CN114253780A - 一种基于amd处理器的硬盘性能测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统，其中，基于AMD处理器的硬盘性能测试方法，包括：按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项；使用AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值；将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。本发明的技术方案能解决现有技术中难以获取到准确的机遇AMD处理器的硬盘性能的问题。

Description

一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统

技术领域

本发明涉及服务器技术领域，尤其涉及一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统。

背景技术

AMD处理器是由AMD公司生产的处理器，目前，AMD的客户及业务伙伴遍布中国众多行业，受到广泛应用。最近几年，因AMD价格便宜且性价比高，因此AMD处理器与各厂商合作也越来越多，所以很多厂商会在评估后使用AMD处理器，致使AMD处理器的发展前景可观。

因AMD处理器的发展前景可观，所以基于AMD处理器的服务器系统的也日渐增多，就需要对基于AMD处理器的服务器系统进行性能测试。在基于AMD处理器的服务器系统的众多功能器件中，硬盘性能的好坏直接关系到服务器系统的存储和计算能力，因此硬盘性能测试是必不可少的组成部分。

现有技术中对硬盘性能的测试方式，大多是对基于Intel处理器的硬盘进行的。传统的对基于Intel处理器的硬盘性能测试中，需要配置硬盘性能测试环境，然后对硬盘进行多次写预热测试，直至硬盘处于稳定状态；再将不同硬盘性能测试进程对应的CPU进行绑定；设置性能测试参数，利用测试工具进行性能测试，在该性能测试过程中CPU会不断轮询硬盘IO读写结果，从而获取硬盘多次性能测试结果，并对测试结果进行分析。

然而，基于Intel处理器的硬盘性能与基于AMD处理器的硬盘性能并不一致，这就导致传统基于Intel处理器的硬盘性能测试方法中对设置性能测试参数的方式与对基于AMD处理器的硬盘并不适用，从而导致传统测试方式难以获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能。

发明内容

本发明提供了一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统，旨在解决现有技术难以获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能的问题。

根据本发明的第一方面，本发明提供了一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法，包括：

按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项；

按照AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值；

将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。

优选地，上述根据AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项的步骤，包括：

使用SCE工具将与AMD处理对应的BIOS选项导出至预置文档；

按照AMD处理器的性能参数设置预置文档中BIOS选项值；

使用SCE工具将预置文档中的BIOS选项值导入BIOS中。

优选地，上述按照AMD处理器的核对硬盘性能进行测试的步骤，包括：

获取硬盘对应的AMD处理器的核；

使用测试命令绑定AMD处理器的核，并按照测试命令测试硬盘性能，得到硬盘性能实测值。

优选地，上述将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果的步骤，包括：

判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内；

若判定误差在第一预设误差范围内，则确定并输出硬盘性能测试通过；

若判定误差不在第一预设误差范围内，则根据AMD处理器的型号获取AMD处理器对应的硬盘的性能限制项；

判断硬盘性能实测值与性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内；

若判定误差在第二预设误差范围内，则确定硬盘性能测试通过；

若判定误差不在第二预设误差范围内，则确定硬盘性能测试失败。

优选地，在判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内的步骤之前，上述硬盘测试方法还包括：

使用调取命令，调取服务器系统中硬盘的型号；

按照硬盘的型号查找对应的硬盘性能标准值。

根据本发明的第二方面，本发明还提供了一种基于AMD处理器的硬盘性能测试系统，包括：

选项设置模块，用于按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项；

硬盘测试模块，用于按照AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值；

性能比较模块，用于将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。

硬盘性能测试系统，选项设置模块，包括：

选项导出子模块，用于使用SCE工具将与AMD处理对应的BIOS选项导出至预置文档；

选项设置子模块，用于按照AMD处理器的性能参数设置预置文档中BIOS选项值；

选项导入子模块，用于使用SCE工具将预置文档中的BIOS选项值导入BIOS中。

优选地，上述硬盘测试模块，包括：

处理器获取子模块，用于获取硬盘对应的AMD处理器的核；

处理器绑定子模块，用于使用测试命令绑定AMD处理器的核；

性能测试子模块，用于按照测试命令测试硬盘性能，得到硬盘性能实测值。

优选地，上述性能比较模块，包括：

第一误差判断子模块，用于判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内；

通过确定子模块，用于当判定误差在第一预设误差范围内时，确定并输出硬盘性能测试通过；

限制项获取子模块，用于当判定误差不在第一预设误差范围内时，根据AMD处理器的型号获取AMD处理器对应的硬盘的性能限制项；

第二误差判断子模块，用于判断硬盘性能实测值与性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内；

通过确定子模块，还用于当判定误差在第二预设误差范围内时，确定硬盘性能测试通过；

失败确定子模块，用于当判定误差不在第二预设误差范围内时，确定硬盘性能测试失败。

优选地，上述硬盘性能测试系统，还包括：

型号调取模块，用于使用调取命令，调取服务器系统中硬盘的型号；

标准值获取模块，用于按照硬盘的型号查找对应的硬盘性能标准值。

本申请提供的基于AMD处理器的硬盘性能测试方案，通过按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项，这样就能够设置AMD处理器的性能参数，配置基于AMD处理器的硬盘的测试环境。在配置AMD处理器的硬盘测试环境后，使用AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，就能够得到硬盘性能实测值，再将该硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。能够获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能，从而解决了现有技术中传统基于Intel处理器的硬盘性能测试方式对基于AMD处理器的硬盘不适用，难以获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的第一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法的流程示意图；

图2是图1所示实施例提供的一种BIOS选项设置方法的流程示意图；

图3是图1所示实施例提供的一种硬盘性能实测值获取方法的流程示意图；

图4是图1所示实施例提供的一种硬盘性能比较方法的流程示意图；

图5是本发明实施例提供的第二种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法的流程示意图；

图6是本发明实施例提供的第三种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法的流程示意图；

图7是本发明实施例提供的第一种基于AMD处理器的硬盘性能测试系统的结构示意图；

图8是图7所示实施例提供的一种选项设置模块的结构示意图；

图9是图7所示实施例提供的一种硬盘测试模块的结构示意图；

图10是图7所示实施例提供的一种性能比较模块的结构示意图；

图11是本发明实施例提供的第二种基于AMD处理器的硬盘性能测试系统的结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例的主要技术问题如下：

现有的基于Intel处理器的硬盘性能测试方式，其测试过程如下：首先配置硬盘性能测试环境；然后对硬盘进行多次写预热测试，直至硬盘处于稳定状态；再将不同硬盘性能测试进程对应的CPU进行绑定；最后设置性能测试参数，利用测试工具进行性能测试，性能测试过程中CPU不断轮询硬盘IO读写结果；获取硬盘多次性能测试结果，并对测试结果进行分析。然而基于Intel处理器的硬盘性能与基于AMD处理器的硬盘性能并不一致，这就导致传统基于Intel处理器的硬盘性能测试方法中对设置性能测试参数的方式与对基于AMD处理器的硬盘并不适用，从而导致传统测试方式难以获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能。

为了解决上述问题，具体参见图1，图1为本发明实施例提供的一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法的流程示意图。如图1所示，该基于AMD处理器的硬盘性能测试方法，包括：

S110：按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项。设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项是搭建硬盘测试环境的步骤。AMD处理器在硬盘性能测试时的调试选项：AMD处理器与Intel处理器不同，在调试上虽有相近，但不可以完全复用Intel处理器的调试方法，必须使用AMD处理器的调试方法，设置硬盘在服务器系统的BIOS选项，搭建相应的硬盘测试环境，才能提高硬盘的测试性能。

作为一种优选的实施例，如图2所示，该根据AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项的步骤包括：

S111：使用SCE工具将与AMD处理对应的BIOS选项导出至预置文档。

S112：按照AMD处理器的性能参数设置预置文档中BIOS选项值。

S113：使用SCE工具将预置文档中的BIOS选项值导入BIOS中。

本申请实施例中，首先进入到基于AMD处理器的服务器系统，通过SCE工具导出BIOS设置项到文档1中，然后修改BIOS选项的配置，再通过SCE同居将修改后的文档1导入到服务器系统的BIOS配置中，这样就完成了AMD处理器的网络环境搭配，为基于MAD处理器的硬盘性能测试创造条件。其中，修改BIOS选项设置的方法如下：

APIC模式设置为x2APCI；

ACPI SRAT L3 Cache as NUMA Domain设置为Enabled；

NUMA模式设置为NPS4；

SMU的Determinism Control设置为manual；

SMU的APBDIS设置为1。

在设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项后，图1所示的硬盘性能测试方法还包括以下步骤：

S120：按照AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值。在对硬盘性能进行测试时，将需要进行测试的硬盘接口对应的AMD CPU核写入到专门的文档中，在测试过程中，使用专门的测试命令绑定该AMD CPU核，对硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值。

具体作为一种优选的实施例，如图3所示，该按照AMD处理器的核对硬盘性能进行测试的步骤，包括：

S121：获取硬盘对应的AMD处理器的核。

S122：使用测试命令绑定AMD处理器的核，并按照测试命令测试硬盘性能，得到硬盘性能实测值。

具体地，将需要进行测试的硬盘接口所对应的AMD CPU核写入到文档2中。其中，关于获取硬盘对应的AMD处理器的核的步骤，因为有些测试机可在操作系统OS下查询到测试硬盘对应的CPU核，有些测试机在操作系统下看不到测试硬盘对应的CPU核，需要研发人员提供。因为手动写入避免了操作系统无法获取到CPU核的情况，因此可以手动写入该AMD处理器核。在测试硬盘性能时，首先使用测试命令调取上述文档2中的AMD CPU核，在测试命令中自动绑定AMD CPU核，然后开始执行测试命令。测试结束后，收集测试结果。

S130：将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。本申请实施例中，将硬盘性能测试值与预存的硬盘性能标准值进行比较，这样就能够获取到硬盘的准确测试结果。因为AMD处理器可坑会对硬盘设置上限值，因此需要针对有上限值的AMD处理器会在测试完成后自动检测AMD处理器上限值并判定测试结果。

具体在完成硬盘性能测试时，会对测试结果进行自动检测，针对测试不达标的情况，会自动检测此款AMD处理器是否属于有上限值的AMD处理器，若是，则会自动提取不达标的测试项与有上限的AMD处理器的测试项是否一致，若测试项一直，则会将测试结果与上限值进行对比，从而判定测试结果。

具体地，作为一种优选的实施例，如图4所示，该将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果的步骤包括：

S131：判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内。

S132：若判定误差在第一预设误差范围内，则确定并输出硬盘性能测试通过。

S133：若判定误差不在第一预设误差范围内，则根据AMD处理器的型号获取AMD处理器对应的硬盘的性能限制项。

S134：判断硬盘性能实测值与性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内。

为了获取AMD处理器对应的硬盘性能限制项，需要提前在确认AMD处理器会限制哪个选项，限制到多少，并写入文档4中。文档模板以竖排为AMD CPU型号，横排为SPEC选项(例如：Read 4K、Write 4K、Rand-Read 128K和Rand-Write 128K)，将AMD处理器的性能限制项写入到对应硬盘型号和SPEC选项中。

S135：若判定误差在第二预设误差范围内，则确定硬盘性能测试通过。

S136：若判定误差不在第二预设误差范围内，则确定硬盘性能测试失败。

因为AMD处理器可能会对硬盘的测试性能设置性能限制项，所以在判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值是否在第一预设误差范围内，若是则能够确定硬盘性能测试通过，若否则说明AMD处理器可能对硬盘设置性能限制项，此时需要查询是否存在性能限制项，当不存在性能限制项时，说明本次硬盘性能测试不通过；当查询到性能限制项时获取该性能限制性的限值。此时判断该项硬盘性能实测值与性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内，若是，则确定该硬盘性能测试通过，若否则说明该硬盘性能测试失败。当硬盘性能测试失败时，说明硬盘存在损坏。

另外，作为一种优选的实施例，如图5所示，在上述步骤S131：判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内的步骤之前，上述硬盘测试方法还包括：

S210：使用调取命令，调取服务器系统中硬盘的型号；

S220：按照硬盘的型号查找对应的硬盘性能标准值。

其中，为了查找硬盘性能标准值，需要提前将硬盘性能标准值SPEC导入到文档3中，后续若有新硬盘需测试可直接导入，不必删除原来已有的硬盘性能标准值SPEC，若硬盘性能标准值SPEC已在文档3中则无需再导入，从而节省人力与时间。文档3模板以竖排为硬盘型号，横排为硬盘性能标准值SPEC选项(例如：Read 4K、Write 4K、Rand-Read 128K和Rand-Write 128K)，将硬盘性能标准值SPEC值写入到对应硬盘型号和性能标准值SPEC选项中。在进行硬盘性能测试时，首先使用测试命令执行前先调取文档2中的测试硬盘对应的AMD处理器核，在测试命令中自动绑定AMD处理器的核，然后开始执行测试命令。测试结束后，收集测试结果。

综上，本申请实施例提供的基于AMD处理器的硬盘性能测试方法，通过按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项，这样就能够设置AMD处理器的性能参数，配置基于AMD处理器的硬盘的测试环境。在配置AMD处理器的硬盘测试环境后，使用AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，就能够得到硬盘性能实测值，再将该硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。能够获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能，从而解决了现有技术中传统基于Intel处理器的硬盘性能测试方式对基于AMD处理器的硬盘不适用，难以获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能的问题。

参见图6，图6为本发明实施例提供的另一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法的流程示意图。如图6所示，该硬盘性能测试方法包括：

S310：将BIOS设置导出至文档1中，修改需要设置的BIOS选项。

S320：将修改后的文档1导入到机器中，节点自动重启。

S330：确认硬盘接口对应的AMD CPU核并写入到文档2中。

S340：确认硬盘性能SPEC值并写入到文档3中。

S350：确认AMD CPU可以支持的IOPS以及BW的最大值也写入到文档4中。

S360：进行硬盘性能测试，调取文档2中写入的AMD CPU核并在测试过程中进行绑定。

S370：调取文档3中的硬盘性能SPCE值进行结果对比，判断是否通过；若是，则执行步骤S380；若否，则执行步骤S390。

S380：确定并输出硬盘性能测试通过。

S390：调取文档4中IOPS以及BW的最大值，与硬盘性能SPEC值进行结果对比；若对比成功，则执行步骤S380；若否，则执行步骤S391.

S391：确定硬盘性能测试失败。

为了实现上述方法，本申请下述各实施例还提供基于AMD处理器的硬盘性能测试系统，通过下述硬盘性能测试系统能够实现上述方法的功能，因为具体操作步骤上述方法已经提及，因此重复部分不再赘述。

参见图7，图7为本发明实施例提供的一种基于AMD处理器的硬盘性能测试系统的结构示意图。如图7所示，该基于AMD处理器的硬盘性能测试系统包括：

选项设置模块110，用于按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项；

硬盘测试模块120，用于按照AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值；

性能比较模块130，用于将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。

本申请实施例提供的基于AMD处理器的硬盘性能测试系统，通过选项设置模块110按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项，这样就能够设置AMD处理器的性能参数，配置基于AMD处理器的硬盘的测试环境。在配置AMD处理器的硬盘测试环境后，硬盘测试模块120使用AMD处理器的核对硬盘性能进行测试，就能够得到硬盘性能实测值，性能比较模块130再将该硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到硬盘的性能测试结果。能够获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能，从而解决了现有技术中传统基于Intel处理器的硬盘性能测试方式对基于AMD处理器的硬盘不适用，难以获取到准确的基于AMD处理器的硬盘性能的问题。

其中，作为一种优选的实施例，如图8所示，上述选项设置模块110，包括：

选项导出子模块111，用于使用SCE工具将与AMD处理对应的BIOS选项导出至预置文档；

选项设置子模块112，用于按照AMD处理器的性能参数设置预置文档中BIOS选项值；

选项导入子模块113，用于使用SCE工具将预置文档中的BIOS选项值导入BIOS中。

作为一种优选的实施例，如图9所示，上述硬盘测试模块120包括：

处理器获取子模块121，用于获取硬盘对应的AMD处理器的核；

处理器绑定子模块122，用于使用测试命令绑定AMD处理器的核；

性能测试子模块123，用于按照测试命令测试硬盘性能，得到硬盘性能实测值。

作为一种优选的实施例，如图10所示，上述性能比较模块130包括：

第一误差判断子模块131，用于判断硬盘性能实测值与硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内；

通过确定子模块132，用于当判定误差在第一预设误差范围内时，确定并输出硬盘性能测试通过；

限制项获取子模块133，用于当判定误差不在第一预设误差范围内时，根据AMD处理器的型号获取AMD处理器对应的硬盘的性能限制项；

第二误差判断子模块134，用于判断硬盘性能实测值与性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内；

通过确定子模块135，还用于当判定误差在第二预设误差范围内时，确定硬盘性能测试通过；

失败确定子模块136，用于当判定误差不在第二预设误差范围内时，确定硬盘性能测试失败。

作为一种优选的实施例，如图11所示，上述硬盘性能测试系统还包括：

型号调取模块210，用于使用调取命令，调取服务器系统中硬盘的型号；

标准值获取模块220，用于按照硬盘的型号查找对应的硬盘性能标准值。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

应当注意的是，在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法，其特征在于，包括：

按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项；

使用所述AMD处理器的核对所述硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值；

将所述硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到所述硬盘的性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述根据AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项的步骤，包括：

使用SCE工具将与所述AMD处理对应的所述BIOS选项导出至预置文档；

按照所述AMD处理器的性能参数设置所述预置文档中BIOS选项值；

使用所述SCE工具将所述预置文档中的BIOS选项值导入BIOS中。

3.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述按照AMD处理器的核对所述硬盘性能进行测试的步骤，包括：

获取所述硬盘对应的AMD处理器的核；

使用测试命令绑定所述AMD处理器的核，并按照所述测试命令测试所述硬盘性能，得到所述硬盘性能实测值。

4.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述将硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到所述硬盘的性能测试结果的步骤，包括：

判断所述硬盘性能实测值与所述硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内；

若判定所述误差在第一预设误差范围内，则确定并输出所述硬盘性能测试通过；

若判定所述误差不在第一预设误差范围内，则根据所述AMD处理器的型号获取所述AMD处理器对应的所述硬盘的性能限制项；

判断所述硬盘性能实测值与所述性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内；

若判定所述误差在第二预设误差范围内，则确定所述硬盘性能测试通过；

若判定所述误差不在第二预设误差范围内，则确定所述硬盘性能测试失败。

5.根据权利要求4所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，在判断所述硬盘性能实测值与所述硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内的步骤之前，所述方法还包括：

使用调取命令，调取所述服务器系统中所述硬盘的型号；

按照所述硬盘的型号查找对应的硬盘性能标准值。

6.一种基于AMD处理器的硬盘性能测试系统，其特征在于，包括：

选项设置模块，用于按照AMD处理器的性能参数，设置硬盘所在服务器系统的BIOS选项；

硬盘测试模块，用于使用所述AMD处理器的核对所述硬盘性能进行测试，得到硬盘性能实测值；

性能比较模块，用于将所述硬盘性能实测值与预存的硬盘性能标准值进行比较，得到所述硬盘的性能测试结果。

7.根据权利要求6所述的硬盘性能测试系统，其特征在于，所述选项设置模块，包括：

选项导出子模块，用于使用SCE工具将与所述AMD处理对应的所述BIOS选项导出至预置文档；

选项设置子模块，用于按照所述AMD处理器的性能参数设置所述预置文档中BIOS选项值；

选项导入子模块，用于使用所述SCE工具将所述预置文档中的BIOS选项值导入BIOS中。

8.根据权利要求6所述的硬盘性能测试系统，其特征在于，所述硬盘测试模块，包括：

处理器获取子模块，用于获取所述硬盘对应的AMD处理器的核；

处理器绑定子模块，用于使用测试命令绑定所述AMD处理器的核；

性能测试子模块，用于按照所述测试命令测试所述硬盘性能，得到所述硬盘性能实测值。

9.根据权利要求6所述的硬盘性能测试系统，其特征在于，所述性能比较模块，包括：

第一误差判断子模块，用于判断所述硬盘性能实测值与所述硬盘性能标准值的误差是否在第一预设误差范围内；

通过确定子模块，用于当判定所述误差在第一预设误差范围内时，确定并输出所述硬盘性能测试通过；

限制项获取子模块，用于当判定所述误差不在第一预设误差范围内时，根据所述AMD处理器的型号获取所述AMD处理器对应的所述硬盘的性能限制项；

第二误差判断子模块，用于判断所述硬盘性能实测值与所述性能限制项的限值的误差是否在第二预设误差范围内；

所述通过确定子模块，还用于当判定所述误差在第二预设误差范围内时，确定所述硬盘性能测试通过；

失败确定子模块，用于当判定所述误差不在第二预设误差范围内时，确定所述硬盘性能测试失败。

10.根据权利要求9所述的硬盘性能测试系统，其特征在于，还包括：

型号调取模块，用于使用调取命令，调取所述服务器系统中所述硬盘的型号；

标准值获取模块，用于按照所述硬盘的型号查找对应的硬盘性能标准值。

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