CN114355377A - 激光测距系统 - Google Patents

Abstract

本申请是关于一种激光测距系统，属于激光测距技术领域。所述激光测距系统包括激光发射部、激光接收部、扫描镜和光反馈组件；所述扫描镜位于所述激光发射部的发射光路和所述激光接收部的接收光路上；当所述扫描镜在第一角度范围内旋转时，所述光反馈组件位于所述扫描镜的光路上，当所述扫描镜在第二角度范围内旋转时，待测量的目标位于所述扫描镜的光路上。采用本申请，可以提高激光测距系统的测量准确度。

Description

激光测距系统

技术领域

本申请是关于激光测距技术领域，尤其是关于一种激光测距系统。

背景技术

激光测距系统，是发射激光束来探测目标的系统，其工作原理是发射端向目标发射激光束，激光束遇到目标后反射至接收端，激光测距系统中的处理芯片根据发射端发射激光束的时间、接收端接收激光束的时间，以及激光的传播速度(即光速)，可以计算出与目标之间的距离值。

接收端接收到激光束的时间，通常是处理芯片接收到信号的时间，如接收端接收到光信号时，将光信号转换为电信号，并对电信号进行一些处理后，发送至处理芯片，处理芯片将接收到电信号的时间记为接收端接收到光信号的时间，可见，该激光测距系统测出的距离值的准确度偏低。

发明内容

本申请提供了一种激光测距系统，能够克服相关技术中存在的激光测距系统测出的距离值的准确度偏低的问题。所述技术方案如下：

根据本申请，提供了一种激光测距系统，所述激光测距系统包括激光发射部、激光接收部、扫描镜和光反馈组件；

所述扫描镜位于所述激光发射部的发射光路和所述激光接收部的接收光路上；

当所述扫描镜在第一角度范围内旋转时，所述光反馈组件位于所述扫描镜的光路上，当所述扫描镜在第二角度范围内旋转时，待测量的目标位于所述扫描镜的光路上。

在一种可能的实施方式中，所述光反馈组件包括第一反光件和第二反光件；

所述激光发射部、所述扫描镜的第一部分和所述第一反光件位于同一侧，且所述第一部分位于所述激光发射部的发射光路上，所述第一反光件位于所述第一部分的反射光路上；

所述激光接收部、所述扫描镜的第二部分和所述第二反光件位于同一侧，且所述第二部分位于所述激光接收部的入射光路上，所述第二反光件位于所述第二部分的入射光路上，所述第二反光件位于所述第一反光件的反射光路上。

在一种可能的实施方式中，所述激光测距系统还包括挡光板，所述激光发射部、所述扫描镜的第一部分和所述第一反光件位于所述挡光板的一侧，所述激光接收部、所述扫描镜的第二部分和所述第二反光件位于所述挡光板的另一侧；

所述挡光板在对应所述第一反光件的反射光路的位置处具有通光孔。

在一种可能的实施方式中，所述挡光板包括旋转部和固定部，所述扫描镜穿过所述旋转部，且所述旋转部能随着所述扫描镜同步旋转。

在一种可能的实施方式中，所述第一反光件的反射面和所述第二反光件的反射面，呈镜面对称。

在一种可能的实施方式中，所述第一反光件的反射面的材质为镜面材质。

在一种可能的实施方式中，所述第二反光件的反射面的材质为漫反射材质。

在一种可能的实施方式中，所述第一反光件的反射面的面积，满足所述扫描镜的旋转角度范围在小于或等于5度，所述第一反光件能接收到所述扫描镜反射的激光。

在一种可能的实施方式中，所述第二反光件的反射面的面积不小于所述激光接收部的接收口径。

在一种可能的实施方式中，当所述扫描镜在第一角度范围内旋转时，所述光反馈组件位于所述扫描镜的第一反射面的光路上；

当所述扫描镜在第二角度范围内旋转时，待测量的目标位于所述扫描镜的第二反射面的光路上，所述第一反射面和所述第二反射面的位置相对。

在本申请实施例中，该激光测距系统不仅包括激光发射部、激光接收部和扫描镜，还包括光反馈组件，扫描镜在第一角度范围内旋转中，激光发射部发射的激光，经由光反馈组件，进入到激光接收部，扫描镜在第二角度范围内旋转中，激光发射部发射的激光，经由待测量的目标，进入到激光接收部。激光无论是经由光反馈组件进入到激光接收部，还是经由目标进入到激光接收部，处理芯片至激光发射部的过程完全相同，以及进入到激光接收部以后的处理过程也完全相同，那么，可以通过第一角度范围内的数据和第二角度范围内的数据作差，而消除处理芯片至激光发射部中产生的误差，以及激光进入到激光接收部以后产生的误差，提高激光测距系统的测量准确度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。在附图中：

图1是根据实施例示出的一种激光测距系统的结构示意图；

图2是根据实施例示出的一种激光测距系统的测距原理示意图；

图3是根据实施例示出的一种激光测距系统在测距中各时刻点的时间轴示意图；

图4是根据实施例示出的一种激光测距系统的俯视示意图。

图例说明

1、激光发射部；

2、激光接收部；

3、扫描镜；31、第一部分；32、第二部分；

4、光反馈组件；41、第一反光件；42、第二反光件；

5、挡光板；51、通光孔；52、旋转部；53、固定部。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。

本公开的实施方式部分使用的术语仅用于对本公开的实施例进行解释，而非旨在限定本公开。除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”、“第三”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则所述相对位置关系也可能相应地改变。

本申请实施例提供了一种激光测距系统，该激光测距系统可以应用于激光雷达。如图1所示，激光测距系统包括激光发射部1和激光接收部2。激光发射部1，例如可以包括激光器，用于向待测量的目标发射激光。激光接收部2，例如可以包括探测器阵列，用于接收经待测量的目标反射回来的激光，其中，激光接收部2所包括的探测器阵列中，每个探测器对应一个光线通道，激光由光线通道进入到探测器，被探测器接收。

为了根据发射激光的时间和接收到激光的时间，计算激光测距系统和待测量的目标之间的距离，相应的，激光测距系统还包括处理芯片(图1中未示出)。处理芯片分别与激光发射部1和激光接收部2电连接，以便于控制激光发射部1发射激光，以及从激光接收部2接收激光，记录发射时间和接收时间，并依据发射时间、接收时间和光速，计算出激光测距系统和待测量的目标之间的距离。

在一种示例中，为了测量激光测距系统和目标的多个位置处的距离，相应的，如图1所示，该激光测距系统还包括扫描镜3。其中，扫描镜3是能够旋转的反射镜，其旋转可以是在驱动件的驱动下进行，图1中未示出驱动件。

需要指出的是，该激光测距系统还包括壳体，激光发射部1、激光接收部2、处理芯片和扫描镜3，以及下文将要介绍的光反馈组件4和挡光板5均固定在壳体中。

如图1所示，扫描镜3位于激光发射部1的发射光路上，这样激光发射部1发射的激光能够入射至扫描镜3，经扫描镜3可以向目标反射。由于扫描镜3可以旋转，入射至扫描镜3的入射角随着扫描镜3的旋转而发生改变，那么经扫描镜3反射至目标的激光打在目标的位置也发生改变，从而能测量出激光测距系统与目标的多处位置之间的距离。

在一种示例中，扫描镜3的尺寸比较大，一部分位于激光发射部1的发射光路上，另一部分位于激光接收部2的入射光路上。例如，如图1所示，扫描镜3的第一部分31位于激光发射部1的发射光路上，扫描镜3的第二部分32位于激光接收部2的入射光路上。这样，激光发射部1发射的激光落在扫描镜3的第一部分31上以后，经过扫描镜3的第一部分31反射后的激光可以落在目标上，经过目标漫反射后的激光落在扫描镜3的第二部分32上，经过扫描镜3的第二部分32的反射进入激光接收部2。

在一种示例中，激光测距系统测量与目标之间的距离的原理可以参见图2所示，处理芯片向激光发射部1发送驱动电信号，同时开始计时，当前时间可以记为t₁，激光发射部1接收到驱动电信号后，发射激光。激光遇到待测量的目标后，发生反射，经目标反射回来的激光，进入到激光接收部2。激光接收部2接收到激光后，将光信号转换为电信号，并进行一些处理，如降噪处理、放大处理和整形处理等，处理后的电信号，发送至处理芯片。处理芯片接收到处理后的电信号时，停止计时，并记录当前时间为t₂。这样，处理芯片便可以根据公式

其中，Δt为t₂-t₁，c为光速，d为激光测距系统和目标之间的距离。

根据上述可知，如图3所示的时间轴，t₁是处理芯片向激光发射部1发送驱动电信号的时刻，而并不是激光发射部1发射激光的时刻t₃，可见，开始计时时刻比实际要早。同样，t₂是处理芯片接收到处理后的电信号的时刻，并不是激光接收部2接收到光信号的时刻t₄。另外，激光接收部2接收到光信号后，需要经过光电转换，以及电信号的降噪、放大和整形等处理，处理过程较为复杂，时间较长，致使t₄至t₂之间的时差较大。可见，通过如图2所示的t₂和t₁计算距离值，将会导致计算出的距离值的准确度偏低。

而且，激光接收部2和处理芯片等器件，也会因温度变化产生温漂而出现随机误差。

可见，无论是时间延迟，还是器件在工作中产生的随机误差，都会导致激光测距系统测量出的距离的准确度偏低。

为了提高激光测距系统的测距的准确度，相应的，如图1所示，该激光测距系统还包括光反馈组件4。其中，光反馈组件4用于消除时间误差，时间误差包括激光发射部1发射激光的时刻和处理芯片发送驱动电信号的时刻之差(即Δt₁，也即t₃-t₁)，以及处理芯片接收到处理后的电信号的时刻和激光接收部2接收到激光的时刻之差(即Δt₂，也即t₂-t₄)，一旦将时间误差消除，便可以提高激光测距系统的测距准确度。

由于扫描镜3可以旋转，那么，当扫描镜3在第一角度范围α内旋转时，光反馈组件4位于扫描镜3的光路上，当扫描镜3在第二角度范围β内旋转时，待测量的目标位于扫描镜3的光路上。

其中，第一角度范围和第二角度范围之和小于360度。

在一种示例中，如图4所示，第一角度范围α可以对应于扫描镜3的第一反射面，如是扫描镜3的背面，第二角度范围β可以对应于扫描镜3的第二反射面，第二反射面和第一反射面的位置相对，如是扫描镜3的正面。这样，当扫描镜3在第一角度范围α内旋转时，光反馈组件4位于扫描镜3的第一反射面的光路上。当扫描镜3在第二角度范围β内旋转时，带测量的目标位于扫描镜的第二反射面的光路上。其中，图4是该激光测距系统的在俯视状态下的示意图。

在另一种示例中，第一角度范围和第二角度范围，可以都是对应扫描镜3的同一反射面，只是扫描镜3的位置不相同。

可见，如图4所示，扫描镜3包括两个扫描视场，分别是第一角度范围α所对应的扫描视场和第二角度范围β所对应的扫描视场。在第一角度范围α所对应的扫描视场中，激光会经过光反馈组件4而进入激光接收部2，可以记为背面视场。在第二角度范围β所对应的扫描视场中，激光会经过待测量的目标而进入激光接收部2，可以记为正面视场。

其中，在背面视场中，光反馈组件4位于扫描镜3的光路上，例如，光反馈组件4位于扫描镜3的第一部分31的反射光路上，光反馈组件4还位于扫描镜3的第二部分32的入射光路上。

这样，当扫描镜3在第一角度范围内旋转时，处理芯片驱动激光发射部1发射的激光，入射至扫描镜3，由于光反馈组件4位于扫描镜3的光路上，那么经扫描镜3的第一部分31反射的激光，会入射至光反馈组件4，经由光反馈组件4反射的激光，会落在扫描镜3的第二部分32上，之后入射至激光接收部2，这一过程是光传输过程，简称为光过程。而处理芯片至激光发射部1的过程可以称为发射电过程，激光接收部2至处理芯片的过程，包括光电信号转换过程、电信号传输和电信号处理等过程，可以称为接收电过程。

