CN114169351A - 标签检测方法和装置 - Google Patents

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CN114169351A CN202210127010.6A CN202210127010A CN114169351A CN 114169351 A CN114169351 A CN 114169351A CN 202210127010 A CN202210127010 A CN 202210127010A CN 114169351 A CN114169351 A CN 114169351A
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段志奎
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Abstract

本发明提供一种标签检测方法和装置，该方法包括：在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止；其中，执行低功耗检测过程包括：在第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；在第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；其中，第一时间段和第二时间段不重叠。本发明通过周期性执行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。

Description

标签检测方法和装置
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其一种标签检测方法和装置。
背景技术
基于射频识别（Radio Frequency Identification，RFID）的标签检测技术，主要以RFID阅读器的形式，应用于门禁等需要进行标签识别的场景中，而RFID读写器采用电池供电的方式，为了维持RFID读写器正常工作，需要较高的能量消耗。
在门禁等应用中，RFID阅读器使用电池提供能量，在续航过程中，能耗较高。
发明内容
本发明提供一种标签检测方法和装置，用以解决现有技术中实现标签检测的RFID阅读器能耗高的缺陷，实现降低RFID阅读器能耗的功能。
第一方面，本发明提供一种标签检测方法，包括：
在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；
在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止；
其中，执行所述低功耗检测过程包括：
在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；
在所述第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；
其中，所述第一时间段和所述第二时间段不重叠。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，所述第一周期还包括第三时间段；
所述执行所述低功耗检测过程还包括：
在所述第三时间段内，开启所述内部晶振时钟，以及与所述标签检测对应的模拟器件；
其中，所述第一时间段在所述第三时间段之前，所述第二时间段在所述第三时间段之后；
相应的，所述方法还包括：基于所述RFID阅读器的第二时钟信号，确定所述第一时间段、所述第二时间段和所述第三时间段；
其中，所述第二时钟信号的频率低于所述内部晶振时钟信号的频率。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，所述在所述第一周期的第二时间段内，基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，包括：
开启载波，基于所述载波和所述内部晶振时钟信号，获取与所述载波对应的射频场中返回的检测信号；
基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签，包括：
若所述检测信号的幅度超过预设阈值范围，则确定在检测范围内存在标签；
若所述检测信号的幅度未超过预设阈值范围，则确定在检测范围内不存在标签。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，在确定在检测范围内存在标签的情况下，所述暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止，包括：
中断所述低功耗模式，所述载波持续开启，等待下一个所述低功耗模式的使能信号；
基于所述下一个所述低功耗模式的使能信号，重新进入所述低功耗模式；
相应的，所述在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测，包括：
关闭所述内部晶振时钟信号、所述载波，以及与所述标签检测对应的模拟器件。
第二方面，本发明还提供一种标签检测装置，包括：检测模块和控制模块；
所述检测模块用于：
在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；其中，执行所述低功耗检测过程包括：
在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；
在所述第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；
其中，所述第一时间段和所述第二时间段不重叠；
所述控制模块用于：
在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述第一周期还包括第三时间段；
所述检测模块还用于：
在所述第三时间段内，开启所述内部晶振时钟，以及与所述标签检测对应的模拟器件；
其中，所述第一时间段在所述第三时间段之前，所述第二时间段在所述第三时间段之后；
相应的，所述装置还包括定时模块；
所述定时模块用于基于所述RFID阅读器的第二时钟信号，确定所述第一时间段、所述第二时间段和所述第三时间段；
其中，所述第二时钟信号的频率低于所述内部晶振时钟信号的频率。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述检测模块还用于：
开启载波，基于所述载波和所述内部晶振时钟信号，获取与所述载波对应的射频场中返回的检测信号；
基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述检测模块还用于：
若所述检测信号的幅度超过预设阈值范围，则确定在检测范围内存在标签；
若所述检测信号的幅度未超过预设阈值范围，则确定在检测范围内不存在标签。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述控制模块还用于：
中断所述低功耗模式，所述载波持续开启，等待下一个所述低功耗模式的使能信号；
基于所述下一个所述低功耗模式的使能信号，重新进入所述低功耗模式；
关闭所述内部晶振时钟信号、所述载波，以及与所述标签检测对应的模拟器件。
第三方面，本发明还提供一种RFID阅读器，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述标签检测方法的步骤。
第四方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述标签检测方法的步骤。
本发明提供的标签检测方法和装置，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，且标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，有效的降低RFID阅读器的能耗。
附图说明
为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明提供的标签检测方法的流程示意图之一；
图2是本发明提供的标签检测情况示意图；
图3是本发明提供的标签检测方法的流程示意图之二；
图4是本发明提供的标签检测装置的结构示意图；
图5是本发明提供的标签检测装置的状态示意图；
图6是本发明提供的RFID阅读器的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
下面结合图1至图3描述本发明的标签检测方法。
图1是本发明提供的标签检测方法的流程示意图之一，如图1所示，本发明提供一种标签检测方法，该方法包括步骤110至步骤130：
步骤110、在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，执行低功耗检测过程，其中，所述低功耗检测过程包括：
在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；
在所述第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；
其中，所述第一时间段和所述第二时间段不重叠；
步骤120、基于第一周期，周期性地执行所述低功耗检测过程；
步骤130、在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止。
具体地，可以通过接收微控制单元（Microcontroller Unit，MCU）发送的低功耗使能信号，触发射频识别（Radio Frequency Identification，RFID）阅读器进入低功耗模式。
具体地，在RFID阅读器进入低功耗模式之后，可以基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程。
具体地，在第一周期的第一时间段内，不进行标签检测，与标签检测对应的模拟器件处于待机状态，RFID阅读器维持在一个低功耗的环境下。
具体地，在第一周期的第二时间段内，可以开启RFID阅读器的内部晶振时钟信号，以及与标签检测对应的模拟器件的电源。
具体地，在模拟器件的电源稳定之后，RFID阅读器可以开启载波，基于内部晶振时钟信号，获取与载波对应的射频场内返回信号的幅度。
具体地，开启载波后，根据内部晶振时钟信号提供的同步信息，在内部晶振时钟信号的跳变沿，触发载波信号获取返回信号的幅度。
具体地，在获取返回信号的幅度以后，可以与预设阈值范围进行比较，判断检测范围内是否存在标签。
具体地，若返回信号的幅度超出预设阈值范围，则认为射频场内存在标签，可以输出中断信号给MCU，进而获取MCU基于中断信号发送的中断低功耗模式的使能信号。
具体地，在获取MCU基于中断信号发送的中断低功耗模式的使能信号之后，可以基于中断低功耗模式的使能信号，退出低功耗模式，回到RFID阅读器的正常工作模式，RFID阅读器在正常工作模式下，处于持续进行标签检测的状态。
具体地，在退出低功耗模式之后，可以通过接收MCU发送的低功耗使能信号，再次进入低功耗模式，RFID阅读器在低功耗模式下，周期性执行标签检测，在一个周期内，RFID阅读器处于待机或标签检测的状态。
具体地，若返回信号的幅度未超出预设阈值范围，则认为射频场内不存在标签，RFID阅读器可以在第二时间段结束后，回到不进行标签检测的状态，重新执行低功耗检测过程。
本发明提供的标签检测方法，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，在有效命令执行时间很少的场景，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，所述第一周期还包括第三时间段；
所述执行所述低功耗检测过程还包括：
在所述第三时间段内，开启所述内部晶振时钟，以及与所述标签检测对应的模拟器件；
其中，所述第一时间段在所述第三时间段之前，所述第二时间段在所述第三时间段之后；
相应的，所述方法还包括：基于所述RFID阅读器的第二时钟信号，确定所述第一时间段、所述第二时间段和所述第三时间段；
其中，所述第二时钟信号的频率低于所述内部晶振时钟信号的频率。
具体地，在第一周期中，在第一时间段之后、第二时间段之前，可以有第三时间段。
具体地，在第一周期的第三时间段内，可以开启设置在RFID阅读器内的内部晶振时钟信号，该内部晶振时钟信号的频率，可以与RFID阅读器在正常工作模式下使用的外部时钟信号的频率相同，比如27MHz。
可选地，内部时钟晶振时钟信号可以与RFID阅读器在正常工作模式下使用的外部时钟信号作为二选一电路的输入，在RFID阅读器的不同状态下，选择二者中的其中一个，作为RFID阅读器使用的时钟信号，可以将二选一电路的输出信号输入分频电路，从而获取相应频率的时钟信号，比如27MHz的时钟信号输入二分频电路，输出13.56MHz的时钟信号。
具体地，在第一周期的第三时间段内，可以开启标签检测对应的模拟器件；可选地，可以在第一周期内的不同时间段，配置模拟器件的参数，控制模拟器件处于待机状态或者正常工作模式。
具体地，可以根据内部晶振时钟信号和模拟器件，从开启到稳定所需的时长，设置第三时间段的时长。
具体地，在内部晶振时钟信号和模拟器件稳定后，RFID阅读器即处于可以进行标签检测的状态，可以进入第二时间段，进行标签检测。
具体地，RFID阅读器可以设有第二时钟信号，第二时钟信号的频率可以低于内部晶振时钟信号的频率，比如32KHz。
具体地，第二时钟信号可以作为定时器的时钟信号，以获取不同的计数值，以确定第一时间段、第二时间段和第三时间段的时长。
比如，到达第一计数值时，第一时间段结束进入第三时间段的计数；到达第二计数值时，第三时间段结束进入第二时间段的计数；到达第三计数值时，第二时间段结束重新进入第一时间段的计数，依次轮询。
可选地，还可以设置唤醒计数值，以唤醒RFID阅读器进入正常工作模式。RFID阅读器进行周期性低功耗检测过程中，长时间没有检测到信号，可以基于唤醒计数值，唤醒RFID阅读器进入正常工作模式，以避免因RFID阅读器在低功耗模式出现故障，而无法正常检测范围内的标签的情况。
具体地，第二时钟信号和内部晶振时钟信号可以输入时钟二选一电路，在第一周期的不同时间段，可以选择二者中的其中一个，作为RFID阅读器使用的时钟信号。比如，在第一时间段内使用第二时钟信号，在第二时间段和第三时间段内使用内部晶振时钟信号。
本发明提供的标签检测方法，在RFID阅读器进入低功耗模式的周期中的第一时间段和第二时间之间，设置第三时间段，在第三时间段内开启内部晶振时钟信号和相关模拟器件，可以为下一阶段标签检测做好准备工作，由于内部晶振时钟起振快，不需要采用外部起振慢、功耗高的时钟，在短时间内就能达到稳定状态，缩短了准备阶段的时间，降低准备阶段的功耗；通过RFID阅读器设置的第二时钟信号，可以完成第一时间段、第二时间段和第三时间段的计时，从而确定第一时间段、第二时间段和第三时间段的时长，进而使RFID阅读器基于第一时间段、第三时间段和第二时间段，周期性的执行低功耗检测过程，相比于RFID阅读器一直处于标签检测状态，节省了能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，所述在所述第一周期的第二时间段内，基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，包括：
开启载波，基于所述载波和所述内部晶振时钟信号，获取与所述载波对应的射频场中返回的检测信号；
基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签。
具体地，在达到第二计数值之后，进入第一周期的第二时间段，在第二时间段内，可以开启标签检测所需的载波，基于载波对应的射频场，可以获取返回的信号。
具体地，可以基于内部晶振时钟信号和预设检测时间配置，确定参考值。
具体地，在获取返回的信号后，可以基于返回的信号获取整形信号。
具体地，在获取整形信号之后，可以获取返回信号的电平计数值，通过将电平计数值与参考值进行比较，可以确定是否能够获取检测信号。
具体地，在电平计数值大于参考值的情况下，可以确定能够获取检测信号。
具体地，在获取检测信号之后，可以通过判断检测信号的幅度是否超出预设阈值范围，确定射频场的检测范围内是否存在标签。
例如，在门禁应用中，RFID阅读器可能很长时间才使用一次，可以周期性执行低功耗检测过程，在第一时间段内，RFID阅读器维持在一个超低功耗的环境下，等待标签的进场；在第二时间内，载波对应的外部射频场内有标签进场，检测到外部标签进场后，可以基于有效检测信号，获取有效检测信号的幅度，进而计算有效检测信号的幅度相对于基准电压的实际值，然后将实际值与预设阈值范围比较，若实际值均预设阈值范围，则确定检测范围内存在标签，此次检卡有效，关闭低功耗模式，RFID阅读器与标签进行交互完成交易。
本发明提供的标签检测方法，在第一周期的第二个时间段开启载波，第一周期的其余时间段不开启，从而避免长时间没有标签的情况下也开启载波带来的能量消耗，由于载波的能耗较大，通过提高载波的利用效率，降低整个标签检测周期的能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签，包括：
若所述检测信号的幅度超过预设阈值范围，则确定在检测范围内存在标签；
若所述检测信号的幅度未超过预设阈值范围，则确定在检测范围内不存在标签。
具体地，在开启载波之后，与载波对应的射频场内不存在标签的情况下，载波幅度在预设阈值范围内；当射频场内有标签进场后，影响载波的幅度增大或减小；当载波幅度受影响超出预设范围，表明射频场内存在标签。
图2是本发明提供的标签检测情况示意图，如图2所示，从VREF的起始线开始，检测信号的幅度可以为检测信号相对于设置的基准电压（Reference voltage，VREF）的实际值，实际值在载波幅度内，可以通过判断实际值是否超过预设阈值范围，确定在检测范围内是否存在标签。
具体地，在情况210中，实际值在预设阈值范围内，可以确定在检测范围内不存在标签，即未检卡。
具体地，在情况220中，实际值在预设阈值范围的上边界之上，表明载波幅度受标签影响，载波幅度增大，超过了预设阈值范围，可以确定在检测范围内存在标签，即检卡有效。
具体地，在情况230中，实际值在预设阈值范围的下边界之下，表明载波幅度受标签影响，载波幅度减小，超过了预设阈值范围，可以确定在检测范围内存在标签，即检卡有效。
本发明提供的标签检测方法，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测方法，在确定在检测范围内存在标签的情况下，所述暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止，包括：
中断所述低功耗模式，所述载波持续开启，等待下一个所述低功耗模式的使能信号；
基于所述下一个所述低功耗模式的使能信号，重新进入所述低功耗模式；
相应的，所述在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测，包括：
关闭所述内部晶振时钟信号、所述载波，以及与所述标签检测对应的模拟器件。
具体地，确定在检测范围内存在标签之后，可以生成检卡有效信号，通过RFID阅读器的中断状态寄存器输出中断信号至MCU，进而获取MCU发送的中断低功耗模式的信号。
具体地，RFID阅读器接收MCU发送的中断低功耗模式的信号之后，可以中断低功耗模式，进入正常工作模式。
具体地，在正常工作模式下，用于标签检测的载波持续开启，以使RFID阅读器基于载波，与检测到的标签进行交易。
具体地，在交易完成之后，MCU可以再次向RFID阅读器发送低功耗使能信号，RFID阅读器基于低功耗使能信号，再次进入低功耗模式。具体地，RFID阅读器进入低功耗模式后，可以关闭在上一个周期开启的内部晶振时钟信号、载波以及与所述标签检测对应的模拟器件，直至进入本周期的第三时间段或者第二时间段，再重新开启上一周期不同时间段开启的相应信号或元器件。
本发明提供的标签检测方法，确定在检测范围内存在标签之后，暂停低功耗检测过程，RFID阅读器回到正常工作模式，完成与标签的交易，在交易完成后再次进入低功耗模式，在保证RFID阅读器能正常工作的同时，降低RFID阅读器在整个使用过程的能耗；RFID阅读器再次进入低功耗模式后，关闭上一周期开启的内部晶振时钟信号、载波以及与所述标签检测对应的模拟器件，RFID阅读器处于能耗极低的状态，降低了RFID阅读器整个使用周期的能耗。
图3是本发明提供的标签检测方法的流程示意图之二，如图3所示，本发明提供一种标签检测方法，该方法包括步骤310至步骤340：
步骤310、接收MCU发送的低功耗使能信号，触发RFID阅读器进入低功耗模式；
步骤320、基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；
步骤330、在第一周期第二时间段内，检测到标签，暂停低功耗检测过程；
步骤340、再次接收MCU发送的低功耗使能信号，重新进入低功耗模式。
具体地，可以通过接收MCU发送的低功耗使能信号，触发RFID阅读器进入低功耗模式。
具体地，在RFID阅读器进入低功耗模式之后，可以基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程，其中，第一周期包括依次的第一时间段、第二时间段和第三时间段。
具体地，RFID阅读器可以设有第二时钟信号，第二时钟信号的频率可以低于内部晶振时钟信号的频率，比如32KHz。
具体地，第二时钟信号可以作为定时器的时钟信号，以获取不同的计数值，以确定第一时间段、第二时间段和第三时间段的时长，其中，可以根据内部晶振时钟信号和模拟器件，从开启到稳定所需的时长，设置第三时间段的时长。比如，到达第一计数值时，第一时间段结束进入第三时间段的计数；到达第二计数值时，第三时间段结束进入第二时间段的计数；到达第三计数值时，第二时间段结束重新进入第一时间段的计数，依次轮询。
具体地，在第一周期的第一时间段内，不进行标签检测，与标签检测对应的模拟器件处于待机状态，RFID阅读器维持在一个低功耗的环境下。
具体地，在达到第一计数值时，进入第一周期的第三时间段，可以开启设置在RFID阅读器内的内部晶振时钟信号，该内部晶振时钟信号的频率，可以与RFID阅读器在正常工作模式下使用的外部时钟信号的频率相同，比如27MHz。
具体地，在达到第二计数值时，进入第一周期的第二时间段，此时标签检测使用的模拟器件已经稳定，可以开启载波，基于内部晶振时钟信号，获取与载波对应的射频场内返回信号的幅度。
具体地，在获取返回信号的幅度以后，可以与预设阈值范围进行比较，当返回信号的幅度超出预设阈值范围，说明射频场内存在标签，可以输出中断信号给MCU，进而获取MCU基于中断信号发送的中断低功耗模式的信号。
具体地，在获取MCU基于中断信号发送的中断低功耗模式的信号之后，可以基于中断低功耗模式的信号，退出低功耗模式，回到RFID阅读器的正常工作模式。
具体地，在正常工作模式下，用于标签检测的载波持续开启，以使RFID阅读器基于载波，与检测到的标签进行交易。
具体地，在交易完成之后，MCU可以再次向RFID阅读器发送低功耗使能信号，RFID阅读器基于低功耗信号，再次进入低功耗模式。
具体地，RFID阅读器进入低功耗模式后，可以关闭在上一个周期的第二时间段开启的内部晶振时钟信号、载波以及与所述标签检测对应的模拟器件，直至再次进入本周期的第三时间段或者第二时间段，执行上一周期不同时间段执行的相应操作。
本发明提供的标签检测方法，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第三个时间段开启内部晶振时钟信号以及模拟器件，进入标签检测准备，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；周期内模拟器件和时钟信号开启的准备阶段不开启功耗高的载波；在准备阶段使用起振快的内部晶振时钟信号，缩短了RFID阅读器从低功耗状态进入标签检测状态的反应速度；而且，标签检测过程中使用能耗较低的内部晶振时钟，进一步降低RFID阅读器的能耗。
本发明提供的标签检测方法，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。
下面对本发明提供的标签检测装置进行描述，下文描述的标签检测装置与上文描述的标签检测方法可相互对应参照。
图4是本发明提供的标签检测装置的结构示意图，如图4所示，本发明提供的标签检测装置，包括：检测模块和控制模块；
所述检测模块用于：
在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；其中，执行所述低功耗检测过程包括：
在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；
在所述第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；
其中，所述第一时间段和所述第二时间段不重叠；
所述控制模块用于：
在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止。
具体地，检测模块可以包括低功耗控制器模块410和模数转换（Analog-to-digital conversion，ADC）检测模块420；控制模块可以包括时钟模块430、定时器模块440、寄存器模块450和模拟配置模块460。
具体地，低功耗控制器模块410可以是整个低功耗检测装置的控制中心，负责协调其余模块的工作，以及提供信号逻辑和逻辑判断。
具体地，低功耗控制器模块410可以包括低功耗检卡（Low power cardinspection，LPCD）使能检测411、低功耗状态机412、定时器启动控制413、时钟选择控制414、时钟开关控制415、启动检测416、电压配置（SVREF）组遍历417和检测结果判断418。
具体地，ADC检测模块420可以包括信号整形421、电平计数422、计数值和有效值匹配423和检测判断424。
具体地，时钟模块430可以包括第一时钟选择电路431、二分频432和第二时钟选择电路433。
具体地，定时器模块440可以包括使能检测441、轮询计数442、轮询定时输出443、唤醒计数444和唤醒定时输出445。
具体地，寄存器模块450可以包括寄存器读写控制451、时间配置寄存器452、控制配置寄存器453、中断状态寄存器454、中断信号判断455和阈值配置寄存器456。
具体地，模拟配置模块460可以包括检测状态461、模拟前端配置输出462、检测信号463、时钟开关输出464和译码输出465。
具体地，标签检测装置的电路包括与模拟电路的接口，和与MCU的接口，标签检测装置的电路与MCU接口可以包括操作寄存器的接口和中断引脚；
具体地，寄存器读写控制451可以接收MCU发送的操作寄存器的指令，并基于指令分别对时间配置寄存器452、控制配置寄存器453、中断状态寄存器454和中断信号判断455进行读写。
具体地，在进行读写操作之后，时间配置寄存器452可以输出轮询定时配置至轮询定时输出443、输出唤醒定时配置至唤醒定时输出445、以及输出检测时间配置至计数值和有效值匹配423；控制配置寄存器453可以输出LPCD使能信号至LPCD使能检测411；阈值配置寄存器456可以输出预设阈值范围至检测结果判断418。
具体地，LPCD使能检测411接收LPCD使能信号之后，可以向低功耗状态机412发送启动LPCD功耗的信号，低功耗状态机412基于接收的启动LPCD功耗的信号，可以控制RFID阅读器进入低功耗模式，RFID阅读器在低功耗模式下，周期性执行标签检测，在一个周期内，RFID阅读器处于待机或标签检测的状态。
具体地，进入低功耗模式的RFID阅读器可以基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程。
具体地，进入低功耗模式之后，在第一周期内，低功耗状态机412可以向检测状态461、时钟选择控制414和时钟开关控制415，分别输出状态信息。在第一周期的第一时间段内，低功耗状态机412可以向检测状态461输出低功耗状态的状态信息，检测状态461基于低功耗状态的状态信号，控制模拟前端配置输出462输出模拟配置信息，控制标签检测相关的模拟器件处于待机状态，不进行标签检测，不处理任何事务，RFID阅读器维持在一个低功耗的环境下。
具体地，模拟前端配置输出462在不同阶段提供不同的模拟前端配置，以适应低功耗状态机412在不同状态的功耗需求。
具体地，在第一周期的第二时间段内，低功耗状态机412可以向时钟选择控制414和时钟开关控制415分别输出标签检测的状态信息。
具体地，时钟开关控制415基于标签检测的状态信息，输出时钟开关信号的时钟控制信号至检测信号463，检测信号463基于时钟开关信号控制时钟开关输出464输出开启内部晶振时钟信号的RC27M控制信号，以及开启外部时钟信号的XTAL控制信号。
其中，内部晶振时钟可以为频率为27MHz的RC27M，用于低功耗模式下的标签检测；外部时钟可以为27MHz的XTAL27M，用于正常工作模式。
具体地，可以将RC27M和XTAL27M输入第一时钟选择电路431，以供RFID阅读器在不同工作模式下，选择其中一个作为时钟信号CLK27M。
具体地，第一时钟选择电路431输出的时钟信号CLK27M可以输入二分频432，以获取频率为13.56MHz的CLK13M时钟信号。
具体地，CLK13M时钟信号和第二时钟信号可以输入第二时钟选择电路433，其中第二时钟信号可以为常开的、频率可以远低于内部晶振时钟的内部时钟信号，如32KHz的RC32K。
具体地，RFID阅读器在第一周期的不同时间段，可以选择CLK13M时钟信号和第二时钟信号的其中一个作为时钟信号，比如在第一时间段内选用第二时钟信号，在第二时间段内选择CLK13M时钟信号。
具体地，在第一周期的第二时间段内，控制时钟选择控制414基于标签检测的状态信息，输出时钟选择信号至第二时钟选择电路433，控制第二时钟选择电路433输出CLK13M的CLKOUT时钟信号，作为系统时钟。
具体地，在第一周期的第二时间段内，低功耗状态机412可以向检测状态461输出标签检测的状态信息，检测状态461基于标签检测的状态信号，控制模拟前端配置输出462输出配置信息，控制标签检测相应的模拟器件启动。
具体地，在第一周期的第二时间段内，低功耗状态机412可以向启动检测416发送检测信号；启动检测416基于检测信号，控制ADC检测模块420开启标签检测，并向SVREF组遍历417发送第一使能遍历信号，执行SVREF组的轮询，其中，SVREF组的轮询用于判断SVREF是否配置在载波范围。
例如，如图2所示，SVREF组对应图中VREF的阶梯的下降，当阶梯电压进入载波中，就会出现响应，SVREF组遍历417中检测到响应，则认为当前的载波的幅度与当前的SVREF能够对应上。通过对SVREF组中阶梯电压的轮询，在当前的载波的幅度与当前的SVREF能够对应上的情况下，可以确定SVREF配置在载波范围。
具体地，ADC检测模块420开启标签检测之后，可以开启载波；从载波对应的射频场中，信号整形421可以获取模拟电路发送的ADC返回信号，对ADC返回信号进行电平检测和电平计数，并输出整形信号至电平计数422；电平计数422基于整形信号输出电平计数值至检测判断424。
具体地，计数值和有效值匹配423可以基于时间配置寄存器452输出的检测时间配置，输出参考值至检测判断424，比如在检测时间为5ms时，有效值应为60个电平。
具体地，检测判断424可以基于电平计数值和参考值，判断此次标签检测是否为有效检测，若为有效检测，则输出有效检测信号至检测结果判断418。
具体地，SVREF组遍历417基于启动检测416发送第一使能遍历信号，向检测结果判断418发送使能判断，以触发检测结果判断418能基于接收的有效检测信号，判断有效检测信号是否为检卡有效信号。
具体地，检测结果判断418基于有效检测信号和阈值配置寄存器456输出的预设阈值范围，判断检测范围内是否存在标签。
例如，在门禁应用中，RFID阅读器可能很长时间才使用一次，可以周期性执行低功耗检测过程，在第一时间段内，RFID阅读器维持在一个超低功耗的环境下，等待标签的进场；在第二时间内，载波对应的外部射频场内有标签进场，检测到外部标签进场后，可以向检测结果判断418输入有效检测信号；检测结果判断418基于有效检测信号，获取有效检测信号的幅度，进而计算有效检测信号的幅度相对于基准电压的实际值，然后将实际值与预设阈值范围比较，若实际值均预设阈值范围，则确定检测范围内存在标签，此次检卡有效，关闭低功耗模式，RFID阅读器与标签进行交互完成交易。
具体地，若有效检测信号的幅度超出预设阈值范围，则认为射频场内存在标签，可以输出检卡有效信号至中断状态寄存器454；中断状态寄存器454基于检卡有效信号，将中断状态反馈到中断信号判断455，中断信号判断455输出中断信号供MCU检测。
具体地，在输出中断信号给MCU之后，寄存器读写控制451可以接收MCU发送的中断低功耗模式的使能信号，并基于中断低功耗模式的使能信号分别对时间配置寄存器452、控制配置寄存器453、中断状态寄存器454和中断信号判断455进行读写，以退出低功耗模式，RFID阅读器回到正常工作模式，RFID阅读器在正常工作模式下，处于持续进行标签检测的状态。
具体地，若有效检测信号的幅度超出预设阈值范围，检测结果判断418输出检卡有效的第二使能遍历至SVREF组遍历417；SVREF组遍历417基于检卡有效的第二使能遍历，输出编码信息至译码输出465；译码输出465基于编码信号，输出有效的译码结果SVREF。
具体地，若有效检测信号的幅度未超出预设阈值范围，检测结果判断418输出检卡无效的第二使能遍历至SVREF组遍历417；SVREF组遍历417基于检卡无效的第二使能遍历，输出编码信息至译码输出465；译码输出465基于编码信号，输出无效的译码结果SVREF。
具体地，在译码输出465输出无效的译码结果SVREF，可以认为射频场内不存在标签，RFID阅读器可以在第二时间段结束后，回到不进行标签检测的状态。
本发明提供的标签检测装置，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述第一周期还包括第三时间段；
所述检测模块还用于：
在所述第三时间段内，开启所述内部晶振时钟，以及与所述标签检测对应的模拟器件；
其中，所述第一时间段在所述第三时间段之前，所述第二时间段在所述第三时间段之后；
相应的，所述装置还包括定时模块；
所述定时模块用于基于所述RFID阅读器的第二时钟信号，确定所述第一时间段、所述第二时间段和所述第三时间段；
其中，所述第二时钟信号的频率低于所述内部晶振时钟信号的频率。
具体地，在第一周期的第三时间段内，上个实施例中的开启内部晶振时钟信号、开启标签检测对应的模拟器件，以及选择CLK13M时钟信号作为时钟信号的过程可以在第三时间段内进行。
具体地，在第三时间段内，内部晶振时钟信号和模拟器件都已稳定运行，RFID阅读器即处于可以进行标签检测的状态，可以进入第二时间段，进行标签检测。
具体地，进入低功耗模式之后，低功耗状态机412可以控制定时器启动控制413输出定时开启信号至使能检测441，使能检测441接收定时开启信号之后，可以分别向轮询计数442和唤醒计数444发送启动计时的指令，以使轮询计数442向轮询定时输出443输出轮询计数值，以及唤醒计数444向唤醒定时输出445输出唤醒计数值。
具体地，轮询定时输出443可以基于轮询计数值，向低功耗状态机412输出轮询定时标志，比如第一轮询定时标志控制低功耗状态机412从第一时间段进入第三时间段，第二轮询定时标志控制低功耗状态机412从第三时间段进入第二时间段，第二轮询定时标志控制低功耗状态机412从第二时间段进入第一时间段。
可选地，唤醒定时输出445可以基于唤醒计数值，向低功耗状态机412输出唤醒定时标志，唤醒RFID阅读器进入正常工作模式，以避免因RFID阅读器在低功耗模式出现故障，而无法正常检测范围内的标签的情况。
具体地，基于第一时钟选择电路431和第二时钟选择电路433，装置中的不同模块可以选择不同的时钟作为时钟输入信号，比如，定时器模块440采用RC32K作为时钟输入信号，寄存器模块450、低功耗控制器模块410和模拟配置模块460采用CLKOUT作为时钟输入信号，ADC检测模块420采用CLK27M作为时钟输入信号。
本发明提供的标签检测装置，在RFID阅读器进入低功耗模式的周期中的第一时间段和第二时间之间，设置第三时间段，在第三时间段内开启内部晶振时钟信号和相关模拟器件，可以为下一阶段标签检测做好准备工作，由于内部晶振时钟起振快，在短时间内就能达到稳定状态，缩短了准备阶段的时间，使RFID阅读器能快速的从不进行标签检测的状态切换至标签检测状态，且设置第三时间段后，第三时间段内不开启能耗高的载波，进一步降低了RFID阅读器的能耗；通过RFID阅读器设置的第二时钟信号，可以完成第一时间段、第二时间段和第三时间段的计时，从而确定第一时间段、第二时间段和第三时间段的时长，进而使RFID阅读器基于第一时间段、第三时间段和第二时间段，周期性的执行低功耗检测过程，相比于RFID阅读器一直处于标签检测状态，节省了能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述检测模块还用于：
开启载波，基于所述载波和所述内部晶振时钟信号，获取与所述载波对应的射频场中返回的检测信号；
基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签。
具体地，ADC检测模块420开启标签检测之后，可以开启载波；从载波对应的射频场中，信号整形421可以获取ADC返回信号，并输出整形信号至电平计数422；电平计数422基于整形信号输出电平计数值至检测判断424。
具体地，计数值和有效值匹配423可以基于时间配置寄存器452输出的检测时间配置，输出参考值至检测判断424，比如在检测时间为5ms时，有效值应为60个电平。
