CN113876298B - 一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,属于中医舌相系统;具体是:首先,针对舌苔的固定部位,采用空间频率固定,相位不同的结构光以相同的入射夹角多次照射到该部位上,分别采集每次照射的图像;然后,将相位固定,采用空间频率不同的结构光,重复以相同入射夹角多次照射到该部位上,再次采集每次照射的反射图像;最后,将不同相位,不同空间频率的结构光下的反射图像,利用创新的多图像融合技术计算舌苔精细三维形貌,通过模式识别技术分析舌苔的纹理、突起、密度和平滑度。本发明使用结构光对舌苔进行测量,能够测量舌苔组织的精细三维结构,可提供更丰富的信息帮助疾病诊疗。

Description

一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法
技术领域
本发明涉及中医舌相系统,特别是舌相的信息采集;具体是一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法。
背景技术
现有舌相系统使用可见光照射舌苔,采集反射光,配合模式识别技术进行诊断。
例如申请号为CN201510684446.5的“一种舌苔图像采集装置、舌相仪和舌苔检测方法”;以及申请号为CN201821752114.1的“动物舌相数字化诊疗系统”;上述两种现有技术中虽然利用不同波长的光照舌苔,采集反射波长进行诊断,但是无法获得舌苔上的纹理、突起、密度、平滑度和三维形貌等精细信息;这些信息与人体健康状态存在关联,可以进一步推知人体生理、疾病状况。
无法测量这些信息带来的后果是无法获取更完备的人体生理信息。
发明内容
本发明针对上述问题,提出了一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,通过结构光和模式识别技术,测量舌苔的精细结构信息,给医生提供了更精确的数据,方便医生诊断。
所述的舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,具体步骤如下:
首先,将固定空间频率,不同相位的结构光以一定入射夹角多次照射到舌苔上,分别采集每次照射的图像;
入射夹角是指:光入射角与舌面固定部位表面法线的夹角,夹角的取值根据经验选择。由于存在入射夹角,当舌苔表面高度变化时,反射图像在舌面固定部位的相位会发生变化,相位变化的大小反映了高度变化大小。
然后,将固定相位,不同空间频率的结构光,重复以一定入射夹角多次照射到舌苔上,分别采集每次照射的反射图像;
最后,将不同相位,不同空间频率的结构光下的反射图像,利用创新的多图像融合技术计算舌苔精细三维形貌,通过模式识别技术分析舌苔的纹理、突起、密度和平滑度。
具体为:分析纹理是指舌苔表面精细结构在空间上的模式分布;有统计法,结构法,频谱法,主要是分析规律性结构;
分析突起是指以舌苔组织高度为基准,高于组织平面的细小结构;
分析密度是指单位面积内纹理和突起的数量;
分析平滑度是指通过突起的大小和高度变化反映的平滑度。
本发明一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,优点在于:
(1)使用结构光对舌苔进行测量,能够测量舌苔组织的精细三维结构。
(2)利用模式识别技术分析舌苔的三维结构,进而得到纹理、突起、密度、平滑度等,可提供更丰富的信息帮助疾病诊疗。
附图说明
图1为本发明一种舌苔三维形貌及精细结构的测量的结构示意图;
图2为本发明一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法的流程图。
图3为本发明实施例构造的舌苔形貌及精细结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图和实施例对本发明做进一步详细说明,以使本发明的目的和优势更加清晰。以下说明仅为示例,并非限制本发明的使用范围;
本发明提出了一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,是一种测量舌苔精细结构的方法;本发明采用的设备与一般图像采集设备不同,本发明中的图像采集设备使用多频率、多相位的正弦条纹照明,如图1所示;采用了结构光和模式识别技术,得到舌苔纹理、突起、密度、平滑度、三维形貌等信息,帮助更准确的舌诊。
如图2所示,具体步骤如下:
步骤一、将固定空间频率和相位的结构光,以一定入射角度照射到舌苔上,采集反射图像;
本实施例选取的空间频率为0.1mm-1的强度正弦变化的结构光,光入射角与舌苔某一部位表面法线有15°夹角;入射角度的设置是需要与舌面表面法线有一定夹角,一般可根据经验选择。
由于存在入射夹角,当舌苔表面高度变化时,反射图像在该位置的相位会发生变化,相位变化的大小反映了高度变化大小。
步骤二、将同一空间频率、不同相位的结构光照射到舌苔的同一位置上,再次采集反射图像。
不同相位的结构光选取与步骤一中相差120°、240°相位;
步骤三、换用不同的空间频率,不同相位的结构光重复上述过程,采集更多反射图像;
用较低的空间频率,测量的舌苔三维形貌变化精度较低而不易出现伪影、畸变;用较高的空间频率,测量的舌苔三维形貌变化精度较高但易出现伪影、畸变,所以需要将二者结合起来。
步骤四、针对若干不同相位,不同空间频率的结构光对应的反射图像,利用创新的多图像融合技术,得到高精度的舌苔三维形貌结构H;
计算公式为:
H=arg min[(H-H1)^2+(H-H2)^2+……+(H-HM-1)^2+(H-HM)^2]
HM为第M次的结构光对应的反射图像中的舌苔三维形貌结构;
步骤五、通过模式识别技术分析舌苔三维形貌结构H的纹理、突起、密度和平滑度等信息。
具体过程为:
首先,进行纹理分析:将舌苔的三维形貌图像H进行边缘检测,得到纹理图像W;
常见的纹理分析方法中有统计法,结构法,频谱法,主要是分析规律性结构。
然后,求解优化问题:
k=[k1,k2,……,k180]=arg min(W-k1*W1-k2*W2-……-k180*W180)
k为描述舌苔纹理结构的向量参数,由180个元素([k1,k2,……,k180])组成,W1至W180为空间频率相同、角度间隔1°的正弦条纹图案。
最后,取舌苔高精度三维结构图H中高度高于组织平面基准的部分,记为突起部分;密度则为单位面积内突起的数量;平滑度则用各个突起部分大小的均值和标准差表示。
本发明中对舌苔的精细三维形貌测量应属首次,过去的方法无法对人体舌苔组织进行三维测量;而且,过去的舌诊方法无法将纹理、突起、密度、平滑度等信息考虑到诊断过程当中。
实施例:
步骤1:将一个表面平整的参考样品放置在测量位置,用空间频率为0.1mm-1的强度正弦变化的结构光,以入射角与舌苔某一部位表面法线有15°的夹角照射到样品上,采集反射图像。
步骤2:将同一空间频率、不同相位的结构光照射到样品上,采集反射图像。
步骤3:重复前两个步骤用M个空间频率,每个空间频率采集N个不同相位的图像,每个图像记为Imn;每个空间频率下利用正弦结构光三维重建,计算出三维图像记为Hm(m=1~M)。
步骤4:以初始位置为0mm,取-10mm至10mm,1mm为步长,逐渐改变参考样品的高度,重复使用M个空间频率,每个空间频率采集N个相位的图像,一共H个高度,则每个图像记为I_refmnh
步骤5:计算每个图像I_refmnh中每个像素位置的相位,得到相位图,记为P_refmnh
步骤6:取走参考样品,将舌苔置于参考样品的0mm位置,重复步骤1-3,即在同一高度采集不同空间频率、不同相位的图像,记为I_tismn
步骤7:计算I_tismn每个像素位置的相位,得到相位图,记为P_tismn
步骤8:由于存在入射夹角,当舌苔表面高度变化时,反射图像在该位置的相位会发生变化,相位变化的大小反映了高度变化大小。
比较相位图P_refmn和P_tismn,得到舌苔的精细三维结构。
步骤9:利用模式识别技术,分析舌苔的纹理、突起、密度、平滑度等信息。
最终,本实施例得到的舌苔样貌中纹理、突起、密度、平滑度等信息如图3所示。

