CN114448502A - 简并模式内差分模式时延的测量方法及装置 - Google Patents

简并模式内差分模式时延的测量方法及装置 Download PDF

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CN114448502A CN202011215975.8A CN202011215975A CN114448502A CN 114448502 A CN114448502 A CN 114448502A CN 202011215975 A CN202011215975 A CN 202011215975A CN 114448502 A CN114448502 A CN 114448502A
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李允博
张德朝
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Abstract

本发明提供了一种简并模式内差分模式时延的测量方法及装置，属于通信技术领域。测量装置包括光源单元、模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元，模式转换器，用于将单模光纤中的基模转换成少模光纤中的特定简并模式；光功率分路器，用于将转换成特定简并模式的激光分为两路；模场控制器，用于控制简并模式能量在其本征矢量模式之间的分配和模场朝向的旋转，使得测量装置处于不同的测量状态；光谱仪，用于采集光源单元发出的激光的频域波形；检测单元，用于获得光谱仪采集的频域波形，并根据频域波形计算少模光纤中的被测简并模式的简并模式内差分模式时延。本发明的技术方案能够方便地对简并模式内差分模式时延进行准确的测量。

Description

简并模式内差分模式时延的测量方法及装置
技术领域
本发明涉及通信技术领域，特别是指一种简并模式内差分模式时延的测量方法及装置。
背景技术
随着网络用户的持续增加、网络数据新型业务的不断涌现，对于网络容量的需求不断增长。由于常见的光的复用维度(时间、波长、偏振、多进制调制等)都已经面临潜力开发的瓶颈，当前基于普通单模光纤的光通信系统已经无法应对蓬勃的网络容量需求。少模光纤(Few-mode fiber,FMF)中的模式作为一种新型的光的复用维度受到了世界范围内的广泛关注。在理想情况下，各个模式之间是相互正交的，可以作为独立信道使用的，通过与传统的时间、波长、偏振和多进制调制格式进行多维复用，可以大大增加系统的传输容量，在未来可以广泛应用在切片分组传送网(Slicing Packet Network,SPN)、光传送网(Optical Transport Network,OTN)、光无源接入网(Passive Optical Network,PON)、5G前传(5G Front-haul)和数据中心光互连(Data Center Interconnection,DCI)等关键场景。因此，研究和测试少模光纤中的模式相关参数对于监控系统性能具有重要的意义。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种简并模式内差分模式时延的测量方法及装置，能够方便地对简并模式内差分模式时延进行准确的测量。
为解决上述技术问题，本发明的实施例提供技术方案如下：
一方面，提供一种简并模式内差分模式时延的测量装置，包括用于发出激光的光源单元以及依次设置在所述激光的光路上的模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元，所述光功率分路器和所述模场控制器之间设置有少模光纤，所述光源单元通过单模光纤将激光传输至所述模式转换器；
所述模式转换器，用于将所述单模光纤中的基模转换成所述少模光纤中的特定简并模式；
所述光功率分路器，用于将转换成特定简并模式的激光分为两路；
所述模场控制器，用于控制简并模式能量在其本征矢量模式之间的分配和模场朝向的旋转，使得所述测量装置处于不同的测量状态；
所述光谱仪，用于采集所述光源单元发出的激光经过所述模式转换器、光功率分路器、模场控制器以及所述少模光纤后的频域波形；
所述检测单元，与所述光谱仪连接，用于获得所述测量装置处于不同的测量状态时所述光谱仪采集的频域波形，并根据所述频域波形计算所述少模光纤中的被测简并模式的简并模式内差分模式时延。
一些实施例中，所述光功率分路器具体用于将转换成特定简并模式的激光按照50:50的比例平均分成两路。
一些实施例中，所述光源单元的工作波长范围为850-1650nm，所述光源单元的光谱宽度为1-20nm，所述光源单元的激光功率为0-200mW。
一些实施例中，所述模式转换器采用以下至少一种：
熔融拉锥法制作的光纤型模式选择耦合器；
侧边抛磨法制作的光纤型模式选择耦合器；
3D激光直写法制作的基于硅酸盐玻璃基片的模式选择耦合器；
平面光波导型模式选择耦合器；
长周期光纤光栅型模式转换器；
机械式相位片型模式转换器；
基于空间光调制器的模式转换器；
多平面光转换器；
光子灯笼。
一些实施例中，所述光功率分路器采用以下至少一种：
熔融拉锥法制作的光纤型耦合器；
侧边抛磨法制作的光纤型耦合器；
3D激光直写法制作的基于硅酸盐玻璃基片的耦合器；
平面光波导型耦合器；
基于空间光调制器的功率分路器。
一些实施例中，所述模场控制器为光纤环型模场控制器或基于电相位控制的模场控制器。
一些实施例中，所述检测单元具体用于在工作波长下，获取被测简并模式下的频域波形，并根据所述频域波形计算其简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
本发明实施例还提供了一种简并模式内差分模式时延的测量方法，应用于如上所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，包括：
选取长度为L的少模光纤，将所述少模光纤置于所述测量装置的光功率分路器和模场控制器之间，并调通光路；
通过所述模场控制器控制所述测量装置处于不同的测量状态，以测得所述少模光纤中各简并模式的简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
一些实施例中，所述少模光纤的长度L在5km至100km之间。
一些实施例中，所述方法具体包括：
将对应被测简并模式的所述模式转换器置于所述测量装置的工作光路中，并调节所述光源单元的工作波长、光谱宽度和输出功率分别为预设工作波长、预设光谱宽度和预设输出功率；
调节所述模场控制器，使得所述光谱仪上显示的频域波形呈现峰谷波动形状，获取所述光谱仪显示的频域波形；
利用所述检测单元分析采集的频域波形，以所述预设工作波长为中心，所述预设光谱宽度范围内，从短波长起，记录第一个波峰对应的波长λ1，向长波长方向计数波峰的个数N，并记录最后一个波峰对应的波长λN，通过以下公式计算该预设工作波长下的被测简并模式内差分模式时延IDM-DMD以及被测简并模式内差分模式时延系数CIDM-DMD：
IDM-DMD＝N/c×(1/λ1-1/λN)；
CIDM-DMD＝IDM-DMD/L1/2；
其中，c为真空光速。
本发明实施例还提供了一种简并模式内差分模式时延的测量装置，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序；所述处理器执行所述程序时实现如上所述的简并模式内差分模式时延的测量方法。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述的简并模式内差分模式时延的测量方法中的步骤。
本发明的实施例具有以下有益效果：
上述方案中，测量装置包括依次设置的光源单元、模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元，通过对光源单元、模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元的选择和设计，能够实现对简并模式的检测，简单可靠，集成度高，能够方便地对简并模式内差分模式时延进行简单、准确的测量，解决目前无法测定简并模式内差分模式时延的问题，并且具有测量速度快、测量动态范围大的优点。
附图说明
图1为本发明实施例简并模式内差分模式时延的测量装置的结构示意图；
图2为本发明实施例频域波形的示意图；
图3为本发明实施例简并模式内差分模式时延的测量装置的组成示意图。
具体实施方式
为使本发明的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
对于少模光纤，由于弱导条件，其所支持的各本征矢量模式会发生简并，即具有相近有效折射率的本征矢量模式简并成为一个简并模式。在模分复用光纤传输系统中，一般将简并模式作为信道单元使用，即组成同一个简并模式的各本征矢量模式在光纤传输中承载相同的信号。然而，同一简并模式内的各本征矢量模式仍然存在微小的有效折射率差和传播速度差，从而会在传输过程当中累积时延，进而造成信号发生展宽，引起符号间串扰(Inter symbol interference,ISI)，造成信号质量下降，影响网络传输性能。这种现象称之为“简并模式内差分模式时延(Intra-degenerate-mode Differential Mode Delay,IDM-DMD)”。简并模式内差分模式时延是影响系统性能及稳定性的重要参数。
本发明实施例提供一种简并模式内差分模式时延的测量方法及装置，能够对简并模式内差分模式时延进行简单、准确的测量，以解决目前无法测定简并模式内差分模式时延的问题，具有简单易行、动态范围大、测量速度快、测量准确的优点。
本发明实施例提供一种简并模式内差分模式时延的测量装置，如图1所示，包括用于发出激光的光源单元01以及依次设置在所述激光的光路上的模式转换器02、光功率分路器03、模场控制器04、光谱仪05和检测单元06，所述光功率分路器03和所述模场控制器04之间设置有少模光纤07，所述模式转换器04通过单模光纤与所述光源单元01连接；
所述模式转换器02，用于将所述单模光纤中的基模转换成所述少模光纤中的特定简并模式；
所述光功率分路器03，用于将转换成特定简并模式的激光分为两路；
所述模场控制器04，用于控制简并模式能量在其本征矢量模式之间的分配和模场朝向的旋转，使得所述测量装置处于不同的测量状态；
所述光谱仪05，用于采集所述光源单元01发出的激光经过所述模式转换器02、光功率分路器03、模场控制器04以及所述少模光纤后的频域波形；
所述检测单元06，与所述光谱仪05连接，用于获得所述测量装置处于不同的测量状态时所述光谱仪05采集的频域波形，并根据所述频域波形计算所述少模光纤中的被测简并模式的简并模式内差分模式时延。
本实施例的测量装置是基于萨格奈克干涉仪的，根据萨格奈克干涉仪的原理，将激光分为两路之后，将两路光对向注入同一个光纤中后，会产生干涉，这个干涉所产生的频域波形对应要测量的模式内差分模式时延的大小。
其中，少模光纤为支持多个导波模式的光纤；简并模式为由各个有效折射率相近的本征矢量模式组成的模式；简并模式内差分模式时延，为同一简并模式内的各本征矢量模式因存在微小的有效折射率差和传播速度差，在传输过程当中累积的时延。
本实施例的测量装置，测量装置包括依次设置的光源单元、模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元，通过对光源单元、模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元的选择和设计，能够实现对简并模式的检测，简单可靠，集成度高，能够方便地对简并模式内差分模式时延进行简单、准确的测量，解决目前无法测定简并模式内差分模式时延的问题，并且具有测量速度快、测量动态范围大的优点。
一些实施例中，光功率分路器03具体用于将转换成特定简并模式的激光按照50:50的比例平均分成两路。
一些实施例中，所述光源单元01的工作波长范围为850-1650nm，所述光源单元01的光谱宽度为1-20nm，所述光源单元01的激光功率为0-200mW。本实施例中，光源单元01的工作波长、光谱宽度、激光功率可调，用于提供宽谱连续的激光，光源单元01的工作波长范围在850-1650nm之间连续可调，光谱宽度在1-20nm之间连续可调，激光功率在0-200mW之间连续可调。
一些实施例中，所述模式转换器02采用以下至少一种：
熔融拉锥法制作的光纤型模式选择耦合器；
侧边抛磨法制作的光纤型模式选择耦合器；
3D激光直写法制作的基于硅酸盐玻璃基片的模式选择耦合器；
平面光波导型模式选择耦合器；
长周期光纤光栅型模式转换器；
机械式相位片型模式转换器；
基于空间光调制器的模式转换器；
多平面光转换器；
光子灯笼。
一些实施例中，光功率分路器03采用以下至少一种：
熔融拉锥法制作的光纤型耦合器；
侧边抛磨法制作的光纤型耦合器；
3D激光直写法制作的基于硅酸盐玻璃基片的耦合器；
平面光波导型耦合器；
基于空间光调制器的功率分路器。
一些实施例中，所述模场控制器04为光纤环型模场控制器或基于电相位控制的模场控制器。
一些实施例中，所述检测单元06具体用于在工作波长下，获取被测简并模式下的频域波形，并根据所述频域波形计算其简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
本发明实施例还提供了一种简并模式内差分模式时延的测量方法，应用于如上所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，包括：
选取长度为L的少模光纤，将所述少模光纤置于所述测量装置的光功率分路器和模场控制器之间，并调通光路；
通过所述模场控制器控制所述测量装置处于不同的测量状态，以测得所述少模光纤中各简并模式的简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
一些实施例中，所述少模光纤的长度L在5km至100km之间。
一些实施例中，所述方法具体包括：
将对应被测简并模式的所述模式转换器置于所述测量装置的工作光路中，并调节所述光源单元的工作波长、光谱宽度和输出功率分别为预设工作波长、预设光谱宽度和预设输出功率；
调节所述模场控制器，使得所述光谱仪上显示的频域波形呈现峰谷波动形状，获取所述光谱仪显示的频域波形；
利用所述检测单元分析采集的频域波形，以所述预设工作波长为中心，所述预设光谱宽度范围内，从短波长起，记录第一个波峰对应的波长λ1，向长波长方向计数波峰的个数N，并记录最后一个波峰对应的波长λN，通过以下公式计算该预设工作波长下的被测简并模式内差分模式时延IDM-DMD以及被测简并模式内差分模式时延系数CIDM-DMD：
IDM-DMD＝N/c×(1/λ1-1/λN)；
CIDM-DMD＝IDM-DMD/L1/2；
其中，c为真空光速。
一具体实施例中，光功率分路器为50:50光功率分路器；光源单元的工作波长可调，如图1所示，光源单元01可以包括宽谱连续激光光源10、光放大器11、光衰减器12、和/或光滤波器13、以及单模光纤；其中，所述宽谱连续激光光源10，用于提供宽谱连续激光，工作波长范围在850-1650nm之间连续可调；所述光放大器11，用于放大工作时使用的激光波段，即工作波段；所述光衰减器，用于调节光功率；所述光放大器11和光衰减器12用于调节工作波段激光的功率，以配合模式转换器、50:50光功率分路器、模场控制器和光谱仪；所述光滤波器13，其中心波长在宽谱连续激光光源的工作波长范围内可调，最小带宽不大于1nm，用于调节光源单元输出激光的光谱宽度；所述单模光纤传导宽谱连续激光光源输出的激光，并形成基模，其输入端用于光输入，优选与光滤波器相连，其输出端用于输出光至模式转换器，优选输出端带连接头。所述单模光纤为裸光纤或跳线。
所述模式转换器用于将单模光纤中的基模转换成被测的少模光纤中的特定简并模式。
所述50:50光功率分路器，用于将转换到特定简并模式的激光按照50:50的比例平均分成两路；所述模场控制器，用于控制简并模式能量在其本征矢量模式之间的分配和模场朝向的旋转，使得测量装置处于不同的状态；所述检测单元在工作波长下，获取被测简并模式下的频域波形，并据此计算其简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数；所述模式转换器，为熔融拉锥法制作的光纤型模式选择耦合器；所述50:50光功率分路器，为熔融拉锥法制作的光纤型耦合器；所述模场控制器，为光纤环型模场控制器。本实施例中的上述器件的输入端和输出端均具有基于跳线的光纤连接头；所述光谱仪，用于采集光源单元发出的激光经过上述器件和被测少模光纤之后的频域波形，所述频域波形为测量波长范围内光功率随波长变化波形；所述检测单元，用于获得不同状态下光谱仪采集的频域波形，并计算被测少模光纤中的被测简并模式的简并模式内差分模式时延。
在实现本实施例的测量方法时，执行以下步骤：
(1)选取长度为L的被测少模光纤，将其置于本发明提供的基于萨格奈克干涉仪的测量装置的50:50光功率分路器和模场控制器之间，并调通光路。
所述被测少模光纤，为环形六模光纤，支持LP01、LP11、LP21、LP02、LP31、LP12共六个简并模式，其中LP01和LP02为圆对称简并模式，LP11、LP21、LP31、LP12为非圆对称简并模式；所述被测光纤长度L为100km，其输入输出端带有接头。
(2)使得所述基于萨格奈克干涉仪的测量装置处于相应的测量状态下，并返回测得的被测少模光纤中各简并模式的简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
所述少模光纤中简并模式内差分模式时延测量方法，其具体步骤如下：
(a)将对应被测简并模式的模式转换器置于所述基于萨格奈克干涉仪的测量装置的工作光路中，并调节所述光源单元输出工作波长为1534nm到1567nm，输出功率为23dBm；
(b)调节所述模场控制器，使得光谱仪上显示的频域波形呈现峰谷波动形状，获取光谱仪显示的频域波形；
(c)获取检测单元计算的预设工作波长下被测少模光纤中的被测简并模式的简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数，具体计算过程如下：分析被采集的频域波形，在以工作波长为中心，预设光谱宽度范围内，从短波长起，记录第一个波峰对应的波长λ1，向长波长方向计数波峰的个数N，并记录最后一个波峰对应的波长λN，该工作波长下，被测少模光纤中的被测简并模式内差分模式时延IDM-DMD计算公式为：
IDM-DMD＝N/c×(1/λ1-1/λN)
其中c为真空光速。
被测少模光纤中的被测简并模式内差分模式时延系数CIDM-DMD计算公式为：
CIDM-DMD＝IDM-DMD/L1/2
采集到的简并模LP21的光谱波形如图2所示，图2为所测模式为环形六模光纤中的LP21模时，获取的频域波形。
如表1所示，LP01模在传输100km环形六模光纤后的圆对称简并模式内差分模式时延为1.1ps，圆对称简并模式内差分模式时延系数为0.11ps/km1/2；LP11模在传输100km环形六模光纤后的非圆对称简并模式内差分模式时延为31.3ps，非圆对称简并模式内差分模式时延系数为3.13ps/km1/2；LP21模在传输100km环形六模光纤后的圆对称简并模式内差分模式时延为32.6ps，非圆对称简并模式内差分模式时延系数为3.26ps/km1/2；LP02模在传输100km环形六模光纤后的圆对称简并模式内差分模式时延为1.6ps，圆对称简并模式内差分模式时延系数为0.16ps/km1/2；LP31模在传输100km环形六模光纤后的非圆对称简并模式内差分模式时延为38.7ps，非圆对称简并模式内差分模式时延系数为3.87ps/km1/2；LP12模在传输100km环形六模光纤后的非圆对称简并模式内差分模式时延为55.1ps，非圆对称简并模式内差分模式时延系数为5.51ps/km1/2。
表1
Figure BDA0002760359750000101
本实施例的测量装置，通过对光源单元、模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元的选择和设计，实现了对简并模式的检测，简单可靠，集成度高，能够方便地对简并模式内差分模式时延进行简单、准确的测量，解决目前无法测定简并模式内差分模式时延的问题，并且具有测量速度快、测量动态范围大的优点。本实施例的测量方案能减少少模光纤的拆装次数，调试简单，一次调试即可得到被测简并模式内差分模式时延及其系数，大幅降低了工作量，自动化程度高。
本发明实施例还提供了一种简并模式内差分模式时延的测量装置，如图3所示，包括存储器21、处理器22及存储在所述存储器21上并可在所述处理器22上运行的计算机程序；所述处理器22执行所述程序时实现如上所述的简并模式内差分模式时延的测量方法。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述的简并模式内差分模式时延的测量方法中的步骤。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储待检测终端设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算待检测终端设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，包括用于发出激光的光源单元以及依次设置在所述激光的光路上的模式转换器、光功率分路器、模场控制器、光谱仪和检测单元，所述光功率分路器和所述模场控制器之间设置有少模光纤，所述光源单元通过单模光纤将激光传输至所述模式转换器；
所述模式转换器，用于将所述单模光纤中的基模转换成所述少模光纤中的特定简并模式；
所述光功率分路器，用于将转换成特定简并模式的激光分为两路；
所述模场控制器，用于控制简并模式能量在其本征矢量模式之间的分配和模场朝向的旋转，使得所述测量装置处于不同的测量状态；
所述光谱仪，用于采集所述光源单元发出的激光经过所述模式转换器、光功率分路器、模场控制器以及所述少模光纤后的频域波形；
所述检测单元，与所述光谱仪连接，用于获得所述测量装置处于不同的测量状态时所述光谱仪采集的频域波形，并根据所述频域波形计算所述少模光纤中的被测简并模式的简并模式内差分模式时延。
2.根据权利要求1所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，所述光功率分路器具体用于将转换成特定简并模式的激光按照50:50的比例平均分成两路。
3.根据权利要求1所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，所述光源单元的工作波长范围为850-1650nm，所述光源单元的光谱宽度为1-20nm，所述光源单元的激光功率为0-200mW。
4.根据权利要求1所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，所述模式转换器采用以下至少一种：
熔融拉锥法制作的光纤型模式选择耦合器；
侧边抛磨法制作的光纤型模式选择耦合器；
3D激光直写法制作的基于硅酸盐玻璃基片的模式选择耦合器；
平面光波导型模式选择耦合器；
长周期光纤光栅型模式转换器；
机械式相位片型模式转换器；
基于空间光调制器的模式转换器；
多平面光转换器；
光子灯笼。
5.根据权利要求1所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，所述光功率分路器采用以下至少一种：
熔融拉锥法制作的光纤型耦合器；
侧边抛磨法制作的光纤型耦合器；
3D激光直写法制作的基于硅酸盐玻璃基片的耦合器；
平面光波导型耦合器；
基于空间光调制器的功率分路器。
6.根据权利要求1所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，所述模场控制器为光纤环型模场控制器或基于电相位控制的模场控制器。
7.根据权利要求1所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，其特征在于，所述检测单元具体用于在工作波长下，获取被测简并模式下的频域波形，并根据所述频域波形计算其简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
8.一种简并模式内差分模式时延的测量方法，其特征在于，应用于如权利要求1-7中任一项所述的简并模式内差分模式时延的测量装置，包括：
选取长度为L的少模光纤，将所述少模光纤置于所述测量装置的光功率分路器和模场控制器之间，并调通光路；
通过所述模场控制器控制所述测量装置处于不同的测量状态，以测得所述少模光纤中各简并模式的简并模式内差分模式时延及简并模式内差分模式时延系数。
9.根据权利要求8所述的简并模式内差分模式时延的测量方法，其特征在于，所述少模光纤的长度L在5km至100km之间。
10.根据权利要求8所述的简并模式内差分模式时延的测量方法，其特征在于，所述方法具体包括：
将对应被测简并模式的所述模式转换器置于所述测量装置的工作光路中，并调节所述光源单元的工作波长、光谱宽度和输出功率分别为预设工作波长、预设光谱宽度和预设输出功率；
调节所述模场控制器，使得所述光谱仪上显示的频域波形呈现峰谷波动形状，获取所述光谱仪显示的频域波形；
利用所述检测单元分析采集的频域波形，以所述预设工作波长为中心，所述预设光谱宽度范围内，从短波长起，记录第一个波峰对应的波长λ1，向长波长方向计数波峰的个数N，并记录最后一个波峰对应的波长λN，通过以下公式计算该预设工作波长下的被测简并模式内差分模式时延IDM-DMD以及被测简并模式内差分模式时延系数CIDM-DMD：
IDM-DMD＝N/c×(1/λ1-1/λN)；
CIDM-DMD＝IDM-DMD/L1/2；
其中，c为真空光速。
11.一种简并模式内差分模式时延的测量装置，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序；其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求8-10中任一项所述的简并模式内差分模式时延的测量方法。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求8-10中任一项所述的简并模式内差分模式时延的测量方法中的步骤。
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