具体地，检测判断424可以基于电平计数值和参考值，判断此次标签检测是否为有效检测，比如电平计数值大于参考值，为有效检测，输出有效检测信号至检测结果判断418。
具体地，检测结果判断418基于接收的有效检测信号执行判断检测范围是否存在标签的过程。
本发明提供的标签检测装置，在第一周期的第二个时间段开启载波，第一周期的其余时间段不开启，从而避免长时间没有标签的情况下也开启载波带来的能量消耗，由于载波的能耗较大，通过提高载波的利用效率，降低整个标签检测周期的能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述检测模块还用于：
若所述检测信号的幅度超过预设阈值范围，则确定在检测范围内存在标签；
若所述检测信号的幅度未超过预设阈值范围，则确定在检测范围内不存在标签。
具体地，具体地，检测结果判断418基于有效检测信号和阈值配置寄存器456输出的预设阈值范围，判断检测范围内是否存在标签。
具体地，若有效检测信号的幅度超出预设阈值范围，则认为射频场内存在标签，可以输出检卡有效信号至中断状态寄存器454；中断状态寄存器454基于检卡有效信号，控制中断信号判断455输出中断信号给MCU。
具体地，在输出中断信号给MCU之后，寄存器读写控制451可以接收MCU发送的中断低功耗模式的使能信号，并基于中断低功耗模式的使能信号分别对时间配置寄存器452、控制配置寄存器453、中断状态寄存器454和中断信号判断455进行读写，以退出低功耗模式，RFID阅读器回到正常工作模式。
具体地，若有效检测信号的幅度未超出预设阈值范围，检测结果判断418输出检卡无效的第二使能遍历至SVREF组遍历417；SVREF组遍历417基于检卡无效的第二使能遍历，输出编码信息至译码输出465；译码输出465基于编码信号，输出无效的译码结果SVREF。
具体地，在译码输出465输出无效的译码结果SVREF，可以认为射频场内不存在标签，RFID阅读器可以在第二时间段结束后，回到不进行标签检测的状态，重新上述周期性的标签检测过程中相应的操作。
本发明提供的标签检测装置，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。
可选地，根据本发明提供的标签检测装置，所述控制模块还用于：
中断所述低功耗模式，所述载波持续开启，等待下一个所述低功耗模式的使能信号；
基于所述下一个所述低功耗模式的使能信号，重新进入所述低功耗模式；
关闭所述内部晶振时钟信号、所述载波，以及与所述标签检测对应的模拟器件。
具体地，在RFID阅读器回到正常工作模式之后，用于标签检测的载波持续开启，以使RFID阅读器基于载波，与检测到的标签进行交易。
具体地，在交易完成之后，MCU可以再次向寄存器读写控制451发送的操作寄存器的指令；寄存器读写控制451基于指令分别对时间配置寄存器452、控制配置寄存器453、中断状态寄存器454和中断信号判断455进行读写，执行第一周期执行的低功耗标签检测过程。
具体地，RFID阅读器周期性执行低功耗检测过程中，在第一周期的第二时间段之后，再次进入低功耗模式，低功耗状态机412可以向检测状态461输出低功耗状态的状态信息，检测状态461基于低功耗状态的状态信号，控制模拟前端配置输出462输出配置信息，控制标签检测相关的模拟器件处于待机状态，不进行标签检测，RFID阅读器维持在一个低功耗的环境下。
具体地，再次进入低功耗模式之后，低功耗状态机412可以向时钟选择控制414和时钟开关控制415分别输出低功耗状态的状态信息。
具体地，再次进入低功耗模式之后，控制时钟选择控制414基于低功耗状态的状态信息，输出时钟选择信号至第二时钟选择电路433，控制第二时钟选择电路433输出RC32K的CLKOUT时钟信号。
具体地，再次进入低功耗模式之后，低功耗状态机412可以向检测状态461输出低功耗状态的状态信息，检测状态461基于低功耗状态的状态信号，控制模拟前端配置输出462输出配置信息，控制标签检测相关的模拟器件处于待机状态，不进行标签检测，RFID阅读器维持在一个低功耗的环境下。
本发明提供的标签检测装置，确定在检测范围内存在标签之后，暂停低功耗检测过程，RFID阅读器回到正常工作模式，完成与标签的交易，在交易完成后再次进入低功耗模式，在保证RFID阅读器能正常工作的同时，降低RFID阅读器在整个使用过程的能耗；RFID阅读器再次进入低功耗模式后，关闭上一周期开启的内部晶振时钟信号、载波以及与所述标签检测对应的模拟器件，RFID阅读器处于能耗极低的状态，降低了RFID阅读器整个使用周期的能耗。
图5是本发明提供的标签检测装置的状态示意图，如图5所示，标签检测装置可以包括正常工作状态、待机状态、准备状态和检测状态，其中待机状态、准备状态和检测状态为低功耗模式下的状态。
具体地，在正常工作状态下，接收到LPCD使能信号，可以进入第一时间段，在第一时间段内，关闭XTAL27M、RC27M和模拟器件（LDO）等设备的电源，将时钟信号切换成RC32K的时钟信号，标签检测装置处于待机状态。
具体地，在第一时间段之后，可以有第三时间段，在第三时间段内，可以开启RC27M时钟和模拟器件等设备的电源，切换时钟至RC27M的时钟信号，标签检测装置处于准备状态。
具体地，在第三时间段之后，可以有第二时间段，在第二时间段内，可以开启载波，标签检测装置处于检测状态。
具体地，在第二时间段内，处于检测状态的标签检测装置在没有检测到标签的情况下，即检卡无效的情况下，重新回到第一时间段，周期性工作在低功耗模式。
具体地，处于检测状态的标签检测装置在检测到标签的情况下，可以输出检卡有效信号，进而中断低功耗模式，工作在正常工作模式，持续进行标签检测。
可选地，也可以基于唤醒定时标志，中断低功耗模式，回到正常工作状态。
具体地，三个时间段之间的功耗存在几十倍的差异，可以根据实际需求，通过寄存器模块提配置三个时间段的时长，比如可以通过增大第一时间段，减小第二时间段和第三时间段，以此来降低平均功耗。
具体地，由于第三时间段的时长由模拟电源稳定时间决定，而内部晶振事中RC27M的起振时间块，总体第三时间段的时长可以设置在几十到几百微秒之间；第二时间段是检测时间，在第二时间段内，检测装置的功耗很大，可以设置在几个到几十微秒之间；第一时间段是待机时间，在第二时间段内，检测装置的功耗小，根据实际需要进行一次标签检测过程的时间间隔，可以配置在几百毫秒到几秒之间。
