CN113793322A - 一种对磁性材料自动检测的方法、电子设备和存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种对磁性材料自动检测的方法、电子设备和存储介质，涉及磁性材料检测技术领域，包括采集待检测的磁性材料的待检测图像，对所述待检测图像进行预处理，提取预处理后的所述待检测图像的图像特征，将所述图像特征与对比数据进行对比，基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格。依照预设标准对磁性材料进行检测，有效提升了检测效率，提高了对磁性材料的检全率和检准率，避免了人工检验时人为操作引入的误差或者失误。

Description

一种对磁性材料自动检测的方法、电子设备和存储介质
技术领域
本发明涉及磁性材料检测领域，尤其涉及一种对磁性材料自动检测的方法、电子设备和存储介质。
背景技术
对于生产出来的磁性材料，需要进行尺寸测量、产品外观的检验检测。因为产品的量非常大，主要采取抽检的方式进行尺寸测量检测，主要通过招收很多工人进行人工肉眼观察产品进行外观检测。因此，存在漏检的情况，且人工进行外观检测，增加了人员成本，且每个检测人员的检测标准不一，细心程度也会影响检测结果。
发明内容
本说明书提供一种对磁性材料自动检测的方法、电子设备和存储介质，可依照预设标准对所有磁性材料自动进行尺寸测量和外观检测。
本申请提供的一种对磁性材料自动检测的方法采用如下的技术方案，包括：
采集待检测的磁性材料的待检测图像；
对所述待检测图像进行预处理；
提取预处理后的所述待检测图像的图像特征，将所述图像特征与对比数据进行对比；
基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格。
可选的，所述对所述待检测图像进行预处理，包括：
将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；
调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；
调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；
对待检测图像的待检测区域进行增强或拉伸调节。
可选的，所述采集所述待检测的磁性材料的待检测图像，包括：
判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置；
当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括若干不同功能的图像采集子模块，每个功能的所述图像采集子模块对应一个所述预设位置。
可选的，当所述图像采集子模块包括尺寸测量图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征,将所述图像特征与对比数据进行对比，包括：
对所述预处理后的所述待检测图像进行边界采样，获取采样点；
通过拟合所述采样点，得到所述待检测的磁性材料的轮廓曲线；
对比所述轮廓曲线和所述对比数据，记录对比测量值。
可选的，当所述图像采集子模块包括外部检测图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征，包括：
提取所述预处理后的所述待检测图像的边缘图像特征。
可选的，当所述图像采集子模块包括内部检测图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征，包括：
剔除所述预处理后的所述待检测图像的轮廓；
对所述待检测图像中余下的异常目标进行分析，提取异常区域图像特征。
可选的，当所述图像采集子模块包括表面检测图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征,将所述图像特征与对比数据进行对比，包括：
对所述预处理后的所述待检测图像进行切割缩放；
提取切割缩放后的所述预处理后的所述待检测图像的图像特征；
对所述图像特征进行分类识别，并分别与所述对比数据进行对比，对所述切割缩放后的所述待检测图像进行缺陷标注。
可选的，所述基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格，包括：
当所述对比结果属于预设阈值范围，判断所述待检测的磁性材料为合格品。
本说明书还提供一种电子设备，其中，该电子设备包括：
处理器；以及，
存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行上述任一项方法。
本说明书还提供一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序当被处理器执行时，实现上述任一项方法。
本发明通过采集待检测的磁性材料的待检测图像，对所述待检测图像进行预处理，提取预处理后的所述待检测图像的图像特征，将所述图像特征与对比数据进行对比，基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格。依照预设标准对磁性材料进行检测，有效提升了检测效率，提高了对磁性材料的检全率和检准率，避免了人工检验时人为操作引入的误差或者失误。
附图说明
图1为本说明书实施例提供的一种对磁性材料自动检测的方法的原理示意图；
图2为本说明书实施例提供的一种对磁性材料自动检测的方法的实施例一的原理示意图；
图3为本说明书实施例提供的一种对磁性材料自动检测的方法的实施例二的原理示意图；
图4为本说明书实施例提供的一种对磁性材料自动检测的方法的实施例三的原理示意图；
图5为本说明书实施例提供的一种对磁性材料自动检测的方法的实施例四的原理示意图；
图6为本说明书实施例提供的一种电子设备的结构示意图；
图7为本说明书实施例提供的一种计算机可读介质的原理示意图。
具体实施方式
以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。
现在将参考附图更全面地描述本发明的示例性实施例。然而，示例性实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为本发明仅限于在此阐述的实施例。相反，提供这些示例性实施例能够使得本发明更加全面和完整，更加便于将发明构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的元件、组件或部分，因而将省略对它们的重复描述。
在符合本发明的技术构思的前提下，在某个特定的实施例中描述的特征、结构、特性或其他细节不排除可以以合适的方式结合在一个或更多其他的实施例中。
在对于具体实施例的描述中，本发明描述的特征、结构、特性或其他细节是为了使本领域的技术人员对实施例进行充分理解。但是，并不排除本领域技术人员可以实践本发明的技术方案而没有特定特征、结构、特性或其他细节的一个或更多。
附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
术语“和/或”或者“及/或”包括相关联的列出项目中的任一个或多者的所有组合。
图1为本说明书实施例提供的一种对磁性材料自动检测的方法的原理示意图，该方法包括：
S110采集待检测的磁性材料的待检测图像；
通过感知模块判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置，当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括若干不同功能的图像采集子模块，每个功能的所述图像采集子模块对应一个所述预设位置。与不同功能的图像采集子模块对应的所述预设位置可以是相同的，也可以是不相同的。每个所述感知模块对应一个功能的所述图像采集子模块，用于判断所述待检测的磁性材料是否到达对应的所述预设位置，通知对应功能的所述图像采集子模块进行图像采集。所述待检测的磁性材料先经过所述感知模块，再经过所述图像采集模块。具体的，当所述感知模块判断所述待检测的磁性材料已到达所述预设位置时，通知所述图像采集模块采集所述待检测的磁性材料的图像。作为优选的，所述图像采集子模块为CCD工业摄像机。
所述图像采集子模块可以包括：尺寸测量图像采集子模块，用于采集需要进行尺寸测量的视图；外部检测图像采集子模块，用于采集需要进行崩边检测的视图；内部检测图像采集子模块，用于采集需要检测是否有崩边、刀丝、砂眼、裂纹、脏污、色差缺陷的视图；表面检测图像采集子模块，用于采集需要检测表面缺陷的视图。S120对所述待检测图像进行预处理；
S121将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；
所述图像采集模块采集到所述待检测的磁性材料的正投影视图之后，将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位，所述预设图像为标准件的图像，作为优选的，可以是以同一角度、同一高度拍摄的所述标准件的图像。所述标准件的尺寸精准无误差，边缘及表面的内部均无瑕疵。
当然，如果在以距离所述标准件的高度为a时拍摄参考图像后，所述图像采集模块距离所述待检测的磁性材料的高度为b时，需要等比例调整所述参考图像的大小为所述参考图像的a/b倍，作为第一预设图像。
基于所述对比数据中的尺寸规格，通过CAD、SOLIDWORKS等绘图软件绘制对比图片；基于所述第一预设图像，将所述对比图片进行等比例调整，作为第二预设图像。所述第一预设图像可以用于检测所述待检测的磁性材料的尺寸及表面缺陷。所述第二预设图像可以用于检测所述待检测的磁性材料的尺寸。
S122调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；
所述预设图像中的所述磁性材料位于所述预设图像的中部。在采集到所述待检测图像时，旋转所述待检测图像的方向与所述预设图像一致。
S123调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；
确定所述待检测图像中心点及所述预设图像的所述标准件中心点；移动所述待检测图像，使所述待检测的磁性材料中心点与所述标准件中心点一致。
S124对待检测图像的待检测区域进行增强处理；
将所述待检测区域的差异统计整体趋势自动调节在限制设定的范围内。所述待检测区域的差异可以包括：异形差异、背景差异、灰度差异、亮度差异和噪声处理差异。
所述待检测区域是指所述待检测图像中需要提取图像特征与所述对比数据进行对比的区域。
S130提取预处理后的所述待检测图像的图像特征，将所述图像特征与对比数据进行对比；
所述对比数据包括：尺寸数据和缺陷数据。所述尺寸数据包括所述待检测的磁性材料的标准件的所有尺寸规格，所述缺陷数据可以是基于崩边、刀丝、砂眼、裂纹、脏污、色差等的比对示意图。
所述图像特征可以包括颜色物征：边缘、频谱、色彩、角点等；形态学特征：轮廓、形状；纹理物征；空间关系等。进行的检测不同，提取的图像特征不同，例如在进行尺寸测量时，仅需提取出所述待检测的磁性材料的轮廓即可。
S140基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格。
所述对比结果为所述待检测的磁性材料的检测值与所述标准件的标准值之间的差值，基于所述对比结果，如所述对比结果属于所述预设阈值范围，则判断所述待检测的磁性材料为合格。例如，所述待检测的磁性材料的对比结果为c，设立的所述预设阈值为d，如所述实际比对数据位于所述预设阈值之间，即-|d|<c<|d|，则判断所述待检测的磁性材料为合格。如所述实际比对数据位于所述预设阈值之外，即c<-|d|或c>|d|，则所述待检测的磁性材料为不合格。
在本说明书的实施例1中，如图2所示，包括：
S210采集待检测的磁性材料的待检测图像；
判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置，当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括尺寸测量图像采集子模块。
具体的，所述尺寸测量图像采集子模块的数量可以为六个，分别位于所述预设位置的前、后、左、右、上、下六个方向，分别用于采集所述待检测的磁性材料的主视图、后视图、左视图、右视图、俯视图和仰视图。通过将所述待检测的磁性材料放置于透明盘上，以实现可以采集所述待检测的磁性材料的仰视图。作为优选的，所述六个尺寸测量图像采集子模块与采集面的距离均相同。
作为优选的，依据实际情况采集需要进行检测的采集面的图像。可以选择设置两个所述尺寸测量图像采集子模块，所述待检测图像中可以显示所述待检测的磁性材料的轴测图。
可以通过增加平行背光源凸出所述待检测的磁性材料与背景之间的对比度，凸显边缘轮廓，更有利于提取出所述待检测的磁性材料与所述背景的边界线。
S220对所述待检测图像进行预处理；
将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；对待检测图像的待检测区域进行增强处理。
S230对所述预处理后的所述待检测图像进行边界采样，获取采样点；
具体的，可以采集所述待检测区域的边缘的一个采样点，按照顺时针或逆时针的方向继续采集直至与第一个所述采样点重合。由于是测量所述待检测的磁性材料的边缘尺寸，至少需采集边缘的关键位置的采样点。如果所述待检测的磁性材料的检测面为多边形，则所有顶点均需采样，例如，所述待检测的磁性材料的检测面为矩形，需要检测长和宽，则所述采样点至少为四个顶点。如果所述待检测的磁性材料边缘有其他波谷点，也需要进行采样。例如，所述待检测的磁性材料的检测面为圆角矩形，则所述采样点还需要在弧段多次采样。
作为优选的，还可以采用卡尺定位方法，具体的，根据所述待检测图像，在所述待检测区域的边缘生成多个卡尺，其中，边缘线贯穿每个所述卡尺表示的矩形的两条对边，且所述边缘线与所述矩形的邻边相间隔，所述邻边表示所述矩形中与所述对边相邻的两条边；针对每个卡尺，根据该卡尺和该卡尺内的图像，通过导数确定出该卡尺的采样点，其中，所述采样点用于表示该卡尺内所述边缘线的位置。
S240通过拟合所述采样点，得到所述待检测的磁性材料的轮廓曲线；
将所有采样点依照采集顺序拟合，得到所述待检测的磁性材料的闭合的轮廓曲线。
S250对比所述轮廓曲线和所述对比数据，记录对比结果；
具体的，可以将所述轮廓曲线与所述预设图像进行重合对比，通过数据拟合记录对比测量值；当然，也可以预先计算得知所述标准件的尺寸m，基于本次获取的所述轮廓曲线，测得所述待检测的磁性材料的尺寸n，得到所述对比测量值n-m，所述对比结果包括所有的所述对比测量值。
S260基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格。
当所有的所述对比测量值均属于所述预设阈值范围，则判断所述待检测的磁性材料为尺寸测量合格品，否则，则判断所述待检测的磁性材料为尺寸测量不合格品。例如,所述待检测图像中的轮廓曲线为矩形,记录所述轮廓曲线中的长度方向与所述标准件的长度方向的长度差，记录所述轮廓曲线中宽度方向与所述标准件的宽度方向的宽度差，当所述长度差属于所述预设阈值范围，且所述宽度差属于所述预设阈值范围时，则判断所述待检测的磁性材料为尺寸测量合格品。
如果所述尺寸不合格品的数量显著增加时，可以反向追踪，通过之前记录的多个所述对比测量值和所述预设阈值，判断时是否因所述预设阈值设置不当(过高或过低)而引起的，进而进行调整。
在本说明书的实施例二中，如图3所示，包括：
S310采集待检测的磁性材料的待检测图像；
判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置，当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括外部检测图像采集子模块。
具体的，所述外部检测图像采集子模块的数量可以为六个，分别位于预设位置的前、后、左、右、上、下六个方向，分别用于采集所述待检测的磁性材料的主视图、后视图、左视图、右视图、俯视图和仰视图。通过将所述待检测的磁性材料放置于透明盘上，以实现可以采集所述待检测的磁性材料的仰视图。作为优选的，所述六个外部检测图像采集子模块与采集面的距离均相同。
作为优选的，依据实际情况采集需要进行检测的采集面的图像，可以选择设置两个所述外部检测图像采集子模块，所述待检测图像中可以显示所述待检测的磁性材料的轴测图。
S320对所述待检测图像进行预处理；
将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；对待检测图像的待检测区域进行增强或拉伸调节。
具体的，如果所述待检测的图像为彩色图像，对所述彩色图像进行灰度化处理，得到灰度图像，在所述灰度图像中计算子图像的灰度特征，基于提出的二值化阀值优化函数求取最佳阀值，基于最佳阀值对图像进行二值化，得到二值化图像。
作为优选的，调整所述图像采集子模块的拍摄模式，直接采集灰度图片，所述灰度图片为所述待检测图像，且不需要在预处理时进行灰度化。
S330提取所述预处理后的所述待检测图像的边缘图像特征；
提取所述预处理后的所述待检测图像中的所述待检测区域的边缘的轮廓曲线，将所述轮廓曲线分割成一组子轮廓；查找各子轮廓上的点，分别对各子轮廓上查找到的点进行拟合；按预设的步长，在各子轮廓上选取检测部位，对各检测部位的宽度值进行检测并记录。
当然，也可以依据步骤S230提到的卡尺定位方法提取所述预处理后的所述待检测图像的边缘图像特征。
S340将所述图像特征与对比数据进行对比，当所述对比结果属于预设阈值范围，判断所述待检测的磁性材料为合格品。
将所述宽度值进行聚类，计算出宽度值均值；将所述宽度值逐一与所述宽度值均值进行比较并计算二者差值的绝对值，若任一所述宽度值小于所述宽度值均值，且所述二者差值的绝对值大于所述预设阈值，则判断所述待检测图像存在崩边缺陷，判断所述待检测的磁性材料为崩边检测不合格品，否则，判断所述待检测的磁性材料为崩边检测合格品。
在本说明书的实施例三中，如图4所示，包括：
S410采集待检测的磁性材料的待检测图像；
判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置，当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括内部检测图像采集子模块。
具体的，所述内部检测图像采集子模块的数量可以为六个，分别位于预设位置的前、后、左、右、上、下六个方向，分别用于采集所述待检测的磁性材料的主视图、后视图、左视图、右视图、俯视图和仰视图。通过将所述待检测的磁性材料放置于透明盘上，以实现可以采集所述待检测的磁性材料的仰视图。作为优选的，所述六个内部检测图像采集子模块与采集面的距离均相同。
作为优选的，依据实际情况采集需要进行检测的采集面的图像，所述待检测图像中可以显示所述待检测的磁性材料的轴测图。
所述内部检测图像采集子模块采用光度立体法，产生具有增强的对比度和减小的表面噪声的图像。
S420对所述待检测图像进行预处理；
将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；对待检测图像的待检测区域进行增强或拉伸调节。
具体的，如果所述待检测的图像为彩色图像，对所述彩色图像进行灰度化处理，得到灰度图像，在所述灰度图像中计算子图像的灰度特征，基于提出的二值化阀值优化函数求取最佳阀值，基于最佳阀值对图像进行二值化，得到二值化图像。
作为优选的，调整所述图像采集子模块的拍摄模式，直接采集灰度图片，所述灰度图片为所述待检测图像，且不需要在预处理时进行灰度化。
S430剔除所述预处理后的所述待检测图像的轮廓；
提取所述预处理后的所述待检测图像中的所述待检测区域的边缘的轮廓的曲线，并在所述预处理后的所述待检测图像中对所述轮廓进行剔除，对之前提取的所述轮廓的曲线进行膨胀处理，在所述预处理后的所述待检测图像中减去所述轮廓，具体操作为，将所述预处理后的所述待检测图像中的轮廓膨胀区域的图像灰度值进行置零操作。
S440对所述待检测图像中余下的异常目标进行分析，提取异常区域图像特征；
通过动态相对阈值法，模糊所述待检测图像，通过将所述待检测图像和模糊处理后的所述待检测图像做减法操作得到异常区域，定量化所述异常区域的位置、面积等信息。
S450将所述图像特征与对比数据进行对比；当所述对比结果属于预设阈值范围，判断所述待检测的磁性材料为合格品。
融合进行预处理之后的所述待检测图像信息、对应原始所述预处理后的所述待检测图像中的灰度信息，对所述异常区域进行分析，确定异常的缺陷类型和划分缺陷的严重程度。所述异常的缺陷类型包括：刀丝、砂眼、裂纹、脏污和色差。
当所述对比结果属于所述预设阈值范围，则认定所述待检测的磁性材料为内部检测合格品，否则，则认定所述待检测的磁性材料为内部检测不合格品。
在本说明书的实施例四中，如图5所示，包括：
S510采集待检测的磁性材料的待检测图像；
判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置，当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括表面检测图像采集子模块，一个所述表面检测图像采集子模块对应一个所述预设位置。
具体的，所述表面检测图像采集子模块的数量为八个，环设在所述待检测的区域周围，用于采集所述待检测图像，所述待检测图像中可以显示所述待检测的磁性材料的轴测图。
S520对所述待检测图像进行预处理；
将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；对待检测图像的待检测区域进行增强或拉伸调节。
S530对所述预处理后的所述待检测图像进行切割缩放；
通过对所述预处理后的所述待检测图像进行切割缩放，提高检测效率。
S540提取切割缩放后的所述预处理后的所述待检测图像的图像特征，对所述图像特征进行分类识别，并分别与所述对比数据进行对比，对所述切割缩放后的所述待检测图像进行缺陷标注，得到对比结果；
具体的，提取所述切割缩放后的所述预处理后的所述待检测图像中的待检测区域为图像特征，通过所述外观检测模型识别所述图像特征的缺陷种类，基于不同的缺陷，分别与所述对比数据中进行对比，得到对比结果。
作为优选的，建立外观检测模型，包括：
采集通过所述图像采集子模块采集的对照图像；
对所述对照图像中的缺陷进行标注，所述缺陷包括：崩边、刀丝、砂眼、裂纹、脏污和色差；
裁剪所述缺陷对照图像为预设尺寸的图像，对标注缺陷的所述对照图像进行旋转、翻转和随机噪声等数据增强操作得到增强图像来扩充缺陷数据集；
通过自监督对比学习对所述外观检测模型进行训练。
当然，可以将标注缺陷的所述对照图像作为样本数据保存在所述对比数据中便于进行其他检测方法的对照。
S550当所述对比结果属于预设阈值范围，判断所述待检测的磁性材料为合格品。
当所有图像特征的对比结果均在所述预设阈值范围内，则判断所述待检测的磁性材料为外观检测合格品，否则，判断所述待检测的磁性材料为外观检测不合格品。
当然，所述一种对磁性材料自动检测的方法，包括本发明实施例一至四的至少一方法。
本发明实施例的装置的功能已经在上述的方法实施例中进行了描述，故本实施例的描述中未详尽之处，可以参见前述实施例中的相关说明，在此不做赘述。
基于同一发明构思，本说明书实施例还提供一种电子设备。
下面描述本发明的电子设备实施例，该电子设备可以视为对于上述本发明的方法和装置实施例的具体实体实施方式。对于本发明电子设备实施例中描述的细节，应视为对于上述方法或装置实施例的补充；对于在本发明电子设备实施例中未披露的细节，可以参照上述方法或装置实施例来实现。
图6为本说明书实施例提供的一种电子设备的结构示意图。下面参照图6来描述根据本发明该实施例的电子设备600。图6显示的电子设备600仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图6所示，电子设备600以通用计算设备的形式表现。电子设备600的组件可以包括但不限于：至少一个处理单元610、至少一个存储单元620、连接不同系统组件(包括存储单元620和处理单元610)的总线630、显示单元640等。
其中，所述存储单元存储有程序代码，所述程序代码可以被所述处理单元610执行，使得所述处理单元610执行本说明书上述处理方法部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。例如，所述处理单元610可以执行如图1所示的步骤。
所述存储单元620可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元(RAM)6201和/或高速缓存存储单元6202，还可以进一步包括只读存储单元(ROM)6203。
所述存储单元620还可以包括具有一组(至少一个)程序模块6205的程序/实用工具6204，这样的程序模块6205包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线630可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
电子设备600也可以与一个或多个外部设备670(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备600交互的设备通信，和/或与使得该电子设备600能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口650进行。并且，电子设备600还可以通过网络适配器660与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。网络适配器660可以通过总线630与电子设备600的其它模块通信。应当明白，尽管图6中未示出，可以结合电子设备600使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，本发明描述的示例性实施例可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本发明实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个计算机可读的存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行根据本发明的上述方法。当所述计算机程序被一个数据处理设备执行时，使得该计算机可读介质能够实现本发明的上述方法，即：如图1所示的方法。
图7为本说明书实施例提供的一种计算机可读介质的原理示意图。
实现图1所示方法的计算机程序可以存储于一个或多个计算机可读介质上。计算机可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
所述计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
综上所述，本发明可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)等通用数据处理设备来实现根据本发明实施例中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，应理解的是，本发明不与任何特定计算机、虚拟装置或者电子设备固有相关，各种通用装置也可以实现本发明。以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种对磁性材料自动检测的方法，其特征在于，包括：
采集待检测的磁性材料的待检测图像；
对所述待检测图像进行预处理；
提取预处理后的所述待检测图像的图像特征，将所述图像特征与对比数据进行对比；
基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测图像进行预处理，包括：
将所述待检测图像与预设图像进行基于形状的图像匹配和定位；
调整所述待检测图像的方向与所述预设图像的方向一致；
调整所述待检测图像中心点的位置与所述预设图像中心点的位置一致；
对待检测图像的待检测区域进行增强或拉伸调节。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述待检测的磁性材料的待检测图像，包括：
判断所述待检测的磁性材料是否到达预设位置；
当所述待检测的磁性材料到达所述预设位置时，通知图像采集模块采集所述待检测图像，所述图像采集模块包括若干不同功能的图像采集子模块，每个功能的所述图像采集子模块对应一个所述预设位置。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述图像采集子模块包括尺寸测量图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征,将所述图像特征与对比数据进行对比，包括：
对所述预处理后的所述待检测图像进行边界采样，获取采样点；
通过拟合所述采样点，得到所述待检测的磁性材料的轮廓曲线；
对比所述轮廓曲线和所述对比数据，记录对比测量值。
5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述图像采集子模块包括外部检测图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征，包括：
提取所述预处理后的所述待检测图像的边缘图像特征。
6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述图像采集子模块包括内部检测图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征，包括：
剔除所述预处理后的所述待检测图像的轮廓；
对所述待检测图像中余下的异常目标进行分析，提取异常区域图像特征。
7.如权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述图像采集子模块包括表面检测图像采集子模块时，所述提取进行预处理之后的所述待检测图像的图像特征,将所述图像特征与对比数据进行对比，包括：
对所述预处理后的所述待检测图像进行切割缩放；
提取切割缩放后的所述预处理后的所述待检测图像的图像特征；
对所述图像特征进行分类识别，并分别与所述对比数据进行对比，对所述切割缩放后的所述待检测图像进行缺陷标注。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于对比结果，判断所述待检测的磁性材料是否合格，包括：
当所述对比结果属于预设阈值范围，判断所述待检测的磁性材料为合格品。
9.一种电子设备，其中，该电子设备包括：
处理器；以及，
存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行根据权利要求1-8中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序当被处理器执行时，实现权利要求1-8中任一项所述的方法。
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