CN114424277A - 用于显示不足的传感器照明的技术 - Google Patents

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Abstract

用于驱动包括发光像素组的显示器的方法、系统和装置，包括编码在计算机存储介质上的计算机程序。传感器布置在显示器下方。该传感器包括发射器，用于引导电磁辐射通过位于发射器上方的显示器的多个像素。该方法包括：根据帧速率用信号来寻址多个发光像素组中的每个像素组，其中，其间发光像素组被寻址的每个帧的时间段包括发射关闭时间段，在该时间段期间，位于发射器上方的多个像素都不发光；以及，同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述多个像素的发射以在位于所述发射器上方的所述多个像素的所述发射关闭时间段期间发生。

Description

用于显示不足的传感器照明的技术
对于相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年10月22日提交的美国申请No.62/924,244的权益，其全部内容以引用的方式并入本文。
技术领域
本说明书总体上涉及平板显示器和减少平板显示器中的视觉伪影。
背景技术
电子设备可以包括其上可以示出视觉图像的平板显示器。例如，计算设备的用户可以在观看视频或玩视频游戏的同时在平板显示器上观看视觉图像。
发明内容
在诸如OLED显示面板的平板显示系统中，当电磁传感器位于显示面板下方时，显示器上的图像能够显示与来自传感器的电磁幅射相关联的不希望的视觉伪影。不希望的视觉伪影通常被观察为白色或发光的点。由于通过显示面板的电磁辐射与控制传感器附近像素发射的集成电路之间的相互作用，通常会出现视觉伪影。
传感器可以位于显示面板下方以增加电子设备的屏幕与机身比率。具体来说，通过将传感器放置在显示器下方，能够减小边框的宽度，因为它不再需要容纳传感器。此外，能够避免在显示器中使用难看的凹口或孔。
传感器可以包括电磁能(例如红外(IR)、无线电和紫外(UV)能)的发射器。发射器能够将电磁能作为脉冲或脉冲序列(例如IR脉冲或多个脉冲)发射。传感器可以引导电磁能通过显示面板的像素阵列。穿过显示面板的像素阵列的电磁能很可能会干扰显示面板的像素电路，导致视觉伪影。
在减少(例如，最小化)由于电磁辐射引起的视觉伪影的同时驱动显示器的过程能够包括将来自传感器的IR脉冲与用于控制来自显示像素的光的发射的某些电驱动信号(例如，发射(EM)和扫描信号)同步。该过程能够包括同步电磁传感器以在像素不发光的时间段期间发射IR脉冲，以及在像素正在发光的时间段期间停止或阻止IR发射。例如，该过程能够包括在将图像数据扫描到像素之前同步电磁传感器以发射IR脉冲。
用于减少由于电磁辐射引起的视觉伪影的过程能够用在每个图像帧具有一个或多个扫描脉冲的显示器中。显示器能够被驱动，使得电磁传感器在EM信号脉冲期间(即，在发射关闭时间段期间)和图像帧的最终扫描脉冲之前发射一个或多个IR脉冲。
用于减少由于电磁辐射引起的视觉伪影的过程也能够用在每个图像帧具有一个或多个EM信号脉冲的显示器中。扫描脉冲或扫描时间段可以在一个或多个EM信号脉冲中的仅一个EM信号脉冲期间发生。例如，扫描脉冲可以仅在一个或多个EM信号脉冲中的第一EM信号脉冲期间发生。能够驱动显示器，使得电磁传感器在扫描脉冲之前、以及在其间扫描脉冲出现的EM信号脉冲期间发射IR脉冲。
用于减少由于电磁辐射引起的视觉伪影的过程能够应用于一组或多组像素。例如，该过程能够应用于像素阵列的一个或多个行或列。在一些示例中，显示系统能够使IR脉冲与EM信号同步，并且扫描仅与发射器相邻(例如，位于发射器上方)的像素行或列的信号。
通常，本说明书中描述的主题的一个创新方面能够体现在一种驱动显示器的方法中，该显示器包括多个发光像素组和布置在显示器下方的传感器。传感器包括发射器，该发射器布置成在操作期间引导电磁辐射通过位于发射器上方的显示器的多个像素。该方法包括根据帧速率用一个或多个信号来寻址多个发光像素组中的每个像素组。其间寻址发光像素组的每帧的时间段包括其间位于发射器上方的多个像素都不发光的发射关闭时间段。该方法包括同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的多个像素的发射以在位于显示器上方的多个像素的发射关闭时间段期间发生。
在一些实现中，所述同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的多个像素的发射以在位于发射器上方的多个像素的发射关闭时间段发生可以包括：同步电磁辐射从发射器的发射以在位于发射器上方的一个或多个像素组(各自包含一个或多个像素)的相应发射关闭时间段期间发生。
在一些实现中，每帧的时间段包括扫描时间段，在该扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号。该方法还包括：同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在扫描时间段之前发生。扫描时间段可以在发射关闭时间段期间。
在一些实现中，每帧的时间段包括多个发射关闭时间段和扫描时间段，在该扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号。扫描时间段发生在多个发射关闭时间段中的一个发射关闭时间段期间。该方法还包括同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在其间扫描时间段发生的多个发射关闭时间段中的一个时间段期间发生。
在一些实现中，可以同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在其间扫描时间段发生的多个发射关闭时间段的一个时间段期间、以及在扫描时间段之前发生。
在一些实现中，每帧的时间段包括：发射关闭时间段；发生在发射关闭时间段期间的多个扫描时间段，多个扫描时间段包括至少一个扫描时间段，在该至少一个扫描时间段期间位于发射器上方的多个像素接收预充电电压；以及其间位于发射器上方的多个像素接收数据信号的扫描时间段；该方法还包括：同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在下述时间段发生：(i)在发射关闭时间段期间，以及(ii)在扫描时间段之前，在扫描时间段期间位于发射器上方的多个像素接收数据信号。
在一些实现中，其中，提供了多个发射关闭时间段，并且提供了多个扫描时间段，可以同步多个扫描时间段以在多个发射关闭时间段中的一个发射关闭时间段期间发生，并且可以同步电磁辐射从发射器的发射以在多个发射关闭时间段的所述一个发射关闭时间段期间发生。
在一些实现中，其间位于发射器上方的多个像素接收数据信号的扫描时间段是多个扫描时间段中的最后一个扫描时间段。
在一些实现中，发射关闭时间段发生在对相应帧中的每个像素的照明水平进行编程之前。
在一些实现中，对相应帧中的每个像素的照明水平进行编程可以在扫描时间段期间发生。
在一些实现中，每组像素包括一行像素或一列像素。
在一些实现中，该方法包括在附加帧的发射关闭时间段期间重复寻址像素组。
在一些实现中，该方法包括重复同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在附加帧的发射关闭时间段期间发生。
在一些实现中，同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的多个像素的发射以在发射关闭时间段期间发生包括：在发射关闭时间段开始时或之后开始从发射器发射电磁辐射；且，在发射关闭时间段结束时或之前停止从发射器发射电磁辐射。
在一些实现中，同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的多个像素的发射以在扫描时间段之前发生可以包括：在扫描时间段开始之前开始电磁辐射从发射器的发射；以及在扫描时间段开始时或开始之前停止电磁辐射从发射器的发射。
在一些实现中，电磁辐射是红外辐射、紫外辐射或无线电波辐射中的一种。
在一些实现中，多个发光像素组中的发光像素组中的每个发光像素包括有机发光二极管。
上述技术的实现包括方法、装置、系统和计算机程序产品。一种这样的计算机程序产品适当地体现在存储可由一个或多个处理器执行的指令的非暂时性机器可读介质中。指令被配置为使一个或多个处理器执行上述动作。
一种进一步的实现是一种系统，该系统包括：显示器，其包括多个发光像素组；传感器，其被布置在显示器下方，传感器包括发射器，其被布置成在操作期间引导电磁辐射通过位于发射器上方的显示器的多个像素；以及控制器，其被配置为执行操作。所述操作包括：根据帧速率用一个或多个信号来寻址多个发光像素组中的每一组像素，其中，其间寻址发光像素组的每帧的时间段包括其间位于发射器上方的多个像素都不发光的发射关闭时间段；以及，同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的多个像素的发射以在位于发射器上方的多个像素的发射关闭时间段间发生。
在一些实现中，每帧的时间段包括扫描时间段，在扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号。所述操作进一步可以包括：同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在扫描时间段之前发生。
在一些实现中，每帧的时间段包括：多个发射关闭时间段；以及，其间每组像素中的像素接收数据信号的扫描时间段。扫描时间段可以发生在多个发射关闭时间段中的一个发射关闭时间段期间。所述操作还可以包括：同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在其间扫描时间段发生的多个发射关闭时间段中的一个时间段期间发生。
在一些实现中，可以同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在其间扫描时间段发生的多个发射关闭时间段的一个时间段期间、以及在扫描时间段之前发生。
在一些实现中，每帧的时间段包括在发射关闭时间段期间发生的多个扫描时间段。多个扫描时间段可以包括：至少一个扫描时间段，在此期间位于发射器上方的多个像素接收预充电电压；以及，其间位于发射器上方的多个像素接收数据信号的扫描时间段。所述操作还可以包括：同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在下述时间段发生：(i)在发射关闭时间段期间，以及(ii)在扫描时间段之前，在扫描时间段期间位于发射器上方的多个像素接收数据信号。
在一些实现中，其中，提供了多个发射关闭时间段，并且提供多个扫描时间段，可以同步多个扫描时间段以在多个发射关闭时间段中的一个发射关闭时间段期间发生，并且可以同步电磁辐射从发射器的的发射以在多个发射关闭时间段的所述一个发射关闭时间段期间发生。
在一些实现中，其间位于发射器上方的多个像素接收数据信号的扫描时间段包括多个扫描时间段中的最终扫描时间段。
在一些实现中，发射关闭时间段发生在对相应帧中的每个像素的照明水平进行编程之前。
在一些实现中，每组像素包括一行像素或一列像素。
在一些实现中，所述操作包括：重复同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的显示器的多个像素的发射以在附加帧的发射关闭时间段期间发生。
在一些实现中，同步电磁辐射从发射器通过位于发射器上方的多个像素的发射以在发射关闭时间段期间发生包括：在发射关闭时间段开始时或开始之后开始电磁辐射从发射器的发射，以及在发射关闭时间段结束时或结束之前停止电磁辐射从发射器的发射。
在一些实现中，电磁辐射可以是红外辐射、紫外辐射或无线电波辐射中的一种。
在一些实现中，多个发光像素组中的发光像素组中的每个发光像素可以包括有机发光二极管。
在附图和以下描述中阐述本说明书的主题的一个或多个实施例的细节。本主题的其他特征、方面和优点将从说明书、附图和权利要求中变得显而易见。
附图说明
图1A和1B是具有显示面板和电磁传感器的示例电子设备的图。
图2是电子设备的显示系统的示意图。
图3是显示系统的示例像素电路的图。
图4A和4B是每帧使用一个扫描脉冲的显示器的示例操作时序图。
图5A和5B是每帧使用多于一个扫描脉冲的显示器的示例操作时序图。
图6是每帧使用多于一个EM信号脉冲的显示器的示例操作时序图。
不同附图中的相同参考数字和名称表示相同的元件。
具体实施方式
由于来自显示器下方传感器的电磁干扰而可能经历视觉伪影的示例平板显示器是有机发光二极管(OLED)显示器。OLED显示器通常包括像素阵列，每个像素包括一个或多个OLED。OLED显示器通常由包括行驱动器和列驱动器的驱动电路驱动。行驱动器(例如扫描驱动器)通常顺序选择显示器中的每一行像素，而列驱动器(例如数据驱动器)将数据电压提供给所选行中的像素电路。像素电路产生对应于数据电压的电流，并且将电流提供给像素的OLED，使选定的OLED能够发光，并在显示器上呈现图像。诸如水平扫描线和垂直数据线的信号线可以用于控制像素以在显示器上显示图像。
图1A和1B是具有显示面板110和电磁传感器120的示例电子设备100的图。图1A图示了电子设备100的前透视图。图1B图示了电子设备100的示例截面图。
参考图1A，电子设备100例如可以是智能手机、电视、智能手表或手持游戏机。显示面板110包括发光像素阵列。在操作中，显示面板110能够通过照亮发光像素来显示图像。显示面板110例如可以是有源矩阵有机发光二极管(OLED)面板或发光二极管(LED)液晶显示器(LCD)面板。电子设备100包括与显示面板110相邻的电磁传感器120。例如，电磁传感器120可以位于显示面板下方，例如，从电子设备100的前透视图看位于显示面板110的后面。
参考图1B，电子设备100的横截面的顶层包括盖玻璃106。偏光膜108位于盖玻璃106下方。包括发光像素阵列的显示面板110位于偏光膜108下方。
电磁传感器120位于显示面板110下方。例如，从电子设备100的截面图看，电磁传感器120可以位于显示面板110下方。显示面板110的像素因此定位在电磁传感器120上方。在一些示例中，电磁传感器120能够连接到电子设备100的主板。在一些示例中，电磁传感器120能够连接到电子设备100的后盖112。
电磁传感器120能够包括发射器124和接收器114。在操作中，发射器124能够引导例如以发射脉冲122的形式的电磁辐射通过显示面板110的像素阵列。接收器能够通过显示面板110接收返回的电磁能的脉冲116。
电磁传感器120能够是例如发射和接收电磁频谱的IR频带中的电磁能的红外(IR)传感器。在一些示例中，电磁传感器120能够是近IR传感器或短波长IR传感器。在一些示例中，电磁传感器120能够是UV传感器、LIDAR传感器或RADAR传感器。在一些示例中，电磁传感器120能够发射和接收电磁频谱的频带范围内的电磁能。在一些示例中，电子设备100能够包括多于一个的电磁传感器120。
电磁传感器120能够用于例如远程和无线地控制诸如电视机、有线电视盒或音响系统之类的设备。在一些示例中，电磁传感器120能够于IR照明。当用于IR照明时，电磁传感器120能够将IR辐射投射到区域，并且接收从该区域中的物体反射的IR辐射。在一些示例中，电磁传感器120能够结合可见光相机发射和接收IR辐射以捕捉黑暗照明区域的图像。
当电磁传感器120发射电磁辐射(例如IR脉冲)时，发射器114能够干扰显示面板110的像素阵列内的电路。IR干扰能够使视觉显示伪影出现在显示面板110上。例如，IR干扰可能使像素发光从而导致在电磁传感器120上方的显示面板110上出现一个点。该点通常可以显示为白点。
白点的尺寸、形状和强度可以取决于电磁传感器120的特性。例如，较大尺寸的发射器124可以导致出现较大尺寸的白点。在一些示例中，较小波长的电磁辐射可以引起附加的干扰并且导致显示面板110上出现较大或较亮的白点。电磁传感器120可以对像素阵列内的像素具有不同的影响。例如，位于电磁传感器位置附近的像素可以比远离电磁传感器120的像素受到更大的干扰。在一些示例中，具有更宽视场的发射器124可以导致在显示面板上出现更大的白点。
图2是电子设备的示例显示系统200的图。例如，图2可以图示电子设备100的显示系统200。显示系统200是包括发光像素阵列212的OLED显示系统。每个发光像素包括OLED。OLED显示器由包括SCAN/EM驱动器208和数据驱动器210的驱动器驱动。SCAN/EM驱动器208能够是集成的、即堆叠的行线驱动器。一般来说，SCAN/EM驱动器208选择显示器中的一行像素，并且数据驱动器210根据图像数据向所选行中的像素提供数据信号(例如电压数据)以点亮所选OLED。诸如扫描线、EM线和数据线的信号线可以用于控制像素以在显示器上显示图像。虽然图2图示了在一侧具有SCAN/EM驱动器208的显示系统200，SCAN/EM驱动器208能够放置在显示器的左右两侧以提高驱动性能(例如速度)。
显示系统200包括像素阵列212，其包括多个发光像素，例如像素P11至P43。像素是能够基于提供给像素的图像数据改变颜色的显示器上的一个小元件。能够单独寻址像素阵列212内的每个像素以产生各种颜色强度。像素阵列212在平面中延伸并且包括行和列。
每行水平延伸穿过像素阵列212。例如，像素阵列212的第一行220包括像素P11、P12和P13。每列垂直向下延伸像素阵列212。例如，像素阵列212的第一列230包括像素P11、P21、P31和P41。为简单起见，图2中仅示出几个像素。实际上，在像素阵列212中可能有几百万个像素。更多数量的像素能够导致更高的图像分辨率。
显示系统200包括SCAN/EM驱动器208和数据驱动器210。SCAN/EM驱动器向像素阵列212的行提供SCAN和EM信号。例如，SCAN/EM驱动器208经由扫描线S1到S4向像素行提供扫描信号，以及经由EM线E1到E4向像素行提供EM信号。数据驱动器210向像素阵列212的列提供信号。例如，数据驱动器210经由数据线D1至D4向像素列提供数据信号。
像素阵列212中的每个像素可由水平扫描线和EM线以及垂直数据线寻址。例如，像素P11可由扫描线S1、EM线E1和数据线D1寻址。在另一示例中，像素P32可由扫描线S3、EM线E3和数据线D2寻址。
SCAN/EM驱动器208和数据驱动器210向像素提供信号，使像素能够在显示器上再现图像。SCAN/EM驱动器208和数据驱动器210经由扫描线、发射线和数据线向像素提供信号。为了向像素提供信号，SCAN/EM驱动器208选择扫描线并且控制像素的发射操作。数据驱动器210将数据信号提供给可由所选的扫描线寻址的像素，以根据图像数据点亮所选的OLED。
对于每帧，扫描线被顺序寻址。帧是显示的一系列图像中的单个图像。扫描方向确定扫描线被寻址的顺序。在显示系统200中，扫描方向是从像素阵列212的顶部到底部。例如，扫描线S1首先被寻址，其次是扫描线S2，然后是S3，等等。
显示系统200包括接收显示输入数据202的控制器206。控制器206从显示输入数据202生成扫描控制信号222和数据控制信号224。扫描控制信号222用于驱动SCAN/EM驱动器208。数据控制信号224用于驱动数据驱动器210。控制器206通过扫描控制信号222来控制扫描信号和EM信号的定时。控制器206通过数据控制信号224来控制数据信号的定时。
控制器206还能够控制传感器120的定时。控制器206能够通过传感器控制信号226来控制传感器210的定时。传感器控制信号226能够包括开始和停止信号。控制器206能够向传感器120发送开始信号以允许传感器120发射电磁辐射，例如IR脉冲。控制器206能够向传感器120发送停止信号以使传感器120停止发射电磁辐射，或防止传感器120发射电磁辐射。
控制器206能够同步扫描控制信号222、数据控制信号224和传感器控制信号226以减少传感器120发射和像素光发射之间的干扰。例如，控制器206能够使传感器控制信号226与扫描控制信号222同步以防止传感器120在EM信号脉冲期间针对位于传感器120附近的像素组(例如，像素行)发射电磁能。控制器206还能够使传感器控制信号226与扫描控制信号222同步以防止传感器120在扫描时间段期间针对位于传感器120附近的像素行发射电磁辐射。参考图4、5和6更详细地描述了EM信号、扫描信号和数据信号之间的同步。
图3是显示系统的示例像素电路的图。例如，图3可以图示显示系统200的像素P11的更详细视图。像素P11是有源矩阵OLED(AMOLED)像素。像素P11可由水平扫描线S1、发射线E1、垂直数据线D1和初始化信号线I1寻址。像素P11接收来自扫描线S1的扫描信号“SCAN”、来自数据线D1的数据电压“DATA”以及来自发射线E1的发射信号“EM”。像素P11还从初始信号线I1接收初始化信号“SINIT”。像素P11接收电源电压VDD和初始参考电压VINIT。像素P11连接到公共地VSS。
像素P11包括有机发光二极管(OLED)320。OLED 320包括响应电流IOLED发光的有机化合物层。有机层位于两个电极之间：阳极和阴极。OLED 320由接收电源电压VDD的电流源电路310驱动。电流源电路310驱动OLED 320发光。
像素P11包括存储电容器CST。存储电容器CST的目的是在像素P11的照明期间维持栅极电压VG。
像素P11还包括多个p沟道开关薄膜晶体管(TFT)。开关TFT包括信号TFT(TSW_S)、初始化TFT(TSW_I)和发射TFT(TSW_E)。
在操作期间，开关TFT TSW_S基于从扫描线S1接收SCAN信号来开始和停止对存储电容器CST的充电。在寻址时间段期间，扫描线S1导通开关TFT TSW_S。开关TFT TSW_S将来自数据线D1的数据电压DATA提供给存储电容器CST和电流源电路310。补偿电路308能够补偿在像素P11中的晶体管变化。
像素P11由以下控制信号编程：SCAN、SINIT、EM和DATA。OLED电流IOLED随栅极电压VG而变化。当栅极电压VG稳定时，像素在整个帧时间内维持稳定的亮度，像被编程的那样显示与所提供的图像数据对应的光。帧时间或帧时间段是帧的开始和下一帧的开始之间的时间量。帧时间能够是显示系统的帧速率的倒数。例如，每秒60帧(fps)的帧速率对应于1/60秒或0.0167秒的帧时间。
当电流源电路310通过开关TFT TSW_S接收到数据电压DATA时，电流源电路310基于接收到的数据电压DATA向OLED 320提供指定的电流IOLED，使得OLED 320根据电流IOLED发光。光的强度或亮度取决于施加的电流IOLED的量。更高的电流能够产生更亮的光。因此，从OLED320发射的光的强度基于对应于各个像素的图像数据的数据电压DATA。存储电容器CST维持像素状态，使得像素P11在寻址时间段之后保持持续被照亮。暴露于电磁辐射可能导致漏电流Ileakage从存储电容器CST流过TFT TSW_I。漏电流Ileakage能够影响OLED电流IOLED，从而导致像素P11的照明水平发生变化。
虽然图2和图3图示了OLED显示器的示例组件，但所述技术可以应用于包括像素阵列的任何平板显示器。例如，用于减少由于电磁辐射造成的伪影的过程可以应用于发光二极管(LED)液晶显示器(LCD)和等离子显示面板(PDP)。
图4A和4B是每帧使用一个扫描脉冲的显示器的示例操作时序图。图4A图示了具有与OLED的EM信号和SCAN信号不同步的电磁传感器的显示系统的示例时序图。图4B图示了具有与OLED的EM信号和SCAN信号同步的电磁传感器的显示系统的示例时序图。
图4A和4B图示了像素阵列的一行像素的操作时序图，其中，来自传感器发射器的电磁辐射正在穿过显示器。例如，图4A和4B可以图示像素阵列212的行220的操作时序图。显示系统信号和电磁传感器操作的时序可以由控制器(例如，系统200的控制器206)控制。
图4A示出了在EM信号、SCAN信号和电磁传感器发射器之间没有同步的像素行(例如像素行220)的时序图。对于像素行220，第一帧在时间404a处开始并且在时间414a处结束。帧时间包括在时间404a和时间406a之间的发射关闭时间段。在发射关闭时间段期间，行220中的像素都不发光。在发射关闭时间段之后，像素行220被编程为具有帧中每个像素的照明水平。虽然在此参考单个像素(例如，行220的像素P11)描述图4A，但是图4A的时序图图示了行220中所有像素的操作。
在时间404a处，当EM信号切换为高时，EM信号脉冲403a开始。返回参考图3，在EM信号脉冲403a期间，TFT TSW_E断开，阻断电流IOLED。像素的亮度降至零，从而关闭像素。
在EM信号脉冲403a期间，像素接收扫描脉冲405a。扫描脉冲405a使像素针对帧来扫描来自数据线D1的数据电压。扫描脉冲405a引起栅极电压VG的暂时失真402a，然后在像素照亮之前用帧的新数据重写栅极电压VG。在时间406a处，EM信号脉冲403a结束，或切换为低。TFT TSW_E接通，允许电流IOLED流向OLED。像素亮度上升到编程水平，例如，对应于在扫描脉冲405a期间扫描的数据电压的亮度。
在时间408a处，电磁传感器的发射器开始发射电磁辐射脉冲，例如IR脉冲410a。发射器例如能够是电子设备100的电磁传感器120的发射器124。当发射器124发射IR脉冲410a时，像素电路暴露于IR脉冲410a的电磁辐射。通过TFT TSW_I的漏电流Ileakage上升，导致栅极电压VG下降。降低的VG导致IOLED增加。因此，像素亮度增加。像素变亮，导致在显示器上出现白点。电磁传感器可以影响暴露于电磁辐射的显示器区域内的多个像素。
在时间412a处，发射器124停止IR脉冲410a。栅极电压VG保持稳定在比IR脉冲410a之前更低的电平。亮度保持稳定在比IR脉冲410a之前更高的水平。在时间414a处，下一个EM信号脉冲413a开始，开始下一帧。
图4B示出了像素行(例如像素行220)的时序图，其中，EM信号、SCAN信号和电磁传感器发射器之间具有同步。对于像素行220，第一帧在时间404b处开始并且在时间414b处结束。帧时间包括在时间404b和时间408b之间的发射关闭时间段。在发射关闭时间段期间，行220中的像素都不发光。在发射关闭时间段之后，像素行220被编程为具有帧中每个像素的照明水平。虽然在此参考单个像素(例如，行220的像素P11)描述了图4B，图4B的时序图图示了行220中所有像素的操作。
在时间404b处，EM信号脉冲403b开始。在EM信号脉冲403b期间，TFT TSW_E断开，阻断电流IOLED。像素的亮度降至零，从而关闭像素。
同步显示系统操作使得在EM信号脉冲403b期间，电磁传感器120的发射器124开始发射IR脉冲410b。当发射器124发射IR脉冲410b时，像素电路暴露于IR脉冲410b的电磁辐射。通过TFT TSW_I的漏电流Ileakage上升，导致栅极电压VG下降。由于EM信号保持高，TFT TSW_E处于断开状态。因此，电流IOLED保持为零，像素保持未被照亮。因此，通过将EM信号脉冲403b与IR脉冲410b同步，可以减少视觉伪影，例如白点。
在时间406b处，发射器124停止IR脉冲410b。栅极电压VG保持稳定在比IR脉冲410b之前更低的电平。然而，EM信号保持高，并且像素保持未被照亮。同步显示系统操作使得在EM信号脉冲403b期间，以及在IR脉冲410b结束之后，像素接收扫描脉冲405b。扫描脉冲405b使像素针对帧来扫描来自数据线D1的数据电压。扫描脉冲405b引起栅极电压VG的暂时失真402b，然后在像素点亮之前用帧的新数据来重写栅极电压VG。先前由IR脉冲410b降低的栅极电压VG上升到与新数据相关联的编程值。
在时间408b处，EM信号脉冲403b结束。TFT TSW_E接通，允许电流IOLED流向OLED。像素亮度上升到编程水平，例如，对应于在扫描脉冲405b期间被扫描的数据电压的亮度。因此，由于IR脉冲410b与EM信号脉冲403b之间的同步，IR脉冲410b的电磁辐射不会影响像素的亮度。在时间414b处，下一个EM信号脉冲413b开始，开始下一帧。在下一个EM信号脉冲413b期间，发射器124发射下一个IR脉冲420b。
图5A和5B是每帧使用多于一个扫描脉冲的显示器的示例操作时序图。图5A和5B图示了在来自传感器发射器的电磁辐射正在穿过显示器时的像素阵列的一行像素的操作时序图。例如，图5A和5B可以图示像素阵列212的行220的操作时序图。显示系统信号和电磁传感器操作的定时能够由控制器(例如，系统200的控制器206)控制。虽然在此参考单个像素(例如，行220的像素P11)描述了图5A和5B，图5A和5B的时序图图示了行220中所有像素的操作。
图5A中的时序图示出了像素(例如像素P11)的时序图，其中，在EM信号、SCAN信号和电磁传感器发射器之间具有同步。在图5A的示例中，一个或多个扫描脉冲发生在IR脉冲期间发生。
在时间504a处，EM信号脉冲503a开始，开始帧的发射关闭时间段。同步显示系统操作使得在EM信号脉冲503a期间，电磁传感器120的发射器124开始发射IR脉冲510a。当发射器124发射IR脉冲510a时，像素电路暴露于IR脉冲510a的电磁辐射。通过TFT TSW_I的漏电流Ileakage上升，导致栅极电压VG下降。由于EM信号保持高，TFT TSW_E断开。因此，电流IOLED保持为零，并且像素保持不被照亮。因此，通过将EM信号脉冲503a与IR脉冲同步，能够减少视觉伪影，例如白点。
图5A中的时序图在发射关闭时间段期间包括多于一个扫描脉冲。例如，图5A中的时序图包括在时间504a与时间514a之间的发射关闭时间段期间的三个扫描脉冲505a、506a、507a。扫描脉冲505a和506a能够用于预充电和初始化像素电路。在预充电扫描脉冲期间，像素行接收预充电电压。预充电扫描脉冲能够改善在显示器上显示的运动的外观和清晰度。预充电扫描脉冲505a和506a可以在IR脉冲510a期间发生。
扫描脉冲507a是在像素点亮之前的最终扫描脉冲。扫描脉冲507a用于扫描帧的图像数据。同步显示系统操作使得IR脉冲510a可以在预充电扫描脉冲505a和506a期间出现，但是IR脉冲510在扫描脉冲507a期间不出现。因此，由于同步，像素在EM信号脉冲503a期间和IR脉冲510a结束之后接收扫描脉冲507a。扫描脉冲507a使像素扫描帧的数据电压。扫描脉冲507a在像素点亮之前用下一帧的新数据来重写栅极电压VG。
在时间514a处，EM信号脉冲503a结束。TFT TSW_E接通，允许电流IOLED流向OLED。像素亮度上升到编程水平，例如，对应于在扫描脉冲507a期间扫描的数据电压的亮度。因此，由于IR脉冲510a、EM信号脉冲503a和SCAN信号之间的同步，IR脉冲510a的电磁辐射不会影响像素的亮度。
图5B中的时序图示出了像素(例如像素P11)的时序图，在EM信号、SCAN信号和电磁传感器发射器之间具有同步。在图5B的例子中，在IR脉冲期间没有任何扫描时间段出现。
在时间504b处，EM信号脉冲503b开始。在EM信号脉冲503b期间，TFT TSW_E断开，阻断电流IOLED。像素的亮度降至零，从而关闭像素。同步显示系统操作使得在EM信号脉冲503b期间，电磁传感器120的发射器124开始发射IR脉冲510b。当发射器124发射IR脉冲510b时，像素电路暴露于IR脉冲510b的电磁辐射。通过TFT TSW_I的漏电流Ileakage上升，导致栅极电压VG下降。由于EM信号保持高，TFT TSW_E处于断开状态。因此，电流IOLED保持为零，像素保持不被点亮。因此，通过将EM信号脉冲503b与IR脉冲同步，能够减少视觉伪影，例如白点。
图5B中的时序图包括在发射关闭时间段期间的多于一个扫描脉冲或扫描时间段。例如，图5B中的时序图包括在时间504a与时间514a之间的发射关闭时间段期间的三个扫描脉冲505b、506b、507b。扫描脉冲505b和506b用于预充电和初始化像素电路。预充电扫描脉冲能够改善显示器上显示的运动的外观和清晰度。扫描脉冲507b是下一帧开始之前的最终扫描脉冲。扫描脉冲507b用于扫描下一帧的图像数据。
预充电扫描脉冲505b和506b和最终扫描脉冲507b能够各自在IR脉冲510b的结束之后发生。同步显示系统操作使得在EM信号脉冲503b期间和在IR脉冲510b的结束之后，像素接收扫描脉冲505b、506b和507b。扫描脉冲507b使像素针对帧来扫描来自数据线D1的数据电压。扫描脉冲507b在像素点亮之前用帧的新数据来重写栅极电压VG。
在时间514b处，EM信号脉冲503b结束。TFT TSW_E接通，允许电流IOLED流向OLED。像素亮度上升到编程水平，例如，对应于在扫描脉冲507b期间扫描的数据电压的亮度。因此，由于IR脉冲510b、EM信号脉冲503b和SCAN信号之间的同步，IR脉冲510b的电磁辐射不会影响像素的亮度。
图6是每帧使用多于一个EM信号脉冲的显示器的示例操作时序图。图6图示了像素阵列的一行像素的操作时序图，其中，来自传感器发射器的电磁辐射正在穿过显示器。例如，图6可以图示像素阵列212的行220的操作时序图。显示系统信号和电磁传感器操作的定时能够由控制器(例如，系统200的控制器206)控制。图6示出了像素(例如像素P11)的时序图，在EM信号、SCAN信号和电磁传感器发射器之间具有同步。
对于像素行220，第一帧在时间604处开始并且在时间614处结束。帧时间包括在EM信号脉冲603期间在时间604和时间608之间的第一发射关闭时间段。帧时间包括在附加的EM信号脉冲605、606和607期间的附加的发射关闭时间段。在发射关闭时间段期间，行220中没有像素发光。在每个发射关闭时间段之后，像素行220对于帧中的每个像素以编程照明水平照明。虽然在这里参考单个像素(例如，行220的像素P11)描述图6，图6的时序图图示了行220中的所有像素的操作。
在时间604处，EM信号脉冲603开始。在EM信号脉冲603期间，TFT TSW_E断开，阻断电流IOLED。像素的亮度降至零，从而关闭像素。EM信号脉冲603是帧的第一EM信号脉冲。在帧的第一EM信号脉冲603期间，像素接收扫描脉冲602。
同步显示系统操作使得发射器124在EM信号脉冲期间发射IR脉冲，在该EM信号脉冲期间像素接收扫描脉冲602。在图6的示例中，像素在EM信号脉冲603、605、606和607中的第一EM信号脉冲603期间接收扫描脉冲602。在一些示例中，像素可以在非第一EM信号脉冲的EM信号脉冲期间接收扫描脉冲602。例如，像素可以在第二EM信号脉冲605、第三EM信号脉冲606等期间接收扫描脉冲。同步显示系统操作使得发射器124在与扫描脉冲602对应的EM信号脉冲期间发射IR脉冲。
在第一EM信号脉冲603期间，以及在像素接收到扫描脉冲602之前，电磁传感器120的发射器124开始发射IR脉冲610。当发射器124发射IR脉冲610时，像素电路暴露于IR脉冲610的电磁辐射。通过TFT TSW_I的漏电流Ileakage上升，导致栅极电压VG下降。因为EM信号脉冲603保持高，TFT TSW_E断开。因此，电流IOLED保持为零，像素保持不被照亮。因此，通过将EM信号脉冲603与IR脉冲610同步，能够减少视觉伪影，例如白点。
同步显示系统操作使得在EM信号脉冲603期间，以及在IR脉冲610结束之后，像素接收扫描脉冲602。扫描脉冲602使像素对于帧来扫描来自数据线的数据电压D1。扫描脉冲602在像素点亮之前用帧的新数据来重写栅极电压VG。
在时间608处，EM信号脉冲603结束。TFT TSW_E接通，允许电流IOLED流向OLED。像素亮度上升到编程水平，例如，对应于在扫描脉冲602期间扫描的数据电压的亮度。
EM信号脉冲605、606和607各自发生在时间604和时间614之间的帧时间期间。EM信号脉冲605、606和607各自发生在IR脉冲610之后和在扫描脉冲602之后。由于在EM信号脉冲605、606和607期间没有发生扫描脉冲，因此像素不会发出新的图像数据。在每个EM信号脉冲605、606和607之后，像素亮度上升到编程水平。因此，由于IR脉冲610、EM信号脉冲603、605、606、607和扫描脉冲602之间的同步，IR脉冲610的电磁辐射不会影响像素的亮度。
在时间614处，EM信号脉冲613开始，开始下一帧。电磁传感器在下一个EM信号脉冲613期间和在像素接收具有下一帧的新图像数据的下一个扫描脉冲612之前来发射IR脉冲620。
上述用于减少由于电磁辐射引起的视觉伪影的过程能够应用于显示器的一组或多组像素。例如，这些过程能够应用于像素阵列的一个或多个像素行或像素列。也就是说，像素行或像素列是不同像素组的示例。在一些示例中，显示系统能够仅针对位于发射器上方的像素行将IR脉冲与EM信号和SCAN信号同步。例如，对于位于最接近发射器的一个或多个像素行，控制器可以将IR脉冲与EM信号和SCAN信号同步。相反，对于不位于发射器上方的像素行，显示系统可能不会将IR脉冲与EM信号和SCAN信号同步。例如，对于位于最接近发射器的一个或多个像素行，控制器可以将IR脉冲与EM信号和SCAN信号同步，但对于远离发射器的一个或多个像素行不是如此。这样，可以以不同方式驱动显示器的不同区域。