本发明提供的标签检测装置，通过分阶段轮询的方式，依次进入待机状态、准备状态和检测状态，每隔一段时间进行一次标签检测的方式，降低运行的功耗，以实现在低功耗场合的应用。
本发明提供的标签检测装置，在确定RFID阅读器进入低功耗模式的情况下，周期性地执行低功耗检测过程，在一个执行周期中的第一个时间段不进行标签检测，在第二个时间段基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，节省检测范围内长时间无标签时的能耗；在标签检测过程使用能耗较低的内部晶振时钟信号，避免长时间持续开启高能耗的载波，进一步降低RFID阅读器的能耗。
在此需要说明的是，本发明提供的上述标签检测装置，能够实现上述方法实施例所实现的所有方法步骤，且能够达到相同的技术效果，在此不再对本实施例中与方法实施例相同的部分及有益效果进行具体赘述。
图6是本发明提供的RFID阅读器的结构示意图，如图6所示，本发明提供的电子设备，包括处理器（processor）610、通信接口（Communications Interface）620、存储器（memory）630和通信总线640，其中，处理器610，通信接口620，存储器630通过通信总线640完成相互间的通信。处理器610可以调用存储器630中的逻辑指令，以执行上述方法实施例的步骤。
另一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述方法实施例的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种标签检测方法，其特征在于，包括：
在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；
在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止；
其中，执行所述低功耗检测过程包括：
在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；
在所述第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；
其中，所述第一时间段和所述第二时间段不重叠。
2.根据权利要求1所述的标签检测方法，其特征在于，所述第一周期还包括第三时间段；
所述执行所述低功耗检测过程还包括：
在所述第三时间段内，开启所述内部晶振时钟，以及与所述标签检测对应的模拟器件；
其中，所述第一时间段在所述第三时间段之前，所述第二时间段在所述第三时间段之后；
相应的，所述方法还包括：基于所述RFID阅读器的第二时钟信号，确定所述第一时间段、所述第二时间段和所述第三时间段；
其中，所述第二时钟信号的频率低于所述内部晶振时钟信号的频率。
3.根据权利要求1或2所述的标签检测方法，其特征在于，所述在所述第一周期的第二时间段内，基于RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测，包括：
开启载波，基于所述载波和所述内部晶振时钟信号，获取与所述载波对应的射频场中返回的检测信号；
基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签。
4.根据权利要求3所述的标签检测方法，其特征在于，基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签，包括：
若所述检测信号的幅度超过预设阈值范围，则确定在检测范围内存在标签；
若所述检测信号的幅度未超过预设阈值范围，则确定在检测范围内不存在标签。
5.根据权利要求4所述的标签检测方法，其特征在于，在确定在检测范围内存在标签的情况下，所述暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止，包括：
中断所述低功耗模式，所述载波持续开启，等待下一个所述低功耗模式的使能信号；
基于所述下一个所述低功耗模式的使能信号，重新进入所述低功耗模式；
相应的，所述在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测，包括：
关闭所述内部晶振时钟信号、所述载波，以及与所述标签检测对应的模拟器件。
6.一种标签检测装置，其特征在于，包括：检测模块和控制模块；
所述检测模块用于：
在确定进入低功耗模式的情况下，基于第一周期，周期性地执行低功耗检测过程；其中，执行所述低功耗检测过程包括：
在所述第一周期的第一时间段内，不进行标签检测；
在所述第一周期的第二时间段内，基于射频识别RFID阅读器的内部晶振时钟信号，进行标签检测；
其中，所述第一时间段和所述第二时间段不重叠；
所述控制模块用于：
在确定在检测范围内存在标签的情况下，暂停所述低功耗检测过程，持续进行标签检测，直至下一次确定进入低功耗模式为止。
7.根据权利要求6所述的标签检测装置，其特征在于，所述第一周期还包括第三时间段；
所述检测模块还用于：
在所述第三时间段内，开启所述内部晶振时钟，以及与所述标签检测对应的模拟器件；
其中，所述第一时间段在所述第三时间段之前，所述第二时间段在所述第三时间段之后；
相应的，所述装置还包括定时模块；
所述定时模块用于基于所述RFID阅读器的第二时钟信号，确定所述第一时间段、所述第二时间段和所述第三时间段；
其中，所述第二时钟信号的频率低于所述内部晶振时钟信号的频率。
8.根据权利要求6至所述的标签检测装置，其特征在于，所述检测模块还用于：
开启载波，基于所述载波和所述内部晶振时钟信号，获取与所述载波对应的射频场中返回的检测信号；
基于所述检测信号和预设阈值范围，判断在检测范围内是否存在标签。
9.根据权利要求8所述的标签检测装置，其特征在于，所述检测模块还用于：
若所述检测信号的幅度超过预设阈值范围，则确定在检测范围内存在标签；
若所述检测信号的幅度未超过预设阈值范围，则确定在检测范围内不存在标签。
10.根据权利要求9所述的标签检测装置，其特征在于，所述控制模块还用于：
中断所述低功耗模式，所述载波持续开启，等待下一个所述低功耗模式的使能信号；
基于所述下一个所述低功耗模式的使能信号，重新进入所述低功耗模式；
关闭所述内部晶振时钟信号、所述载波，以及与所述标签检测对应的模拟器件。
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