Claims (3)

1.一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,其特征在于,具体步骤如下:
首先,针对舌苔的固定部位,采用空间频率固定,相位不同的结构光以相同的入射夹角多次照射到舌苔上,分别采集每次照射的图像;
然后,采用相位固定,不同空间频率的结构光,重复以相同入射夹角多次照射到舌苔的该部位上,分别采集每次照射的反射图像;
接着,重复用M个空间频率,每个空间频率采集N个不同相位的图像,利用创新的多图像融合技术计算舌苔该部位的三维形貌图像,计算公式为:
H=argmin[(H-H1)^2+(H-H2)^2+……+(H-HM-1)^2+(H-HM)^2]
HM为第M个空间频率下利用正弦结构光重建的三维图像;
通过固定步长,逐渐改变参舌苔该部位的高度,重复使用M个空间频率,每个空间频率采集N个相位的图像,一共H个高度,计算每个图像中每个像素位置的相位,得到相位图,
最后,通过模式识别技术分析舌苔三维形貌图像H的纹理、突起、密度和平滑度;
具体为:
首先,进行纹理分析,将舌苔的三维形貌图像H进行边缘检测,得到纹理图像W;
然后,求解优化问题:
k=[k1,k2,……,k180]=argmin(W-k1*W1-k2*W2-……-k180*W180)
k为描述舌苔纹理结构的向量参数,由180个元素([k1,k2,……,k180])组成,W1至W180为空间频率相同、角度间隔1°的正弦条纹图案。
2.如权利要求1所述的一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,其特征在于,所述的入射夹角是指:光入射角与舌面固定部位表面法线的夹角,夹角的取值根据经验选择;由于存在入射夹角,当舌苔表面高度变化时,反射图像在舌面固定部位的相位会发生变化,相位变化的大小反映了高度变化大小。
3.如权利要求1所述的一种舌苔三维形貌及精细结构的测量方法,其特征在于,所述的纹理分析是指舌苔表面精细结构在空间上的模式分布;有统计法,结构法,频谱法,主要是分析规律性结构;
分析突起是指以舌苔组织高度为基准,高于组织平面的细小结构;
分析密度是指单位面积内纹理和突起的数量;
分析平滑度是指通过突起的大小和高度变化反映的平滑度。
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