CN114116452A - 测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开关于一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待处理测试用例模板，待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；从待测试的配置参数中获取与归因链路类型对应的时间窗参数；根据初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。本公开实现了根据待处理待测用例模板和配置参数自动生成对应的时间窗测试用例，提高了测试用例的生成效率，减少了人为错误，可以提高生成的测试用例的准确性，提高了测试用例生成的灵活性和便捷性。

Description

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本公开涉及软件测试技术，尤其涉及一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

归因系统是互联网产品对用户拉新、促活效果评价的重要手段。针对归因系统的软件质量保证也是极具挑战性的。抽象来说，归因是利用用户激活数据和广告点击数据进行匹配，给出广告效果的归因评价。

目前的归因系统的软件测试的工作量较大，测试用例的生成效率较低，而且人为计算容易出现错误，且不便于进行迭代，灵活性较差。

发明内容

本公开提供一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决相关技术中测试用例生成效率低、容易出现错误、灵活性差的问题。本公开的技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试用例生成方法，包括：

获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

可选的，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。

可选的，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

可选的，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述获取待处理测试用例模板，包括：

遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为所述待处理测试用例模板；

在生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例之后，还包括：

将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试用例生成装置，包括：

用例模板获取模块，被配置为执行获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

时间窗参数获取模块，被配置为执行从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

时间戳确定模块，被配置为执行根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

测试用例生成模块，被配置为执行根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

可选的，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。

可选的，所述时间戳确定模块包括：

第一计算公式确定单元，被配置为执行若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

第一时间戳确定单元，被配置为执行根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

所述第一时间戳确定单元被配置为执行：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

可选的，所述时间戳确定模块包括：

第二计算公式确定单元，被配置为执行若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

第二时间戳确定单元，被配置为执行根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述用例模板获取模块包括：

遍历单元，被配置为执行遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为所述待处理测试用例模板；

所述装置还包括：

用例保存模块，被配置为执行在生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例之后，将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子设备，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现如第一方面所述的测试用例生成方法。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，当所述计算机存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行如第一方面所述的测试用例生成方法。

根据本公开实施例的第五方面，提供一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，所述计算机程序或计算机指令被处理器执行时实现第一方面所述的测试用例生成方法。

本公开的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果：

本公开实施例通过获取待处理测试用例模板，待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件，从待测试的配置参数中获取与归因链路类型对应的时间窗参数，根据初始时间戳和时间窗参数确定满足时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，根据待处理测试用例模板、目标时间戳上限和目标时间戳下限生成与用例标识对应的时间窗测试用例，实现了根据待处理待测用例模板和配置参数自动生成对应的时间窗测试用例，提高了测试用例的生成效率，减少了人为错误，可以提高生成的测试用例的准确性，而且由于待处理测试用例模板和配置参数可以基于需求进行配置，从而在需求更新时，只需要更新配置参数，便可以基于更新后的配置参数重新生成对应的时间窗测试用例，提高了测试用例生成的灵活性和便捷性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理，并不构成对本公开的不当限定。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试用例生成方法的流程图；

图2是根据一示例性实施例示出的一种测试用例生成方法的流程图；

图3是根据一示例性实施例示出的一种测试用例生成装置的框图；

图4是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。

具体实施方式

为了使本领域普通人员更好地理解本公开的技术方案，下面将结合附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

需要说明的是，本公开的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本公开的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在对广告效果进行归因分析时，以常见的DeepLink技术为例，用户点击广告商提供的广告拉起指定应用程序(Application，App)，并进入指定页面(时间记为t1)，之后根据引导完成动作，如注册、登录、参与活动等(时间记为t2)；那么在t1时刻，应用程序会将用户进入页面的点击数据进行上报；同样在t2时刻，获得用户的注册或登录等激活数据；将点击数据和激活数据匹配，就得到了本次广告的效果归因分析。其中，DeepLink(深度链接)指应用程序内的深层次页面链接，如产品专题页面、活动促销页面等，使用Deeplink的广告商可以在用户点击广告后直接进入指定的应用程序页面中。

