CN114167434A - 提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质，所述提高激光定位检测范围方法包括：获取入射光束；将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑；将所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面；接收所述探测面上的光电检测器发送的所述线光斑位置信息；基于所述位置信息对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置。本申请属于激光定位检测范围领域，通过将所述入射光束产生的线光斑移动到所述探测面中心位置，实现提高激光定位检测范围，在不提高光学位置传感器器件本身检测范围的情况下，提高装置整体检测范围，有效节约成本，提高性能。

Description

提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及激光定位检测领域，尤其涉及一种提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质。

背景技术

在激光定位系统中，通常使用光学位置传感器器件测量光点在探测器表面上连续位置，其中，光学位置传感器具有检测范围，在使用激光定位系统中往往会出现检测范围太小，无法完成检测，为此需要提高系统整体检测范围。为提高系统整体检测范围，通常会更换大范围检测光学位置传感器，但是无论是一维检测器件还是二维检测器件，检测范围越大成本越高，因此为提高系统整体检测范围，会导致生产成本过高。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质，旨在解决为提高系统整体检测范围，导致生产成本高的技术问题。

为实现以上目的，本申请提供一种提高激光定位检测范围装置，所述提高激光定位检测范围装置包括：

激光光源模块，所述激光光源模块用于：出射入射光束至探测面；

光斑调整模块，所述光斑调整模块用于：对线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置，其中，所述线光斑由所述入射光束而产生的。

可选地，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光斑转换模块，将柱透镜设置在反射面和探测面之间的位置，所述光斑转换模块用于：将点光斑转换为线光斑。

可选地，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光电检测模块，设置至少两对光电检测器在光学位置传感器中心的四周预设位置点处，所述光电检测模块用于：获取所述线光斑位置信息，并将所述线光斑位置信息发送至所述光斑调整模块，以供所述光斑调整模块基于所述线光斑位置信息，对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述光学位置传感器中心位置。

可选地，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光斑形成模块，将镜组和光阑设置在所述激光光源模块和所述光斑转换模块之间，所述光斑形成模块用于：将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑。

本申请还提供一种提高激光定位检测范围方法，所述提高激光定位检测范围方法包括：

获取入射光束；

将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑；

将所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面；

接收所述探测面上的光电检测器发送的所述线光斑位置信息；

基于所述位置信息对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置。

可选地，所述探测面的范围根据所述柱透镜的尺寸调节。

可选地，所述线光斑高度为探测面高度的二分之一，且所述探测面范围为正方形范围。

可选地，所述将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑的步骤，包括：

将所述入射光束透过镜组，形成平行光；

将所述平行光透过光阑，所述光阑对所述平行光限制，形成所述点光斑。

本申请还提供一种提高激光定位检测范围设备，所述提高激光定位检测范围设备包括：存储器、处理器以及存储在存储器上的用于实现所述提高激光定位检测范围方法的程序，

所述存储器用于存储实现提高激光定位检测范围方法的程序；

所述处理器用于执行实现所述提高激光定位检测范围方法的程序，以实现所述提高激光定位检测范围方法的步骤。

本申请还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有实现提高激光定位检测范围方法的程序，所述实现提高激光定位检测范围方法的程序被处理器执行以实现所述提高激光定位检测范围方法的步骤。

本申请提供的一种提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质，与现有技术中为实现提高系统整体检测范围，需要更换更换大范围检测光学位置传感器，成本高相比，在本申请中，获取入射光束；将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑；将所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面；接收所述探测面上的光电检测器发送的所述线光斑位置信息；基于所述位置信息对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置，即在本申请，通过将所述入射光束产生的线光斑移动到所述探测面中心位置，实现提高激光定位检测范围，在不提高光学位置传感器器件本身检测范围的情况下，提高系统整体检测范围，有效节约成本，提高性能。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图；

图2为本发明提高激光定位检测范围方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明提高激光定位检测范围装置的光斑转换模块示意图；

图4为本发明提高激光定位检测范围装置的光斑转换模块的柱透镜示意图；

图5为本发明提高激光定位检测范围装置的探测面上的模块设置示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。

本发明实施例终端可以是PC，也可以是智能手机、平板电脑、电子书阅读器、MP3（Moving Picture Experts Group Audio Layer III，动态影像专家压缩标准音频层面3）播放器、MP4（Moving Picture Experts Group Audio Layer IV，动态影像专家压缩标准音频层面3）播放器、便携计算机等具有显示功能的可移动式终端设备。

如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏（Display）、输入单元比如键盘（Keyboard），可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如WI-FI接口）。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatile memory），例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

可选地，终端还可以包括摄像头、RF（Radio Frequency，射频）电路，传感器、音频电路、WiFi模块等等。其中，传感器比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示屏的亮度，接近传感器可在移动终端移动到耳边时，关闭显示屏和/或背光。作为运动传感器的一种，重力加速度传感器可检测各个方向上（一般为三轴）加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于识别移动终端姿态的应用（比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准）、振动识别相关功能（比如计步器、敲击）等；当然，移动终端还可配置陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器，在此不再赘述。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作装置、网络通信模块、用户接口模块以及提高激光定位检测范围程序。

在图1所示的终端中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与后台服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接客户端（用户端），与客户端进行数据通信；而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的提高激光定位检测范围程序。

实施例一

参照图2，本申请实施例提供一种提高激光定位检测范围方法，所述提高激光定位检测范围方法包括：

步骤S100，获取入射光束；

步骤S200，将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑；

步骤S300，将所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面；

步骤S400，接收所述探测面上的光电检测器发送的所述线光斑位置信息；

步骤S500，基于所述位置信息对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置。

在本实施例中，具体的应用场景可以是：

眼科检查诊所的医生对患者进行检查角膜内皮细胞，在对患者进行检查角膜内皮细胞时需要激光定位系统，其中，激光定位系统通常使用光学位置传感器（光学位置传感器）器件测量光点在探测器表面上连续位置，其中，光学位置传感器具有检测范围，在对患者进行检查角膜内皮细胞时，激光定位系统往往会出现检测范围太小，无法完成检测，为此需要提高系统整体检测范围。为提高系统整体检测范围，通常会更换大范围检测光学位置传感器，但是无论是一维检测器件还是二维检测器件，检测范围越大成本越高，因此为提高系统整体检测范围，会导致生产成本过高。

本实施例旨在：利用光学原理，不提高光学位置传感器器件本身检测范围的情况下，提高系统整体检测范围，有效节约成本，提高性能。

具体步骤如下：

步骤S100，获取入射光束；

在本实施例中，入射光束为激光光源发出的激光光束，其中，获取入射光束的方式为在装置中设置激光光源，具体地，采用激光光束作为入射光束，相比多色光（汞灯、氘灯、卤素灯等）更容易形成平行光，以供入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑。当激光光源模块出射入射光束至探测面中心位置时，激光光源模块可以为多谱线氩离子激光器，提供发射波长为457nm、488nm和514nm的蓝绿光；还可以为氦氖绿激光器，提供发射波长为543nm的绿光；还可以为氦氖红激光器，提供发射波长为633nm的红光；还可以为红外线激光器，提高发射波长为780nm的红外线。

步骤S200，将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑；

在本实施例中，将入射光束在所述反射面上形成点光斑，以供使用光学位置传感器器件测量点光斑在探测器表面上连续位置。

具体地，所述步骤S200包括以下步骤S210-S220：

步骤S210，将所述入射光束透过镜组，形成平行光；

在本实施例中，镜组和光阑设置在所述激光光源模块和所述光斑转换模块之间，镜组是准直的透镜组合，其中，镜组可以是扩束透镜，将入射光束透过准直的扩束透镜，形成平行光。

步骤S220，将所述平行光透过光阑，所述光阑对所述平行光限制，形成所述点光斑。

光阑是对光束起着限制作用的实体。其中，光阑可以是透镜的边缘、框架或特别设置的带孔屏，光阑用于限制所述平行光大小，平行光透过点状的光阑，所述点状的光阑对所述平行光限制，形成所述点光斑。

步骤S300，将所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面；

参照图3和图4，所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面，具体地，所述探测面的范围根据所述柱透镜的尺寸调节，柱透镜尺寸由所需检测范围决定，柱透镜长度越大，水平检测范围越大；柱透镜高度越大，垂直检测范围越大，以此提高了激光定位光信号检测范围。需要说明的是，柱透镜长度越大、高度越大会导致光亮度减弱，根据实际需求对柱透镜进行调整，而非越大越好。其中，检测器件放置范围由柱透镜曲率和柱透镜距离检测器件距离共同决定。