而当扫描镜3在第二角度范围内旋转时，处理芯片驱动激光发射部1发射的激光，入射至扫描镜3，由于目标位于扫描镜3的光路上，那么经扫描镜3的第一部分31反射的激光，会入射至目标，经由目标反射的激光，会落在扫描镜3的第二部分上，之后入射至激光接收部2，这一过程是光传输过程，简称为光过程。而处理芯片至激光发射部1的过程可以称为发射电过程，激光接收部2至处理芯片的过程，包括光电信号转换过程、电信号传输和电信号处理等过程，可以称为接收电过程。

由上述可知，扫描镜3在第一角度范围内旋转和在第二角度范围内旋转的光过程不相同，但是发射电过程相同，接收电过程也相同。也即是，在两个角度范围内，激光所走的实际光程虽然不相同，但是，处理芯片驱动激光发射部发射激光的过程，以及激光在进入激光接收部2以后的处理过程都完全相同。而且，扫描镜3在这两个角度范围内的旋转属于同一帧，如在扫描镜3的同一个扫描周期内，以20Hz为例，两个角度范围内的数据的时间间隔不超过50ms，时间间隔很小。那么，两个角度范围内的数据在处理芯片至激光发射部1的电过程，以及激光接收部2至处理芯片的电过程的所具有的误差都相同，可以通过彼此相减来完全消除这部分时间误差。消除完时间误差只需再补回来在第一角度范围内激光所走的光程即可得到激光测距系统和目标之间的距离，进而提升了激光测距系统的测距准确度和精密度。

例如，激光发射部1发射的激光，经由光反馈组件4，进入到激光接收部2的过程中，激光所走的路径S₁为S₁＝(Δt₃-Δt₁-Δt₂)×c，Δt₃为处理芯片停止计时的时刻和处理芯片开始计时的时刻之差，即t₂-t₁。Δt₁为激光发射部1发射激光的时刻和处理芯片发送驱动电信号的时刻之差，即t₃-t₁。Δt₂为处理芯片停止计时的时刻和激光接收部2接收到激光的时刻之差，即t₂-t₄。c为光速。

激光发射部1发射的激光，经由目标，进入到激光接收部2的过程中，激光所走的路径S₂为S₂＝(Δt₄-Δt₁-Δt₂)×c，Δt₄为处理芯片停止计时的时刻和处理芯片开始计时的时刻之差，可以参考图3中的Δt₃，Δt₄和Δt₃的区别在于激光的光过程不同。

根据

d为激光测距系统和目标之间的距离，L为S₁的理论值，可以预先确定，这样便可以得到

其中，Δt₃和Δt₄能从激光测距系统中读出，或者，激光测距系统在计算中能获取。而Δt₁和Δt₂无法由激光测距系统获取。

可见，该激光测距系统测量出来的距离值，能够消除处理芯片至激光接收部1过程中产生的时间误差，以及激光接收部2至处理芯片过程中产生的时间误差，进而提高测距准确度。

由于上述两个过程，所使用的激光测距系统相同，那么，处理芯片、激光发射部1和激光接收部2等器件，所产生的随机误差也基本相等，那么，通过上述作差，也能够减弱甚至消除器件产生的随机误差，进一步提高测距准确度。

在一种示例中，光反馈组件4可以包括第一反光件41和第二反光件42。激光发射部1、扫描镜3的第一部分31和第一反光件41位于同一侧，且第一部分31位于激光发射部1的发射光路上，第一反光件41位于第一部分31的反射光路上。激光接收部2、扫描镜3的第二部分32和第二反光件42位于同一侧，且第二部分32位于激光接收部2的入射光路上，第二反光件42位于第二部分32的入射光路上，第二反光件42位于第一反光件41的反射光路上。

这样，激光发射部1发射的激光，经由扫描镜3的第一部分31，入射至第一反光件41的反射面上，激光经由第一反光件41的反射面反射后，入射至第二反光件42的反射面上，激光经由第二反光件42的反射面反射后，入射至扫描镜3的第二部分32上，激光再经由扫描镜3的第二部分32反射至激光接收部2。

在一种示例中，为了避免激光发射部1发射的激光，不经由光反馈组件4和目标，而进入到激光接收部2，相应的，如图1所示，激光测距系统还包括挡光板5，其中，挡光板5也可以称为遮光板，由不透光的材质加工而成。如图1所示，挡光板5将激光测距系统分为上下两侧，例如，激光发射部1、扫描镜3的第一部分31和第一反光件41位于挡光板5的一侧，而激光接收部2、扫描镜3的第二部分32和第二反光件42位于挡光板5的另一侧。

由于经由第一反光件41的反射面反射的激光，能够入射至第二反光件42上，所以，如图1所示，挡光板5在对应第一反光件41的反射光路的位置处具有通光孔51。这样，第一反光件41的反射面反射的激光，可以穿过通光孔51，入射至第二反光件42的反射面上。

如上述所述，扫描镜3包括第一部分31和第二部分32，其中，第一部分31和第二部分32这两部分可以一体成型，扫描镜3穿过挡光板5，由挡光板5划分为第一部分31和第二部分32。而由于扫描镜3能够旋转，为了使挡光板5不干涉扫描镜3的旋转，相应的，挡光板5包括旋转部52和固定部53，例如，固定部53具有阶梯型通孔，旋转部52位于阶梯型通孔中。这样，旋转部52能够相对于固定部53旋转，扫描镜3穿过旋转部52，扫描镜3在旋转中，可以带动旋转部52同步旋转，进而挡光板5不会干涉扫描镜3的旋转。

当然，扫描镜3的第一部分31和第二部分32也可以相互独立，而不是一体成型。本实施例对扫描镜3的第一部分31和第二部分32两者之间的关系不做具体限定，能够实现同步旋转即可。

在一种示例中，如图1所示，由于激光发射部1发射的激光与激光接收部2接收到的激光，在竖直方向上两者同轴，那么，第一反光件41的反射面和第二反光件42的反射面，也可以呈镜面对称，以确保经挡光板5的上下两侧的光线同轴，避免不同轴带来的光斑畸变。

在一种示例中，为了使经过第一反光件41的反射面的光线，都尽可能穿过通光孔51，入射至第二反光件42，相应的，第一反光件41的反射面的材质为镜面材质。

在一种示例中，为了使经过第二反光件42的反射面的光线，能够经由扫描镜3的第二部分32，入射至激光接收部2，相应的，第二反光件42的反射面的材质为漫反射材质。这样，入射至第二反光件42的光线，朝向较多方向反射，扩大了光斑直径，那么较多角度的光线，都可以经过扫描镜3入射至激光接收部2，进而提高激光接收部2接收到光线的概率，进而使处理芯片，接收到的信号饱和稳定且波动小。

在一种示例中，为了使激光接收部2能够，接收到经由第二反光件42反射的光线，相应的，第二反光件42的反射面的面积不小于激光接收部2的接口口径。这样可以确保经由第二反光件42反射的光线，能够进入到激光接收部2，以确保激光接收部2的所有光通道均能接收到光线，且接收到的光线的稳定性较好。

在一种示例中，为了确保扫描镜3在第一角度范围内旋转中，第一反光件41能够接收到扫描镜3的第一部分31反射的光线，相应的，第一反光件41的反射面的面积，需要满足扫描镜3的旋转角度范围在小于或等于5度，第一反光件41能接收到扫描镜3反射的激光。这样，扫描镜3在第一角度范围内旋转中，每旋转5度，总有光线经过扫描镜3的第二部分32，入射至第一反光件41。

基于上述所述，该激光测距系统在测量与目标之间的距离时，根据扫描镜3在第一角度范围内旋转中，激光发射部1发射的激光经由光反馈组件4，被激光接收部2接收的时间差(即Δt₃，可以记为反馈时间差)，以及扫描镜3在第二角度范围内旋转中，激光发射部1发射的激光经由目标，被激光接收部2接收的时间差(即Δt₄，可以记为测距时间差)来计算。

在一种示例中，由于激光接收部2为探测器阵列，每个探测器所产生的误差有可能不一样，那么，在测距时，可以使用同一个探测器所对应的两个时间差来计算距离值，这样可以消除当前光线通道产生的误差，进而进一步提高计算准确度。

在一种示例中，激光测距系统在每一帧测量中，扫描镜3可以在第一角度范围和第二角度范围内均旋转，这样，每一帧的测量所使用的反馈时间差Δt₃都是更新值。

在另一种示例中，外界环境稳定，基本不变的情况下，也可以不实时更新反馈时间差Δt₃。例如，激光测距系统可以每隔一些帧，更新一次反馈时间差Δt₃。例如，激光测距系统在第一帧测距时，扫描镜3在第一角度范围和第二角度范围内旋转，确定出反馈时间差Δt₃。而在第二帧测距时，扫描镜3可以只在第二角度范围内旋转，在计算距离时，使用前一帧确定的反馈时间差Δt₃。这样可以提升计算效率。

在本申请实施例中，该激光测距系统不仅包括激光发射部、激光接收部和扫描镜，还包括光反馈组件，扫描镜在第一角度范围内旋转中，激光发射部发射的激光，经由光反馈组件，进入到激光接收部，扫描镜在第二角度范围内旋转中，激光发射部发射的激光，经由待测量的目标，进入到激光接收部。激光无论是经由光反馈组件进入到激光接收部，还是经由目标进入到激光接收部，处理芯片至激光发射部的过程完全相同，以及进入到激光接收部以后的处理过程也完全相同，那么，可以通过第一角度范围内的数据和第二角度范围内的数据作差，而消除处理芯片至激光发射部中产生的误差，以及激光进入到激光接收部以后产生的误差，提高激光测距系统的测量准确度。

以上所述仅为本申请的可选实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种激光测距系统，其特征在于，所述激光测距系统包括激光发射部(1)、激光接收部(2)、扫描镜(3)和光反馈组件(4)；

所述扫描镜(3)位于所述激光发射部(1)的发射光路和所述激光接收部(2)的接收光路上；

当所述扫描镜(3)在第一角度范围内旋转时，所述光反馈组件(4)位于所述扫描镜(3)的光路上，当所述扫描镜(3)在第二角度范围内旋转时，待测量的目标位于所述扫描镜(3)的光路上。

2.根据权利要求1所述的激光测距系统，其特征在于，所述光反馈组件(4)包括第一反光件(41)和第二反光件(42)；

所述激光发射部(1)、所述扫描镜(3)的第一部分(31)和所述第一反光件(41)位于同一侧，且所述第一部分(31)位于所述激光发射部(1)的发射光路上，所述第一反光件(41)位于所述第一部分(31)的反射光路上；

所述激光接收部(2)、所述扫描镜(3)的第二部分(32)和所述第二反光件(42)位于同一侧，且所述第二部分(32)位于所述激光接收部(2)的入射光路上，所述第二反光件(42)位于所述第二部分(32)的入射光路上，所述第二反光件(42)位于所述第一反光件(41)的反射光路上。

3.根据权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述激光测距系统还包括挡光板(5)，所述激光发射部(1)、所述扫描镜(3)的第一部分(31)和所述第一反光件(41)位于所述挡光板(5)的一侧，所述激光接收部(2)、所述扫描镜(3)的第二部分(32)和所述第二反光件(42)位于所述挡光板(5)的另一侧；

所述挡光板(5)在对应所述第一反光件(41)的反射光路的位置处具有通光孔(51)。

4.根据权利要求3所述的激光测距系统，其特征在于，所述挡光板(5)包括旋转部(52)和固定部(53)，所述扫描镜(3)穿过所述旋转部(52)，且所述旋转部(52)能随着所述扫描镜(3)同步旋转。

5.根据权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述第一反光件(41)的反射面和所述第二反光件(42)的反射面，呈镜面对称。

6.根据权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述第一反光件(41)的反射面的材质为镜面材质。

7.根据权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述第二反光件(42)的反射面的材质为漫反射材质。

8.根据权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述第一反光件(41)的反射面的面积，满足所述扫描镜(3)的旋转角度范围在小于或等于5度，所述第一反光件(41)能接收到所述扫描镜(3)反射的激光。

9.根据权利要求2所述的激光测距系统，其特征在于，所述第二反光件(42)的反射面的面积不小于所述激光接收部(2)的接收口径。

10.根据权利要求1至9任一所述的激光测距系统，其特征在于，当所述扫描镜(3)在第一角度范围内旋转时，所述光反馈组件(4)位于所述扫描镜(3)的第一反射面的光路上；

当所述扫描镜(3)在第二角度范围内旋转时，待测量的目标位于所述扫描镜(3)的第二反射面的光路上，所述第一反射面和所述第二反射面的位置相对。

Images