CN114062404A - 一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，该装置包括多个冷热台主机液氮桶及由控制柜整合的四个控制单元，其中，所述的多个冷热台主机通过一体化支架固定旋钮固定在中子散射谱仪样品位移控制平台上；所述控制单元包括温度控制单元，水循环单元，真空单元和液氮控制单元，水循环单元由循环水泵和循环水管路构成，真空单元由真空泵、真空计和真空管路共同构成，液氮控制单元由液氮制泵和多通道液氮管路构成。该装置配合中子散射谱仪样品位移控制平台能够实现在真空或者气氛状态下连续对多个样品进行独立的原位变温中子散射实验，提高实验人员的工作效率，降低射线照射风险，节省样品更换时间。

Description

一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置
技术领域
本发明属于中子散射技术领域，具体涉及一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置。
背景技术
基于中子与样品内原子核之间的相互作用，小角中子散射技术可以测定物质在几纳米到几百纳米尺度范围内的微观结构，并广泛应用于生物、化学、材料等领域。不同的样品体系在开展小角中子散射实验时，还需要各种的原位加载条件，如温度、压力、电场等，即中子散射实验原位样品加载环境。目前尚无公开的原位中子散射样品环境加载装置可以实现连续对多个样品进行真空或者气氛状态加载下的原位快速升降温中子散射实验。专利公开了一种用于掠入射X射线小角散射实验的真空冷热台(公开号：CN106979957 A)，其装置设计主要应用于掠入射小角X射线小角散射实验，无法匹配小角中子散射实验的中子光路加载要求。因此，对于需要连续对N个样品(N为正整数)进行真空或者气氛状态下原位变温(高低温快速加载)中子散射实验分析的情形，目前尚未有合适的实验装置。
发明内容
有鉴于此，本发明提出一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置。该装置通过与谱仪样品位移控制平台联合，可以实现在中子散射谱仪(或者中子衍射谱仪)上有真空或气氛加载状态下多个样品进行独立的变温加载的中子散射实验，装置简洁小巧，样品安装方便，有效解放人力，提高实验效率。
具体采用如下技术方案：
一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，该装置包括多个冷热台主机液氮桶及由四个控制单元整合而成的控制柜，所述的多个冷热台主机通过一体化支架固定旋钮固定在中子散射谱仪样品位移控制平台上，以实现多个样品的原位变温中子散射实验的连续加载；所述控制单元包括温度控制单元，水循环单元，真空单元和液氮控制单元，其中，温度控制单元发送温度控制指令，水循环单元由循环水泵和循环水管路构成，真空单元由真空泵、真空计和真空管路共同构成，液氮控制单元由液氮制泵和多通道液氮管路构成。
优选的，所述的冷热台主机包括：提供密闭空间的冷热台主机外壳，外壳夹层通过固定于外壳两侧的水循环进水接口和出水接口连通冷却循环水；外壳外侧固定与密闭空间接通的真空接头；冷热台主机正面和背面分别设置提供中子通路的入射窗口和出射窗口，窗口均固定在镉板上，并通过螺栓固定在冷热台主机的正面和背面；固定设置于密闭空间内的变温块为样品控温区，液氮通路穿过外壳夹层后连通变温块内部，加热单元与传感器同样设置于变温块内部，并通过冷热台主机外侧的通讯口将电子信号传递出去，线缆保护套用于保护加热元件和线缆，变温块体正面设置用于放置样品的方形样品槽，主机密封盖通过固定螺栓和密封圈紧密盖住冷热台主机并形成密闭空间。
优选的，所述的变温块匹配样品固定盖，固定盖中间有提供中子通路的圆形样品入射孔；变温块背面为圆台状散射口，与样品槽相通。
优选的，顺着中子束的方向，入射窗口、样品入射口、圆台状散射口上下底面和出射窗口为同心圆，且其所在平面均垂直于中子束方向。
优选的，所述的圆台状散射口与样品槽连通的平面为上底面，圆台上下底面均垂直于中子束方向，且圆台上底面直径大于样品入射孔直径。
优选的，所述的圆台状散射口上底面直径大于下底面直径，所对应的圆锥体顶角在30°～35°。
优选的，所述的样品入射孔的直径大于入射窗口的直径。
优选的，所述的入射窗口和出射窗口的片状透光材料为蓝宝石或者高透过率石英，所述的冷热台变温块及配套样品固定盖材质为铜。
优选的，所述的入射窗口和出射窗口由片状透光材料镶嵌于厚度不小于1mm的镉板上。
优选的，所述的各个冷热台主机水循环通路以串联的形式进行连通，液氮通路和真空通路以并联的方式进行连通，温度控制信号经由一体化支架一侧的总通讯口通过支架内部的通讯线缆与单台冷热台主机底部的通讯口相连，总的真空通路接口位于一体化支架一侧。
本发明的用于中子散射谱仪的多联冷热台装置中的冷热台可进行变温范围为-200℃～600℃，经过一体化支架联合及控制柜配套，应用于中子散射谱仪样品位移控制平台上，具有以下有益效果：该多联冷热台装置通过独特设计的变温块和配套样品槽可对多个样品进行独立的变温控制，并满足中子散射谱仪对中子光路的测试要求；该多联冷热台装置可同时对多个样品提供真空或者气氛状态，避免了空气的散射，提高了实验的可靠性；中子束穿过镶嵌在一定厚度镉板上且对中子高透过率的透光窗口，有效降低了杂散中子。
附图说明
图1为中子散射谱仪原位多联冷热台装置连接示意图；
图2(a)为冷热台主机正面外观图；
图2(b)为冷热台主机背面外观图；
图3(a)为冷热台主机内部结构图；
图3(b)为变温块背面结构设计图；
图3(c)为样品固定盖结构图；
图4为冷热台主机侧面中子光路图；
图5(a)为中子散射用方形石英比色皿加载方式图；
图5(b)为液体样品加载策略及中子光路图；
图6为片状固体样品加载策略及中子光路图；
图7为三联冷热台主机示意图；
图中，1.温度控制单元 2.水循环单元 3.真空单元 4.液氮控制单元 5.控制柜6.谱仪控制电脑 7.液氮桶 8.一体化支架 9.冷热台主机 10.液氮通路 11.冷热台主机外壳 12.进水接口 13.出水接口 14.真空接头 15.主机密封盖 16.入射窗口 17.出射窗口18.镉板 19.变温块 20.样品槽 21.线缆保护套 22.通讯口 23.主机固定螺栓 24.散射口25.样品入射孔 26.样品固定盖 27.石英比色皿 28.蓝宝石片 29.片状固体样品 30.固体样品模块 31.总通讯口 32.总真空接口 33.支架固定旋钮。
具体实施方式
下面结合附图1～7及实施例对本发明作进一步详细阐述。
本发明提供的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，具体的如图1所示，包括多个冷热台主机9液氮桶7及由四个控制单元整合而成的控制柜5，其中，所述的多个冷热台主机通过一体化支架8的支架固定旋钮33固定在中子散射谱仪样品位移控制平台上，以实现多个样品的原位变温中子散射实验的连续加载；所述控制单元包括温度控制单元1，水循环单元2，真空单元3和液氮控制单元4，谱仪控制电脑6与温度控制单元1连接，并通过配套的温控软件与温度控制单元1进行通讯和发送温度控制指令，温度控制单元1由温度控制器及其配套通讯线缆组成，水循环单元2由循环水泵和循环水管路构成，真空单元3由真空泵、真空计和真空管路共同构成，液氮控制单元4由液氮制泵和多通道液氮管路构成。
进一步，本发明所述的冷热台主机9构造如图2(a)～图3(c)所示，包括：提供密闭空间的冷热台主机外壳11，外壳夹层通过固定于外壳两侧的水循环进水接口12和出水接口13连通冷却循环水；外壳外侧固定与密闭空间接通的真空接头14；冷热台主机正面和背面分别设置提供中子通路的入射窗口16和出射窗口17，窗口均固定在镉板18上，并通过螺栓固定在冷热台主机的正面和背面；冷热台主机内部构造如图3(a)所示，固定设置于密闭空间内的变温块19为样品控温区，液氮通路10穿过外壳夹层后连通变温块19内部，加热单元与传感器同样设置于变温块19内部，并通过冷热台主机外侧的通讯口22将电子信号传递出去，线缆保护套21用于保护加热元件和线缆，变温块体正面设置用于放置样品的方形样品槽20，主机密封盖15通过固定螺栓和密封圈紧密盖住冷热台主机并形成密闭空间。单个的冷热台主机通过螺栓23固定在一体化支架上。
进一步，所述的变温块19匹配样品固定盖26，如图3(c)所示，固定盖中间有提供中子通路的圆形样品入射孔25；如图3(b)所示，变温块背面为圆台状散射口24，与样品槽20相通。
进一步，中子散射用方形石英比色皿27可以开口向上地放置于样品槽20处如图5(a)所示，具体的中子光路如图5(b)所示。
进一步，片状固体样品29与两片高透过率蓝宝石片28以三明治的装载形式放入固体样品模块30中间的圆孔中，具体的中子光路如图6所示。
进一步，所述的冷热台变温块19及配套样品固定盖26、固体样品模块的材质为导热性良好的金属，优选的材质为铜。
进一步，所述的单个冷热台装置在进行原位中子散射实验时光路如图4所示，具有良好准直的中子束依次穿过入射窗口16和样品入射孔25，照射到样品槽20处的样品上，产生的散射中子束穿过变温块19背面的散射口24及出射窗口17后进入探测器。顺着中子束的方向，入射窗口16、样品入射口25、固体样品模块30中间的圆孔上下底面、圆台状散射口24上下底面和出射窗口17为同心圆，且其所在平面均垂直于中子束方向。
进一步，所述的圆台状散射口24与样品槽20连通的平面为上底面，圆台上下底面均垂直于中子束方向，且圆台上底面直径略大于样品入射孔直径。
进一步，所述的圆台状散射口24上底面直径大于下底面直径，所对应的圆锥体顶角在30°～35°，优选的角度为30°，既保证穿过样品的散射中子束不与变温块19发生作用，又保证变温块19对样品进行均匀控温。
进一步，所述的样品入射孔25其直径略大于入射窗口16的直径。
进一步，固体样品模块30中间圆孔上下平面直径略大于样品入射孔25的直径。
进一步，所述的入射窗口16和出射窗口17的片状透光材料为高透过率的蓝宝石或者石英。
进一步，所述的入射窗口16和出射窗口17由片状透光材料镶嵌于一定厚度，如厚度不小于1mm的镉板上，镉板的存在是为了屏蔽杂散的中子，保证实验数据的可靠。
所述的冷热台主机外壳11为长方体，提供的密闭腔体为长方形腔体，其正面和背面垂直于中子束方向。
进一步，所述的各个冷热台主机水循环通路以串联的形式进行连通，液氮通路和真空通路以并联的方式进行连通，具体的以如图7所示，以三个冷热台主机为例，温度控制信号经由一体化支架一侧的总通讯口31通过支架内部的通讯线缆与单台冷热台主机底部的通讯口相连，总的真空通路接口32位于一体化支架8一侧。
本发明装置配合中子散射谱仪样品位移控制平台能够实现在真空或者气氛状态下连续对多个样品进行独立的原位变温中子散射实验，提高实验人员的工作效率，降低射线照射风险，节省样品更换时间。
本发明所述具体实施方案只是各种可能中的一种较为容易的方式。所有相关实施案例均为示例性的而非穷尽性的，该发明绝不仅仅限于所述实施案例。在不偏离本发明的实施案例范围和精神的情况下，许多修改和变更都是可能的和显而易见的。

Claims (10)

1.一种用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，该装置包括多个冷热台主机(9)液氮桶(7)及由四个控制单元整合而成的控制柜(5)，其中，所述的多个冷热台主机通过一体化支架(8)的支架固定旋钮(33)固定在中子散射谱仪样品位移控制平台上，以实现多个样品的原位变温中子散射实验的连续加载；所述控制单元包括温度控制单元(1)，水循环单元(2)，真空单元(3)和液氮控制单元(4)，其中，温度控制单元(1)发送温度控制指令，水循环单元(2)由循环水泵和循环水管路构成，真空单元(3)由真空泵、真空计和真空管路共同构成，液氮控制单元(4)由液氮制泵和多通道液氮管路构成。
2.根据权利要求1所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的冷热台主机(9)包括：提供密闭空间的冷热台主机外壳(11)，外壳夹层通过固定于外壳两侧的水循环进水接口(12)和出水接口(13)连通冷却循环水；外壳外侧固定与密闭空间接通的真空接头(14)；冷热台主机正面和背面分别设置提供中子通路的入射窗口(16)和出射窗口(17)，窗口均固定在镉板(18)上，并通过螺栓固定在冷热台主机的正面和背面；固定设置于密闭空间内的变温块(19)为样品控温区，液氮通路(10)穿过外壳夹层后连通变温块(19)内部，加热单元与传感器同样设置于变温块(19)内部，并通过冷热台主机外侧的通讯口(22)将电子信号传递出去，线缆保护套(21)用于保护加热元件和线缆，变温块体正面设置用于放置样品的方形样品槽(20)，主机密封盖(15)通过固定螺栓和密封圈紧密盖住冷热台主机并形成密闭空间。
3.根据权利要求2所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的变温块(19)匹配样品固定盖(26)，固定盖中间有提供中子通路的圆形样品入射孔(25)；变温块背面为圆台状散射口(24)，与样品槽(20)相通。
4.根据权利要求3所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，顺着中子束的方向，入射窗口(16)、样品入射口(25)、圆台状散射口(24)上下底面和出射窗口(17)为同心圆，且其所在平面均垂直于中子束方向。
5.根据权利要求3所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的圆台状散射口(24)与样品槽(20)连通的平面为上底面，圆台上下底面均垂直于中子束方向，且圆台上底面直径大于样品入射孔直径。
6.根据权利要求3所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的圆台状散射口(24)上底面直径大于下底面直径，所对应的圆锥体顶角在30°～35°。
