CN114152589A - 一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统 - Google Patents
一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114152589A CN114152589A CN202111232381.2A CN202111232381A CN114152589A CN 114152589 A CN114152589 A CN 114152589A CN 202111232381 A CN202111232381 A CN 202111232381A CN 114152589 A CN114152589 A CN 114152589A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- optical
- terahertz
- frequency
- frequency comb
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 116
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 33
- 210000001520 comb Anatomy 0.000 claims abstract description 21
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000010009 beating Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 26
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 21
- 238000001328 terahertz time-domain spectroscopy Methods 0.000 abstract description 12
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 101000638194 Homo sapiens Transmembrane emp24 domain-containing protein 4 Proteins 0.000 description 2
- 102100031986 Transmembrane emp24 domain-containing protein 4 Human genes 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 208000010376 orofacial cleft 2 Diseases 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
- G01N21/3586—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation by Terahertz time domain spectroscopy [THz-TDS]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，解决当前太赫兹时域光谱技术面成像扫描时间长、太赫兹成像技术无法对物体宽太赫兹谱信息成像，以及高光谱技术无法在太赫兹频段成像的问题。该系统包括单频激光器、光学分束器、第一光频梳光源、第二光频梳光源、光学耦合器、太赫兹光电探测器、太赫兹天线以及太赫兹相机；单频激光器出射的激光经第一光频梳光源、第二光频梳光源后产生两路光频梳信号与单频信号光在光学耦合器内相互拍频后被太赫兹光电探测器接收后输出两种太赫兹的频率梳至太赫兹天线，接着由太赫兹天线辐射到待测物品表面；太赫兹相机通过各个像素阵元输出的电信号获取待测物品的吸收谱或者反射谱信息。
Description
技术领域
本发明涉及微波光子、太赫兹及高光谱成像领域，特别涉及一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统。
背景技术
太赫兹波是处于微波与红外光之间的电磁波，频率在0.1THz到10THz范围之间，波长在0.03到3mm范围之间。由于物质的THz光谱包含丰富的物理和化学信息,使得其在基础研究、工业生产及军事应用领域具有深远研究价值和重要的应用前景。
当前太赫兹应用主要包含两个方面：太赫兹时域光谱和太赫兹成像。太赫兹时域光谱技术的基本原理是：利用飞秒脉冲产生并探测时间分辨的THz电场，通过傅立叶变换获得被测物品的光谱信息，相关记载详见文献【Neu,Jens,and Charles A.Schmuttenmaer."Tutorial:An introduction to terahertz time domain spectroscopy(THz-TDS)."Journal of Applied Physics 124.23(2018): 231101.】。然而当前太赫兹时域光谱技术只能实现针对物品单点的光谱分析，如果要实现对物体整面的光谱分析需要使用双轴位移台进行扫描分析，扫描成像需要的时间较长，无法实时成像，且随着空间分辨率的提高及扫描面积的加大，所需要的时间越长，使得这种方式的发展在很多应用中受到限制。
太赫兹成像技术也是利用太赫兹射线照射被测物，通过物品的透射或反射获得样品的信息，进而成像，相关记载详见文献【Federici,JohnF.,etal. "THz imaging andsensing for security applications—explosives,weapons and drugs."Semiconductor Science and Technology 20.7(2005):S266.】。然而太赫兹成像技术仅仅利用单频或者窄带的太赫兹信号进行成像，不能像太赫兹时域光谱技术一样实现对物体宽太赫兹谱信息的成像。高光谱成像技术在对物体进行成像的同时在光谱的维度进行了细致的分割，综合了太赫兹时域光谱和太赫兹成像两者的优点，不但能得到物体轮廓图像还能得到物体在每一个光谱频段的光谱信息，相关记载详见文献【Shippert,Peg."Introduction to hyperspectral imageanalysis."Online Journal of SpaceCommunication 2.3 (2003):8.】。然而，目前的高光谱成像技术仅仅能够在光学频段进行，无法在太赫兹频段进行。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，利用双相干光频梳技术实现物体的高光谱太赫兹成像，解决当前太赫兹时域光谱技术面成像扫描时间长、太赫兹成像技术无法对物体宽太赫兹谱信息成像，以及高光谱技术无法在太赫兹频段成像的问题。
