CN113889178A - 一种固态硬盘老化测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种固态硬盘老化测试装置,属于测试装置技术领域,包括限位框架,所述限位框架的内部设置有测试机构,限位框架的一端设置有用于对测试机构起到降温作用的散热机构,测试机构包括用于对硬盘起到测试作用的测试组件、用于对测试组件起到限位作用的限位组件,用于驱动硬盘移动的驱动组件和动力组件,测试组件和动力组件设置在限位组件的内部,动力组件滑动连接在测试组件上,驱动组件设置在动力组件的顶部,所述测试组件包括测试箱;本发明结构简单,使用方便,使用时通过散热机构对硬盘进行高效散热,有效避免硬盘在测试过程中由于温度过高而发生故障,提升测试装置的测试精度。

Description

一种固态硬盘老化测试装置
技术领域
本发明属于测试装置技术领域,具体涉及一种固态硬盘老化测试装置。
背景技术
硬盘通常是指计算机上的数据存储部件,硬盘按照类型可以划分为机械硬盘和固定硬盘,机械硬盘通常由一个或者多个铝制或者玻璃制的碟片组成,固态硬盘通常由固态电子存储芯片阵列制成,硬盘往往需要进行老化测试,此时需要用到硬盘老化测试装置;
传统的硬盘老化测试装置包括散热通孔和支撑杆等结构,该测试装置的优点在于,可以对硬盘进行老化测试;
然而该测试装置由于散热结构比较简单,导致测试装置对硬盘的散热效果较差,使得硬盘在测试过程中很容易由于温度过高而发生故障,影响装置的测量精度,不利于装置的推广和使用。
发明内容
本发明的目的在于提供一种固态硬盘老化测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种固态硬盘老化测试装置,包括限位框架,所述限位框架的内部设置有测试机构,限位框架的一端设置有用于对测试机构起到降温作用的散热机构,测试机构包括用于对硬盘起到测试作用的测试组件、用于对测试组件起到限位作用的限位组件,用于驱动硬盘移动的驱动组件和动力组件,测试组件和动力组件设置在限位组件的内部,动力组件滑动连接在测试组件上,驱动组件设置在动力组件的顶部。
作为本发明进一步的方案:所述测试组件包括测试箱,测试箱的内部设置有用于对硬盘起到测试作用的测试主板,测试箱的底部设置有用于对测试主板起到散热作用的降温板。
作为本发明再进一步的方案:所述限位组件包括支撑底座,支撑底座的两端设置有限位滑轨,限位滑轨的一端滑动连接有与测试箱相对应的限位滑板。
作为本发明再进一步的方案:所述动力组件包括导向板,导向板上开设有若干个导向通孔,导向板的一侧间隔设置有第一驱动板,第一驱动板的两端设置有与导向板相对应的限位连接杆,限位连接杆与测试箱滑动连接,支撑底座的两端设置有用于驱动第一驱动板靠近测试主板的第一弹性驱动件,支撑底座的一端设置有用于驱动第一驱动板竖向移动的第二驱动板。
作为本发明再进一步的方案:所述第二驱动板的两端设置有第一磁板,第一驱动板的两端设置有用于配合第一磁板起到降噪作用的第二磁板。
作为本发明再进一步的方案:所述驱动组件包括限位底座,限位底座的内部设置有第一驱动件,第一驱动件的伸缩端设置有传动件,限位底座的两侧设置有用于对硬盘起到驱动作用的第一限位板,第一限位板的一端设置有与限位底座滑动连接的传动板,传动板与传动件滑动连接,测试箱的底部设置有与第一驱动件通过管道连接的第二驱动件,第二驱动件的一端设置有用于驱动其伸缩端伸展的第三弹性驱动件。
作为本发明再进一步的方案:所述传动板的一端设置有用于驱动第一限位板靠近限位底座的第二弹性驱动件。
作为本发明再进一步的方案:所述第一限位板的侧面设置有用于起到防滑作用的弹性缓冲板。
作为本发明再进一步的方案:所述散热机构包括降温箱,降温箱远离限位框架的一端设置有风机,降温箱的两端设置有输气管,输气管远离降温箱的一端设置有降温管。
作为本发明再进一步的方案:所述限位框架的底部设置有地轮。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明结构简单,使用方便,使用时通过散热机构对硬盘进行高效散热,有效避免硬盘在测试过程中由于温度过高而发生故障,提升测试装置的测试精度,其次,本装置通过多组件之间的联动配合,可以对硬盘进行快速拆卸,有效缩短用户在取下硬盘时所耗费的时间,降低工作人员的劳动强度,提升工作人员的工作效率,值得推广和使用。
附图说明
图1为一种固态硬盘老化测试装置的结构示意图;
图2为一种固态硬盘老化测试装置的结构剖视图;
图3为一种固态硬盘老化测试装置中的测试机构的结构示意图;
图4为一种固态硬盘老化测试装置中的驱动组件的结构示意图;
图5为一种固态硬盘老化测试装置中的第一驱动板的结构示意图;
图6为一种固态硬盘老化测试装置中的第二驱动板的结构示意图;
图中:1-地轮、2-限位框架、3-测试机构、4-散热机构、31-第一弹性驱动件、32-限位滑板、33-限位滑轨、34-导向板、35-导向通孔、36-驱动组件、37-测试主板、361-传动板、362-第二弹性驱动件、363-第一限位板、364-弹性缓冲板、365-限位底座、366-第一驱动件、367-传动件、381-降温板、382-测试箱、383-支撑底座、384-限位连接杆、385-第一驱动板、386-第二驱动板、387-第二驱动件、388-第三弹性驱动件、389-第一磁板、391-第二磁板、392-测试组件、393-动力组件、394-限位组件、41-输气管、42-降温管、43-风机、44-降温箱。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本专利的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解,例如,可以是固定相连、设置,也可以是可拆卸连接、设置,或一体地连接、设置。
对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。
请参阅图1,本实施例提供了一种固态硬盘老化测试装置,包括限位框架2,限位框架2的内部设置有测试机构3,限位框架2的一端设置有用于对测试机构3起到降温作用的散热机构4,测试机构3包括用于对硬盘起到测试作用的测试组件392、用于对测试组件392起到限位作用的限位组件394,用于驱动硬盘移动的驱动组件36和动力组件393,测试组件392和动力组件393设置在限位组件394的内部,动力组件393滑动连接在测试组件392上,驱动组件36设置在动力组件393的顶部;
请参阅图3,在一个实施例中,为了使测试组件392的使用更加可靠,本实施例中,优选的,测试组件392包括测试箱382,测试箱382的一端设置有把手,测试箱382的内部设置有用于对硬盘起到测试作用的测试主板37,测试箱382的底部设置有用于对测试主板37起到散热作用的降温板381;
在另一个实施例中,为了使测试组件392的散热效果更好,测试组件392包括测试箱382,测试箱382的内部设置有用于对硬盘起到测试作用的测试主板37,测试箱382的底部间隔设置有用于对测试主板37起到散热作用的散热扇;
请参阅图2和图3,在一个实施例中,为了使限位组件394的使用更加可靠,本实施例中,优选的,限位组件394包括支撑底座383,支撑底座383的两端设置有限位滑轨33,限位滑轨33的一端滑动连接有与测试箱382相对应的限位滑板32,限位滑轨33上设置有与限位滑板32相对应的限位块,使得限位滑板32并不会从限位滑轨33上意外脱落;
在另一个实施例中,为了使限位组件394的成本更低,限位组件394包括支撑底座383,支撑底座383的两端滑动连接有限位滑板32,支撑底座383的两端开设有与限位滑板32相对应的限位滑槽;
请参阅图3、图5和图6,在一个实施例中,为了使动力组件393的使用更加可靠,本实施例中,优选的,动力组件393包括导向板34,导向板34上开设有若干个导向通孔35,导向板34的一侧间隔设置有第一驱动板385,第一驱动板385的两端设置有与导向板34相对应的限位连接杆384,限位连接杆384与测试箱382滑动连接,支撑底座383的两端设置有用于驱动第一驱动板385靠近测试主板37的第一弹性驱动件31,支撑底座383的一端设置有用于驱动第一驱动板385竖向移动的第二驱动板386;
第二驱动板386和第一驱动板385在水平方向上存在一定间距,也就是说,当用户拉动测试箱382滑动时,测试箱382滑动一段距离之后,第一驱动板385和第二驱动板386才会相互接触,随着用户的进一步拉动,通过第二驱动板386驱动第一驱动板385竖向运动;
为了使装置的降噪效果更好,本实施例中,优选的,第二驱动板386的两端设置有第一磁板389,第一驱动板385的两端设置有用于配合第一磁板389起到降噪作用的第二磁板391;
使用时通过第一磁板389和第二磁板391的相互排斥,避免第一驱动板385与第二驱动板386相互摩擦而产生巨大噪音,第一弹性驱动件31的结构不加限制,本实施例中,优选的,第一弹性驱动件31为弹簧或弹性橡胶块;
在另一个实施例中,为了使动力组件393的使用更加方便,动力组件393包括导向板34,导向板34上开设有若干个导向通孔35,导向板34的一侧间隔设置有第一驱动板385,第一驱动板385的两端设置有与导向板34相对应的限位连接杆384,限位连接杆384与测试箱382滑动连接,第一驱动板385的两端设置有与测试箱382相对应的电动伸缩杆,使用时通过电动伸缩杆的伸展或收缩对第一驱动板385与测试箱382之间的间距进行调节;
请参阅图3和图4,在一个实施例中,为了使驱动组件36的使用更加可靠,本实施例中,优选的,驱动组件36包括限位底座365,限位底座365的内部设置有第一驱动件366,第一驱动件366的伸缩端设置有传动件367,限位底座365的两侧设置有用于对硬盘起到驱动作用的第一限位板363,第一限位板363的一端设置有与限位底座365滑动连接的传动板361,传动板361与传动件367滑动连接,测试箱382的底部设置有与第一驱动件366通过管道连接的第二驱动件387,第二驱动件387的一端设置有用于驱动其伸缩端伸展的第三弹性驱动件388;
第三弹性驱动件388的结构不加限制,本实施例中,优选的,第三弹性驱动件388为弹簧或弹性橡胶块,第一驱动件366和第二驱动件387的结构不加限制,本实施例中,优选的,第一驱动件366和第二驱动件387为活塞液压缸或活塞气缸,第一驱动件366和第二驱动件387通过连接软管相连通,该连接软管隐藏式排布,因此附图中并未进行相应展示;
请参阅图4,在一个实施例中,为了使传动板361的复位效果更好,本实施例中,优选的,传动板361的一端设置有用于驱动第一限位板363靠近限位底座365的第二弹性驱动件362,第二弹性驱动件362的结构不加限制,本实施例中,优选的,第二弹性驱动件362为弹簧或弹性橡胶块;
请参阅图4,在一个实施例中,为了使第一限位板363对硬盘的驱动效果更好,本实施例中,优选的,第一限位板363的侧面设置有用于起到防滑作用的弹性缓冲板364;
在另一个实施例中,为了使驱动组件36的使用更加方便,驱动组件36包括限位底座365,限位底座365的内部设置有电动伸缩杆,电动伸缩杆的一端设置有传动件367,限位底座365的两侧设置有用于对硬盘起到驱动作用的第一限位板363,第一限位板363的一端设置有与限位底座365滑动连接的传动板361,传动板361与传动件367滑动连接;
请参阅图2,在一个实施例中,为了使散热机构4的使用更加可靠,本实施例中,优选的,散热机构4包括降温箱44,降温箱44远离限位框架2的一端设置有风机43,降温箱44的两端设置有输气管41,输气管41远离降温箱44的一端设置有降温管42;
在另一个实施例中,为了使散热机构4的散热效果更好,散热机构4包括降温箱44,降温箱44的两端设置有用于对降温箱44内的空气起到降温作用的半导体制冷片,降温箱44的内壁上设置有与半导体制冷片相对应的降温翅片,降温箱44远离限位框架2的一端设置有风机43,降温箱44的两端设置有输气管41,输气管41远离降温箱44的一端设置有降温管42;
请参阅图1,在一个实施例中,为了使测试装置的移动更加方便,本实施例中,优选的,限位框架2的底部设置有地轮1,地轮1为具有自锁功能的万向轮。
本发明的工作原理及使用流程:使用时将固态硬盘插在测试主板37上进行老化测试,与此同时,接通风机43的电源,通过风机43的工作对固态硬盘进行散热,有效避免硬盘在测试过程中由于温度过高而发生故障,提升测试装置的测试精度;
当用户需要对少量硬盘进行更换时,向外拉动测试箱382,此时测试箱382向外侧移动,从而便于用户对固态硬盘进行更换;
