CN114040194A - 一种摄像模组的脏污测试方法、装置及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种摄像模组的脏污测试方法，包括如下步骤：步骤300：驱动摄像模组在至少两个焦平面上对光源面板进行成像，得到至少两张判定图像；步骤400：根据至少两张判定图像中脏污的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。该脏污测试方法可减小摄像模组在进行脏污测试时的误判。本发明还公开了一种摄像模组的脏污测试装置及可读存储介质。
Description
技术领域
本发明涉及模组测试领域，尤其涉及一种摄像模组的脏污测试方法、装置及可读存储介质。
背景技术
脏污测试是摄像模组在出厂前的一常规测试项目，目的在于检测摄像模组内部是否存在脏污等影响拍摄效果的异物。
中国专利公开了一种摄像模组脏污检测方法，包括以下步骤：(1)摄像模组拍图：在合适的光照条件下，用摄像模组拍摄有均光板背景的白色盖板，并使得成像清晰；(2)多帧融合降噪：对同一颗产品选取若干帧满足检测要求的图像，然后求取其平均图；(3)检测三策略：分别进行双重滤波处理、形态学分区和多粒度检测，以凸显脏污区域，并针对脏污粒度以及用户自定义的需求进行可靠脏污检测；(4)多区域定位：对检测出来的不同脏污区域依次进行连通域编号和标签，以方便结果显示和输出；(5)脏污判定：如果没有检测到脏污，则模组是合格品；如果检测到脏污，则模组为不合格。该脏污检测方法可自动检测出摄像模组内是否存在脏污。该脏污检测方法通过多帧融合降噪、双重滤波处理、形态学分区、多粒度检测、多区域定位等系列处理流程，有效减小随机噪声、凸显脏污，提高了检测的可靠性和用户自定义友好性；现摄像模组的嵌入式检测模块(典型的如基于ARM独立模块)，实现了设备的小型化、模块化；脏污检测平均准确率可达99.71％，满足摄像模组生产要求；满足实时生产要求，单颗摄像模组的检测时间小于1s。
但是，部分摄像模组由于镜头的景深较长或微距调焦的因素，在检测脏污时，容易拍摄捕捉到光源面板上的细微脏污，进而将光源面板上的脏污误判为摄像模组内部的脏污，最终错误将摄像模组判定为不良。故实际生产时，为避免此问题，经常需要频繁清洁或更换光源面板，以减少误判。
发明内容
为了解决上述现有技术的不足，本发明提供一种脏污测试方法，可减小摄像模组在进行脏污测试时的误判。
本发明还提供一种脏污测试装置及可读存储介质。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
一种摄像模组的脏污测试方法，包括如下步骤：
步骤300：驱动摄像模组在至少两个焦平面上对光源面板进行成像，得到至少两张判定图像；
步骤400：根据至少两张判定图像中脏污的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。
进一步地，在驱动摄像模组在至少两个焦平面上对光源面板进行成像，得到至少两张判定图像之前，还包括如下步骤：
步骤100：驱动所述摄像模组在测试焦平面上对所述光源面板进行成像，得到测试图像；
步骤200：识别所述测试图像中是否存在脏污，若存在，则进行步骤300。
进一步地，在步骤400中，根据至少两张判定图像中脏污的对比度和图像位置中的至少一项参数的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。
进一步地，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变小，则判定所述脏污位于所述摄像模组的可动透镜上。
进一步地，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变大，但位置无变化，则判定所述脏污位于所述摄像模组的不可动透镜上。
进一步地，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变大，且位置发生变化，则判定所述脏污位于所述光源面板上。
进一步地，至少两个焦平面中包括最近焦平面和最远焦平面。
进一步地，所述光源面板为白色光源。
一种摄像模组的脏污测试装置，包括处理器以及与所述处理器连接的存储器，所述存储器内储存有供所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行该计算机程序时，进行上述的脏污测试方法。
一种可读存储介质，其储存有供处理器执行的计算机程序，所述处理器执行该计算机程序时，进行上述的脏污测试方法。
本发明具有如下有益效果：该脏污测试方法通过改变所述摄像模组成像时的焦平面，对比所述摄像模组在不同焦平面上成像得到的判定图像之间脏污的变化情况来判定所述脏污是存在于所述摄像模组内部，还是存在于所述光源面板上，可降低所述光源面板上的脏污对所述摄像模组造成误判，同时将所述脏污在所述摄像模组内的存在位置进行分类，有利于分析所述脏污的来源，以对所述摄像模组的组装工艺进行改善，也有利于所述摄像模组在发现所述脏污后的返修效率。
附图说明
图1为本发明提供的脏污测试方法的步骤框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例一
一种摄像模组的脏污测试方法，包括如下步骤：
步骤100：驱动所述摄像模组在测试焦平面上对光源面板进行成像，得到测试图像。
所述摄像模组包括对焦装置、光学镜头和图像传感器，所述光学镜头设置于所述对焦装置上，由所述对焦装置驱动进行对焦。在对焦时，所述对焦装置可带动所述光学镜头相对于所述图像传感器进行移动，以将所述光学镜头带至不同的焦平面（对焦位置）上。
所述测试焦平面优选为所述摄像模组的远焦平面，但是具体以所述摄像模组的FOV、焦距、解析力等具体光学参数而定，可不作限定，只要能够拍摄到足够清晰的测试图像即可。
在该步骤100中，所述摄像模组可直接对所述光源面板进行拍摄，以得到所述测试图像，也可以先将所述光源面板的光线先投射至一白场板上，然后所述摄像模组对所述白场板进行拍摄，以得到所述测试图像。
所述光源面板优选但不限于为白色光源。
步骤200：识别所述测试图像中是否存在脏污，若存在，则进行步骤300。
在该步骤200中，可采用现有的脏污测试方法识别所述测试图像中是否存在脏污，如采用人工识别法，由至少一位测试人员肉眼观察所述测试图像，以主观识别所述测试图像中是否存在脏污；又如自动识别法，通过特定的图像算法自动识别所述测试图像中是否存在脏污以及脏污在所述测试图像中的图像位置等。
在自动识别法中，又可采用全参考法、部分参考法或无参考法，其中全参考法需要先选定一张参考图像，再基于统计学原理得到所述测试图像与参考图像之间的一些统计量误差值，如对应位置像素值的均方误差值以及整张图像的信噪比峰值等，再根据这些误差值对所述测试图像进行边缘检测，以判断所述测试图像中是否存在被摄物；无参考法不需要所述参考图像,只需要从所述测试图像中提取一些特征值信息,如图像的边缘信息、图像的频域能量和图像的信息熵等，再通过这些特征值的大小来判断所述测试图像中是否存在突变的边界（即被摄物的边缘）；半参考法介于全参考法和无参考法之间,在识别过程中需要用到一张参考图像,但是只使用所述参考图像中的部分信息与所述测试图像进行比较。
当然，也可采用本案背景技术中所记载的方法，先采用多帧融合降噪方式，对同一颗产品选取若干帧满足检测要求的图像，然后求取其平均图，然后通过检测三策略方式，分别进行双重滤波处理、形态学分区和多粒度检测，以凸显脏污区域，并针对脏污粒度以及用户自定义的需求进行可靠脏污检测，接着通过多区域定位方式，对检测出来的不同脏污区域依次进行连通域编号和标签，以方便结果显示和输出，最后进行脏污判定。
总之，具体如何在所述测试图像中识别脏污的方法不作任何限制。
在该步骤200中，若识别到所述测试图像中无脏污的话，则结束脏污测试，并对所述摄像模组进行其他测试项目，或包装出货。
部分摄像模组由于镜头的景深较长或微距调焦的因素，在该步骤200中容易拍摄捕捉到所述光源面板上的细微脏污，进而将所述光源面板上的脏污误判为所述摄像模组内部的脏污，最终错误将所述摄像模组判定为不良。为避免此问题，在该步骤200中，若识别到所述测试图像中存在脏污，则进行步骤300进行进一步检测。
步骤300：驱动所述摄像模组在至少两个焦平面上对所述光源面板进行成像，得到至少两张判定图像。
在该步骤300中，所述摄像模组中的对焦装置带动所述光学镜头进行移动，以将所述光学镜头带至与所述图像传感器具有不同距离的各个焦平面上对所述光源面板进行成像。
同样的，所述摄像模组可直接对所述光源面板进行拍摄，以得到至少两张判定图像，也可以先将所述光源面板的光线先投射至一白场板上，然后所述摄像模组对所述白场板进行拍摄，以得到至少两张判定图像。
在至少两张判定图像中，可将步骤100中所拍摄到的测试图像作为其中一张判定图像，也可所有判定图像均在步骤300中重新拍摄得到。
本实施例中，至少两个焦平面中包括最近焦平面和最远焦平面，在最近焦平面时，所述光学镜头被移动至其对焦行程内与所述图像传感器相距最近的对焦位置上；在最远焦平面时，所述光学镜头被移动至其对焦行程内与所述图像传感器相距最远的对焦位置上。
步骤400：根据至少两张判定图像中脏污的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。
在该步骤400中，根据至少两张判定图像中脏污的对比度和图像位置中的至少一项参数的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。
其中，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变小，则判定所述脏污位于所述摄像模组的可动透镜上，如所述光学镜头，一般位于所述光学镜头的内部或底面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变大，但位置无变化，则判定所述脏污位于所述摄像模组的不可动透镜上，如IR滤光片，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变大，且位置发生变化，则判定所述脏污位于所述光源面板上。
本实施例中，采用分别与所述最近焦平面和最远焦平面对应的两张判定图像，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。若与所述最远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度小于与所述最近焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度，则判定所述脏污位于所述摄像模组的光学镜头的内部或底面；若与所述最远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度大于与所述最近焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度，但与所述最远焦平面所对应的判定图像中脏污的图像位置与所述最近焦平面所对应的判定图像中脏污的图像位置相同，则判定所述脏污位于所述摄像模组的IR滤光片上；若与所述最远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度大于与所述最近焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度，且与所述最远焦平面所对应的判定图像中脏污的图像位置比所述最近焦平面所对应的判定图像中脏污的图像位置更靠近图像边缘，则判定所述脏污位于所述光源面板上。
优选地，将所述脏污在各个判定图像中的中心位置点作为其图像位置，可通过边缘检测算法检测出所述脏污在各个判定图像中的像素范围，然后对范围内的每个像素的灰度赋予一定的权值，最后统计出所述脏污的灰度中心，即中心位置点。
该脏污测试方法通过改变所述摄像模组成像时的焦平面，对比所述摄像模组在不同焦平面上成像得到的判定图像之间脏污的变化情况来判定所述脏污是存在于所述摄像模组内部，还是存在于所述光源面板上，可降低所述光源面板上的脏污对所述摄像模组造成误判，同时将所述脏污在所述摄像模组内的存在位置进行分类，有利于分析所述脏污的来源，以对所述摄像模组的组装工艺进行改善，也有利于所述摄像模组在发现所述脏污后的返修效率。
实施例二
一种摄像模组的脏污测试装置，包括处理器以及与所述处理器连接的存储器，所述存储器内储存有供所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行该计算机程序时，进行实施例一所述的脏污测试方法。
实施例三
一种可读存储介质，其储存有供处理器执行的计算机程序，所述处理器执行该计算机程序时，进行实施例一所述的脏污测试方法。
最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本发明实施例的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本发明实施例的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明实施例技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤300：驱动摄像模组在至少两个焦平面上对光源面板进行成像，得到至少两张判定图像；
步骤400：根据至少两张判定图像中脏污的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。
2.根据权利要求1所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，在驱动摄像模组在至少两个焦平面上对光源面板进行成像，得到至少两张判定图像之前，还包括如下步骤：
步骤100：驱动所述摄像模组在测试焦平面上对所述光源面板进行成像，得到测试图像；
步骤200：识别所述测试图像中是否存在脏污，若存在，则进行步骤300。
3.根据权利要求1或2所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，在步骤400中，根据至少两张判定图像中脏污的对比度和图像位置中的至少一项参数的变化情况，判定所述脏污是位于所述摄像模组上，还是位于所述光源面板上。
4.根据权利要求3所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变小，则判定所述脏污位于所述摄像模组的可动透镜上。
5.根据权利要求3所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变大，但位置无变化，则判定所述脏污位于所述摄像模组的不可动透镜上。
6.根据权利要求3所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，相较于近焦平面，若与远焦平面所对应的判定图像中脏污的对比度变大，且位置发生变化，则判定所述脏污位于所述光源面板上。
7.根据权利要求1或2所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，至少两个焦平面中包括最近焦平面和最远焦平面。
8.根据权利要求1或2所述的摄像模组的脏污测试方法，其特征在于，所述光源面板为白色光源。
9.一种摄像模组的脏污测试装置，包括处理器以及与所述处理器连接的存储器，所述存储器内储存有供所述处理器执行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行该计算机程序时，进行权利要求1-8中任一所述的脏污测试方法。
10.一种可读存储介质，其储存有供处理器执行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行该计算机程序时，进行权利要求1-8中任一所述的脏污测试方法。
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Legal Events
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |