CN114157372B - 一种相位与插损的测量装置及方法 - Google Patents

一种相位与插损的测量装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114157372B
CN114157372B CN202111486159.5A CN202111486159A CN114157372B CN 114157372 B CN114157372 B CN 114157372B CN 202111486159 A CN202111486159 A CN 202111486159A CN 114157372 B CN114157372 B CN 114157372B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
channel
phase
insertion loss
selection switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202111486159.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114157372A (zh
Inventor
宋淼
陶芳胜
张宁
赵金鹏
彭子健
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Original Assignee
CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CLP Kesiyi Technology Co Ltd filed Critical CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Priority to CN202111486159.5A priority Critical patent/CN114157372B/zh
Publication of CN114157372A publication Critical patent/CN114157372A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114157372B publication Critical patent/CN114157372B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/38Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
    • H04B1/40Circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

本发明提供了一种相位与插损的测量装置及方法。该装置包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为校准通道。本发明使得单一装置具备了宽带信号分析仪、宽带信号源和矢量网络分析仪的部分能力,极大拓展了该装置的应用领域,降低了系统体积与成本。

Description

一种相位与插损的测量装置及方法
技术领域
本发明属于射频微波测试技术领域,具体涉及一种相位与插损的测量装置及方法。
背景技术
本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息,不必然构成在先技术。
信号收发装置同时具有信号接收通道、信号发生通道,具备宽带信号分析功能和宽带信号接收功能,广泛应用于半导体测试、物联网测试、5G测试等自动测试领域。
现有的信号收发装置的拓扑方案如图1所示,主要由DAC、混频器(包括调制器、解调器)、发生通道(包括放大、衰减、分段滤波等环节)、接收通道(包括衰减、放大、分段滤波等环节)、ADC和本振(含本振1、本振2)等部分组成,其中,DAC、混频器(含调制器)、发生通道和本振1用于宽带信号(含点频)的发生,接收通道、混频器(含解调器)、ADC和本振2用于宽带信号的采集与分析。本振1与本振2共参考、信号相参,可以独立控制,也可以互相为相应通道提供本振信号,即共本振。
现有的信号收发装置经过功率校准之后可以进行被测件的插损值测量。首先,通过校准装置(包括电缆、直通件等)对信号发生端口与信号输入端口进行互联,信号发生部分输出设定功率的射频信号,信号接收部分获得测量值A(作为参考值)。然后,将被测件连接到信号发生端口与信号输入端口之间(仍然包括校准电缆),信号接收部分获得第二个测量值B。测量值B与测量值A的差值,就是被测件的插损值,但是现有的信号收发装置不能实现被测件相位的测量。
现有的信号收发装置只能实现宽带信号发生、宽带信号分析和插损测量,不能实现被测件的相位测量,也不能实现被测件的S11(驻波比)测量。在自动测试系统中,为了实现被测件S21(插损、相位)、S11的测量,就需要为系统配置矢量网络分析装置,不但增加了系统成本和体积,也不利于集成效率的提升。
发明内容
本发明为了解决上述问题,提出了一种相位与插损的测量装置及方法,本发明以已有的宽带信号收发装置为基础,提出了除具备宽带信号分析、宽带信号发生能力外,还能具备部分网络测量能力(S21、S11)的信号收发装置拓扑,使得单一装置具备了宽带信号分析仪、宽带信号源和矢量网络分析仪的部分能力,极大拓展了该装置的应用领域,降低了系统体积与成本。
根据一些实施例,本发明采用如下技术方案:
第一个方面,本发明提供了一种相位与插损的测量装置。
一种相位与插损的测量装置,包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为校准通道。
进一步地,所述信号收发装置包括:信号发生部分和信号接收部分,所述信号发生部分包括依次连接的发生通道、第一混频器、数字模拟转换器;所述信号接收部分包括依次连接的模拟数字转换器、第二混频器和接收通道,所述第一混频器通过第一开关连接第一本振和第二本振,所述第二混频器通过第二开关连接第一本振和第二本振。
更进一步地,所述发生通道和接收通道均设有衰减器、放大器和滤波器。
第二个方面,本发明提供了一种相位与插损的测量方法。
一种相位与插损的测量方法,采用第一个方面所述的相位与插损的测量装置实现校准过程和测量过程,所述校准过程包括:
信号发生端口与信号输入端口之间连接直通校准件,第一选择开关切换至信号发生端口,第二选择开关切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A1、相位测量值Φ1;
第一选择开关切换至校准通道,第二选择开关切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B1、相位测量值Ψ1;
计算得到校准件与校准通道之间的相位差值δ=Φ1-Ψ1;
重复相位差值计算的过程,完成全部频点的校准。
进一步地,所述测量过程包括:
第一选择开关切换至信号发生端口,第二选择开关切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A2、相位测量值Φ2;
第一选择开关切换至校准通道,第二选择开关切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B2、相位测量值Ψ2;
计算得到被测件插损为A2-A1,被测件相移为Φ2-Ψ2-δ;
重复被测件相移计算的过程,完成全部频点插损和相移的测量。
第三个方面,本发明提供了一种相位与插损的测量装置。
一种相位与插损的测量装置,包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为直通通道,在信号收发装置与信号发生端口之间设有信号耦合装置,所述信号耦合装置连接第一选择开关。
进一步地,所述信号收发装置包括:信号发生部分和信号接收部分,所述信号发生部分包括依次连接的发生通道、第一混频器、数字模拟转换器;所述信号接收部分包括依次连接的模拟数字转换器、第二混频器和接收通道,所述第一混频器通过第一开关连接第一本振和第二本振,所述第二混频器通过第二开关连接第一本振和第二本振。
更进一步地,所述发生通道和接收通道均设有衰减器、放大器和滤波器。
第四个方面,本发明提供了一种相位与插损的测量方法。
一种相位与插损的测量方法,采用第三个方面所述的相位与插损的测量装置,包括:
获取参考信号、反射信号和传输信号;
基于所述参考信号、反射信号和传输信号控制等时间间隔进行采样,通过误差校正消除采样时间的非同时引入的相位延迟。
进一步地,所述参考信号的采样过程包括:第一选择开关切换到信号耦合装置的R端,第二选择开关切换到直通通道,建立完成R端到信号收发装置中模拟数字转换器的参考信号采集通道;
所述反射信号的采样过程包括:第一选择开关切换到信号耦合装置的A端,第二选择开关切换到直通通道,建立完成A端到信号收发装置中模拟数字转换器的参考信号采集通道;
所述传输信号的采样过程包括:第一选择开关切换到信号耦合装置的R端,第二选择开关切换到信号输入端口,建立完成R端到信号收发装置中模拟数字转换器的参考信号采集通道。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
本发明除具备现有信号收发装置的宽带信号发生、宽带信号发生的功能外,通过开关、校准通道的增加与构建,可以实现被测件S21参数(含插损、相位)的测量,校准通道的引入有效解决了被测件没有参考相位的问题。
本发明除具备现有信号收发装置的宽带信号发生、宽带信号发生的功能外,通过信号耦合装置、开关、直通通道的增加与构建,通过分时等间隔采样得到参考信号R、反射信号A、传输信号B可以实现被测件S21、S11参数的测量。
本发明通过硬件拓扑1有限个元器件的增加与软件控制算法,使现有的信号收发装置具备了S21测量功能,有效提升了系统集成度、降低了系统集成成本。
本发明通过硬件拓扑2有限个元器件的增加与软件控制算法,使现有的信号收发装置具备了S11、S21测量功能,有效提升了系统集成度、降低了系统集成成本。
附图说明
构成本发明的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。
图1是本发明示出的现有的信号收发装置的拓扑方案图;
图2是本发明示出的实施例一的相位与插损的测量装置图;
图3是本发明示出的实施例二的相位与插损的测量方法的校准框图;
图4是本发明示出的实施例二的相位与插损的测量方法的测量框图;
图5是本发明示出的实施例三的相位与插损的测量装置图;
图6是本发明示出的实施例四的相位与插损的测量方法的测量框图。
具体实施方式:
下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。
应该指出,以下详细说明都是例示性的,旨在对本发明提供进一步的说明。除非另有指明,本文使用的所有技术和科学术语具有与本发明所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本发明的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
本发明中,术语如“相连”、“连接”等应做广义理解,表示可以是固定连接,也可以是一体地连接或可拆卸连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的相关科研或技术人员,可以根据具体情况确定上述术语在本发明中的具体含义,不能理解为对本发明的限制。
目前,对于相位与插损的测量主要是通过矢量网络分析仪实现的。矢量网络分析仪在相位与插损测量方面,技术指标高,速度快,可以完成全双端口参数测量,但是矢量网络分析仪受限于拓扑架构,只能应用于网络参数测量领域,不能用于宽带信号分析、宽带信号发生,而具备宽带信号分析、宽带信号发生能力的矢量信号收发设备又不具备相位与插损(部分网络参数测量)的测量能力,造成在需要同时完成宽带信号发生、信号分析与网络参数分析的场景下,测试系统需要同时集成宽带信号发生、信号分析与网络参数分析等3种设备。本发明以已有的宽带信号收发装置为基础,提出了除具备宽带信号分析、宽带信号发生能力外,还能具备部分网络测量能力(S21、S11)的信号收发装置拓扑,并基于该拓扑实现相位与插损测量的方法。本发明使得单一装置具备了宽带信号分析仪、宽带信号源和矢量网络分析仪的部分能力,极大拓展了该装置的应用领域,降低了系统体积与成本。下面公开了多种实施方案:
实施例一,本实施例提供了一种相位与插损的测量装置。
一种相位与插损的测量装置,包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为校准通道。
作为一种或多种实施方式,信号收发装置包括:信号发生部分和信号接收部分,所述信号发生部分包括依次连接的发生通道、第一混频器、数字模拟转换器;所述信号接收部分包括依次连接的模拟数字转换器、第二混频器和接收通道,所述第一混频器通过第一开关连接第一本振和第二本振,所述第二混频器通过第二开关连接第一本振和第二本振。发生通道和接收通道均设有衰减器、放大器和滤波器。
如图2所示,相比于现有的拓扑结构,通过有限数量元器件的增加实现了完整的S21测量功能(含插损和相位)。拓扑1在电路结构上增加了校准通道,发生电路部分增加了开关S1(用于实现信号发生端口与校准通道的切换),接收电路部分增加了开关S2(用于实现信号输入端口与校准通道的切换)。
实施例二,本实施例提供了一种相位与插损的测量方法。
一种相位与插损的测量方法,采用第一个方面所述的相位与插损的测量装置实现校准过程和测量过程,所述校准过程包括:
信号发生端口与信号输入端口之间连接直通校准件,第一选择开关切换至信号发生端口,第二选择开关切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A1、相位测量值Φ1;
第一选择开关切换至校准通道,第二选择开关切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B1、相位测量值Ψ1;
计算得到校准件与校准通道之间的相位差值δ=Φ1-Ψ1;
重复相位差值计算的过程,完成全部频点的校准。
本实施例的拓扑1进行校准时的连接电路图如图3所示,实现校准过程为:
步骤1:信号发生端口与信号输入端口之间连接直通校准件,第一选择开关S1切换至信号发生端口,第二选择开关S2切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A1、相位测量值Φ1。
步骤2:第一选择开关S1切换至校准通道,第二选择开关S2切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B1、相位测量值Ψ1。
步骤3:计算得到校准件与校准通道之间的相位差值δ=Φ1-Ψ1。
步骤4:重复步骤1~步骤3,完成全部频点的校准。
本实施例拓扑1进行测量时的连接电路图如图4所示,实现测量过程为:
步骤1:第一选择开关S1切换至信号发生端口,第二选择开关S2切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A2、相位测量值Φ2。
步骤2:第一选择开关S1切换至校准通道,第二选择开关S2切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B2、相位测量值Ψ2。
步骤3:计算得到被测件插损为A2-A1,被测件相移为Φ2-Ψ2-δ。
步骤4:重复步骤1~步骤3,完成全部频点插损、相移(S21)的测量。
实施例三,本实施例提供了一种相位与插损的测量装置。
一种相位与插损的测量装置,包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为直通通道,在信号收发装置与信号发生端口之间设有信号耦合装置,所述信号耦合装置连接第一选择开关。
其中,信号耦合装置是一般性的说法,全部能够实现信号耦合、提取的装置都包含在内,包含但不仅仅包含电桥、耦合器及其组合件。(射频微波行业常用、常见的装置),属于现有装置。
作为一种或多种实施方式,所信号收发装置包括:信号发生部分和信号接收部分,所述信号发生部分包括依次连接的发生通道、第一混频器、数字模拟转换器;所述信号接收部分包括依次连接的模拟数字转换器、第二混频器和接收通道,所述第一混频器通过第一开关连接第一本振和第二本振,所述第二混频器通过第二开关连接第一本振和第二本振。发生通道和接收通道均设有衰减器、放大器和滤波器。
如图5所示,相比于现有的拓扑结构,通过有限数量元器件的增加与逻辑的配合实现了完整的S21、S11的测量功能。拓扑2在电路结构上增加了直通通道,发生电路部分增加了信号耦合分离装置(包括但不限于电桥、耦合器)、开关S1(用于实现信号发生端口与直通通道的切换),接收电路部分增加了开关S2(用于实现信号输入端口与直通通道的切换)。
实施例四,本实施例提供了一种相位与插损的测量方法。
一种相位与插损的测量方法,采用第三个方面所述的相位与插损的测量装置,包括:
获取参考信号、反射信号和传输信号;
基于所述参考信号、反射信号和传输信号控制等时间间隔进行采样,通过误差校正消除采样时间的非同时引入的相位延迟。
本实施例中拓扑2中实现S11、S21测量计算需要的参考信号R、反射信号A、传输信号B的获取方式如下:
参考信号R:第一选择开关S1切换到信号耦合装置的R端,第二选择开关S2切换到C端(直通通道),建立完成R端到ADC的参考信号采集通道。
反射信号A:第一选择开关S1切换到信号耦合装置的A端,第二选择开关S2切换到C端(直通通道),建立完成A端到ADC的参考信号采集通道。
传输信号B:第一选择开关S1切换到信号耦合装置的R端,第二选择开关S2切换到B端(信号是输入端口),建立完成R端到ADC的参考信号采集通道。
ADC模数转换芯片以轮询的方式实现对R、A、B三路射频信号进行采样,通过严格的采样时刻设定消除分时采样带来的相位影响,证明过程如下:
设RF射频信号为:
L0本振信号表示为:
射频信号经过被测件后:tdut为被测网络延迟(1)
传输信号与本振信号混频滤波后得中频信号IFB(令ωRFLO=ωIF):
参考信号与本振信号混频滤波后得中频信号IFR
假设tB时刻采集测试信号,参考采样时刻tR
计算传输信号与参考信号间的B/R相位为:
ωIF(tB-tR)+ωRFtdut
(6)
从公式中可看出,当tB-tR为定值(即等时间间隔进行采样)时,通过误差校正的方式可以消除采样时间的非同时引入的相位延迟,信号收发装置拓扑2可以采用分时等间隔采样的方式实现S11、S21的测量。图6所示为拓扑2进行S21、S11测量时的连接框图。
由上述过程可以看出,等时间间隔采集到的信号没有引入相位影响。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种相位与插损的测量装置,包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,其特征在于,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为校准通道;
所述信号收发装置包括:信号发生部分和信号接收部分,所述信号发生部分包括依次连接的发生通道、第一混频器、数字模拟转换器;所述信号接收部分包括依次连接的模拟数字转换器、第二混频器和接收通道,所述第一混频器通过第一开关连接第一本振和第二本振,所述第二混频器通过第二开关连接第一本振和第二本振;
ADC模数转换芯片以轮询的方式实现对R、A、B三路射频信号进行采样,通过严格的采样时刻设定消除分时采样带来的相位影响,证明过程如下:
设RF射频信号为:
L0本振信号表示为:
射频信号经过被测件后:,/>为被测网络延迟(1)
传输信号与本振信号混频滤波后得中频信号(令/>):
(2)
参考信号与本振信号混频滤波后得中频信号
(3)
假设时刻采集测试信号 ,参考采样时刻/>
(4)
(5)
计算传输信号与参考信号间的B/R 相位为:
(6)
从公式中可看出,当为定值(即等时间间隔进行采样)时,通过误差校正的方式消除采样时间的非同时引入的相位延迟,信号收发装置拓扑采用分时等间隔采样的方式实现S11、S21的测量;
由上述过程看出,等时间间隔采集到的信号没有引入相位影响。
2.根据权利要求1所述的相位与插损的测量装置,其特征在于,所述发生通道和接收通道均设有衰减器、放大器和滤波器。
3.一种相位与插损的测量方法,其特征在于,采用权利要求1-2任一项所述的相位与插损的测量装置实现校准过程和测量过程,所述校准过程包括:
信号发生端口与信号输入端口之间连接直通校准件,第一选择开关切换至信号发生端口,第二选择开关切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A1、相位测量值Φ1;
第一选择开关切换至校准通道,第二选择开关切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B1、相位测量值Ψ1;
计算得到校准件与校准通道之间的相位差值=Φ1-Ψ1;
重复相位差值计算的过程,完成全部频点的校准。
4.根据权利要求3所述的相位与插损的测量方法,其特征在于,所述测量过程包括:
第一选择开关切换至信号发生端口,第二选择开关切换至信号输入端口,信号发生部分输出设定频率、功率的射频信号,信号接收部分获得幅度测量值A2、相位测量值Φ2;
第一选择开关切换至校准通道,第二选择开关切换至校准通道,信号接收部分获得幅度测量值B2、相位测量值Ψ2;
计算得到被测件插损为A2-A1,被测件相移为Φ2-Ψ2-
重复被测件相移计算的过程,完成全部频点插损和相移的测量。
5.一种相位与插损的测量装置,包括:依次连接的信号发生端口、信号收发装置和信号输入端口,其特征在于,在信号发生端口与信号输入端口之间设有与信号收发装置并联的通道,所述信号收发装置与通道和信号发生端口之间设有第一选择开关,所述信号收发装置与通道和信号输入端口之间设有第二选择开关;所述通道为直通通道,在信号收发装置与信号发生端口之间设有信号耦合装置,所述信号耦合装置连接第一选择开关;
ADC模数转换芯片以轮询的方式实现对R、A、B三路射频信号进行采样,通过严格的采样时刻设定消除分时采样带来的相位影响,证明过程如下:
设RF射频信号为:
L0本振信号表示为:
射频信号经过被测件后:,/>为被测网络延迟(1)
传输信号与本振信号混频滤波后得中频信号(令/>):
(2)
参考信号与本振信号混频滤波后得中频信号
(3)
假设时刻采集测试信号 ,参考采样时刻/>
(4)
(5)
计算传输信号与参考信号间的B/R 相位为:
(6)
从公式中可看出,当为定值(即等时间间隔进行采样)时,通过误差校正的方式消除采样时间的非同时引入的相位延迟,信号收发装置拓扑采用分时等间隔采样的方式实现S11、S21的测量;
由上述过程看出,等时间间隔采集到的信号没有引入相位影响。
6.根据权利要求5所述的相位与插损的测量装置,其特征在于,所述信号收发装置包括:信号发生部分和信号接收部分,所述信号发生部分包括依次连接的发生通道、第一混频器、数字模拟转换器;所述信号接收部分包括依次连接的模拟数字转换器、第二混频器和接收通道,所述第一混频器通过第一开关连接第一本振和第二本振,所述第二混频器通过第二开关连接第一本振和第二本振。
7.根据权利要求6所述的相位与插损的测量装置,其特征在于,所述发生通道和接收通道均设有衰减器、放大器和滤波器。
8.一种相位与插损的测量方法,其特征在于,采用权利要求5-7任一项所述的相位与插损的测量装置,包括:
获取参考信号、反射信号和传输信号;
基于所述参考信号、反射信号和传输信号控制等时间间隔进行采样,通过误差校正消除采样时间的非同时引入的相位延迟。
9.根据权利要求8所述的相位与插损的测量方法,其特征在于,所述参考信号的采样过程包括:第一选择开关切换到信号耦合装置的R端,第二选择开关切换到直通通道,建立完成R端到信号收发装置中模拟数字转换器的参考信号采集通道;
所述反射信号的采样过程包括:第一选择开关切换到信号耦合装置的A端,第二选择开关切换到直通通道,建立完成A端到信号收发装置中模拟数字转换器的参考信号采集通道;
所述传输信号的采样过程包括:第一选择开关切换到信号耦合装置的R端,第二选择开关切换到信号输入端口,建立完成R端到信号收发装置中模拟数字转换器的参考信号采集通道。
CN202111486159.5A 2021-12-07 2021-12-07 一种相位与插损的测量装置及方法 Active CN114157372B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111486159.5A CN114157372B (zh) 2021-12-07 2021-12-07 一种相位与插损的测量装置及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111486159.5A CN114157372B (zh) 2021-12-07 2021-12-07 一种相位与插损的测量装置及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114157372A CN114157372A (zh) 2022-03-08
CN114157372B true CN114157372B (zh) 2024-04-16

Family

ID=80453505

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111486159.5A Active CN114157372B (zh) 2021-12-07 2021-12-07 一种相位与插损的测量装置及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114157372B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117650859B (zh) * 2024-01-29 2024-04-26 南京派格测控科技有限公司 一种混频组件的通道间相位差的测试方法及系统

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105450244A (zh) * 2014-09-23 2016-03-30 英飞凌科技股份有限公司 具有测试能力的rf接收器
CN107104743A (zh) * 2017-05-23 2017-08-29 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种变频t/r组件通道间相位一致性测试系统及方法
CN108140932A (zh) * 2015-10-29 2018-06-08 康普技术有限责任公司 具有增强的带间隔离的校准电路板和相关的集成天线系统
CN110907691A (zh) * 2019-12-05 2020-03-24 中国人民解放军92942部队 基于电阻分压分时采样自校准的宽量程直流电压测量装置
CN111913146A (zh) * 2020-06-30 2020-11-10 中国科学院国家授时中心 一种基于gnss信号质量评估的系统校准测试方法
CN112230191A (zh) * 2020-09-11 2021-01-15 中国人民解放军63892部队 一种耦合式实时校准的多通道相参信号模拟装置及方法
CN112583497A (zh) * 2020-12-16 2021-03-30 重庆两江卫星移动通信有限公司 一种基于实数单音信号的相位测量装置及方法
CN113138371A (zh) * 2021-04-16 2021-07-20 东南大学 用于射频链路的幅度相位快速校准的宽带近场测量系统及方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9300408B2 (en) * 2013-11-04 2016-03-29 Alcatel-Lucent Shanghai Bell Co., Ltd Methods and systems for calibrating LTE antenna systems