当用户需要对全部硬盘进行更换时,向外拉动测试箱382,当感受到阻力时,进一步拉动测试箱382,此时第一驱动板385先沿着第二驱动板386向上移动,然后再沿着第二驱动板386向下移动,在第一驱动板385向上移动的过程中,第二驱动件387被压缩,此时第一驱动件366相应的伸展,从而使第一限位板363搭配弹性缓冲板364对固态硬盘进行可靠固定,与此同时,导向板34竖直向上移动,从而使所有固态硬盘均被拔下,当第一驱动板385进行后续的下移操作时,第二驱动件387回到初始状态,此时第一驱动件366相应的收缩,从而使固态硬盘被释放,此时所有固态硬盘均处于未固定状态,从而在用户拉动测试箱382的过程中实现对固态硬盘的批量快速拆卸,使用户可以将固态硬盘快速取下,有效缩短用户在取下硬盘时所耗费的时间,降低工作人员的劳动强度,提升工作人员的工作效率。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (10)

1.一种固态硬盘老化测试装置,包括限位框架,其特征在于:所述限位框架的内部设置有测试机构,限位框架的一端设置有用于对测试机构起到降温作用的散热机构,测试机构包括用于对硬盘起到测试作用的测试组件、用于对测试组件起到限位作用的限位组件,用于驱动硬盘移动的驱动组件和动力组件,测试组件和动力组件设置在限位组件的内部,动力组件滑动连接在测试组件上,驱动组件设置在动力组件的顶部。
2.根据权利要求1所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述测试组件包括测试箱,测试箱的内部设置有用于对硬盘起到测试作用的测试主板,测试箱的底部设置有用于对测试主板起到散热作用的降温板。
3.根据权利要求2所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述限位组件包括支撑底座,支撑底座的两端设置有限位滑轨,限位滑轨的一端滑动连接有与测试箱相对应的限位滑板。
4.根据权利要求3所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述动力组件包括导向板,导向板上开设有若干个导向通孔,导向板的一侧间隔设置有第一驱动板,第一驱动板的两端设置有与导向板相对应的限位连接杆,限位连接杆与测试箱滑动连接,支撑底座的两端设置有用于驱动第一驱动板靠近测试主板的第一弹性驱动件,支撑底座的一端设置有用于驱动第一驱动板竖向移动的第二驱动板。
5.根据权利要求4所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述第二驱动板的两端设置有第一磁板,第一驱动板的两端设置有用于配合第一磁板起到降噪作用的第二磁板。
6.根据权利要求4所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述驱动组件包括限位底座,限位底座的内部设置有第一驱动件,第一驱动件的伸缩端设置有传动件,限位底座的两侧设置有用于对硬盘起到驱动作用的第一限位板,第一限位板的一端设置有与限位底座滑动连接的传动板,传动板与传动件滑动连接,测试箱的底部设置有与第一驱动件通过管道连接的第二驱动件,第二驱动件的一端设置有用于驱动其伸缩端伸展的第三弹性驱动件。
7.根据权利要求6所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述传动板的一端设置有用于驱动第一限位板靠近限位底座的第二弹性驱动件。
8.根据权利要求6所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述第一限位板的侧面设置有用于起到防滑作用的弹性缓冲板。
9.根据权利要求1所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述散热机构包括降温箱,降温箱远离限位框架的一端设置有风机,降温箱的两端设置有输气管,输气管远离降温箱的一端设置有降温管。
10.根据权利要求1-9任一所述的固态硬盘老化测试装置,其特征在于:所述限位框架的底部设置有地轮。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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