本说明书中描述的主题和功能操作的实施例能够实现在任何合适的电子设备中，诸如个人计算机、移动电话、智能电话、智能手表、智能电视、移动音频或视频播放器、游戏机或这些设备中的一个或多个的组合。
电子设备可以包括各种组件，诸如存储器、处理器、显示器和输入/输出单元。输入/输出单元可以包括例如能够与一个或多个网络通信以发送和接收数据的收发器。显示器可以是用于显示图像的任何合适的显示器，包括例如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)或发光二极管(LED)显示器。
能够在数字电子电路、集成电路、专门设计的ASIC(专用集成电路)、计算机硬件、固件、软件和/或它们的组合中实现这里描述的系统和技术的各种实现。这些不同的实现能够包括在一个或多个计算机程序中的实现，这些计算机程序在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上是可执行和/或可解释的，该可编程处理器可以是专用或通用的，耦合以从存储系统、至少一个输入设备和至少一个输出设备接收数据和指令以及向其发送数据和指令。
实施例可以实现为一个或多个计算机程序产品，例如，一个或多个计算机程序指令模块，其编码在计算机可读介质上，用于由数据处理装置执行或控制其操作。计算机可读介质可以是机器可读存储设备、机器可读存储基板、存储器设备、影响机器可读传播信号的物质组合物或者它们中的一个或多个的组合。术语“数据处理装置”涵盖用于处理数据的所有装置、设备和机器，包括例如可编程处理器、计算机或多个处理器或计算机。除了硬件之外，该装置还可以包括为所讨论的计算机程序创建执行环境的代码，例如，构成处理器固件、协议栈、数据库管理系统、操作系统或它们的一种或多种的组合的代码。传播的信号是人工生成的信号，例如机器生成的电、光或电磁信号，其被生成以对信息进行编码以传输到合适的接收器设备。
可以以任何形式的编程语言编写计算机程序(也称为程序、软件、软件应用、脚本或代码)，该任何形式的编程语言包括编译或解释语言，并且该计算机程序可以以任何形式部署，包括作为独立程序或作为适于在计算环境中使用的模块、组件、子例程或其他单元。计算机程序不需要对应于文件系统中的文件。程序可以存储在保存其他程序或数据(例如，存储在标记语言文档中的一个或多个脚本)的文件的一部分中、在专用于所涉及的程序的单个文件中或者在多个协同文件(例如，存储一个或多个模块、子程序或代码部分的文件)中。计算机程序可以被部署为在一个计算机上或在位于一个地点或分布在多个地点并通过通信网络互连的多个计算机上执行。
适合于执行计算机程序的处理器包括例如通用和专用微处理器，以及任何种类的数字计算机的任何一个或多个处理器。通常，处理器将从只读存储器或随机存取存储器或这两者接收指令和数据。
计算机的元件可以包括用于执行指令的处理器和用于存储指令和数据的一个或多个存储器设备。通常，计算机还将包括下述部分或可操作地耦合以从下述部分接收数据或向其传输数据或这两者：一个或多个用于存储数据的大容量存储设备(例如，磁、磁光盘或光盘)。然而，计算机可能没有此类设备。适用于存储计算机程序指令和数据的计算机可读介质包括所有形式的非易失性存储器、介质和存储器设备，例如包括：半导体存储器设备，例如EPROM、EEPROM和闪存设备；磁盘，例如内部硬盘或可移动磁盘；磁光盘；以及，CDROM和DVD-ROM磁盘。处理器和存储器可以由专用逻辑电路补充或包含在专用逻辑电路中。
虽然本说明书包含许多具体的实现细节，但这些不应被解释为对可要求保护的范围的限制，而是对特定实施例可能特有的特征的描述。在本说明书中在单独实施例的上下文中描述的某些特征也可以组合实现在单个实施例中。相反，在单个实施例的上下文中描述的各种特征也可以在多个实施例中单独或以任何合适的子组合来实现。此外，尽管特征可能在上面被描述为以某些组合起作用，并且甚至最初如此要求保护，但在某些情况下，可以从组合中删除来自要求保护的组合的一个或多个特征，并且要求保护的组合可以针对子组合或子组合的变体。
类似地，虽然在附图中以特定顺序描绘了操作，但这不应被理解为要求以所示的特定顺序或依序执行这些操作，或者要求执行所有所示的操作，以实现期望的结果。在某些情况下，多任务和并行处理可能是有利的。此外，上述实施例中各个系统模块和组件的分离不应被理解为在所有实施例中都要求这样的分离，且应该理解的是，所描述的程序组件和系统通常可以集成在单个软件产品中，或者打包成多个软件产品。
已经描述了本主题的特定实施例。其他实施例在所附权利要求的范围内。例如，权利要求中记载的动作可以以不同的顺序执行，但仍能达到期望的结果。作为一个示例，附图中描绘的过程不一定要求所示的特定顺序或依序来实现期望的结果。在某些情况下，多任务和并行处理可能是有利的。

Claims (20)

1.一种驱动包括多个发光像素组的显示器的方法，其中，传感器被布置在所述显示器下方，所述传感器包括发射器，所述发射器被布置成在操作期间引导电磁辐射通过位于所述发射器上方的所述显示器的多个像素，所述方法包括：
根据帧速率用一个或多个信号来寻址所述多个发光像素组中的每一组像素，其中，其间寻址所述发光像素组的每帧的时间段包括其间位于所述发射器上方的所述多个像素都不发光的发射关闭时间段；以及
同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述多个像素的发射以在位于所述发射器上方的所述多个像素的所述发射关闭时间段期间发生。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，每帧的所述时间段包括扫描时间段，在所述扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号，所述方法还包括：
同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在所述扫描时间段之前发生。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，每帧的所述时间段包括：
多个发射关闭时间段；以及
扫描时间段，在所述扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号，所述扫描时间段发生在所述多个发射关闭时间段中的一个发射关闭时间段期间，所述方法还包括：
同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在其间所述扫描时间段发生的所述多个发射关闭时间段中的所述一个发射关闭时间段期间发生。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，每帧的所述时间段包括：
在所述发射关闭时间段期间发生的多个扫描时间段，所述多个扫描时间段包括：
至少一个扫描时间段，在所述至少一个扫描时间段期间位于所述发射器上方的所述多个像素接收预充电电压；以及
扫描时间段，在所述扫描时间段期间位于所述发射器上方的所述多个像素接收数据信号，
所述方法还包括：同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在下述时间段发生：(i)在所述发射关闭时间段期间，以及(ii)在所述扫描时间段之前，在所述扫描时间段期间位于所述发射器上方的所述多个像素接收所述数据信号。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，其间位于所述发射器上方的所述多个像素接收所述数据信号的所述扫描时间段包括所述多个扫描时间段中的最终扫描时间段。
6.根据任一项前述权利要求所述的方法，其中，所述发射关闭时间段发生在对相应帧中的每个像素的照明水平进行编程之前。
7.根据任一项前述权利要求所述的方法，其中，每组像素包括一行像素或一列像素。
8.根据任一项前述权利要求所述的方法，包括：重复地同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在附加帧的发射关闭时间段期间发生。
9.根据任一项前述权利要求所述的方法，其中，同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述多个像素的所述发射以在所述发射关闭时间段期间发生包括：
在所述发射关闭时间段开始时或所述发射关闭时间段开始之后开始电磁辐射从所述发射器的发射；以及
在所述发射关闭时间段结束时或所述发射关闭时间段结束之前停止电磁辐射从所述发射器的发射。
10.根据任一项前述权利要求所述的方法，其中，所述电磁辐射是红外辐射、紫外辐射或无线电波辐射中的一种。
11.根据任一项前述权利要求所述的方法，其中，所述多个发光像素组中的所述发光像素组中的每个发光像素包括有机发光二极管。
12.一种系统，包括：
显示器，所述显示器包括多个发光像素组；
传感器，所述传感器被布置在所述显示器下方，所述传感器包括发射器，所述发射器被布置成在操作期间引导电磁辐射通过位于所述发射器上方的所述显示器的多个像素；以及
控制器，所述控制器被配置为执行操作，所述操作包括：
根据帧速率用一个或多个信号来寻址所述多个发光像素组中的每一组像素，其中，其间寻址所述发光像素组的每帧的时间段包括其间位于所述发射器上方的所述多个像素都不发光的发射关闭时间段；以及
同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述多个像素的发射以在位于所述发射器上方的所述多个像素的所述发射关闭时间段期间发生。
13.根据权利要求12所述的系统，其中，每帧的所述时间段包括扫描时间段，在所述扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号，所述操作进一步包括：
同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在所述扫描时间段之前发生。
14.根据权利要求12或13所述的系统，其中，每帧的所述时间段包括：
多个发射关闭时间段；以及
扫描时间段，在所述扫描时间段期间每组像素中的像素接收数据信号，所述扫描时间段发生在所述多个发射关闭时间段中的一个发射关闭时间段期间，所述操作进一步包括：
同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在其间所述扫描时间段发生的所述多个发射关闭时间段中的所述一个发射关闭时间段期间发生。
15.根据权利要求12至14中的任一项所述的系统，其中，每帧的所述时间段包括：
在所述发射关闭时间段期间发生的多个扫描时间段，所述多个扫描时间段包括：
至少一个扫描时间段，在所述至少一个扫描时间段期间位于所述发射器上方的所述多个像素接收预充电电压；以及
扫描时间段，在所述扫描时间段期间位于所述发射器上方的所述多个像素接收数据信号，
所述操作还包括：同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在下述时间段发生：(i)在所述发射关闭时间段期间，以及(ii)在所述扫描时间段之前，在所述扫描时间段期间位于所述发射器上方的所述多个像素接收所述数据信号。
16.根据权利要求15所述的系统，其中，其间位于所述发射器上方的所述多个像素接收所述数据信号的所述扫描时间段包括所述多个扫描时间段中的最终扫描时间段。
17.根据权利要求12至16中的任一项所述的系统，其中，所述发射关闭时间段发生在对相应帧中的每个像素的照明水平进行编程之前。
18.根据权利要求12至17中的任一项所述的系统，其中，每组像素包括一行像素或一列像素。
19.根据权利要求12至18中的任一项所述的系统，其中，所述操作包括：重复地同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述显示器的所述多个像素的发射以在附加帧的发射关闭时间段期间发生。
20.根据权利要求12至19中的任一项所述的系统，其中，同步电磁辐射从所述发射器通过位于所述发射器上方的所述多个像素的发射以在所述发射关闭时间段期间发生包括：
在所述发射关闭时间段开始时或所述发射关闭时间段开始之后开始电磁辐射从所述发射器的发射；以及
在所述发射关闭时间段结束时或所述发射关闭时间段结束之前停止电磁辐射从所述发射器的发射。
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