同时，激活是否有效还取决于t1和t2的时间窗关系。在一种及其特殊的情况下，如果用户在进入指定页面后，始终没有完成激活，那么是不可能被归因的。不同的策略，不同的需求，就会有不同的时间窗需求。在归因系统的软件测试中，经常要根据不同的时间窗，设计不同的测试用例。

相关技术中，归因系统的软件测试，基本都采用数据Mock的方式，即制造预期条件的上游数据，之后进行归因任务的执行，最后校验归因结果是否符合预期。在这种情况下，时间窗用例的设计采用固定的时间戳用例，如DeepLink的激活有效时间为“T1<＝t2-t1<＝T2”，那么针对该需求，将会设计固定时间的若干t2、t1对需求进行覆盖，而设计的t2和t1通过手工计算得到。在DeepLink的激活有效时间为“T1<＝t2-t1<＝T2”时，假设某需求的时间窗下限为T1＝30，时间窗上限为T2＝120，通过手工计算，得到各个测试用例的具体时间戳可以如表1所示。

表1测试用例的具体时间戳

从表1可以看出，在计算具体时间戳时是利用用例设计的边界值、等价类方法对时间窗进行覆盖。

从以上的用例设计过程和结果看，该方法有如下缺点：

1、无法针对需求变更进行快速迭代。时间窗的大小受策略影响，经常会进行各种对比实验，此时需要对上述“T1＝30；T2＝120；”进行修改，而这种固定时间戳的方式需要经过大量的计算才能得到新迭代下的用例。

2、工作量大，容易出错。不同归因链路的时间窗不同，计算方式不同，每种方式有多种时间限定，固定时间戳由手工计算，工作量大，并且容易出错。

3、很难满足复杂时间窗需求。除单条用例自身的时间窗需求外，多条用例也有时间窗关联的需求，如点击时间更临近激活时间的点击有效，这样多用例的情况，手工计算时间戳的方法显得力不从心。

本公开实施例为了解决上述问题，提供了如下的技术方案。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试用例生成方法的流程图，如图1所示，该测试用例生成方法可以用于计算机等电子设备中，适用于对归因系统的测试中，包括以下步骤。

在步骤S11中，获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件。

其中，所述待处理测试用例模板可以是预先配置的用例模板，预先配置了用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件。所述初始时间戳可以包括初始时间戳下限和初始时间戳上限，也可以只包括初始时间戳下限和初始时间戳上限中的一种。所述时间条件是当前测试用例中待确定的目标时间戳所需要满足的条件。

可以从预先配置的测试用例模板中获取一个测试用例模板，作为待处理测试用例模板。例如，可以从预先配置的测试用例模板中随机选取一个测试用例模板，作为待处理测试用例模板；或者，可以从预先配置的测试用例模板中依次获取一个测试用例模板，作为待处理测试用例模板。

在步骤S12中，从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数。

待测试的配置参数是预先配置的归因链路类型与时间窗参数的对应关系。在获取到待处理测试用例模板后，可以基于待处理测试用例模板中的归因链路类型从配置参数中获取对应的时间窗参数。所述时间窗参数可以包括时间窗上限和时间窗下限，时间窗下限即上述的T1，是要满足的最小时间窗宽度，时间窗上限即上述的T2，是要满足的最大时间窗宽度。

通过配置参数，可以解决相关技术中无法针对需求变更进行快速迭代的问题，当时间窗需求发生变更时，只需要更新对应归因链路的配置参数，之后可以基于更新后的配置参数重新生成测试用例，即可得到新需求下的时间窗用例。

在步骤S13中，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

时间条件规定了待确定的目标时间戳上限与目标时间戳下限组成的时间窗与所述时间窗参数的关系，从而基于时间条件和时间窗参数，可以确定目标时间戳上限和目标时间戳下限组成的时间窗所需要满足的条件，进而根据初始时间戳，可以得到目标时间戳上限和目标时间戳下限。例如，可以将初始时间戳中的初始时间戳上限确定为目标时间戳上限，从而基于目标时间戳上限和目标时间戳下限组成的时间窗所需要满足的条件以及所述目标时间戳上限，可以得到目标时间戳下限；或者可以将初始时间戳中的初始时间戳下限确定为目标时间戳下限，从而基于目标时间戳上限和目标时间戳下限组成的时间窗所需要满足的条件以及所述目标时间戳下限，可以得到目标时间戳上限。

在一个示例性实施例中，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。一个用例标识可以对应一个或多个子用例标识。一个用例标识对应一个子用例标识时，是单条用例自身的时间窗需求；一个用例标识对应多个子用例标识时，多个子用例具有时间窗关联的需求。

在一个示例性实施例中，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在所述用例标识下包括一个子用例标识时，说明该条测试用例为具有自身时间窗需求的单条测试用例，这时可以根据时间窗参数确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式，例如时间条件为低于时间窗参数中的时间窗下限(Under_Min)时，即时间条件为t2-t1<T1，这时确定的计算公式可以为t2-t1＝T1-a，其中，a可以是小于T1的任意值，例如可以是1。

在确定子用例标识下的时间条件所对应的计算公式后，可以根据初始时间戳确定目标时间戳上限或目标时间戳下限，从而将确定的目标时间戳上限代入计算公式得到目标时间戳下限，或者将确定的目标时间戳下限代入计算公式得到目标时间戳上限，从而得到满足子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在用例标识下包括一个子用例标识时，可以根据时间窗参数确定子用例标识下的时间条件所对应的计算公式，进而根据初始时间戳和计算公式可以确定满足子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，实现了对于单条用例，可以灵活确定测试用例中的目标时间戳。

在一个示例性实施例中，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

在初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限时，可以直接将初始时间戳上限确定为目标时间戳上限，并将目标时间戳上限代入计算公式，得到目标时间戳下限；或者，也可以直接将初始时间戳下限确定为目标时间戳下限，并将目标时间戳下限代入计算公式，得到目标时间戳上限。在初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限时，可以灵活以初始时间戳上限或初始时间戳下限为准，确定满足时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在另一个示例性实施例中，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在所述用例标识下包括至少两个子用例标识时，说明该测试用例为具有关联时间窗需求的多条测试用例，这时可以综合考虑多个子用例标识下的时间条件，并根据每个子用例标识下的时间窗参数分别确定至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式。例如，一个用例标识下包括两个子用例标识，子用例标识1下的时间条件为正常值且目标时间戳上限离目标时间戳下限更近(Normal_Closed)，子用例标识2下的时间条件为正常值且目标时间戳上限离目标时间戳下限更远(Normal_Far)，即时间条件为T1<t2-t1<T2且子用例标识1下t2离t1更近，子用例标识2下t2离t1更远，这样可以确定子用例标识1下计算公式为t2-t1为稍微大于T1的某个值，即t2-t1＝T1+a，a为远小于T2-T1的某个值，例如可以是1，子用例标识2下计算公式为t2-t1为稍微小于T2的某个值，即t2-t1＝T2-b，b为远小于T2-T1的某个值，例如可以是1。

在确定至少两个子用例标识分别对应的计算公式后，对于每个子用例标识，可以根据初始时间戳确定目标时间戳上限或目标时间戳下限，从而将确定的目标时间戳上限代入该子用例标识对应的计算公式，得到该子用例标识下的目标时间戳下限，或者将确定的目标时间戳下限代入该子用例标识对应的计算公式，得到该子用例标识下的目标时间戳上限，从而得到与至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在用例标识下包括至少两个子用例标识时，可以根据时间窗参数分别确定至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式，进而根据初始时间戳和至少两个计算公式确定每个子用例标识所对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限，实现了对于较为复杂的时间窗用例可以灵活的确定测试用例中的目标时间戳，可以满足较为复杂场景的需求。

在步骤S14中，根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

在得到目标时间戳上限和目标时间戳下限后，可以使用目标时间戳上限和目标时间戳下限替换测试用例模板中的初始时间戳，得到与所述用例标识对应的时间窗测试用例。所述时间窗测试用例可以包括用例标识、子用例标识、归因链路类型、目标时间戳上限和目标时间戳下限。

本示例性实施例提供的测试用例生成方法，通过获取待处理测试用例模板，待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件，从待测试的配置参数中获取与归因链路类型对应的时间窗参数，根据初始时间戳和时间窗参数确定满足时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，根据待处理测试用例模板、目标时间戳上限和目标时间戳下限生成与用例标识对应的时间窗测试用例，实现了自动根据待处理待测用例模板和配置参数自动生成对应的时间窗测试用例，提高了测试用例的生成效率，减少了人为错误，可以提高生成的测试用例的准确性，而且由于待处理测试用例模板和配置参数可以基于需求进行配置，从而在需求更新时，只需要更新配置参数，便可以基于更新后的配置参数重新生成对应的时间窗测试用例，提高了测试用例生成的灵活性和便捷性。

在上述技术方案的基础上，所述获取待处理测试用例模板，包括：遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为所述待处理测试用例模板；

在生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例之后，还包括：将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

在一个归因系统的测试中，对于激活有效时间，可以预先配置对应的多个测试用例模板，每个测试用例模板均可以包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件，并可以预先配置满足不同需求的配置参数。在基于测试用例模板生成测试用例时，可以遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为待处理测试用例模板，从而基于上述测试用例生成方式生成对应的时间窗测试用例。在生成时间窗测试用例后，将该时间窗测试用例添加到用例列表中，后续可以从用例列表中获取待执行的测试用例并进行测试。

通过遍历预先配置的测试用例模板，可以依次对预先配置的多个测试用例模板生成对应的时间窗测试用例，可以避免遗漏某个测试用例。

图2是根据一示例性实施例示出的一种测试用例生成方法的流程图，如图2所示，该测试用例生成方法可以用于计算机等电子设备中，适用于对归因系统的测试中，包括以下步骤。

在步骤S21中，遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为待处理测试用例模板。

其中，所述待处理测试用例模板包括用例标识、子用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件。

一个子用例标识对应一个子用例，可以将同一用例标识下的全部子用例进行分组存储，一个分组中可以包括一个子用例标识，也可以包括多个子用例标识。

测试用例模板中定义了时间条件，通过该时间条件的不同定义，可以自动计算满足时间条件的目标时间戳，以上述示例：DeepLink的激活有效时间为“T1<＝t2-t1<＝T2”，则各个测试用例的时间条件可以如表2所示：

表2测试用例的时间条件

如表2所示，在一般情况下时间条件是对时间窗边界值、等价类的描述，在测试用例生成过程中，会根据时间条件的定义灵活、便捷、自动的给出符合条件的目标时间戳，可以解决人工计算工作量大、容易出错的问题。

通过定义符合要求的时间条件，可以满足更复杂的归因需求，以点击时间更临近激活时间的点击有效为例，可以定义如表3所示的时间条件。

表3复杂归因需求的时间条件

如表3所示，通过个性化的时间条件定义，可以得到更复杂的时间窗测试用例，可以满足各种场景。

在步骤S22中，从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数。

配置参数为根据归因需求配置的归因链路类型和时间窗参数的对应关系。在获取到待处理测试用例模板后，可以基于待处理测试用例模板中的归因链路类型从配置参数中获取对应的时间窗参数。

在步骤S23中，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在所述测试用例标识下包括一个子用例标识或至少两个子用例标识时，可以分别采取不同的方式确定满足每个子用例标识下时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在所述测试用例标识下包括一个子用例标识时，如时间条件为高于时间窗参数中的时间窗上限(Over_Max)，针对该时间条件计算满足时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

在所述测试用例标识下包括至少两个子用例标识时，综合考虑每个子用例标识下的时间条件，如时间条件分别为正常值且目标时间戳上限离目标时间戳下限更近(Normal_Closed)、正常值且目标时间戳上限离目标时间戳下限更远(Normal_Far)，计算满足每个时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

对于一个用例标识下包括一个子用例标识或者多个子用例标识，会根据不同的时间条件(time_condition)，对目标时间戳进行计算。在计算目标时间戳时，输入为待处理测试用例模板中的初始时间戳t2、t1以及对应归因链路类型的时间窗参数，仍以上述激活有效时间为“T1<＝t2-t1<＝T2”为例，假设某需求的时间窗下限为T1＝30，时间窗上限为T2＝120，具体计算过程如表4所示。

表4目标时间戳计算过程

在步骤S24中，根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

在步骤S25中，将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

在步骤S26中，判断所述预先配置的测试用例模板是否全部处理完成，如果是则结束，如果否则执行步骤S21。

在预先配置的测试用例模板没有全部处理完成时，循环执行上述步骤S21-步骤S25，直至生成所有的预先配置的测试用例模板所对应的时间窗测试用例。

本示例性实施例提供的测试用例生成方法，通过预先配置测试用例模板和配置参数，在归因需求发生变更时，可以更新待测试的配置参数，便可以基于更新后的配置参数生成对应的时间窗测试用例，可以快速适配需求迭代，而且根据时间条件自动计算目标时间戳，可以减少工作量和出错的可能，通过在一个用例标识对应多个子用例标识时，可以结合时间条件满足更复杂的场景需求，提高了测试用例生成的灵活性、便捷性。

图3是根据一示例性实施例示出的一种测试用例生成装置的框图。参照图3，该装置包括用例模板获取模块31、时间窗参数获取模块32、时间戳确定模块33和测试用例生成模块34。

该用例模板获取模块31被配置为执行获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

该时间窗参数获取模块32被配置为执行从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

该时间戳确定模块33被配置为执行根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

该测试用例生成模块34被配置为执行根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

可选的，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。

可选的，所述时间戳确定模块包括：

第一计算公式确定单元，被配置为执行若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

第一时间戳确定单元，被配置为执行根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

所述第一时间戳确定单元被配置为执行：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

可选的，所述时间戳确定模块包括：

第二计算公式确定单元，被配置为执行若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

第二时间戳确定单元，被配置为执行根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述用例模板获取模块包括：

遍历单元，被配置为执行遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为所述待处理测试用例模板；

所述装置还包括：

用例保存模块，被配置为执行在生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例之后，将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

图4是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。例如，电子设备400可以被提供为一计算机或服务器。参照图4，电子设备400包括处理组件422，其进一步包括一个或多个处理器，以及由存储器432所代表的存储器资源，用于存储可由处理组件422执行的指令，例如应用程序。存储器432中存储的应用程序可以包括一个或一个以上的每一个对应于一组指令的模块。此外，处理组件422被配置为执行指令，以执行上述测试用例生成方法。

电子设备400还可以包括一个电源组件426被配置为执行电子设备400的电源管理，一个有线或无线网络接口450被配置为将电子设备400连接到网络，和一个输入输出(I/O)接口458。电子设备400可以操作基于存储在存储器432的操作系统，例如WindowsServerTM，Mac OS XTM，UnixTM,LinuxTM，FreeBSDTM或类似。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器432，上述指令可由电子设备400的处理组件422执行以完成上述测试用例生成方法。可选地，计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

在示例性实施例中，还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，所述计算机程序或计算机指令被处理器执行时实现上述的测试用例生成方法。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种测试用例生成方法，其特征在于，包括：

获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待处理测试用例模板，包括：

遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为所述待处理测试用例模板；

在生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例之后，还包括：

将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

7.一种测试用例生成装置，其特征在于，包括：

用例模板获取模块，被配置为执行获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

时间窗参数获取模块，被配置为执行从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

时间戳确定模块，被配置为执行根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

测试用例生成模块，被配置为执行根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现如权利要求1至6任一项所述的测试用例生成方法。

9.一种计算机可读存储介质，当所述计算机存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行如权利要求1至6任一项所述的测试用例生成方法。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，其特征在于，所述计算机程序或计算机指令被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的测试用例生成方法。

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