7.根据权利要求3所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的样品入射孔(25)的直径大于入射窗口(16)的直径。
8.根据权利要求2所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的入射窗口(16)和出射窗口(17)的片状透光材料为高透过率的蓝宝石或者石英，所述的冷热台变温块(19)及配套样品固定盖(26)材质为铜。
9.根据权利要求1所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的入射窗口(16)和出射窗口(17)由片状透光材料镶嵌于厚度不小于1mm的镉板上。
10.根据权利要求1所述的用于中子散射谱仪的多联原位冷热台装置，其特征在于，所述的各个冷热台主机水循环通路以串联的形式进行连通，液氮通路和真空通路以并联的方式进行连通，温度控制信号经由一体化支架一侧的总通讯口(31)通过支架内部的通讯线缆与单台冷热台主机底部的通讯口相连，总的真空通路接口(32)位于一体化支架(8)一侧。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202126179U (zh) * 2011-06-28 2012-01-25 中国原子能科学研究院 一种用于中子衍射样品原位实验的镜面高温炉装置
CN104833687A (zh) * 2015-05-06 2015-08-12 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种用于小角散射实验的热台
CN106290426A (zh) * 2016-10-27 2017-01-04 中国科学院上海应用物理研究所 用于小角x射线散射实验的原位装置
CN106770400A (zh) * 2017-01-06 2017-05-31 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种用于小角中子散射谱仪的自动换样装置
CN206772867U (zh) * 2017-05-23 2017-12-19 中国科学院上海应用物理研究所 一种用于掠入射x射线小角散射实验的真空冷热台
CN108844981A (zh) * 2018-09-19 2018-11-20 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种用于小角中子散射谱仪的时间分辨拉伸装置
CN109556970A (zh) * 2018-12-19 2019-04-02 中国原子能科学研究院 一种用于小角中子散射实验高温和拉伸耦合加载的原位装置
CN113218978A (zh) * 2021-05-10 2021-08-06 上海大学 一种原位衍射实验方法及其装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202126179U (zh) * 2011-06-28 2012-01-25 中国原子能科学研究院 一种用于中子衍射样品原位实验的镜面高温炉装置
CN104833687A (zh) * 2015-05-06 2015-08-12 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种用于小角散射实验的热台
CN106290426A (zh) * 2016-10-27 2017-01-04 中国科学院上海应用物理研究所 用于小角x射线散射实验的原位装置
CN106770400A (zh) * 2017-01-06 2017-05-31 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种用于小角中子散射谱仪的自动换样装置
CN206772867U (zh) * 2017-05-23 2017-12-19 中国科学院上海应用物理研究所 一种用于掠入射x射线小角散射实验的真空冷热台
CN108844981A (zh) * 2018-09-19 2018-11-20 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种用于小角中子散射谱仪的时间分辨拉伸装置
CN109556970A (zh) * 2018-12-19 2019-04-02 中国原子能科学研究院 一种用于小角中子散射实验高温和拉伸耦合加载的原位装置
CN113218978A (zh) * 2021-05-10 2021-08-06 上海大学 一种原位衍射实验方法及其装置

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