CN114356455A - 提升芯片启动可靠性的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种提升芯片启动可靠性的方法及装置，所述方法包括将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；在芯片上电后，BootRoom运行；从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。本发明的有益效果在于：避免了由于数据读取错误导致的芯片启动失败问题，提高了芯片启动的可靠性。

Description

提升芯片启动可靠性的方法及装置
技术领域
本发明涉及芯片启动技术领域，尤其是指一种提升芯片启动可靠性的方法及装置。
背景技术
芯片启动一般分为三个步骤：bootrom启动，加载bootloader；运行bootloader加载固件和运行固件。一般Bootloader和固件都是存储在非易失性存储介质Nand Flash里，而由于Nand Flash的特性，当BootRom从Nand Flash里加载某个page数据的时候，可能会出现bit反转，从而导致启动失败。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种提升芯片启动可靠性的方法及装置。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种提升芯片启动可靠性的方法，包括，
将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
在芯片上电后，BootRoom运行；
从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；
从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。
进一步的，将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中具体包括：
分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；
分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；
给每份有效数据生成一个对应的校验码；
分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。
进一步的，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。
进一步的，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复具体包括：
从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；
判断读取的Bootloader编译数据是否异常；
若正常，则运行Bootloader编译数据；
若异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。
进一步的，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据具体包括：
从非易失性存储介质中读取FW编译数据；
判断读取的FW编译数据是否异常；
若正常，则运行FW编译数据；
若异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。
本发明还提供了一种提升芯片启动可靠性的装置，包括，
编译数据处理模块，用于将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
BootRoom运行模块，在芯片上电后，BootRoom运行；
BootRoom模块，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；
Bootloader模块，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。
进一步的，所述编译数据处理模块具体包括，
代码编译单元，用于分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；
数据分割单元，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；
校验码生成单元，用于给每份有效数据生成一个对应的校验码；
数据写入单元，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。
进一步的，所述数据写入单元中，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。
进一步的，所述BootRoom模块具体包括，
第一读取单元，用于从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；
第一判断单元，用于判断读取的Bootloader编译数据是否异常；
第一运行单元，用于若Bootloader编译数据正常，则运行Bootloader编译数据；
第一数据恢复单元，用于若Bootloader编译数据异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。
进一步的，所述Bootloader模块具体包括，
第二读取单元，用于从非易失性存储介质中读取FW编译数据；
第二判断单元，用于判断读取的FW编译数据是否异常；
第二运行单元，用于若FW编译数据正常，则运行FW编译数据；
第二数据恢复单元，用于若FW编译数据异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。
本发明的有益效果在于：通过将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中，使得芯片在启动过程中，如果读取的Bootloader编译数据、FW编译数据异常，则通过对应的校验码进行恢复，避免了由于数据读取错误导致的芯片启动失败问题，提高了芯片启动的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的机构获得其他的附图。
图1为本发明实施例的提升芯片启动可靠性的方法流程图；
图2为本发明实施例的编译数据处理流程图；
图3为本发明实施例的Bootloader编译数据运行流程图；
图4为本发明实施例的FW编译数据运行流程图；
图5为本发明实施例的提升芯片启动可靠性的装置框图；
图6为本发明实施例的编译数据处理模块框图；
图7为本发明实施例的BootRoom模块框图；
图8为本发明实施例的Bootloader模块框图；
图9为本发明实施例的芯片启动流程图；
图10为本发明实施例的非易失性存储介质的存储格式图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
如图1所示，本发明的第一实施例为：一种提升芯片启动可靠性的方法，包括步骤，
S10、将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
S20、在芯片上电后，BootRoom运行；如图9所示为芯片启动的流程。
S30、从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；
S40、从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。
如图2所示，步骤S10中，将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中具体包括：
S11、分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；
S12、分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；
S13、给每份有效数据生成一个对应的校验码；
S14、分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。
其中，步骤S14中，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码，如图10所示，分别为Bootloader编译数据和FW编译数据存储格式。
如图3所示，步骤S30中，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复具体包括：
S31、从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；
S32、判断读取的Bootloader编译数据是否异常；
S33、若正常，则运行Boot1oader编译数据；
S34、若异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。
如图4所示，步骤S40中，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据具体包括：
S41、从非易失性存储介质中读取FW编译数据；
S42、判断读取的FW编译数据是否异常；
S43、若正常，则运行FW编译数据；
S44、若异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。
本发明实施例的有益效果在于：通过将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中，使得芯片在启动过程中，如果读取的Bootloader编译数据、FW编译数据异常，则通过对应的校验码进行恢复，避免了由于数据读取错误导致的芯片启动失败问题，提高了芯片启动的可靠性。
如图5所示，本发明的另一实施例为：一种提升芯片启动可靠性的装置，包括，
编译数据处理模块10，用于将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
BootRoom运行模块20，在芯片上电后，BootRoom运行；
BootRoom模块30，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；
Bootloader模块40，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。
如图6所示，所述编译数据处理模块10具体包括，
代码编译单元11，用于分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；
数据分割单元12，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；
校验码生成单元13，用于给每份有效数据生成一个对应的校验码；
数据写入单元14，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。
其中，所述数据写入单元14中，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。
如图7所示，所述BootRoom模块30具体包括，
第一读取单元31，用于从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；
第一判断单元32，用于判断读取的Bootloader编译数据是否异常；
第一运行单元33，用于若Bootloader编译数据正常，则运行Bootloader编译数据；
第一数据恢复单元34，用于若Bootloader编译数据异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。
如图8所示，所述Bootloader模块40具体包括，
第二读取单元41，用于从非易失性存储介质中读取FW编译数据；
第二判断单元42，用于判断读取的FW编译数据是否异常；
第二运行单元43，用于若FW编译数据正常，则运行FW编译数据；
第二数据恢复单元44，用于若FW编译数据异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：包括，
将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
在芯片上电后，BootRoom运行；
从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；
从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。
2.如权利要求1所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中具体包括：
分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；
分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；
给每份有效数据生成一个对应的校验码；
分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。
3.如权利要求2所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。
4.如权利要求1所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复具体包括：
从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；
判断读取的Bootloader编译数据是否异常；
若正常，则运行Bootloader编译数据；
若异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。
5.如权利要求4所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据具体包括：
从非易失性存储介质中读取FW编译数据；
判断读取的FW编译数据是否异常；
若正常，则运行FW编译数据；
若异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。
6.一种提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：包括，
编译数据处理模块，将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；
BootRoom运行模块，在芯片上电后，BootRoom运行；
BootRoom模块，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；
Bootloader模块，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。
7.如权利要求6所述的提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：所述编译数据处理模块具体包括，
代码编译单元，用于分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；
数据分割单元，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；
校验码生成单元，用于给每份有效数据生成一个对应的校验码；
数据写入单元，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。
8.如权利要求7所述的提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：所述数据写入单元中，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。
9.如权利要求6所述的提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：所述BootRoom模块具体包括，
第一读取单元，用于从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；
第一判断单元，用于判断读取的Bootloader编译数据是否异常；
第一运行单元，用于若Bootloader编译数据正常，则运行Bootloader编译数据；
第一数据恢复单元，用于若Bootloader编译数据异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。
10.如权利要求9所述的提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：所述Bootloader模块具体包括，
第二读取单元，用于从非易失性存储介质中读取FW编译数据；
第二判断单元，用于判断读取的FW编译数据是否异常；
第二运行单元，用于若FW编译数据正常，则运行FW编译数据；
第二数据恢复单元，用于若FW编译数据异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。
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