本发明的具体技术方案如下：
一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，包括单频激光器、光学分束器、第一光频梳光源、第二光频梳光源、光学耦合器、太赫兹光电探测器、太赫兹天线以及太赫兹相机；
单频激光器出射的激光经光学分束器后分为三路信号光，第一路单频信号光通过第一光频梳光源后产生第一光频梳信号进入光学耦合器；第二路单频信号光直接进入光学耦合器；第三路单频信号光通过第二光频梳光源后产生第二光频梳信号进入光学耦合器；
第一光频梳信号、第二光频梳信号以及第二路单频信号光在光学耦合器内相互拍频后被太赫兹光电探测器接收，之后经太赫兹探测器同时输出两种太赫兹的频率梳至太赫兹天线；所述两个太赫兹频率梳初始频率为均相同，两个太赫兹频率梳的梳齿间隔分别为f1和f2，且两个太赫兹频率梳的梳齿根数相同；
两个太赫兹频率梳通过太赫兹天线辐射到待测物品表面；
太赫兹相机的放置在待测物品周边的不同位置，通过各个像素阵元输出的电信号获取待测物品的吸收谱或者反射谱信息。
进一步地，上述第一光频梳光源包括第一微波源、第一电光调制器阵列、第一光学放大器、第一高非线性光纤模块和第一光学滤波器；
第一电光调制器阵列射频输入端与第一微波源相连，第一电光调制器阵列输出端与第一光学放大器相连；第一光学放大器输出端与第一高非线性光纤模块输入端相连，第一高非线性光纤输出端与第一光学滤波器输入端相连，第一光学滤波器输出端与光学耦合器一个输入端口相连。
进一步地，上述第二光频梳光源包括第二微波源、第二电光调制器阵列、第一光学放大器、第二高非线性光纤模块和第二光学滤波器；
第二电光调制器阵列射频输入端与第二微波源相连，第二电光调制器阵列输出端与第二光学放大器相连；第二光学放大器输出端与第二高非线性光纤模块输入端相连，第二高非线性光纤输出端与第一光学滤波器输入端相连，第二光学滤波器输出端与光学耦合器一个输入端口相连。
进一步地，上述第一微波源的频率为f1，第二微波源的频率为f2，第一微波源与第二微波源重频之差df＝f1-f2，且f1和f2均为df的整数倍。
本发明的有益效果在于：
1、与传统的太赫兹时域光谱技术相比，本发明采用双光频梳光源生成双梳状太赫兹信号，物体对太赫兹信号进行吸收或者反射，再通过太赫兹相机对双太赫兹信号进行混频得到低频的电信号，最后通过电信号频谱反推物质每个像素点的太赫兹谱信息。实现了光谱-THz-电信号频谱信息的直接映射，具备结构简单、计算量小、探测速度快的优点。
2、与传统的太赫兹时域光谱技术相比，采用基于阵列成像的太赫兹相机成像代替单像素的太赫兹探测器，在分析各个像素的光谱信息的同时进行面成像。
3、相比基于单频率的太赫兹辐射源进行强度成像的太赫兹成像技术，该发明不仅可实现对物质的几何成像，而且可以同时实现物质对太赫兹频谱的吸收或者反射谱信息进行测量，获取物质类型信息，从而有效的实现了物体的高光谱太赫兹成像。
附图说明
图1基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统结构图。
图2a为第一高非线性光纤模块HNLF1输出光谱图。
图2b为第二高非线性光纤模块HNLF1输出光谱图。
图3a为一种太赫兹频率梳的示意图；
图3b为另一种太赫兹频率梳的示意图；
图4为太赫兹相机输出的电磁频谱图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书附图对本发明的具体实施方式做详细的说明，显然所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明的保护的范围。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
同时在本发明的描述中，需要说明的是，术语“第一、第二或第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本发明中除非另有明确的规定和限定，术语“安装、相连、连接”应做广义理解，例如：可以是固定连接、可拆卸连接或一体式连接：同样可以是机械连接、电连接或直接连接，也可以通过中间媒介间接相连，也可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本实施例提供了一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，如图1 所示：包括单频激光器LD、光学分束器PS、第一光频梳光源OFC1、第二光频梳光源0FC2、光学耦合器PC、太赫兹光电探测器PD、太赫兹天线Antenna和太赫兹相机Camera；
单频激光器LD输出端与光学分束器PS的输入端相连，光学分束器PS包含三个输出端口；
光学分束器PS的一路输出端(图1中A1端口)与第一光频梳光源OFC1输入端相连，第一光频梳光源OFC1输出端与光学耦合器PC的一个输入端(图1中A2端口)连接；
光学分束器PS的一路输出端(图1中B1端口)与第二光频梳光源OFC2输入端相连，第二光频梳光源OFC2输出端与光学耦合器PC的一个输入端(图1 中B2端口)连接；
光学分束器PS的一路输出端(图1中C1端口)与直接与光学耦合器PC的一个输入端(图1中C2端口)相连；
光学耦合器PC的输出端与太赫兹光电探测器PD输入端连接，太赫兹光电探测器PD输出端与太赫兹天线Antenna输入端连接，待测物品放置在太赫兹天线前端，太赫兹相机Camera放置在待测物品周边，用于接收获取待测物品的吸收谱或者反射谱信息。
具体来说，第一光频梳光源OFC1包括第一微波源f1、第一电光调制器阵列 EOMA1、第一光学放大器EDFA1、第一高非线性光纤模块HNLF1和第一光学滤波器OF1；第一电光调制器阵列EOMA1射频输入端与第一微波源f1相连；单频激光通过第一电光调制器阵列EOMA1后转换为具有多根梳齿的光频梳，其中心频率与单频激光相同，频谱的重复间隔与第一微波源f1频率相同；
第一电光调制器阵列EOMA1输出端与第一光学放大器EDFA1相连，通过第一光学放大器实现对种子光频梳信号进行放大；
第一光学放大器EDFA1输出端与第一高非线性光纤模块HNLF1输入端相连，放大后的种子光频梳通过第一高非线性光纤模块HNLF1的非线性作用实现光谱的展宽；第一高非线性光纤模块HNLF1输出端与第一光学滤波器OF1输入端相连，实现对展宽后光谱的滤波，将无用光谱滤除，留下第M到第M+L根光频梳梳齿用于后续生成梳状太赫兹谱，其中第M根梳齿的频率记为f0+fT；其中图2a 为第一高非线性光纤模块HNLF1输出光谱图，虚线为第一光学滤波器形状示意图。
具体来说，第二光频梳光源OFC2包括第二微波源f2、第二电光调制器阵列 EOMA2、第二光学放大器EDFA2、第二高非线性光纤模块HNLF2和第二光学滤波器OF2；第二光频梳光源OFC2对单频激光的处理过程和上面所述的第一光频梳光源OFC1一致，不同之处是：第二微波源f2的频率与第一微波源f1的频率不同；由于第一微波源f1频率为f1，第二微波源f2频率为f2，两者频率之差为： df＝f1-f2，且f1和f2均为df的整数倍。第二光学滤波器滤出第二光频梳的第 N到N+L根光频梳梳齿，滤波后两个光频梳的第一根梳齿频率f0+fT可以选择为相同的光谱频率；如图2b所示为第二高非线性光纤模块HNLF2输出光谱图，虚线为第二光学滤波器形状示意图。
该成像系统的工作原理如下：
单频激光器出射的激光经光学分束器后分为三路单频信号光，第一路单频信号光通过第一光频梳光源后产生第一光频梳信号进入光学耦合器；第二路单频信号光直接进入光学耦合器；第三路单频信号光通过第二光频梳光源后产生第二光频梳信号进入光学耦合器；
第一光频梳信号、第二光频梳信号以及第二路单频信号光在光学耦合器内相互拍频后被太赫兹光电探测器接收，之后经太赫兹探测器同时输出两种太赫兹的频率梳至太赫兹天线；这两个太赫兹频率梳初始频率为均相同，记为fT，两个太赫兹频率梳的梳齿间隔分别为f1和f2(即分别为第一微波源和第二微波源的频率)，且两个太赫兹频率梳的梳齿根数相同；如图3a和图3b所示，两个太赫兹频率梳初始频率为fT，梳齿间隔分别为f1和f2；
两个太赫兹频率梳通过太赫兹天线辐射到待测物品表面；
光电探测器输出端与太赫兹天线输入端相连，待测物品放置在太赫兹天线前端，两个太赫兹频率梳通过天线辐射到待测物品表面，实现对物品的均匀覆盖。
太赫兹相机对准待测物品，根据太赫兹相机的不同位置，两个太赫兹频率梳的透射谱或者反射谱均会打到太赫兹相机的每一个像素阵元上，透射或者反射的太赫兹频率梳包含待测物品的吸收或者反射谱信息；太赫兹相机的每一个探测器阵元响应物体不同位置的吸收谱或者反射谱信息，输出的电磁频谱如图4 所示。电磁频谱各个频率分量的幅度与物质的太赫兹吸收谱或者反射谱严格对应，根据太赫兹相机各个阵元电磁频谱分布可以反推待测物品的吸收谱或者反射谱。
综上，本发明提出的基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，利用双相干光频梳技术实现物体的高光谱太赫兹成像，解决当前太赫兹时域光谱技术面成像扫描时间长、太赫兹成像技术无法对物体宽太赫兹谱信息成像高光谱技术无法在太赫兹频段成像的问题，在医疗和安检等领域具有重要的应用前景。
Claims (4)
1.一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，其特征在于：
包括单频激光器、光学分束器、第一光频梳光源、第二光频梳光源、光学耦合器、太赫兹光电探测器、太赫兹天线以及太赫兹相机；
单频激光器出射的激光经光学分束器后分为三路信号光，第一路单频信号光通过第一光频梳光源后产生第一光频梳信号进入光学耦合器；第二路单频信号光直接进入光学耦合器；第三路单频信号光通过第二光频梳光源后产生第二光频梳信号进入光学耦合器；
第一光频梳信号、第二光频梳信号以及第二路单频信号光在光学耦合器内相互拍频后被太赫兹光电探测器接收，之后经太赫兹探测器同时输出两种太赫兹的频率梳至太赫兹天线；所述两个太赫兹频率梳初始频率为均相同，两个太赫兹频率梳的梳齿间隔分别为f1和f2，且两个太赫兹频率梳的梳齿根数相同；
两个太赫兹频率梳通过太赫兹天线辐射到待测物品表面；
太赫兹相机的放置在待测物品周边的不同位置，通过各个像素阵元输出的电信号获取待测物品的吸收谱或者反射谱信息。
2.根据权利要求1所述的基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，其特征在于：所述第一光频梳光源包括第一微波源、第一电光调制器阵列、第一光学放大器、第一高非线性光纤模块和第一光学滤波器；
第一电光调制器阵列射频输入端与第一微波源相连，第一电光调制器阵列输出端与第一光学放大器相连；第一光学放大器输出端与第一高非线性光纤模块输入端相连，第一高非线性光纤输出端与第一光学滤波器输入端相连，第一光学滤波器输出端与光学耦合器一个输入端口相连。
3.根据权利要求2所述的基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，其特征在于：所述第二光频梳光源包括第二微波源、第二电光调制器阵列、第一光学放大器、第二高非线性光纤模块和第二光学滤波器；
第二电光调制器阵列射频输入端与第二微波源相连，第二电光调制器阵列输出端与第二光学放大器相连；第二光学放大器输出端与第二高非线性光纤模块输入端相连，第二高非线性光纤输出端与第一光学滤波器输入端相连，第二光学滤波器输出端与光学耦合器一个输入端口相连。
4.根据权利要求3所述的基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统，其特征在于：第一微波源的频率为f1，第二微波源的频率为f2，第一微波源与第二微波源重频之差df＝f1-f2，且f1和f2均为df的整数倍。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111232381.2A CN114152589A (zh) | 2021-10-22 | 2021-10-22 | 一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111232381.2A CN114152589A (zh) | 2021-10-22 | 2021-10-22 | 一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114152589A true CN114152589A (zh) | 2022-03-08 |
Family
ID=80458534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111232381.2A Pending CN114152589A (zh) | 2021-10-22 | 2021-10-22 | 一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114152589A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023184713A1 (zh) * | 2022-03-28 | 2023-10-05 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种太赫兹双光梳光谱稳定系统 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20130077084A1 (en) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Industrial Technology Research Institute | Object characteristic measuring system |
| CN110277724A (zh) * | 2019-06-25 | 2019-09-24 | 中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院 | 一种可调高重复频率单腔双相干光学频率梳光源 |
| CN112235051A (zh) * | 2020-08-13 | 2021-01-15 | 华中科技大学 | 一种太赫兹扫频源及系统 |
| CN112670824A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-04-16 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种太赫兹量子级联激光器双光梳稳频系统 |
| CN112763084A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-05-07 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种高稳定频率源，太赫兹频率产生实验装置及使用方法 |
| CN113451869A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-09-28 | 清华大学 | 一种单腔产生双光梳及多光梳的方法 |
-
2021
- 2021-10-22 CN CN202111232381.2A patent/CN114152589A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20130077084A1 (en) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Industrial Technology Research Institute | Object characteristic measuring system |
| CN110277724A (zh) * | 2019-06-25 | 2019-09-24 | 中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院 | 一种可调高重复频率单腔双相干光学频率梳光源 |
| CN112235051A (zh) * | 2020-08-13 | 2021-01-15 | 华中科技大学 | 一种太赫兹扫频源及系统 |
| CN112763084A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-05-07 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种高稳定频率源，太赫兹频率产生实验装置及使用方法 |
| CN112670824A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-04-16 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种太赫兹量子级联激光器双光梳稳频系统 |
| CN113451869A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-09-28 | 清华大学 | 一种单腔产生双光梳及多光梳的方法 |
Non-Patent Citations (8)
| Title |
|---|
| B ORJA J EREZ: "Electro-optic THz dual-comb architecture for high-resolution, absolute spectroscopy", OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, pages 415 - 418 * |
| HUI FU: "Terahertz dual-comb spectroscopy: A comparison between time- and frequency-domain operation modes", INFRARED PHYSICS AND TECHNOLOGY * |
| PEDRO MARTÍN-MATEOS: "Absolute-frequency THz dual-comb instrument: a scalable and high-resolution spectrometer based on electro-optic comb generation", OPTICAL SENSORS AND SENSING CONGRESS 2019 * |
| SCIENTIFIC REPORTS: "Hyperspectral terahertz imaging with electro‑optic dual combs and a fet‑based detector，pedro Martín‑Mateos", pages 1 - 7 * |
| 刘娅: "光频梳技术在微波光子学中的应用", 科技导报 * |
| 杨力: "自适应双光梳光谱原理分析与实现", 光学学报 * |
| 赵显宇: "一种基于电光调制光频梳光谱干涉的绝对测距方法", 物理学报 * |
| 路桥: "参见双光梳光谱技术研究进展", 中国激光 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023184713A1 (zh) * | 2022-03-28 | 2023-10-05 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种太赫兹双光梳光谱稳定系统 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6965431B2 (en) | Integrated tunable optical sensor (ITOS) system | |
| US8681331B2 (en) | Systems and methods providing efficient detection of back-scattered illumination in modulation transfer microscopy or micro-spectroscopy | |
| US9285575B2 (en) | Systems and methods for selective detection and imaging in coherent Raman microscopy by spectral excitation shaping | |
| Nahata et al. | Two-dimensional imaging of continuous-wave terahertz radiation using electro-optic detection | |
| CN111077110B (zh) | 一种基于双光梳光谱的温度场和浓度场测量系统和方法 | |
| US20140218726A1 (en) | System and method for multiplex spectroscopic imaging | |
| US9163988B2 (en) | Detection systems and methods using coherent anti-stokes Raman spectroscopy | |
| CN105866061B (zh) | 太赫兹波时域信息的异脉冲探测装置及异脉冲探测方法 | |
| Li et al. | A liquid crystal tunable filter-based hyperspectral LiDAR system and its application on vegetation red edge detection | |
| CN103256983A (zh) | 光学装置 | |
| CN106645081A (zh) | 基于快速扫描光程的受激拉曼光谱成像系统 | |
| CN104833650A (zh) | 单光导天线的脉冲太赫兹时域光谱系统及探测方法 | |
| CN205317659U (zh) | 一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置 | |
| CN110274880A (zh) | 一种高精度空间分辨的光谱探测方法和系统 | |
| Audier et al. | High-speed chemical imaging of dynamic and histological samples with stimulated Raman micro-spectroscopy | |
| CN114136921A (zh) | 一种基于声光移频锁频技术的激光光声光谱气体检测装置及方法 | |
| CN103323401A (zh) | 基于光学参量上转换的太赫兹波实时成像方法及装置 | |
| CN114152589A (zh) | 一种基于双光频梳光源的太赫兹高光谱成像系统 | |
| CN108964781A (zh) | 多通道相干拉曼散射光学装置和成像系统 | |
| KR102261858B1 (ko) | 2차원 분광 시스템 및 분석 방법 | |
| CN211927689U (zh) | 一种光谱检测装置 | |
| CN211785136U (zh) | 拉曼、荧光和激光诱导击穿光谱信号同步探测装置 | |
| Audier et al. | Shot noise limited high speed stimulated Raman microscopy | |
| RU2779524C2 (ru) | Способ и устройство мультиспектрального скоростного получения пространственных изображений в терагерцевой области спектра | |
| CN110954498A (zh) | 一种基于频率转换的太赫兹波高光谱成像系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |