CN114295322B - 光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置，其中，该系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，光源模块的输出端与光栅连接模块的输入端连接，控制模块的输入端包括至少两个开关通道，光栅连接模块的输出端与至少两个开关通道的第一通道连接，光栅连接模块的输入端还与至少两个开关通道的第二通道连接，控制模块的输出端与光谱仪连接。通过本发明，解决了相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，进而达到了提高光栅的测试效率的效果。

Description

光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置

技术领域

本发明实施例涉及光栅测试领域，具体而言，涉及一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置。

背景技术

近年来，随着信息化技术的快速发展，光栅的使用也越来越广泛，比如，光栅检测，相应地，对光栅的测试也就愈发重要，利用光栅做检测，首先光栅的本身的质量和检测的能力更好，才能使检测的结果更准确，所以对光栅进行测试，一般光栅可以进行透射谱和反射谱测试。目前，都是将光栅与测试光路进行熔接，通过光谱仪来显示光谱，但是测试的类型不一样，操作的方式也不一样，都是通过反复熔接和连接光路来测试光栅。

针对相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置，以至少解决相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种光栅的测试系统，包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接；所述光源模块，用于输出光栅测试光源；所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅；所述控制模块，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通；所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。

在一个示例性实施例中，所述控制模块，包括：光开关和控制器，其中，所述光开关的输入端包括所述至少两个开关通道，所述光开关的输出端与所述光谱仪连接，所述控制器与所述光开关连接；所述控制器，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通。

在一个示例性实施例中，所述光栅连接模块的输入端通过第一模式匹配器与所述第二通道连接，其中，所述第一模式匹配器用于将输入光束的光纤类型匹配为下级设备的目标光纤类型，得到所述目标光纤类型的输出光束传输给所述下级设备。

在一个示例性实施例中，所述光栅连接模块，包括：耦合器，第一N通道分束设备，第二N通道分束设备，第二模式匹配器和衰减器，其中，所述耦合器的输入端与所述光源模块的输出端连接，所述耦合器的输出端与所述第一N通道分束设备的输入端连接，所述第一N通道分束设备包括N个输出端，所述N个输出端中的1个输出端用于连接参考光栅，所述N个输出端中的N-1个输出端用于连接N-1个所述待测试光栅，N为大于1的整数；所述第二N通道分束设备包括N个输入端，所述N个输入端中的1个输入端用于连接所述参考光栅，所述N个输入端中的N-1个输入端用于连接N-1个所述待测试光栅；所述第二N通道分束设备的输出端与所述第二模式匹配器的输入端连接，所述第二模式匹配器通过所述衰减器与所述控制模块连接；所述衰减器用于对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，得到目标光束能量的光束，所述目标光束能量落入所述光谱仪的光束能量阈值范围，所述光束能量阈值范围用于指示允许所述光谱仪检测的光束能量范围。

在一个示例性实施例中，所述光源模块，包括：激光光源和第三模式匹配器，其中，所述激光光源的输出端与所述第三模式匹配器的输入端连接，所述第三模式匹配器的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接；所述激光光源，用于发射激光光束；所述第三模式匹配器用于将所述激光光束的光纤类型匹配为所述待测试光栅的光纤类型，得到所述光栅测试光源。

根据本发明的一个实施例，提供了一种光栅的测试方法，包括：检测待测试光栅对应的测试类型；生成与所述测试类型匹配的测试信号；通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，其中，所述光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的所述第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的所述第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接，所述光源模块，用于输出光栅测试光源，所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅，所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。

在一个示例性实施例中，所述通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，包括：在所述测试信号用于指示所述测试类型为反射谱测试的情况下，控制所述第一通道断开，所述第二通道接通；在所述测试信号用于指示所述测试类型为透射谱测试的情况下，控制所述第一通道接通，所述第二通道断开。

根据本发明的又一个实施例，还提供了一种光栅的测试装置，包括：检测模块，用于检测待测试光栅对应的测试类型；

生成模块，用于生成与所述测试类型匹配的测试信号；

控制模块，用于通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，其中，所述光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的所述第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的所述第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接，所述光源模块，用于输出光栅测试光源，所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅，所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。

根据本发明的又一个实施例，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

根据本发明的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

通过本发明，光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，光源模块的输出端与光栅连接模块的输入端连接，控制模块的输入端包括至少两个开关通道，光栅连接模块的输出端与至少两个开关通道的第一通道连接，光栅连接模块的输入端还与至少两个开关通道的第二通道连接，控制模块的输出端与光谱仪连接；光源模块，用于输出光栅测试光源；光栅连接模块，用于连接待测试光栅；控制模块，用于根据待测试光栅的测试类型控制第一通道或者第二通道的接通；光谱仪，用于对待测试光栅的光谱进行测试。即光栅的测试系统中的光源模块与光栅连接模块连接，光栅连接模块与控制模块连接，光栅连接模块的输出端连接的是控制模块的第一通道，光栅连接模块的输入端连接的是控制模块的第二通道，控制模块再与光谱仪连接，也就是光源模块输出的光栅测试光源，通过光栅连接模块经过待测试光栅，再将经过待测试光栅的光束传输到到光谱仪，光谱仪对待测试光栅的光谱进行测试，而控制模块根据待测试光栅的测试类型，控制第一通道或者第二通道的接通，也就是控制光栅连接模块的输入端或者输出端与光谱仪之间的接通，从而控制不同的测试类型光栅连接模块与光谱仪之间的连接方式不同，因此，解决了相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，达到了提高光栅的测试效率的效果。

附图说明

图1是根据本发明实施例的光栅的测试系统的示意图；

图2是本发明实施例的光栅的测试方法的移动终端硬件结构框图；

图3是根据本发明实施例的光栅的测试方法的流程图；

图4是根据本发明可选实施例的光栅测试系统的示意图；

图5是根据本发明可选实施例的反射谱测试过程的示意图一；

图6是根据本发明可选实施例的反射谱测试过程的示意图二；

图7是根据本发明可选实施例的透射谱测试过程的示意图一；

图8是根据本发明可选实施例的透射谱测试过程的示意图二；

图9是根据本发明实施例的光栅的测试装置的结构框图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明的实施例。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

在本实施例中提供了一种光栅的测试系统，图1是根据本发明实施例的光栅的测试系统的示意图，如图1所示，该系统包括：光源模块102，光栅连接模块104，控制模块106和光谱仪108，其中，

所述光源模块102的输出端与所述光栅连接模块104的输入端连接，所述控制模块106的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块104的输出端与所述至少两个开关通道的第一通道连接，所述光栅连接模块104的输入端还与所述至少两个开关通道的第二通道连接，所述控制模块106的输出端与所述光谱仪108连接；

所述光源模块102，用于输出光栅测试光源；

所述光栅连接模块104，用于连接待测试光栅；

所述控制模块106，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通；

所述光谱仪108，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。

通过本发明，光栅的测试系统中的光源模块与光栅连接模块连接，光栅连接模块与控制模块连接，光栅连接模块的输出端连接的是控制模块的第一通道，光栅连接模块的输入端连接的是控制模块的第二通道，控制模块再与光谱仪连接，也就是光源模块输出的光栅测试光源，通过光栅连接模块经过待测试光栅，再将经过待测试光栅的光束传输到到光谱仪，光谱仪对待测试光栅的光谱进行测试，而控制模块根据待测试光栅的测试类型，控制第一通道或者第二通道的接通，也就是控制光栅连接模块的输入端或者输出端与光谱仪之间的接通，从而控制不同的测试类型光栅连接模块与光谱仪之间的连接方式不同，因此，解决了相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，达到了提高光栅的测试效率的效果。

在一个示例性实施例中，控制模块可以但不限于包括：光开关和控制器，其中，所述光开关的输入端包括所述至少两个开关通道，所述光开关的输出端与所述光谱仪连接，所述控制器与所述光开关连接；所述控制器，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通。

可选地，在本实施例中，上述控制器与光开关连接，可以控制光开关的通道的接通和断开，光开关的输入端包括至少两个开关通道，光开关的输出端与光谱仪连接，控制器可以控制光开关的输入端的开关通道，根据待测试光栅的测试类型，控制第一通道或者第二通道的接通。

在一个示例性实施例中，光栅连接模块的输入端可以但不限于通过第一模式匹配器与第二通道连接，其中，所述第一模式匹配器用于将输入光束的光纤类型匹配为下级设备的目标光纤类型，得到所述目标光纤类型的输出光束传输给所述下级设备。

可选地，在本实施例中，上述下级设备可以但不限于是光开关、光谱仪、衰减器等等，上述第一模式匹配器可以但不限于将输入光束的光纤类型匹配为下级设备的目标光纤类型，也就是将输入光束的光纤类型匹配为目标光纤类型。

可选地，在本实施例中，使用模式匹配器将光纤类型进行匹配，可以使输入光束更好的传输到下级设备，从而提高光束的传输效果，提高光栅的测试效率。

在一个示例性实施例中，光栅连接模块可以但不限于包括：耦合器，第一N通道分束设备，第二N通道分束设备，第二模式匹配器和衰减器，其中，所述耦合器的输入端与所述光源模块的输出端连接，所述耦合器的输出端与所述第一N通道分束设备的输入端连接，所述第一N通道分束设备包括N个输出端，所述N个输出端中的1个输出端用于连接参考光栅，所述N个输出端中的N-1个输出端用于连接N-1个所述待测试光栅，N为大于1的整数；所述第二N通道分束设备包括N个输入端，所述N个输入端中的1个输入端用于连接所述参考光栅，所述N个输入端中的N-1个输入端用于连接N-1个所述待测试光栅；所述第二N通道分束设备的输出端与所述第二模式匹配器的输入端连接，所述第二模式匹配器通过所述衰减器与所述控制模块连接；所述衰减器用于对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，得到目标光束能量的光束，所述目标光束能量落入所述光谱仪的光束能量阈值范围，所述光束能量阈值范围用于指示允许所述光谱仪检测的光束能量范围。

可选地，在本实施例中，上述耦合器连接光源模块与第一N通道分束设备，通过耦合器将光源模块传输出的光束的功率进行分配，使得通过第一N通道分束设备的光束的功率满足条件。

可选地，在本实施例中，上述第二模式匹配器可以但不限于将输入光束的光纤类型匹配为下级设备的目标光纤类型，下级设备可以但不限于是衰减器。由于光谱仪检测的光束能量范围有限，允许光谱仪检测的光束能量范围为光束能量阈值范围，衰减器对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，使得到光束的光束能量在光束能量阈值范围之内，避免因光束的光束能量损坏光谱仪、或者无法检测该光束等等。

可选地，在本实施例中，上述第一N通道分束设备可以但不限于包括第一N通道分束器或者第一N通道光开关。上述第一N通道分束器可以将输入的光束分成多束。上述第一N通道光开关可以实现制定通道的接通和断开。上述第一N通道分束设备可以但不限于包括N个输出端，其中一个输出端连接参考光栅，其他的连接待测光栅。

上述第二N通道分束设备可以但不限于包括第二N通道分束器或者第二N通道光开关，上述第二N通道分束器可以将输入的多束光束进行合成，上述第二N通道光开关可以实现制定通道的接通和断开。上述第二N通道分束设备可以但不限于包括N个输入端，其中一个输入端连接参考光栅，其他的连接待测光栅。

可选地，在本实施例中，如果上述第一N通道分束设备，第二N通道分束设备均为N通道光开关，可以将参考光栅和待测试光栅一次完成熔接，避免了分批次熔接，提高了光栅的测试效率。通过光开关切换，实现光栅不同的谱形测试。还可以通过编写第一N通道光开关和第二N通道光开关的控制程序，实现自动控制N通道光开关通道的接通和断开完成测试功能，提高光栅的测试效率。

在一个示例性实施例中，光源模块可以但不限于包括：激光光源和第三模式匹配器，其中，所述激光光源的输出端与所述第三模式匹配器的输入端连接，所述第三模式匹配器的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接；所述激光光源，用于发射激光光束；所述第三模式匹配器用于将所述激光光束的光纤类型匹配为所述待测试光栅的光纤类型，得到所述光栅测试光源。

可选地，在本实施例中，上述第三模式匹配器可以但不限于是将激光光束的光纤类型匹配为待测试光栅的光纤类型的光纤类型，也就是说光源模块中使用第三模式匹配器，可以将激光光源发射的激光光束的光纤类型匹配为待测试光栅的光纤类型，从而得到与待测试光栅的光纤类型一致的光栅测试光源。

本发明实施例中所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。以运行在移动终端上为例，图2是本发明实施例的光栅的测试方法的移动终端硬件结构框图。如图2所示，移动终端可以包括一个或多个(图2中仅示出一个)处理器202(处理器202可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器204，其中，上述移动终端还可以包括用于通信功能的传输设备206以及输入输出设备208。本领域普通技术人员可以理解，图2所示的结构仅为示意，其并不对上述移动终端的结构造成限定。例如，移动终端还可包括比图2中所示更多或者更少的组件，或者具有与图2所示不同的配置。

存储器204可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的光栅的测试方法对应的计算机程序，处理器202通过运行存储在存储器204内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器204可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器204可进一步包括相对于处理器202远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至移动终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输装置206用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括移动终端的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输装置206包括一个网络适配器(Network Interface Control ler，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输装置206可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

在本实施例中提供了一种光栅的测试方法，图3是根据本发明实施例的光栅的测试方法的流程图，如图3所示，该流程包括如下步骤：

步骤S302，检测待测试光栅对应的测试类型；

步骤S304，生成与所述测试类型匹配的测试信号；

步骤S306，通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，其中，所述光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的所述第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的所述第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接，所述光源模块，用于输出光栅测试光源，所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅，所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。

通过上述步骤，首先通过检测待测光栅的测试类型，再生成该测试类型对应的测试信号，光栅测试系统根据测试信号控制第一通道或者第二通道的接通，从而实现提高光栅测试的效率。

在上述步骤S302提供的技术方案中，对待测试光栅执行不同测试类型的测试过程可以但不限于采用不同的方式进行测试系统中各个部分的连接。比如：不同的测试类型，待测试光栅与光谱仪之间的连接方式不同。

在上述步骤S304提供的技术方案中，根据检测到的待测试光栅的测试类型，生成与测试类型匹配的测试信号。

在上述步骤S306提供的技术方案中，根据测试信号可以控制光栅的测试系统中的第一通道和第二通道的接通。可以根据测试信号，控制第一通道和第二通道的接通，来控制光栅连接模块与光谱仪之间的连接的通道的接通与断开。

在一个可选的实施例中，测试信号可以但不限于通过以下方式之一控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，方式一：在所述测试信号用于指示所述测试类型为反射谱测试的情况下，控制所述第一通道断开，所述第二通道接通；方式二：在所述测试信号用于指示所述测试类型为透射谱测试的情况下，控制所述第一通道接通，所述第二通道断开。

可选地，在本实施例中，上述测试类型可以但不限于包括反射谱测试、透射谱测试等等。

可选地，在本实施例中，在测试信号指示的测试类型为反射谱测试的情况下，也就是待测试光栅的测试类型是反射谱测试，控制第一通道断开，第二通道接通，也就是与光谱仪连接的是进行反射谱测试的通道接通，这样就可以进行反射谱测试，光谱仪显示的就是反射谱光谱。

可选地，在本实施例中，在测试信号指示的测试类型为透射谱测试的情况下，也就是待测试光栅的测试类型是透射谱测试，控制第一通道接通，第二通道断开，也就是与光谱仪连接的是进行透射谱测试的通道接通，这样就可以进行透射谱测试，光谱仪显示的就是透射谱光谱。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。

下面结合实施例对本发明进行说明：

图4是根据本发明可选实施例的光栅测试系统的示意图，如图4所示，激光光源选择1080nm的激光光源，经过第三模式匹配器进入耦合器中，耦合器输出的光纤类型与待测光栅所使用的光纤类型相同，经过第一N通道分束器或者第一N通道光开关，将光源分成N束，与参考光栅或者待测光栅连接，参考光栅定基准，待测光栅直接进行测试。参考光栅和待测光栅连接第二N通道分束器或者第二N通道光开关，输入光谱仪之前，经过第二模式匹配器和衰减器(衰减器根据实际功率大小选择不同的衰减器进行衰减)。光谱仪前加了一个光开关，可以实现待测试光栅的测试类型是反射谱测试或者透射谱测试的通道切换，避免对光谱仪端口进行反复插拔。

光开关选用大于等于2通道的光开关。光开关是可以指定断开和接通光路(即上述通道)。在测试反射时，接通反射谱测试的光路即可实现反射谱的测试。在接通反射谱时，其他光路均为断开状态。在测试透射谱测试时，接通透射谱测试光路即可实现透射谱的测试。

由于光谱仪只有一个输入端口，如果连接方式没有光开关，反射谱测试的光路和透射谱测试的光路要与光谱仪连接时，均需通过光纤活动连接器插拔对接。如果反射谱测试，需要将反射谱测试光路中的连接器与光谱仪进行对接，进入光开关之前，光束经过第二N通道分束器，输入光开关和光谱仪之前，经过第一N通道分束器，耦合器以及第一模式匹配器；透射谱测试时，需要将透射谱测试光路中的连接器与光谱仪对接。在这个过程中需要不断插拔反射谱测试和透射谱测试的连接器。使用光开关以后，这个位置的光纤活动链接器就可以不需要反复插拔。

可选地，在本实施例中，还可以根据待测试光栅不同的测试类型或者光栅类型控制第一N通道分束器和第二N通道分束器与光栅的接通和断开，实现不同的测试类型或者光栅类型，控制光栅连接模块内不同的光栅通道的接通和断开。待测试光栅的测试类型可以但不限于是透射谱测试、反射谱测试等等。

以待测试光栅的测试类型为反射谱测试为例，图5是根据本发明可选实施例的反射谱测试过程的示意图一，如图5所示，进行参考光栅的反射谱测试，首先要断开待测光栅的通道，可以但不限于通过第一N通道分束器与光栅之间的断开、不进行光纤熔接、不进行V形槽对准等等方式断开待测光栅的通道，使光路是断开状态即可，反射谱测试通过第一N通道分束器的光纤的熔接的接通与断开来控制光栅的通道，这样才可以使返回的光路只经过希望进行测试的光栅，如图中所示的在光栅的左侧断开。这样就可以先进行参考光栅的反射谱测试，定mark(标记)基准线，后续的待测光栅的反射谱测试可以依据定的mark基准线来进行判断。

图6是根据本发明可选实施例的反射谱测试过程的示意图二，如图6所示，通过断开第一N通道分束器与参考光栅的光路，通过第一N通道分束器与光栅链路的接通与断开，依次接通待测光栅进行反射谱测试。

以待测试光栅的测试类型为透射谱测试为例，图7是根据本发明可选实施例的透射谱测试过程的示意图一，如图7所示，可以通过断开第一N通道分束器或者第二N通道分束器与待测光栅的通道，接通参考光栅与第一N通道分束器和第二N通道分束器的通道，这样就可以先进行参考光栅的透射谱测试，定mark基准线，后续的待测光栅的透射谱测试可以依据定的mark基准线来进行判断。

图8是根据本发明可选实施例的透射谱测试过程的示意图二，如图8所示，可以通过断开第一N通道分束器与参考光栅和其他的待测光栅的连接，也可以通过断开第二N通道分束器与参考光栅和其他的待测光栅的连接，只将要进行透射谱测试的待测光栅的通道接通，这样光谱仪测试的光谱就是该待测光栅的透射谱。通过依次接通待测光栅的通道，来依次测试待测试光栅。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

在本实施例中还提供了一种光栅的测试装置，图9是根据本发明实施例的光栅的测试装置的结构框图，如图9所示，该装置包括：

检测模块902，用于检测待测试光栅对应的测试类型；

生成模块904，用于生成与所述测试类型匹配的测试信号；

控制模块906，用于通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，其中，所述光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的所述第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的所述第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接，所述光源模块，用于输出光栅测试光源，所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅，所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。

通过上述装置，首先通过检测待测光栅的测试类型，再生成该测试类型对应的测试信号，光栅测试系统根据测试信号控制第一通道或者第二通道的接通，从而实现提高光栅测试的效率。

在一个可选的实施例中，所述控制模块，包括：

第一控制单元，用于在所述测试信号用于指示所述测试类型为反射谱测试的情况下，控制所述第一通道断开，所述第二通道接通；

第二控制单元，用于在所述测试信号用于指示所述测试类型为透射谱测试的情况下，控制所述第一通道接通，所述第二通道断开。

需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，对于后者，可以通过以下方式实现，但不限于此：上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

在一个示例性实施例中，上述计算机可读存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。

本发明的实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

在一个示例性实施例中，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

本实施例中的可选示例可以参考上述实施例及示例性实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种光栅的测试系统，其特征在于，包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，

所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接；

所述光源模块，用于输出光栅测试光源；

所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅；

所述控制模块，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通；

所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试；

其中，所述光栅连接模块，包括：耦合器，第一N通道分束设备，第二N通道分束设备，第二模式匹配器和衰减器，其中，

所述耦合器的输入端与所述光源模块的输出端连接，所述耦合器的输出端与所述第一N通道分束设备的输入端连接，所述第一N通道分束设备包括N个输出端，所述N个输出端中的1个输出端用于连接参考光栅，所述N个输出端中的N-1个输出端用于连接N-1个所述待测试光栅，N为大于1的整数；

所述第二N通道分束设备包括N个输入端，所述N个输入端中的1个输入端用于连接所述参考光栅，所述N个输入端中的N-1个输入端用于连接N-1个所述待测试光栅；

所述第二N通道分束设备的输出端与所述第二模式匹配器的输入端连接，所述第二模式匹配器通过所述衰减器与所述控制模块连接；

所述衰减器用于对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，得到目标光束能量的光束，所述目标光束能量落入所述光谱仪的光束能量阈值范围，所述光束能量阈值范围用于指示允许所述光谱仪检测的光束能量范围；

其中，所述第一N通道分束设备包括第一N通道光开关，所述第一N通道光开关用于实现制定通道的接通和断开；所述第二N通道分束设备包括第二N通道光开关，所述第二N通道光开关用于实现制定通道的接通和断开。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制模块，包括：光开关和控制器，其中，

所述光开关的输入端包括所述至少两个开关通道，所述光开关的输出端与所述光谱仪连接，所述控制器与所述光开关连接；

所述控制器，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述光栅连接模块的输入端通过第一模式匹配器与所述第二通道连接，其中，所述第一模式匹配器用于将输入光束的光纤类型匹配为下级设备的目标光纤类型，得到所述目标光纤类型的输出光束传输给所述下级设备。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，其特征在于，所述光源模块，包括：激光光源和第三模式匹配器，其中，

所述激光光源的输出端与所述第三模式匹配器的输入端连接，所述第三模式匹配器的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接；

所述激光光源，用于发射激光光束；

所述第三模式匹配器用于将所述激光光束的光纤类型匹配为所述待测试光栅的光纤类型，得到所述光栅测试光源。

5.一种光栅的测试方法，其特征在于，包括：

检测待测试光栅对应的测试类型；

生成与所述测试类型匹配的测试信号；

通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，其中，所述光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的所述第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的所述第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接，所述光源模块，用于输出光栅测试光源，所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅，所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试；

其中，所述光栅连接模块，包括：耦合器，第一N通道分束设备，第二N通道分束设备，第二模式匹配器和衰减器，其中，

所述耦合器的输入端与所述光源模块的输出端连接，所述耦合器的输出端与所述第一N通道分束设备的输入端连接，所述第一N通道分束设备包括N个输出端，所述N个输出端中的1个输出端用于连接参考光栅，所述N个输出端中的N-1个输出端用于连接N-1个所述待测试光栅，N为大于1的整数；

所述第二N通道分束设备包括N个输入端，所述N个输入端中的1个输入端用于连接所述参考光栅，所述N个输入端中的N-1个输入端用于连接N-1个所述待测试光栅；

所述第二N通道分束设备的输出端与所述第二模式匹配器的输入端连接，所述第二模式匹配器通过所述衰减器与所述控制模块连接；

所述衰减器用于对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，得到目标光束能量的光束，所述目标光束能量落入所述光谱仪的光束能量阈值范围，所述光束能量阈值范围用于指示允许所述光谱仪检测的光束能量范围；

其中，所述第一N通道分束设备包括第一N通道光开关，所述第一N通道光开关用于实现制定通道的接通和断开；所述第二N通道分束设备包括第二N通道光开关，所述第二N通道光开关用于实现制定通道的接通和断开。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，包括：

在所述测试信号用于指示所述测试类型为反射谱测试的情况下，控制所述第一通道断开，所述第二通道接通；

在所述测试信号用于指示所述测试类型为透射谱测试的情况下，控制所述第一通道接通，所述第二通道断开。

7.一种光栅的测试装置，其特征在于，包括：

检测模块，用于检测待测试光栅对应的测试类型；

生成模块，用于生成与所述测试类型匹配的测试信号；

控制模块，用于通过所述测试信号控制光栅的测试系统中包括的第一通道或者第二通道的接通，其中，所述光栅的测试系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的所述第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的所述第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接，所述光源模块，用于输出光栅测试光源，所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅，所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试；

其中，所述光栅连接模块，包括：耦合器，第一N通道分束设备，第二N通道分束设备，第二模式匹配器和衰减器，其中，

所述耦合器的输入端与所述光源模块的输出端连接，所述耦合器的输出端与所述第一N通道分束设备的输入端连接，所述第一N通道分束设备包括N个输出端，所述N个输出端中的1个输出端用于连接参考光栅，所述N个输出端中的N-1个输出端用于连接N-1个所述待测试光栅，N为大于1的整数；

所述第二N通道分束设备包括N个输入端，所述N个输入端中的1个输入端用于连接所述参考光栅，所述N个输入端中的N-1个输入端用于连接N-1个所述待测试光栅；

所述第二N通道分束设备的输出端与所述第二模式匹配器的输入端连接，所述第二模式匹配器通过所述衰减器与所述控制模块连接；

所述衰减器用于对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，得到目标光束能量的光束，所述目标光束能量落入所述光谱仪的光束能量阈值范围，所述光束能量阈值范围用于指示允许所述光谱仪检测的光束能量范围；

其中，所述第一N通道分束设备包括第一N通道光开关，所述第一N通道光开关用于实现制定通道的接通和断开；所述第二N通道分束设备包括第二N通道光开关，所述第二N通道光开关用于实现制定通道的接通和断开。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现所述权利要求5至6任一项中所述的方法的步骤。

9.一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述权利要求5至6任一项中所述的方法的步骤。