CN114325370B - 一种双电源分时复用实现负载条件试验方法及电路 - Google Patents

Abstract

本申请涉及负载条件试验的技术领域，尤其是涉及一种双电源分时复用实现负载条件试验方法及电路，其电路包括单片机电路、电流阱电路、开关电路、低压电源、高压电源及待试验继电器，电流阱电路为单路或多路，单片机电路与开关电路和待试验继电器进行连接，单片机电路向开关电路提供时序控制信号，用于选择低压电源或所述高压电源；单片机电路同时向待试验继电器提供时序控制信号；待试验继电器与电流阱电路的一端进行连接，电流阱电路用于限制电流，电流阱电路的另一端、低压电源的负极及高压电源的负极接地，本申请提供的双电源分时复用实现负载条件试验方法及电路，具有降低能耗，并且使整个负载系统体积缩小，散热问题也得到解决的效果。

Description

一种双电源分时复用实现负载条件试验方法及电路

技术领域

本申请涉及负载条件试验的技术领域，尤其是涉及一种双电源分时复用实现负载条件试验方法及电路。

背景技术

固态继电器（Solid State Relay，缩写SSR），是由微电子电路、分立电子器件及电力电子功率器件组成的无触点开关。用隔离器件实现了控制端与负载端的隔离。固态继电器的输入端用微小的控制信号，达到直接驱动大电流负载。

随着以大功率系列为当代表的固态继电器的发展，器件的输出功率越来越来大，制作以传统的电阻为负载的各类老化，寿命试验工装已变得越来越困难，另外，以电阻为负载的工装一经制作就不可更改，且体积庞大可移动性差，其可循环利用率很低。

针对上述中的相关技术，发明人认为由于继电器的功率很大，相对的来说能耗也会跟着增加，并且传统的负载体积大，散热也比较大，按照传统的方法，负载散热和高能耗问题为一个不得不面对的问题。

发明内容

为了解决传统负载体积大、能耗高、散热大的技术问题，本发明提供一种双电源分时复用实现负载条件试验方法及电路。

为实现上述目的，本申请一方面提供一种双电源分时复用实现负载条件试验电路，采用如下的技术方案：

一种双电源分时复用实现负载条件试验电路，其特征在于，包括：单片机电路、电流阱电路、开关电路、低压电源、高压电源、待试验继电器、保护电路及负载电路，所述电流阱电路为单路或多路，

所述单片机电路与所述开关电路进行连接，所述单片机电路向所述开关电路提供时序控制信号，用于选择所述低压电源或所述高压电源；

所述单片机电路与所述待试验继电器连接，所述单片机电路向所述待试验继电器提供时序控制信号，用于控制待试验继电器的通断；

所述待试验继电器负极与所述电流阱电路的一端进行连接，所述电流阱电路用于限制电流；

所述电流阱电路的另一端、所述低压电源的负极及所述高压电源的负极接地；

所述保护电路由二极管D1和二极管D2组成；所述二极管D1的阳极与所述低压电源的正极连接，所述二极管D1阴极与所述待试验继电器正极连接，所述二极管D2阳极与所述开关一侧连接，所述二极管D2阴极与所述待试验继器正极连接；

所述负载电路由电阻和二极管D3组成，所述电阻一端与所述开关另一端连接，所述电阻另一端与所述高压电源正极连接，所述二极管D3阳极与所述开关另一端连接，所述二极管D3阴极与所述高压电源的正极连接。

通过采用上述技术方案，通过单片机电路、试验电路与电流阱电路的互相连接，使得单片机可以根据自己的时序来控制的等效负载方案，可以降低整个电路的能耗，并且通过电流阱电路可以使整个电路的电流恒定，防止出现过流的情况；试验电路通过保护电路、开关电路、高压电源、低压电源、待试验继电器、负载电路的互相连接，能够实现负载条件的试验，并且试验电路通过增加保护电路，使用两个二极管组成的保护电路，可以对电路进行反向保护，保证了试验的可靠性。

可选的，所述单路电路包括：待试验继电器、开关、二极管D1、二极管D2、二极管D3、电阻、电流阱电路以及高压电源和低压电源，

所述低压电源正极与所述二极管D1的阳极进行连接，所述二极管D1的阴极与所述待试验继电器的正极连接，所述开关一侧与所述二极管D2的阳极连接，所述二极管D2的阴极与所述待试验继电器的正极连接，所述开关的另外一侧分别与所述电阻和所述二极管D3的阳极进行连接，所述电阻和所述二极管D3的阴极分别与所述高压电源的正极相连，所述高压电源与负极所述电流阱电路一侧进行连接，所述电流阱电路另外一侧与所述待试验继电器的负极连接。

通过采用上述技术方案，在待试验继电器正偏及脉冲状态的高电平期间，输出回路由低压电源供给电流，即实现了在最大电能消耗期间的低压大电流方案，降低了系统能耗；在待试验继电器反偏及脉冲状态的低电平期间，输出回路均由高压电源供给反偏电压；在待试验继电器接通及关断过程中，实现了电压由额定值到0值及对应的电流由0值到额定值的变化。该套电路完全可实现传统的以电阻为负载的对于继电器的考核目的，因此有可替代电阻进行继电器负载类试验的可能。

可选的，所述多路电路包括：一个电流阱对应一路继电器输出电路和多个电流阱对应同一路继电器输出电路，

所述一个电流阱对应一路继电器输出电路，由n个(n≥2)所述待试验继电器的正极分别与n个所述二极管D1、n个所述二极管D2的阴极相连，n个所述二极管D1的阳极共同与所述低压电源的正极连接，n个所述二极管D2的阳极与n个所述开关一端进行连接，n个所述开关的另外一端与n个电阻连接，n个所述电阻共同与所述高压电源的正极连接，所述高压电源的负极与n个所述电流阱电路一端共同连接，n个所述电流阱的另一端分别与n个所述继电器的负极连接。

通过采用上述技术方案，由于工厂现在的实验的工程量比较的大，往往需要多路同时试验才能满足要求。采用一个电流阱对应一路继电器输出，可以满足多路同时测量的要求，并且还保证了测量的准确性和可靠性，提高了试验的速度和数量，更符合生产实践的要求。

可选的，所述多个电流阱对应同一路继电器输出电路包括：

所述待试验继电器正极分别与所述二极管D1和二极管D2的阴极连接，所述二极管D1阳极与所述低压电源的正极连接，所述二极管D2阳极与所述开关一侧进行连接，所述开关的另一侧与n个(n≥2)所述电阻连接，所述n个电阻并联连接，所述n个并联电阻与所述高压电源的正极连接，所述高压电源的负极与n个所述电流阱电路连接，所述n个电流阱电路并联，所述并联的电流阱电路与所述待试验继电器的负极连接。

通过采用上述技术方案，由于存在超大电流试验需求，若以单只功率MOSFET进行阱电流限制，则其上功耗将很大，那么单只功率MOSFET已经无法满足要求，这就需要以多路电流阱并联工作来实现此超大电流的限流。通过采用多个电流阱对应同一路继电器输出电路，可以减小电流，使得功率减小。

为实现上述目的，本申请另一方面提供一种双电源分时复用实现负载条件试验方法采用如下的技术方案：

一种双电源分时复用实现负载条件试验方法，其特征在于，包括:

利用所述低压电源，进行正偏试验，监测待试验继电器输出电流；

利用所述高压电源，进行反偏试验，监测待试验继电器输出电压；

将所述高压电源与所述低压电源同时接通，进行脉冲试验，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压和低压电源和高压电源的电流。

通过采用上述技术方案，在待试验继电器正偏及脉冲状态的高电平期间，输出回路均由低压电源供给电流，即实现了在最大电能消耗期间的低压大电流方案，降低了系统能耗；在待试验继电器反偏及脉冲状态的低电平期间，输出回路均由高压电源供给反偏电压；在待试验继电器接通及关断过程中，实现了电压由额定值到0值及对应的电流由0值到额定值的变化。可见，该套电路完全可实现传统的以电阻为负载的对于继电器的考核目的，因此有可替代电阻进行继电器负载类试验的可能。

可选的，所述利用所述低压电源，进行正偏试验，监测待试验继电器输出电流包括：

将所述开关或者所述高压电源关闭；

将所述待试验继电器的输入接通。

通过采用上述技术方案，将开关K断开或者关闭高压电压源，待试验继电器输入接通，则整套电路由低压电源供电，电流阱将回路电流限制为固定电流，等效于传统的正偏试验。此即为前述的低压大电流方案，可降低回路总功耗。

