CN114267407B - 一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备，该方法包括：完成每一测试信号的多次数据采集得到多次采集数据，该数据采集由精度校正设备对测试设备的每一测试信号采集得到，或由测试设备采集精度校正设备输出的每一测试信号得到，根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
Description
技术领域
本申请涉及存储器测试技术领域，具体而言，涉及一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备。
背景技术
目前存储器测试设备在对存储器进行测试过程中需通过多个测试通道向存储器发送测试信号来完成，因此，需要存储器测试设备存在众多的测试通道，由于信号路径差异、器件离散型等原因，使得众多的测试通道的测试信号与参照点有时间差，导致同一芯片的不同测试通道的测试信号的时序不同步，进而导致测量结果不准确。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备，用以解决上述问题。
第一方面，本发明提供一种精度校正方法，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述方法包括：接收所述精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据，每一测试信号的多次采集数据通过精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备发送的每一测试信号进行多次采集获得；根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
在上述设计的精度校正方法中，本方案利用存储器测试设备根据精度校准设备返回每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，并根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
在第一方面的可选实施方式中，在所述根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值之后，所述方法还包括：根据每一测试信号的时序差值对对应的测试信号进行延迟，获得补偿后的测试信号；判断所有的测试信号的跳变时刻是否相同；若是，则执行根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值的步骤。
在第一方面的可选实施方式中，所述根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，包括：计算每一测试信号的跳变时刻与采集时刻的差值，获得每一测试信号的时序差值。
第二方面，本发明提供一种精度校正方法，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述方法包括：接收所述精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，所述跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
在上述设计的精度校正方法中，存储器测试设备接收精度校正设备传输的多个输出信号，然后从预设采集时刻开始对多个输出信号进行采集，获得每一输出信号的多次采集数据，进而根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，然后根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值，进而根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
第三方面，本发明提供一种精度校正方法，应用于精度校正设备，所述精度校正设备包括多个校正通道，所述多个校正通道用于与存储器测试设备的多个测试通道一一对接，所述方法包括：接收所述存储器测试设备发送的采集时刻以及所述存储器测试设备通过多个测试通道发送的多个测试信号；从采集时刻起对所述多个测试信号进行多次采集，获得每一测试信号的多次采集数据；将每一测试信号的多次采集数据发送给所述存储器测试设备，以使所述存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
在上述设计精度校正方法中，精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备发送的多个测试信号进行多次采集，获得每一测试信号的多次采集数据，然后将每一测试信号的多次采集数据发送给所述存储器测试设备，以使所述存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一输出信号的跳变时刻与第一采集时刻计算时序差值，以根据时序差值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
第四方面，本发明提供一种精度校正装置，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述装置包括：第一接收模块，用于接收所述精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据，每一测试信号的多次采集数据通过精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备发送的每一测试信号进行多次采集获得；第一确定模块，用于根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；第一计算模块，用于根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
在上述设计的精度校正装置中，本方案通过存储器测试设备根据精度校准设备返回每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，并根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
在第四方面的可选实施方式中，所述装置还包括延迟模块，用于根据每一测试信号的时序差值对对应的测试信号进行延迟，获得补偿后的测试信号；判断模块，用于判断所有的测试信号的跳变时刻是否相同；执行模块，用于在判断模块判断呈现相同的跳变后，执行根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值的步骤。
在第四方面的可选实施方式中，所述计算模块，具体用于计算每一测试信号的跳变时刻与采集时刻的差值，获得每一测试信号的时序差值。
第五方面，本发明提供一种精度校正装置，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述装置包括：第二接收模块，用于接收所述精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；第一采集模块，用于从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；第二确定模块，用于根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，所述跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；第二计算模块，用于根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
在上述设计的精度校正装置中，存储器测试设备接收精度校正设备传输的多个输出信号，然后从预设采集时刻开始对多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据，进而根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，然后根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值，进而根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
第六方面，本发明提供一种精度校正装置，应用于精度校正设备，所述精度校正设备包括多个校正通道，所述多个校正通道用于与存储器测试设备的多个测试通道一一对接，所述装置包括：第三接收模块，用于接收所述存储器测试设备发送的采集时刻以及所述存储器测试设备通过多个测试通道发送的多个测试信号；第三采集模块，用于从采集时刻起对所述多个测试信号进行多次采集，获得每一测试信号的多次采集数据；第三发送模块，用于将每一测试信号的多次采集数据发送给所述存储器测试设备，以使所述存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
在上述设计精度校正装置中，精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备发送的多个测试信号进行多次采集，获得每一测试信号的多次采集数据，然后将每一测试信号的多次采集数据发送给所述存储器测试设备，以使所述存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一输出信号的跳变时刻与第一采集时刻计算时序差值，以根据时序差值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
第七方面，本发明提供一种精度校正系统，所述校正系统包括精度校正设备和存储器测试设备，所述精度校正设备包括多个校正通道，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个校正通道和多个测试通道一一对接；所述存储器测试设备，用于向所述精度校正设备发送采集时刻并通过多个测试通道向所述精度校正设备发送多个测试信号；或接收所述精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；所述精度校正设备，用于对多个测试信号进行多次采集，获得多次采集数据；或向所述精度校正设备发送多个输出信号；所述存储器测试设备，还用于接收所述精度校正设备返回的多次采集数据，根据所述多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正；或从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，所述跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
在上述设计的精度校正系统中，本方案通过精度校准设备返回每一测试信号的多次采集数据，然后存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，并根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
在第七方面的可选实施方式中，所述精度校正设备还包括外壳和定位柱，所述定位柱架设在外壳内以在外壳内形成多个校正区域，所述多个校正通道分布在多个校正区域内。
第八方面，实施例提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时执行第一方面、第一方面的任一可选的实现方式或第二方面、第二方面的任一可选的实现方式或第三方面、第三方面的任一可选的实现方式中的所述方法。
第九方面，实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时执行第一方面、第一方面的任一可选的实现方式或第二方面、第二方面的任一可选的实现方式或第三方面、第三方面的任一可选的实现方式中的所述方法。
第十方面，实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行第一方面、第一方面的任一可选的实现方式或第二方面、第二方面的任一可选的实现方式或第三方面、第三方面的任一可选的实现方式中的所述方法。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的精度校正设备的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的精度校正系统的对接框图；
图3为本申请实施例提供的精度校正方法的流程图；
图4为本申请实施例提供的另一种精度校正方法的流程图；
图5为本申请实施例提供的精度校正装置的结构示意图；
图6为本申请实施例提供的又一种精度校正方法的流程图；
图7为本申请实施例提供的又一种度校正装置的结构示意图；
图8为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
图标：1-精度校正设备；2-存储器测试设备；10-校正通道；20-芯片；22-测试通道；30-外壳；40-定位柱；50-校正区域；400-第一接收模块；410-第一确定模块；420-第一计算模块；430-延迟模块；440-判断模块；450-执行模块；600-第二接收模块；610-第一采集模块；620-第二确定模块；630-第二计算模块；7-电子设备；701-处理器；702-存储器；703-通信总线。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
第一实施例
本申请实施例提供一种精度校正设备，如图1所示，该精度校正设备1包括多个校正通道10和芯片20，该芯片20与每一校正通道10连接，该精度校正设备可对存储器测试设备的多个测试通道的测试信号进行精度校正，使得多个测试通道的测试信号的时序保持一致，该精度校正设备在进行精度校正时需通过多个校正通道10与存储器测试设备的多个测试通道一一对应连接，在连接后，芯片20可通过多个校正通道10在同一时刻采集每一测试通道的测试信号。
在本实施例的可选实施方式中，如图1所示，该精度校正设备还可以包括外壳30和定位柱40，该定位柱40架设在外壳30内以在外壳30内形成多个校正区域50，该多个校正通道10分布在多个校正区域50内，其中，当具有多个校正区域50时，芯片20的数量可与校正区域50的数量相同，进而每一芯片20控制一个校正区域50内的多个校正通道。
如图2所示，本申请提供一种精度校正系统，该精度校正系统包括精度校正设备1和存储器测试设备2，该存储器测试设备2包括多个测试通道22，多个测试通道22与多个校正通道10一一对接。
基于前述的校正系统，本申请提供一种精度校正方法，如图3所示，包括：
步骤S10：完成每一测试信号的多次数据采集得到多次采集数据，该数据采集由精度校正设备对测试设备的每一测试信号采集得到，或由测试设备采集精度校正设备输出的每一测试信号得到。
步骤S20：根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻。
步骤S30：根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值。
步骤S40：根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
当多次采集数据为精度校正设备对测试设备的每一测试信号采集得到的情况下，该方法应用于存储器测试设备，如图4所示，该方法可包括如下步骤：
步骤S300：接收精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据。
步骤S310：根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻。
步骤S320：根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值。
步骤S330：根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
在步骤S300中，存储器测试设备在与精度校正设备连接后，存储器测试设备可向该精度校正设备发送预设的采集时刻，该预设的采集时刻可以是当前时刻点之后的预设时刻点，使得该精度校正设备在该预设的采集时刻执行提前配置的动作。
另外，在与精度校正设备连接后，存储器测试设备还可以通过多个测试通道与对应的校正通道向精度校正设备传输多个测试信号，进而使得精度校正设备从该预设的采集时刻开始对多个测试信号进行多次采集，进而获得多次采集数据，并向该存储器测试设备传输每次的采集数据，使得存储器测试设备获得每一测试信号对应的多次采集数据。
例如，假设存储器测试设备传输给精度校正设备有三个测试信号，其分别为测试信号A、测试信号B以及测试信号C，精度校正设备从采集时刻开始每间隔1s对测试信号A、测试信号B以及测试信号C进行采集，进而得到从采集时刻到采集时刻10s后的10次采集数据如下：
测试信号A的采集数据为：0、0、1、1、1、1、1、0、0、0；
测试信号B的采集数据为：0、0、0、1、1、1、1、1、0、0；
测试信号C的采集数据为：1、1、1、0、0、0、0、0、1、1。
上述举例一次采集仅采集了一个采集数据，这里需要说明的是，本申请方案在一次采集时可以采集多个数据，并不限于一次采集一个采集数据。
在步骤S310中，跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，其中，对于电平的跳变可以提前设定，例如，可以提前设定由低电平变为高电平的时刻为跳变时刻，或者由高电平变为低电平的时刻为跳变时刻。例如，假设以低电平变为高电平的时刻为跳变时刻，那么前述举例中测试信号A的跳变时刻为采集时刻+3s的时刻；测试信号B的跳变时刻为采集时刻+4s的时刻；测试信号C的跳变时刻为采集时刻+9s的时刻。
在步骤S320中，存储器测试设备在获得每一测试信号的跳变时刻之后，即可根据每一测试信号的跳变时刻和采集时刻计算每一输出信号的时序差值；作为一种可能的实施方式，可计算每一输出信号的跳变时刻与第一采集时刻的差值进而得到每一输出信号的时序差值。例如，依照前述的举例，测试信号A的时序差值即为3s；测试信号B的时序差值即为4s，测试信号C的时序差值即为9s。
在步骤S330中，存储器测试设备可以在得到每一测试信号的时序差值后，根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，进而根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。作为一种可能的实施方式，可计算每一输出信号的时序差值的相反数，进而得到每一输出信号对应的时序补偿值。例如，依照前述的举例，测试信号A的时序补偿值即为-3s，进而使得测试信号A的时序提前3s；测试信号B的时序差值即为-4s，进而使得测试信号B的时序提前4s；测试信号C的时序差值即为-9s，进而使得测试信号C的时序提前9s，使得在补偿之后，测试信号A、测试信号B以及测试信号C在采集时刻可同时实现低电平到高电平，进而完成精度校正。
在上述设计的精度校正方法中，本方案通过精度校准设备返回每一测试信号的多次采集数据，然后存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，并根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
在本实施例的可选实施方式中，在执行步骤S330根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值之后，还可以每一测试信号的时序差值对对应的测试信号进行延迟，进而获得补偿后的测试信号，然后判断所有测试信号的跳变时刻是否相同，若相同，则说明之前计算的时序差值是正确的，进而执行步骤S330；若否，则重新采集该测试信号的多次采集数据，进而重新计算时序差值。
图5出示了本申请提供的精度校正装置的示意性结构框图，应理解，该装置与上述图4中存储器测试设备执行的方法实施例对应，能够执行前述的方法涉及的步骤，该装置具体的功能可以参见上文中的描述，为避免重复，此处适当省略详细描述。该装置包括至少一个能以软件或固件（firmware）的形式存储于存储器中或固化在装置的操作系统（operating system，OS）中的软件功能模块。具体地，该装置包括：第一接收模块400，用于接收精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据，每一测试信号的多次采集数据通过精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备的每一测试信号采集获得；第一确定模块410，用于根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；第一计算模块420，用于根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
在上述设计的精度校正装置中，本方案通过精度校准设备返回每一测试信号的多次采集数据，然后存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，进而根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，并根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
在本实施例的可选实施方式中，该装置还包括延迟模块430，用于根据每一测试信号的时序差值对对应的输出信号进行延迟，获得补偿后的测试信号；判断模块440，用于判断所有的测试信号的跳变时刻是否相同；执行模块450，用于在判断模块440判断呈现相同的跳变后，执行根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值的步骤。
在本实施例的可选实施方式中，第一计算模块420，具体用于计算每一测试信号的跳变时刻与采集时刻的差值，获得每一测试信号的时序差值。
在本实施例的可选实施方式中，第一计算模块420，还具体用于计算每一测试信号的时序差值的相反数，获得每一测试信号对应的时序补偿值。
当多次采集数据为测试设备采集精度校正设备输出的每一测试信号得到的情况下，本申请提供另一种精度校正方法，该方法应用于存储器测试设备，如图6所示，该精度校正方法可包括如下步骤：
步骤S500：接收精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号。
步骤S510：从预设采集时刻开始对多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据。
步骤S520：根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻。
步骤S530：根据每一输出信号的跳变时刻与预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值。
步骤S540：根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
在步骤S500中，精度校正设备可主动通过多个校正通道向对应的测试通道传输输出信号，进而使得存储器测试设备接收到多个输出信号，由于该多个输出信号需经过对应的测试通道才能被存储器测试设备采集，因此，该输出信号的时序会受到对应测试通道的影响。
在步骤S510中，存储器测试设备内可设置一预设采集时刻，进而使得存储器测试设备可从该预设采集时刻开始对接收到的多个输出信号进行采集，进而获得每一输出信号的多次采集数据。
例如，假设存储器测试设备接收到精度校正设备传输的三个输出信号，其分别为输出信号D、输出信号E以及输出信号F，存储器测试设备从预设采集时刻开始每间隔1s对输出信号D、输出信号E以及输出信号F进行采集，进而得到从采集时刻到采集时刻10s后的多次采集数据如下：
输出信号D的采集数据为：0、0、1、1、1、1、1、0、0、0；
输出信号E的采集数据为：0、0、0、1、1、1、1、1、0、0；
输出信号F的采集数据为：1、1、1、0、0、0、0、0、1、1。
存储器测试设备在通过步骤S510获得每一输出信号的多次采集数据之后，即可执行步骤S520到步骤S540，其中，步骤S520与第一实施例中步骤S310一致，步骤S530与第一实施例中步骤S320的执行过程一致，步骤S540与第一实施例中步骤S330执行过程一致，在这里不再赘述。
上述设计的精度校正方法，存储器测试设备接收精度校正设备传输的多个输出信号，然后从预设采集时刻开始对多个输出信号进行采集，获得每一输出信号的多次采集数据，进而根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，然后根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值，进而根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
图7出示了本申请提供的另一精度校正装置的示意性结构框图，应理解，该装置与上述图6中存储器测试设备执行的方法实施例对应，能够执行前述的方法涉及的步骤，该装置具体的功能可以参见上文中的描述，为避免重复，此处适当省略详细描述。该装置包括至少一个能以软件或固件（firmware）的形式存储于存储器中或固化在装置的操作系统（operating system，OS）中的软件功能模块。具体地，该装置包括：第二接收模块600，用于接收精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；第一采集模块610，用于从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；第二确定模块620，用于根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；第二计算模块630，用于根据每一输出信号的跳变时刻与预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
在上述设计精度校正装置中，存储器测试设备接收精度校正设备传输的多个输出信号，然后从预设采集时刻开始对多个输出信号进行采集，获得每一输出信号的多次采集数据，进而根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，然后根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值，进而根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正，使得存储器测试设备的每一测试通道在基于时序补偿值进行精度校正完成之后，使得所有的测试通道的时序均保持同步，进而使得存储器测试设备的测量结果更加准确。
如图8所示，本申请提供一种电子设备7，包括：处理器701和存储器702，处理器701和存储器702通过通信总线703和/或其他形式的连接机构（未标出）互连并相互通讯，存储器702存储有处理器701可执行的计算机程序，当计算设备运行时，处理器701执行该计算机程序，以执行时执行前述任一可选实施方式的方法，例如步骤S300至步骤S330：接收精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据；根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻；根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。或步骤S500至步骤S540：接收精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；从预设采集时刻开始对多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻；根据每一输出信号的跳变时刻与预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
本申请提供一种存储介质，该存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行前述任一可选的实现方式中的方法。
其中，存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory, 简称SRAM），电可擦除可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, 简称EEPROM），可擦除可编程只读存储器（Erasable Programmable Read Only Memory, 简称EPROM），可编程只读存储器（Programmable Red-Only Memory, 简称PROM），只读存储器（Read-OnlyMemory, 简称ROM），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
本申请提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行前述任一可选的实现方式中的所述方法。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
需要说明的是，功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（Read-Only Memory，ROM）随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种精度校正方法，其特征在于，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述方法包括：
接收所述精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据，每一测试信号的多次采集数据通过精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备发送的每一测试信号进行多次采集获得；
根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；
根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；
根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值之后，所述方法还包括：
根据每一测试信号的时序差值对对应的测试信号进行延迟，获得补偿后的测试信号；
判断所有的测试信号的跳变时刻是否相同；
若是，则执行根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值的步骤。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值，包括：
计算每一测试信号的跳变时刻与采集时刻的差值，获得每一测试信号的时序差值。
4.一种精度校正方法，其特征在于，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述方法包括：
接收所述精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；
从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；
根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，所述跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；
根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；
根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
5.一种精度校正方法，其特征在于，应用于精度校正设备，所述精度校正设备包括多个校正通道，所述多个校正通道用于与存储器测试设备的多个测试通道一一对接，所述方法包括：
接收所述存储器测试设备发送的采集时刻以及所述存储器测试设备通过多个测试通道发送的多个测试信号；
从采集时刻起对所述多个测试信号进行多次采集，获得每一测试信号的多次采集数据；
将每一测试信号的多次采集数据发送给所述存储器测试设备，以使所述存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
6.一种精度校正装置，其特征在于，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述装置包括：
第一接收模块，用于接收所述精度校正设备返回的每一测试信号的多次采集数据，每一测试信号的多次采集数据通过精度校正设备从采集时刻起对存储器测试设备发送的每一测试信号进行多次采集获得；
第一确定模块，用于根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；
第一计算模块，用于根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
7.一种精度校正装置，其特征在于，应用于存储器测试设备，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个测试通道用于与精度校正设备的多个校正通道一一对接，所述装置包括：
第二接收模块，用于接收所述精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；
第一采集模块，用于从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；
第二确定模块，用于根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，所述跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；
第二计算模块，用于根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
8.一种精度校正装置，其特征在于，应用于精度校正设备，所述精度校正设备包括多个校正通道，所述多个校正通道用于与存储器测试设备的多个测试通道一一对接，所述装置包括：
第三接收模块，用于接收所述存储器测试设备发送的采集时刻以及所述存储器测试设备通过多个测试通道发送的多个测试信号；
第三采集模块，用于从采集时刻起对所述多个测试信号进行多次采集，获得每一测试信号的多次采集数据；
第三发送模块，用于将每一测试信号的多次采集数据发送给所述存储器测试设备，以使所述存储器测试设备根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
9.一种精度校正系统，其特征在于，所述校正系统包括精度校正设备和存储器测试设备，所述精度校正设备包括多个校正通道，所述存储器测试设备包括多个测试通道，所述多个校正通道和多个测试通道一一对接；
所述存储器测试设备，用于向所述精度校正设备发送采集时刻并通过多个测试通道向所述精度校正设备发送多个测试信号；或接收所述精度校正设备通过多个校正通道传输的多个输出信号；
所述精度校正设备，用于对多个测试信号进行多次采集，获得多次采集数据；或向所述精度校正设备发送多个输出信号；
所述存储器测试设备，还用于接收所述精度校正设备返回的多次采集数据，根据所述多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，所述跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻，根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正；
或从预设采集时刻开始对所述多个输出信号进行多次采集，获得每一输出信号的多次采集数据；根据每一输出信号的多次采集数据确定每一输出信号的跳变时刻，所述跳变时刻为输出信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；根据每一输出信号的跳变时刻与所述预设采集时刻计算每一输出信号的时序差值；根据每一输出信号的时序差值计算每一输出信号对应的时序补偿值，以根据每一输出信号对应的时序补偿值对每一输出信号对应的测试通道进行精度校正。
10.根据权利要求9所述的精度校正系统，其特征在于，所述精度校正设备还包括外壳和定位柱，所述定位柱架设在外壳内以在外壳内形成多个校正区域，所述多个校正通道分布在多个校正区域内。
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