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105450244A (zh) * 2014-09-23 2016-03-30 英飞凌科技股份有限公司 具有测试能力的rf接收器
CN108140932A (zh) * 2015-10-29 2018-06-08 康普技术有限责任公司 具有增强的带间隔离的校准电路板和相关的集成天线系统
CN107104743A (zh) * 2017-05-23 2017-08-29 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种变频t/r组件通道间相位一致性测试系统及方法
CN110907691A (zh) * 2019-12-05 2020-03-24 中国人民解放军92942部队 基于电阻分压分时采样自校准的宽量程直流电压测量装置
CN111913146A (zh) * 2020-06-30 2020-11-10 中国科学院国家授时中心 一种基于gnss信号质量评估的系统校准测试方法
CN112230191A (zh) * 2020-09-11 2021-01-15 中国人民解放军63892部队 一种耦合式实时校准的多通道相参信号模拟装置及方法
CN112583497A (zh) * 2020-12-16 2021-03-30 重庆两江卫星移动通信有限公司 一种基于实数单音信号的相位测量装置及方法
CN113138371A (zh) * 2021-04-16 2021-07-20 东南大学 用于射频链路的幅度相位快速校准的宽带近场测量系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN114157372A (zh) 2022-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6529844B1 (en) Vector network measurement system
US9176174B1 (en) Systems and methods for simultaneously measuring forward and reverse scattering parameters
US10042029B2 (en) Calibration of test instrument over extended operating range
CN107271938B (zh) 一种混频器矢量特性测量方法
GB2466028A (en) High frequency measurement system
GB2587066A (en) Method for compensating gain flatness of transceiver
CN210347790U (zh) 通用微波元器件自动测试系统
CN106249066B (zh) 用于校准电缆的方法和相应的测量设备
US6348804B1 (en) Vector network analyzer
CN114157372B (zh) 一种相位与插损的测量装置及方法
CN108627696B (zh) 一种矢量网络的测量装置及其测量方法
CN114252722A (zh) 实现矢量信号收发的高带宽矢量网络分析仪系统
US4968908A (en) Method and apparatus for wide band phase modulation
CN112702237B (zh) 实现针对mimo通信系统通道间时延和相位差进行计算测量的方法
CN114280462B (zh) 一种射频集成电路测试装置及测试平台
CN112530825B (zh) 在片多参数测量装置
RU2276377C1 (ru) Устройство для измерения амплитудно-частотных и фазочастотных характеристик четырехполюсников с преобразователем частоты
Ávila et al. A LabVIEW application for the characterization of high-frequency resonant sensors using a software-defined radio platform
CN216649701U (zh) 一种下变频通道群时延测试校准装置
CN110988548A (zh) 微波变频器的测试方法及其平台
RU2099729C1 (ru) Измеритель шумовых характеристик сверхвысокочастотных и высокочастотных передатчиков
CN217212975U (zh) 数字源单接收网络矢量分析系统
EP4145149A1 (en) Broadband measurement system and measurement method for broadband property
Thompson et al. The UK national standards of RF and microwave attenuation-a review.
KR100438543B1 (ko) 이동 통신 기지국의 송신 전력 측정 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant