CN113933496B - 一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置 - Google Patents

一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置，本发明涉及荧光免疫定量分析仪技术领域，所述凸透镜一和分色镜之间的主光轴处设置有半反射镜一；所述半反射镜一的反射光线主光轴处设置有全反射镜；所述全反射镜的反射光线主光轴处设置有半反射镜二；所述半反射镜二的反射侧设置有凸透镜四和柱面镜二。本发明通过半反射镜一、全反射镜和半反射镜二将入射光线分流至样片的背部，从而同步测量同一光源，时间，位置，环境下的同一样片正反面数据，将正面测量的荧光数据与反面的基准数据相减可以得到校准后的荧光数据，本发明突出的特点在于，可以去除因材质的特殊性、偶然性以及光源的磨损、机械传动结构的磨损等导致的波动及误差。

Description

一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置
技术领域
本发明涉及荧光免疫定量分析仪技术领域，尤其涉及一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置。
背景技术
在荧光免疫定量分析仪的使用中，由于光源的损耗，以及机械传动结构的磨损，以及环境温湿度的改变，校准方法不统一等，容易造成荧光免疫定量分析的失误，严重影响多次测量的准确性和重复性，现有技术中通常是采用空白卡片作为校准卡片，但是校准卡片与测量卡片可能由于不同批次、湿度、工艺，而达不到较为精准的校准目的，且就算二者是同一批次、湿度、工艺下的卡片也难以克服因卡片特殊性、偶然性导致的波动及误差，因而需要一种更精准的校准装置来保证多次测量的准确性和重复性。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述的问题，而提出的一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置，包括光源，所述光源的主光轴处设置有凸透镜一和分色镜，所述凸透镜一将入射光线转化为平行光线并照射在分色镜上，所述分色镜的反射侧设置有凸透镜二和柱面镜一，所述凸透镜二将平行光线聚焦在柱面镜一上，所述柱面镜一上将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片；所述分色镜的非反射侧设置有滤色片、凸透镜三和光学接收器一，所述滤色片和分色镜过滤样片的反射杂光、所述凸透镜三将过滤光线聚焦在光学接收器一的感光处。
所述凸透镜一和分色镜之间的主光轴处设置有半反射镜一，所述半反射镜一反射部分入射平行光线；
所述半反射镜一的反射光线主光轴处设置有全反射镜，所述全反射镜反射全部入射光线；
所述全反射镜的反射光线主光轴处设置有半反射镜二，所述半反射镜二反射部分入射光线；
所述半反射镜二的反射侧设置有凸透镜四和柱面镜二，所述凸透镜四将半反射镜二的反射的光线聚焦在柱面镜二上，所述柱面镜二将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片的背部；
所述半反射镜二的非反射侧设置有凸透镜五和光学接收器二，所述凸透镜五将样片背部反射光线聚焦在光学接收器二的感光处。
可选地，所述半反射镜一连接有转动夹具，所述转动夹具上还夹持有半反射镜三，所述转动夹具轴向转动并带动其上的半反射镜一和半反射镜三其中一个与入射光线接触或二者同时与入射光线接触。
可选地，所述半反射镜一和半反射镜三的夹角为90°。
可选地，所述转动夹具连接有驱动其90°转动的槽轮机构。
可选地，垂直于入射平行光线的两侧分别设置有凸透镜六、柱面镜三和凸透镜七、光学接收器三，当半反射镜三转动至凸透镜六和凸透镜七之间时，入射平行光线部分反射至凸透镜六，所述凸透镜六将平行光线聚焦在柱面镜三上，所述柱面镜三将聚焦光线转化为线状光线并照射在荧光强度样片上，所述凸透镜七将荧光强度样片的反射光线聚焦在光学接收器三的感光处。
本发明具备以下优点：
本发明通过半反射镜一、全反射镜和半反射镜二将入射光线分流至样片的背部，从而同步测量同一光源，时间，位置，环境下的同一样片正反面数据，将正面测量的荧光数据与反面的基准数据相减可以得到校准后的荧光数据，本发明突出的特点在于，可以去除因材质的特殊性、偶然性以及光源的磨损、机械传动结构的磨损等导致的波动及误差。
附图说明
图1为本发明的实施例一整体结构示意图；
图2为本发明的实施例二部分结构示意图；
图3为本发明的实施例二中转动夹具和槽轮机构示意图。
图中：1光源、2凸透镜一、3分色镜、4凸透镜二、5柱面镜一、6样片、7滤色片、8凸透镜三、9光学接收器一、10半反射镜一、11全反射镜、12半反射镜二、13凸透镜四、14柱面镜二、15凸透镜五、16光学接收器二、17半反射镜三、18转动夹具、19凸透镜六、20柱面镜三、21凸透镜七、22光学接收器三、23荧光强度样片、24槽轮机构。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例一
所述光源1的主光轴处设置有凸透镜一2和分色镜3，所述凸透镜一2将入射光线转化为平行光线并照射在分色镜3上，所述分色镜3的反射侧设置有凸透镜二4和柱面镜一5，所述凸透镜二4将平行光线聚焦在柱面镜一5上，所述柱面镜一5上将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片6；所述分色镜3的非反射侧设置有滤色片7、凸透镜三8和光学接收器一9，所述滤色片7和分色镜3过滤样片6的反射杂光、所述凸透镜三8将过滤光线聚焦在光学接收器一9的感光处。
参照图1，样片6的检测流程如下：光源1开启后经由凸透镜一2后被分色镜3反射至凸透镜二4处，凸透镜二4聚焦在柱面镜一5上使之产生线状光线并照射在样片6上，样片6可以通过电机等带动其水平运动从而进行全面的扫描，样片6反射的光线由凸透镜二4转化为平行光线并被分色镜3和滤色片7过滤杂光，最后通过凸透镜三8聚焦在光学接收器一9上，光学接收器一9将光信号转化为电信号，并通过A/D转换器和放大滤波后输出至单片机。
参照图1，所述凸透镜一2和分色镜3之间的主光轴处设置有半反射镜一10，所述半反射镜一10反射部分入射平行光线，所述半反射镜一10的反射光线主光轴处设置有全反射镜11，所述全反射镜11反射全部入射光线，所述全反射镜11的反射光线主光轴处设置有半反射镜二12，所述半反射镜二12反射部分入射光线。
参照图1，所述半反射镜二12的反射侧设置有凸透镜四13和柱面镜二14，所述凸透镜四13将半反射镜二12的反射的光线聚焦在柱面镜二14上，所述柱面镜二14将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片6的背部。
在本实施例中，半反射镜一10和半反射镜二12可以分别反射和折射部分光线。
所述半反射镜二12的非反射侧设置有凸透镜五15和光学接收器二16，所述凸透镜五15将样片背部反射光线聚焦在光学接收器二16的感光处。
参照图1，校准流程如下：
光源1的光线经由凸透镜一2后一部分被半反射镜一10反射至全反射镜11处，全反射镜11将光线进一步反射至半反射镜二12处，半反射镜二12将光线反射至凸透镜四13处，凸透镜四13将光线聚焦在柱面镜二14处，柱面镜二14将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片6的背部，样片6背部的反射光经由凸透镜四13转化为平行光后通过凸透镜五15聚焦在光学接收器二16处转化为电信号，并通过A/D转换器和放大滤波后输出至单片机，实现了同步对样片6的背面进行扫描，从而可以得到样片6与正面相同位置的数据，该数据可以直观的反应样片6背面与正面荧光相同位置的基准数据，将正面测量的荧光数据与反面的基准数据相减可以得到校准后的荧光数据，可以去除因材质的特殊性、偶然性以及光源的磨损、机械传动结构的磨损等导致的波动及误差，例如当正面荧光检测的某段波形发生变化，可以通过样片6背面波形是否同步变化来直观的了解是否为荧光信息。
实施例二
所述半反射镜一10连接有转动夹具18，所述转动夹具18上还夹持有半反射镜三17，所述转动夹具18轴向转动并带动其上的半反射镜一10和半反射镜三17其中一个与入射光线接触或二者同时与入射光线接触。
在本实施例中，所述半反射镜一10和半反射镜三17的夹角为90°，所述转动夹具18连接有驱动其90°转动的槽轮机构24，槽轮机构24具体如图3所示，采用四槽槽轮机构，从而可以实现90°转动，来实现不同校准功能的切换。
垂直于入射平行光线的两侧分别设置有凸透镜六19、柱面镜三20和凸透镜七21、光学接收器三22，当半反射镜三17转动至凸透镜六19和凸透镜七21之间时，入射平行光线部分反射至凸透镜六19，所述凸透镜六19将平行光线聚焦在柱面镜三20上，所述柱面镜三20将聚焦光线转化为线状光线并照射在荧光强度样片23上，所述凸透镜七21将荧光强度样片23的反射光线聚焦在光学接收器三22的感光处。
以图3为例，当转动夹具18向左旋转90°，从而使得半反射镜三17，转动至左侧半反射镜一10处并将其替代，而当转动夹具18向右旋转90°复位后，此时半反射镜三17可以将部分入射光线反射至凸透镜六19处，并聚焦在柱面镜三20上转化为线性光线对荧光强度样片23进行扫描，荧光强度样片23的反射光线经由凸透镜六19转化为平行光线并最终被凸透镜七21聚焦在光学接收器三22的感光处，通过A/D转换器和放大滤波后输出至单片机，实现了对同时对样片6正反面以及荧光强度样片23的同步检测。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置，包括光源（1），所述光源（1）的主光轴处设置有凸透镜一（2）和分色镜（3），所述凸透镜一（2）将入射光线转化为平行光线并照射在分色镜（3）上，所述分色镜（3）的反射侧设置有凸透镜二（4）和柱面镜一（5），所述凸透镜二（4）将平行光线聚焦在柱面镜一（5）上，所述柱面镜一（5）上将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片（6）；所述分色镜（3）的非反射侧设置有滤色片（7）、凸透镜三（8）和光学接收器一（9），所述滤色片（7）和分色镜（3）过滤样片（6）的反射杂光、所述凸透镜三（8）将过滤光线聚焦在光学接收器一（9）的感光处，其特征在于：
所述凸透镜一（2）和分色镜（3）之间的主光轴处设置有半反射镜一（10），所述半反射镜一（10）反射部分入射平行光线；
所述半反射镜一（10）的反射光线主光轴处设置有全反射镜（11），所述全反射镜（11）反射全部入射光线；
所述全反射镜（11）的反射光线主光轴处设置有半反射镜二（12），所述半反射镜二（12）反射部分入射光线；
所述半反射镜二（12）的反射侧设置有凸透镜四（13）和柱面镜二（14），所述凸透镜四（13）将半反射镜二（12）的反射的光线聚焦在柱面镜二（14）上，所述柱面镜二（14）将聚焦光线转化为线状光线并照射在样片（6）的背部；
所述半反射镜二（12）的非反射侧设置有凸透镜五（15）和光学接收器二（16），所述凸透镜五（15）将样片背部反射光线聚焦在光学接收器二（16）的感光处；
所述半反射镜一（10）连接有转动夹具（18），所述转动夹具（18）上还夹持有半反射镜三（17），所述转动夹具（18）轴向转动并带动其上的半反射镜一（10）和半反射镜三（17）其中一个与入射光线接触或二者同时与入射光线接触；
所述转动夹具（18）连接有驱动其90°转动的槽轮机构（24）；
垂直于入射平行光线的两侧分别设置有凸透镜六（19）、柱面镜三（20）和凸透镜七（21）、光学接收器三（22），当半反射镜三（17）转动至凸透镜六（19）和凸透镜七（21）之间时，入射平行光线部分反射至凸透镜六（19），所述凸透镜六（19）将平行光线聚焦在柱面镜三（20）上，所述柱面镜三（20）将聚焦光线转化为线状光线并照射在荧光强度样片（23）上，所述凸透镜七（21）将荧光强度样片（23）的反射光线聚焦在光学接收器三（22）的感光处。
2.根据权利要求1所述的一种用于荧光免疫定量分析仪的校准装置，其特征在于，所述半反射镜一（10）和半反射镜三（17）的夹角为90°。
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