包括：
当一组测试站点的任一非退出测试站点处，给定被测设备测试结果不符合测试要求，给定被测设备之后的被测设备在所述非退出测试站点的测试结果符合测试要求，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中；
当一组测试站点的退出测试站点处，给定被测设备在所述退出测试站点完成测试后，检测到另一个待测试的被测设备时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。
4.根据权利要求1所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：
将测试参数平均划分到一组测试站点的每个测试站点上；
当沿着该组测试站点测试被测设备队列时，将测试数据写入缓存存储器。
5.根据权利要求1所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：
将测试不同硬件特性的测试参数划分到一组测试站点的每个测试站点上；
当沿着该组测试站点测试被测设备队列时，将测试数据写入缓存存储器。
6.一种用于自动测试设备数据聚合的系统，其特征在于，包括：
自动测试设备，设置有一组测试站点；
工作站，连接所述自动测试设备，采用权利要求1－5任一项所述的用于自动测试设备数据聚合的方法进行自动测试设备测试数据的聚合。
7.根据权利要求6所述的用于自动测试设备数据聚合的系统，其特征在于，
所述工作站包括：缓存存储器、内存和硬盘；
所述工作站存储有测试参数，所述工作站控制所述自动测试设备测试时，将所述测试参数发送到所述自动测试设备。
8.根据权利要求6所述的用于自动测试设备数据聚合的系统，其特征在于，所述系统采用流水线或转盘、管道/传送带或重力进给的测试方式进行测试。
9.根据权利要求6所述的用于自动测试设备数据聚合的系统，其特征在于，还包括：被测设备加载器、被测设备转盘及被测设备卸载器，
所述被测设备加载器用于将未测试的被测设备加载到所述被测设备转盘上，所述被测设备转盘用于将未测试的被测设备移动至测试站点，所述被测设备卸载器用于将测试过的被测设备移出所述被测设备转盘。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如权利要求1－5任一项所述的用于自动测试设备数据聚合的方法。
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