可选的，所述利用所述高压电源，进行反偏试验，监测待试验继电器输出电压包括：

所述开关闭合；

所述低压电源关闭；

将所述待试验继电器输入关断。

通过采用上述技术方案，将开关闭合并且同时将低压电源关闭，待试验继电器的输入也进行关断，则整个电路的电压有高压电源进行供电，来进行整个电路的反偏试验。因为反偏实验采用高压电源供电，产品不接通，几乎没有电流，更好的考验产品的耐压情况。

可选的，所述将所述高压电源与所述低压电源同时接通，进行脉冲试验，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压和低压电源和高压电源的电流。其中包括：

将所述低压电源与所述高压电源接通；

将所述待试验继电器输入接通，并输入脉冲控制信号；

将所述开关输入控制信号。

通过采用上述技术方案，对产品进行脉冲试验，采用脉冲实验将开关进行一定频率的通断，以及两个输入信号的通断。脉冲状态是在一定频率内，产品即接通又关断，可以更好地考验产品的寿命。

可选的，所述进行脉冲信号试验具体包括：

所述待试验继电器输入关断前，所述开关闭合，所述待试验继电器接通，所述高压电源与所述低压电源接通，所述电流阱电路将所述试验电路电流进行电流限定，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压；

所述待试验继电器输入关断，所述开关闭合，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压；

所述待试验继电器接通瞬间到完全接通，所述开关闭合，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压；

所述待试验继电器接通，所述开关断开，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压。

通过采用上述技术方案，在待试验继电器输入关断前，监测待试验继电器输出电流、输出电压，在待试验继电器的关断过程中，监测待试验继电器输出电流、输出电压，待试验继电器完全处于关断状态，监测待试验继电器输出电流、输出电压，在待试验继电器输入接通瞬间到其完全接通后，监测待试验继电器输出电流、输出电压。待试验继电器完全处于导通状态，监测待试验继电器输出电流、输出电压。以上过程循环往复，即实现了与传统SSR脉冲试验的等效过程。此过程为时序控制的过程，即开关信号及控制信号需由单片机产生并实时控制开关及SSR的通断。

综上所述，本申请具有以下有益技术效果：

在继电器正偏时监测其输出电流，反偏时监测其输出电压。本实施例提供的电路和方法，可以在继电器正偏试验中提供一个低电压的额定电流，反偏试验中提供一个微小电流的额定电压，脉冲状态试验中提供一个低压大电流到高压小电流的无断路自动转换装置(保证脉冲沿状态下提供给继电器输出额定的电压和额定的电流)，则可实现整套负载系统的能耗降低，并解决由过度能耗产生的诸如体积、散热等问题。

附图说明

图1为本实施例电路图。

图2为本实施例中一个电流阱对应一路继电器输出的电路图。

图3为本实施例中多个电流阱对同一路继电器输出电路图。

图4为本实施例的检测方法的流程图。

图5为本实施例脉冲实验的具体流程图。

具体实施方式

以下结合附图1-5对本申请作进一步详细说明。

参照图1本实施例公开申请一种双电源分时复用实现负载条件试验电路，包括：单片机电路、电流阱电路、开关电路、低压电源、高压电源及待试验继电器。

单片机电路与开关电路进行连接，单片机电路向开关电路提供时序控制信号，用于选择低压电源或高压电源；

单片机电路与试验电路的开关进行连接，单片机的时序控制输入，来控制开关的关断，当开关关断的时候，说明整个电路由高压电源来提供电压，当开关断开的时候，电路电压由低压电源提供。

单片机电路向待试验继电器提供时序控制信号，用于控制待试验继电器的通断。

单片机通过自己的时序来给待试验继电器提供一个时序控制信号，通过时序控制信号的关断，来控制待试验继电器的通断。

待试验继电器与电流阱电路的一端进行连接，电流阱电路用于限制电流；

电流阱电路与待试验继电器和高压电源进行连接，用来将试验电路的电流限制为一个固定值。

在本实施例中，电流阱电路限制试验电路的电流固定值为7A，还可以是8A等固定值，具体的可以根据实际需要来进行选择。

电流阱电路与试验电路进行接地，是整个电路进行接地保护，保护电路的安全。

采用此技术方案，通过单片机电路、试验电路与电流阱电路的互相连接，使得单片机可以根据自己的时序来控制的等效负载方案，可以降低整个电路的能耗，并且通过电流阱电路可以使怎个电路的电流恒定，防止出现过流的情况，保证了各个电路的安全性。

参照图1，本实施例中还包括：保护电路及负载电路；

保护电路由二极管D1和二极管D2组成；二极管D1的阳极与低压电源的正极连接，二极管D1阴极与待试验继电器正极连接，二极管D2阳极与开关一侧连接，二极管D2阴极与待试验继器正极连接；

保护电路二极管D1和D2并联连接在待试验继电器上，D1、D2可以反向对电路进行保护。

负载电路由电阻与二极管D3组成，电阻一端与开关另一端连接，电阻另一端与高压电源正极连接，二极管D3阳极与开关另一端连接，二极管阴极与高压电源的正极连接。

电阻与二极管D3并联组成负载电路，二极管D3可以防止电阻上出现反向电压。

采用此技术方案，试验电路通过保护电路、开关电路、高压电源、低压电源、待试验继电器、负载电路的互相连接，能够实现负载条件的试验，并且试验电路通过增加保护电路，使用两个二极管组成的保护电路，可以对电路进行反向保护，保证了试验的准确性和可靠性。

如图1所述，试验电路由低压电源与二极管D1连接、二极管D1与待试验继电器进行连接，待试验继电器与二极管D2进行连接，二极管D2与开关进行连接，开关与电阻和二极管D3进行连接，电阻与二极管D3进行并联，电阻与二极管D3共同与高压电源进行连接，高压电源再与电流阱电路进行连接，电流阱电路最后与待试验继电器进行连接。

本实施例中，低压电源采用5V/7A电压源，高压电源采用50V/7A电压源，二极管D3为反向续流二极管，二极管D1和D2为肖特基二极管，电流阱为7A电流阱模块，在本实施例中等效为电子负载。开关为一个固体继电器。

需要说明的是，本发明中单片机电路和电流阱电路为本领域技术人员所公知的技术手段，在此不再进一步详述。

采用此技术方案，在待试验继电器正偏及脉冲状态的高电平期间，输出回路由低压电源供给电流，即实现了在最大电能消耗期间的低压大电流方案，降低了系统能耗；在待试验继电器反偏及脉冲状态的低电平期间，输出回路均由高压电源供给反偏电压；在待试验继电器接通及关断过程中，实现了电压由额定值到0值及对应的电流由0值到额定值的变化。可见，该套电路完全可实现传统的以电阻为负载的对于继电器的考核目的，因此有可替代电阻进行继电器负载类试验的可能。

参照图2，一个电流阱对应一路继电器输出电路，由n个(n≥2)待试验继电器的正极分别与n个二极管D1、n个二极管D2的阴极相连，n个二极管D1的阳极共同与低压电源的正极连接，n个二极管D2的阳极与n个开关一端进行连接，n个开关的另外一端与n个电阻连接，n个电阻共同与高压电源的正极连接，高压电源的负极与n个电流阱电路一端共同连接，n个电流阱的另一端分别与n个继电器的负极连接。

本实施例中以JGX-36MA的4路同时工作为例，实际应用中还可以选择其他路数，具体根据实际进行选择。

图中，输出端各路由二极管互相隔离，则待试验继电器各路之间不产生相互影响。若待试验继电器输入4路并联为一路，开关K1-K4的输入端并联为一路。则待试验继电器输出4路同时动作，互相之间无影响，与各路单路工作时并无多大区别。

采用此技术方案，由于工厂现在的试验的工程量比较的大，往往需要多路同时试验才能满足要求。采用一个电流阱对应一路继电器输出，可以满足多路同时试验的要求，并且还保证了试验的准确性和可靠性，提高了试验的速度和数量，更符合生产实践的要求。

参照图3，多个电流阱对应同一路继电器输出电路包括：

待试验继电器正极分别与二极管D1，二极管D2的阴极连接，二极管D1阳极与低压电源的正极连接，二极管D2阳极与开关一侧进行连接，开关的另一侧与n个(n≥2)电阻连接，n个电阻并联连接，n个并联电阻与高压电源的正极连接，高压电源的负极与n个电流阱电路连接，n个电流阱电路并联，并联的电流阱电路与待试验继电器的负极连接。

由于存在150A超大电流试验需求，若以单只功率MOSFET进行阱电流限制，则其上功耗将达到P=U× I =5V×150A=750W，那么单只功率MOSFET已经无法满足要求，这就需要以多路电流阱并联工作来实现此超大电流的限流。以JGX-28M为例进行电路设计，原理如图3所示，图中，4个7A电流阱对功耗进行了均分，并不影响整体电路性能。

采用此技术方案，由于存在超大电流试验需求，若以单只功率MOSFET进行阱电流限制，则其上功耗将很大，那么单只功率MOSFET已经无法满足要求，这就需要以多路电流阱并联工作来实现此超大电流的限流。通过采用多个电流阱对应同一路继电器输出电路，对功耗进行了均分，并不影响整体电路性能。

参照图4，申请实施例公开一种双电源分时复用实现负载条件检测方法，包括：

S100，利用低压电源，进行正偏试验，监测待试验继电器输出电流；

将继电器接入电路进行正偏试验，验证产品的导通的状态，来验证产品的电流的指标，测量出输出电流的大小。

S200，利用高压电源，进行反偏实验，监测待试验继电器输出电流；

反偏试验的状态下，产品是不接通的，所以电路几乎没有电流，可以考验出产品的耐压情况，并测量出其输出电压的大小。

S300，将高压电源与低压电源同时接通，进行脉冲试验，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压。

脉冲试验在一定的频率内，产品进行即接通又关断的试验，可以考验产品的寿命。

采用此技术方案，在待试验继电器正偏及脉冲状态的高电平期间，输出回路均由低压电源供给电流，即实现了在最大电能消耗期间的低压大电流方案，降低了系统能耗；在待试验继电器反偏及脉冲状态的低电平期间，输出回路均由高压电源供给反偏电压；在待试验继电器接通及关断过程中，实现了电压由额定值到0值及对应的电流由0值到额定值的变化。可见，该套电路完全可实现传统的以电阻为负载的对于继电器的考核目的，因此有可替代电阻进行继电器负载类试验的可能。

参照图4，利用低压电源，进行正偏试验，监测输出电流，S100包括：

S110，将开关或者高压电源关闭；

S120，将待试验继电器的输入接通。

将开关K断开或者关闭50V电压源，待试验继电器输入接通，则整套电路由5V电源供电，电流阱将回路电流限制为7A，等效于传统的正偏试验。此即为前述的低压大电流方案，可降低回路总功耗。

采用此技术方案，将开关K断开或者关闭高压电压源，待试验继电器输入接通，则整套电路由低压电源供电，电流阱将回路电流限制为固定电流，等效于传统的正偏试验。此即为前述的低压大电流方案，可降低回路总功耗。

参照图4，利用高压电源，进行反偏试验，监测输出电压，S200包括：

S210，开关闭合；

S220，低压电源关闭；

S230，将待试验继电器输入关断。

反偏试验:将开关K闭合，5V电源关闭，待试验继电器输入关断，则待试验继电器完全由50V电压源提供给反偏电压，等效于传统的反偏试验。

采用此技术方案，将开关闭合并且同时将低压电源关闭，待试验继电器的输入也进行关断，则整个电路的电压有高压电源进行供电，来进行整个电路的反偏试验。因为反偏试验采用高压电源供电，产品不接通，几乎没有电流，更好的考验产品的耐压情况。

参照图4，将高压电源与低压电源同时接通，进行脉冲试验，依据控制信号和开关信号的时序关系监测待试验继电器输出电流、输出电压，S300包括：

S310，将低压电源与高压电源都接上；

将两个电压源同时接通，表示在整个电路中，电压有高压电源和低压电源同时对电路提供电压。

S320，将待试验继电器输入接通，并输入脉冲信号；

S330，将开关输入控制信号。

将高压电源和低压电源同时接通，电路电压由两个电源同时供电，待试验继电器接通并且对其进行输入脉冲信号，并且同时也将开关输入控制信号，来测量这两个信号的时序关系。

本实施例中待试验继电器输入的信号为5HZ的脉冲信号，还可以是其他频率的信号，如：7HZ、8HZ，具体的根据实际进行选择。

开关输入的控制信号，由单片机的时序来控制，并进行输入。

采用此技术方案，对产品进行脉冲试验，采用脉冲试验将开关进行一定频率的关断，以及两个输入信号的关断。脉冲状态是在一定频率内，产品即接通又关断，可以更好地考验产品的寿命。

参照图5，进行脉冲试验具体包括：

S410，待试验继电器输入关断前，开关闭合，待试验继电器接通，高压电源与低压电源接通，电流阱电路将试验电路电流进行电流限定，监测待试验继电器输出电流、输出电压；

待试验继电器输入关断前5ms，开关处于闭合状态，此时，待试验继电器仍处于接通状态，由50V电源及5V电源同时给回路供电，但电流阱将回路电流限定在7A。因此，在SSR的关断过程中，其两端电压变化从OV-50V，流经电流对应从7A-0A。

S420，待试验继电器输入关断，开关闭合，监测待试验继电器输出电流、输出电压；

待试验继电器完全处于关断状态，开关K处于闭合状态，此时待试验继电器两端为50V压降，5V电源被反偏截止。因此，在待试验继电器关断状态下，其反偏电压为额定50V。

S430，待试验继电器接通瞬间到完全接通，开关闭合，监测待试验继电器输出电流、输出电压；

待试验继电器输入接通瞬间到其完全接通后5ms，开关处于闭合状态，此时，回路由50V电源及5V电源同时供电，电流阱将回路电流限定在7A。因此，在待试验继电器的接通过程中，其两端电压从50V-0V，电流对应从0A-7A。

S440，试验测继电器接通，所述开关断开，监测待试验继电器输出电流、输出电压。

待试验继电器完全处于导通状态，开关处于断开状态，此时，回路完全由5V电源供电，电流阱将回路电流限定在7A。因此，在待试验继电器导通状态下，其流经电流为额定7A。

以上过程循环往复，即实现了与传统待试验继电器脉冲试验的等效过程。此过程为时序控制的过程，即开关信号及控制信号需由单片机产生并实时控制开关及待试验继电器的通断。

采用此技术方案，在待试验继电器输入关断前，监测待试验继电器输出电流、输出电压，在待试验继电器的关断过程中，监测待试验继电器输出电流、输出电压，待试验继电器完全处于关断状态，监测待试验继电器输出电流、输出电压，在待试验继电器输入接通瞬间到其完全接通后，监测待试验继电器输出电流、输出电压。待试验继电器完全处于导通状态，监测待试验继电器输出电流、输出电压。以上过程循环往复，即实现了与传统SSR脉冲试验的等效过程。此过程为时序控制的过程，即开关信号及待测信号需由单片机产生并实时控制开关及待试验继电器的通断。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种双电源分时复用实现负载条件试验电路，其特征在于，包括：单片机电路、电流阱电路、开关电路、低压电源、高压电源、待试验继电器、保护电路及负载电路，所述电流阱电路为单路或多路，

所述单片机电路与所述开关电路进行连接，所述单片机电路向所述开关电路提供时序控制信号，用于选择所述低压电源或所述高压电源；

所述单片机电路与所述待试验继电器连接，所述单片机电路向所述待试验继电器提供时序控制信号，用于控制待试验继电器的通断；

所述待试验继电器负极与所述电流阱电路的一端进行连接，所述电流阱电路用于限制电流；

所述电流阱电路的另一端、所述低压电源的负极及所述高压电源的负极接地；

所述保护电路由二极管D1和二极管D2组成；所述二极管D1的阳极与所述低压电源的正极连接，所述二极管D1阴极与所述待试验继电器正极连接，所述二极管D2阳极与所述开关一侧连接，所述二极管D2阴极与所述待试验继器正极连接；

所述负载电路由电阻和二极管D3组成，所述电阻一端与所述开关另一端连接，所述电阻另一端与所述高压电源正极连接，所述二极管D3阳极与所述开关另一端连接，所述二极管D3阴极与所述高压电源的正极连接。

2.根据权利要求1所述的双电源分时复用实现负载条件试验电路，其特征在于，所述单路电路包括：待试验继电器、开关、二极管D1、二极管D2、二极管D3、电阻、电流阱电路以及高压电源和低压电源；

所述低压电源正极与所述二极管D1的阳极进行连接，所述二极管D1的阴极与所述待试验继电器的正极连接，所述开关一侧与所述二极管D2的阳极连接，所述二极管D2的阴极与所述待试验继电器的正极连接，所述开关的另外一侧分别与所述电阻和所述二极管D3的阳极进行连接，所述电阻和所述二极管D3的阴极分别与所述高压电源的正极相连，所述高压电源与负极所述电流阱电路一侧进行连接，所述电流阱电路另外一侧与所述待试验继电器的负极连接。

3.根据权利要求1所述的双电源分时复用实现负载条件试验电路，其特征在于，所述多路电路包括：一个电流阱对应一路继电器输出电路和多个电流阱对应同一路继电器输出电路；

所述一个电流阱对应一路继电器输出电路，由 n 个所述待试验继电器的正极分别与n 个所述二极管 D1、n个所述二极管D2 的阴极相连，n个所述二极管D1的阳极共同与所述低压电源的正极连接，n个所述二极管D2的阳极与n个所述开关一端进行连接，n个所述开关的另外一端与n个电阻连接，n个所述电阻共同与所述高压电源的正极连接，所述高压电源的负极与n个所述电流阱电路一端共同连接，n个所述电流阱的另一端分别与n个所述继电器的负极连接，其中n大于等于2。

4.根据权利要求3所述的双电源分时复用实现负载条件试验电路，其特征在于，所述多个电流阱对应同一路继电器输出电路包括：

所述待试验继电器正极分别与所述二极管D1和所述二极管D2的阴极连接，所述二极管D1阳极与所述低压电源的正极连接，所述二极管D2阳极与所述开关一侧进行连接，所述开关的另一侧与n个所述电阻连接，所述n个电阻并联连接，所述n个并联电阻与所述高压电源的正极连接，所述高压电源的负极与n个所述电流阱电路连接，所述n个电流阱电路并联，所述并联的电流阱电路与所述待试验继电器的负极连接，其中n大于等于2。

5.一种双电源分时复用实现负载条件试验方法，其特征在于，应用于权利要求1-4中任一项所述的双电源分时复用实现负载条件试验电路，双电源分时复用实现负载条件试验方法包括：

利用所述低压电源，进行正偏试验，测量所述待试验继电器输出电流；

利用所述高压电源，进行反偏试验，测量所述待试验继电器输出电压；

将所述高压电源与所述低压电源同时接通，进行脉冲试验，依据控制信号和开关信号的时序关系监测所述待试验继电器输出电流、输出电压和所述低压电源和所述高压电源的电流。

6.根据权利要求5所述的双电源分时复用实现负载条件试验方法，其特征在于，所述利用所述低压电源，进行正偏试验，监测所述待试验继电器输出电流包括：

将所述开关或者所述高压电源关闭；

将所述待试验继电器的输入接通。

7.根据权利要求5所述的双电源分时复用实现负载条件试验方法，其特征在于，所述利用所述高压电源，进行反偏试验，监测所述待试验继电器输出电压包括：

所述开关闭合；

所述低压电源关闭；

将所述待试验继电器输入关断。

8.根据权利要求5所述的双电源分时复用实现负载条件试验方法，其特征在于，所述将所述高压电源与所述低压电源同时接通，进行脉冲试验，依据所述控制信号和所述开关信号的时序关系监测所述待试验继电器输出电流、输出电压和所述低压电源和所述高压电源的电流，其中包括：

将所述低压电源与所述高压电源接通；

将所述待试验继电器输入接通，并输入脉冲控制信号；

将所述开关输入控制信号。

9.根据权利要求5所述的双电源分时复用实现负载条件试验方法，其特征在于，所述进行脉冲试验具体包括：

所述待试验继电器输入关断前，所述开关闭合，所述待试验继电器接通，所述高压电源与所述低压电源接通，所述电流阱电路将所述试验电路电流进行电流限定，依据所述控制信号和所述开关信号的时序关系监测所述待试验继电器输出电流、输出电压；

所述待试验继电器输入关断，所述开关闭合，依据所述控制信号和所述开关信号的时序关系监测所述待试验继电器输出电流、输出电压；

所述待试验继电器接通瞬间到完全接通，所述开关闭合，依据所述控制信号和所述开关信号的时序关系监测所述待试验继电器输出电流、输出电压；

所述待试验继电器接通，所述开关断开，依据所述控制信号和所述开关信号的时序关系监测所述待试验继电器输出电流、输出电压。

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