其中，所述线光斑高度为探测面高度的二分之一，且所述探测面范围为正方形范围。

在本实施例中，光斑高度为探测面高度的二分之一，为尽可能靠近中心位置，以便通过光电检测器进行校正位置，例如，线光斑总长为l，线光斑透过柱透镜，设置1/2l高度在探测面高度。

步骤S400，接收所述探测面上的光电检测器发送的所述线光斑位置信息；

在本实施例中，在所述探测面范围内，设置至少两对光电检测器在光学位置传感器中心的四周预设位置点处，具体地，参照图5，装置可以在所述探测面范围的最左侧中心位置，最右侧中心位置，中心位置上侧1/4处和下侧1/4处各放置一颗光电检测器，其中，所述光电检测器可以是硅光电池，其成本远远低于光学位置传感器；在中心位置放置一颗一维光学位置传感器，其中，一维光学位置传感器的测量范围±5mm，常规产品，价格较低，性价比高，仅通过设置硅光电池和一维光学位置传感器在探测面范围，有效节约成本。

在本实施例中，所述光电检测器应用于激光定位检测装置中，模拟光学位置传感器对准物体的过程，确定光学位置传感器与物体之间的相对位置；将点光斑成像于放置在透镜焦平面上的光学位置传感器的接收光敏面上，这个光点信号转换为电信号。输入至A/D转换器，A/D转换器将接收到的电信号转换成数字信号，并将数字信号输入至处理单元，从而确定光学位置传感器对准探测面上的位置。当对准位置在测量范围内移动时，光斑与光学位置传感器两电极间的距离发生变化，使两电极输出电流随其光斑位置的变化而变化，因此通过测定传感器两电极输出电流的大小，便可知道光学位置传感器与对探测面上的位置相对应。

步骤S500，基于所述位置信息对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置。

在本实施例中，当线光斑进入探测面范围内时，装置会获取所述线光斑位置信息，并将所述线光斑位置信息发送至所述光斑调整模块，以供所述光斑调整模块基于所述线光斑位置信息，对所述线光斑进行进行调整，具体地，参照图5，装置左右调整，左右两颗硅光电池必有一颗检测到线光斑，若左侧硅光电池检测到光信号，使装置向右移动，当中心光学位置传感器检测到光信号后，可根据位置信息调整设备移动方向，使光斑移动到光学位置传感器中心位置，此时线光斑处于检测范围中央位置；右侧硅光电池检测到光信号时也如此操作。当光斑位于中央位置时，上下两颗硅光电池中必有一颗检测到光信号，通过反向移动，直到两颗硅光电池均检测到光信号时停止移动，此时光信号处于检测范围中心位置。需要说明的是，装置进行左右调整和上下调整的顺序，并不作限定，即装置可以先进行左右移动，再进行上下移动，也可以反过来，先进行上下移动，再进行左右移动。

在本实施例中，提高了激光定位光信号检测范围的同时在大范围检测系统中降低了硬件成本。

本申请提供的一种提高激光定位检测范围装置、方法、设备及存储介质，与现有技术中为实现提高系统整体检测范围，需要更换更换大范围检测光学位置传感器，成本高相比，在本申请中，激光光源模块，所述激光光源模块用于：出射入射光束至探测面；光斑调整模块，所述光斑调整模块用于：对线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置，其中，所述线光斑由所述入射光束而产生的，即在本申请，通过将所述入射光束产生的线光斑移动到所述探测面中心位置，实现提高激光定位检测范围，在不提高光学位置传感器器件本身检测范围的情况下，提高系统整体检测范围，有效节约成本，提高性能。

实施例二

本申请还提供一种提高激光定位检测范围装置，所述提高激光定位检测范围装置包括：

激光光源模块，所述激光光源模块用于：出射入射光束至探测面；

在本实施例中，入射光束为激光光源发出的激光光束，其中，获取入射光束的方式为在装置中设置激光光源，具体地，采用激光光束作为入射光束，相比多色光（汞灯、氘灯、卤素灯等）更容易形成平行光，以供入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑。当激光光源模块出射入射光束至探测面中心位置时，激光光源模块可以为多谱线氩离子激光器，提供发射波长为457nm、488nm和514nm的蓝绿光；还可以为氦氖绿激光器，提供发射波长为543nm的绿光；还可以为氦氖红激光器，提供发射波长为633nm的红光；还可以为红外线激光器，提高发射波长为780nm的红外线。

光斑调整模块，所述光斑调整模块用于：对线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置，其中，所述线光斑由所述入射光束而产生的。

在本实施例中，当线光斑进入探测面范围内时，装置会获取所述线光斑位置信息，并将所述线光斑位置信息发送至所述光斑调整模块，以供所述光斑调整模块基于所述线光斑位置信息，对所述线光斑进行进行调整，具体地，参照图5，装置左右调整，左右两颗硅光电池必有一颗检测到线光斑，若左侧硅光电池检测到光信号，使装置向右移动，当中心光学位置传感器检测到光信号后，可根据位置信息调整设备移动方向，使光斑移动到光学位置传感器中心位置，此时线光斑处于检测范围中央位置；右侧硅光电池检测到光信号时也如此操作。当光斑位于中央位置时，上下两颗硅光电池中必有一颗检测到光信号，通过反向移动，直到两颗硅光电池均检测到光信号时停止移动，此时光信号处于检测范围中心位置。需要说明的是，装置进行左右调整和上下调整的顺序，并不作限定，即装置可以先进行左右移动，再进行上下移动，也可以反过来，先进行上下移动，再进行左右移动。

在本实施例中，提高了激光定位光信号检测范围的同时在大范围检测系统中降低了硬件成本。

在本实施例中，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光斑转换模块，将柱透镜设置在反射面和探测面之间的位置，所述光斑转换模块用于：将点光斑转换为线光斑。

在本实施例中，参照图3和图4，柱透镜设置在反射面和探测面之间的位置，所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面，具体地，所述探测面的范围根据所述柱透镜的尺寸调节，柱透镜尺寸由所需检测范围决定，柱透镜长度越大，水平检测范围越大；柱透镜高度越大，垂直检测范围越大。需要说明的是，柱透镜长度越大、高度越大会导致光亮度减弱，根据实际需求对柱透镜进行调整，而非越大越好。

其中，检测器件放置范围由柱透镜曲率和柱透镜距离检测器件距离共同决定。

在本实施例中，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光电检测模块，设置至少两对光电检测器在光学位置传感器中心的四周预设位置点处，所述光电检测模块用于：获取所述线光斑位置信息，并将所述线光斑位置信息发送至所述光斑调整模块，以供所述光斑调整模块基于所述线光斑位置信息，对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述光学位置传感器中心位置。

在本实施例中，在所述探测面范围内，设置至少两对光电检测器在光学位置传感器中心的四周预设位置点处，具体地，参照图5，装置可以在所述探测面范围的最左侧中心位置，最右侧中心位置，中心位置上侧1/4处和下侧1/4处各放置一颗光电检测器，其中，所述光电检测器可以是硅光电池，其成本远远低于光学位置传感器；在中心位置放置一颗一维光学位置传感器，其中，一维光学位置传感器的测量范围±5mm，常规产品，价格较低，性价比高，仅通过设置硅光电池和一维光学位置传感器在探测面范围，有效节约成本。

在本实施例中，所述光电检测器应用于激光定位检测装置中，模拟光学位置传感器对准物体的过程，确定光学位置传感器与物体之间的相对位置；将点光斑成像于放置在透镜焦平面上的光学位置传感器的接收光敏面上，这个光点信号转换为电信号。输入至A/D转换器，A/D转换器将接收到的电信号转换成数字信号，并将数字信号输入至处理单元，从而确定光学位置传感器对准探测面上的位置。当对准位置在测量范围内移动时，光斑与光学位置传感器两电极间的距离发生变化，使两电极输出电流随其光斑位置的变化而变化，因此通过测定传感器两电极输出电流的大小，便可知道光学位置传感器与对探测面上的位置相对应。

在本实施例中，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光斑形成模块，将镜组和光阑设置在所述激光光源模块和所述光斑转换模块之间，所述光斑形成模块用于：将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑。

在本实施例中，镜组和光阑设置在所述激光光源模块和所述光斑转换模块之间，镜组是准直的透镜组合，其中，镜组可以是扩束透镜，将入射光束透过准直的扩束透镜，形成平行光。光阑是对光束起着限制作用的实体。其中，光阑可以是透镜的边缘、框架或特别设置的带孔屏，光阑用于限制所述平行光大小，平行光透过点状的光阑，所述点状的光阑对所述平行光限制，形成所述点光斑。

实施例三

本申请还提供一种提高激光定位检测范围设备，所述提高激光定位检测范围设备包括：存储器、处理器以及存储在存储器上的用于实现所述提高激光定位检测范围方法的程序，

所述存储器用于存储实现提高激光定位检测范围方法的程序；

所述处理器用于执行实现所述提高激光定位检测范围方法的程序，以实现所述提高激光定位检测范围方法的步骤。

本申请提高激光定位检测范围设备具体实施方式与上述提高激光定位检测范围方法各实施例基本相同，在此不再赘述。

实施例四

本申请还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有实现提高激光定位检测范围方法的程序，所述实现提高激光定位检测范围方法的程序被处理器执行以实现所述提高激光定位检测范围方法的步骤。

本申请存储介质具体实施方式与上述提高激光定位检测范围方法各实施例基本相同，在此不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种提高激光定位检测范围装置，其特征在于，所述提高激光定位检测范围装置包括：

激光光源模块，所述激光光源模块用于：出射入射光束至探测面；

光斑调整模块，所述光斑调整模块用于：对线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置，其中，所述线光斑由所述入射光束而产生的。

2.如权利要求1所述的提高激光定位检测范围装置，其特征在于，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光斑转换模块，将柱透镜设置在反射面和探测面之间的位置，所述光斑转换模块用于：将点光斑转换为线光斑。

3.如权利要求1所述的提高激光定位检测范围装置，其特征在于，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光电检测模块，设置至少两对光电检测器在光学位置传感器中心的四周预设位置点处，所述光电检测模块用于：获取所述线光斑位置信息，并将所述线光斑位置信息发送至所述光斑调整模块，以供所述光斑调整模块基于所述线光斑位置信息，对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述光学位置传感器中心位置。

4.如权利要求2所述的提高激光定位检测范围装置，其特征在于，所述提高激光定位检测范围装置还包括：

光斑形成模块，将镜组和光阑设置在所述激光光源模块和所述光斑转换模块之间，所述光斑形成模块用于：将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑。

5.一种提高激光定位检测范围方法，其特征在于，所述提高激光定位检测范围方法包括：

获取入射光束；

将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑；

将所述点光斑通过柱透镜转换为线光斑，所述线光斑照射在探测面；

接收所述探测面上的光电检测器发送的所述线光斑位置信息；

基于所述位置信息对所述线光斑进行调整，直至所述线光斑移动到所述探测面中心位置。

6.如权利要求5所述的提高激光定位检测范围方法，其特征在于，所述探测面的范围根据所述柱透镜的尺寸调节。

7.如权利要求5所述的提高激光定位检测范围方法，其特征在于，所述线光斑高度为探测面高度的二分之一，且所述探测面范围为正方形范围。

8.如权利要求5所述的提高激光定位检测范围方法，其特征在于，所述将所述入射光束照射在反射面，在所述反射面上形成点光斑的步骤，包括：

将所述入射光束透过镜组，形成平行光；

将所述平行光透过光阑，所述光阑对所述平行光限制，形成所述点光斑。

9.一种提高激光定位检测范围设备，其特征在于，所述提高激光定位检测范围设备包括：存储器、处理器以及存储在存储器上的用于实现所述提高激光定位检测范围方法的程序，

所述存储器用于存储实现提高激光定位检测范围方法的程序；

所述处理器用于执行实现所述提高激光定位检测范围方法的程序，以实现如权利要求5至8中任一项所述提高激光定位检测范围方法的步骤。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有实现提高激光定位检测范围方法的程序，所述实现提高激光定位检测范围方法的程序被处理器执行以实现如权利要求5至8中任一项所述提高激光定位检测范围方法的步骤。

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