CN113759237A - 一种非接触智能卡测试装置及测试方法 - Google Patents

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刘丽丽
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Abstract

本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，智能卡功耗波动对13.56Mhz载波的异常扰动，导致读卡器接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，可配置接收灵敏度的读卡器模块，测试方法包括读卡器向智能卡发送命令启动智能卡执行大功率运算，通过配置不同的读卡器接收灵敏度，在智能卡执行运算期间检测智能卡引起的13.56Mhz载波扰动对读卡器接收的影响。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。

Description

一种非接触智能卡测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及测试验证领域，提供了一种非接触智能卡测试装置及测试方法。
背景技术
随着非接触智能卡应用的普及，发卡量不断增长，对非接触智能卡的性能及可靠性要求越来越高，特别是非接触智能卡与非接触读卡器的实际通信过程中，由于非接触技术本身的原因，非接触读卡器接收易受到异常调制干扰导致读卡器不能有效接收智能卡返回的有效数据，造成通信失败。因此，对非接触智能卡的测试也提出了更高要求。
现有的非接触智能卡测试读卡器并不能有效的进行对非接触智能卡产生的载波信号异常调制对读卡器解调异常的检测，达不到非接触智能卡全面性的测试要求。
发明内容
针对现有的非接触智能卡测试的不足及实际测试需求，本发明提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，能够模拟实际应用中的非接触智能卡执行大功率运算期间产生的13.56Mhz载波异常调制对读卡器解调的影响进行测试，提高了测试覆盖率，避免非接触智能卡由于测试不足导致的产品质量风险。
本发明提出了一种非接触智能卡测试装置，包括：嵌入式处理器和非接触读卡器模块，非接触读卡器模块内含接收灵敏度配置模块。
非接触读卡器模块与嵌入式处理器相连；非接触读卡器模块的解调灵敏度通过嵌入式处理器配置接收灵敏度配置模块；嵌入式处理器控制非接触读卡器模块被测非接触智能卡发送执行大功耗运算命令，嵌入式处理器控制非接触读卡器模块监13.56Mhz载波是否存在可以被非接触读卡器模块误解调的异常调制。
非接触读卡器模块的解调灵敏度通过嵌入式处理器配置接收灵敏度配置模块完成，解调灵敏度可配置为由低到高15个级别的挡位。
嵌入式处理器可向非接触读卡器模块发送启动智能卡执行大功率运算操作的特定命令，非接触读卡器模块对该特定命令进行编码调制发送给被测非接触智能卡，启动智能卡执行大功率运算操作。
非接触读卡器模块可对被测非接触智能卡执行大功率运算期间对13.56Mhz载波异常调制进行检测。
嵌入式处理器可接收非接触读卡器模块的检测结果，并根据检测结果判断被测非接触智能卡在大功率运算期间对13.56Mhz载波的异常调制在所配置接收解调灵敏度挡位下是否引起非接触读卡器模块的异常解调。
应用非接触智能卡测试装置的测试方法为嵌入式处理器配置接收灵敏度配置模块的解调灵敏度挡位，并向非接触读卡器模块发送启动智能卡执行大功率运算操作的特定命令，非接触读卡器模块对该特定命令进行编码调制发送给被测非接触智能卡，非接触智能卡根据该特定命令启动智能卡执行大功率运算操作，非接触读卡器模块对被测非接触智能卡执行大功率运算期间对13.56Mhz载波异常调制进行检测，嵌入式处理器接收非接触读卡器模块的检测结果，并根据该结果判断被测非接触智能卡在大功率运算期间对13.56Mhz载波的异常调制在该配置接收解调灵敏度挡位下是否引起非接触读卡器模块的异常解调，从而判断是否可以通过该接收灵敏度挡位条件的非接触智能卡对13.56Mhz载波扰动对读卡器接收影响的测试。
附图说明
图1表示本发明的实施例结构框图。
图2表示本发明的一种实施例测试流程图。
具体实施方式
在以下的详细描述中，参考通过图示的方式描述的其中本发明实施的实施例。该实施例被足够详细的描述，以使得本领域的技术人员能够实施本发明。但以下的详细描述不应该理解为限制意义。
在发明实施例的附图1中，一种非接触智能卡测试装置，嵌入式处理器、接收灵敏度配置模块和非接触读卡器模块；嵌入式处理器的读卡器接口连接到非接读卡器模块的主机命令接口，嵌入式处理器的读卡器接口连接到接收灵敏度配置模块。
图2为本发明非接触智能卡测试方法一种实施例的测试流程示意图，本实施例采用如上述非接触智能卡测试装置对被测非接触智能卡测试的方法包括：嵌入式处理器配置接收灵敏度配置模块为最小解调灵敏度挡位，向非接触读卡器模块发送启动智能卡执行大功率运算操作的特定命令，非接触读卡器模块对该特定命令进行编码调制发送给被测非接触智能卡，非接触智能卡根据该特定命令启动智能卡执行大功率运算操作，非接触读卡器模块对被测非接触智能卡执行大功率运算期间对13.56Mhz载波异常调制进行检测，嵌入式处理器接收非接触读卡器模块的检测结果，并根据该结果判断被测非接触智能卡在大功率运算期间对13.56Mhz载波的异常调制在该配置接收解调灵敏度挡位下是否引起非接触读卡器模块的异常解调，从而判断是否可以通过该接收灵敏度挡位条件的由非接触智能卡产生的13.56Mhz载波扰动对读卡器接收影响的测试，如未能检测到由非接触智能卡产生的13.56Mhz载波扰动对读卡器接收影响，增大嵌入式处理器配置接收灵敏度配置模块的解调灵敏度挡位，直到能检测到由非接触智能卡产生的13.56Mhz载波扰动对读卡器接收影响。

Claims (6)

1.一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，包括：嵌入式处理器(2)和非接触读卡器模块(3)，其中，非接触读卡器模块(3)与嵌入式处理器(2)相连；非接触读卡器模块(3)内含接收灵敏度配置模块(4)，嵌入式处理器(2)配置接收灵敏度配置模块(4)实现对非接触读卡器模块(3)的解调灵敏度的设置；嵌入式处理器(2)控制非接触读卡器模块(3)向被测非接触智能卡发送执行运算的命令，嵌入式处理器(2)控制非接触读卡器模块(3)检测13.56Mhz载波是否存在可以被非接触读卡器模块(3)误解调的异常调制。
2.如权利要求1所述的一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述非接触读卡器模块(3)的解调灵敏度通过嵌入式处理器(2)配置非接触读卡器模块(3)内的接收灵敏度配置模块(4)完成，解调灵敏度可配置为由低到高15个级别的挡位。
3.如权利要求1所述的一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述嵌入式处理器(2)向非接触读卡器模块(3)发送可启动智能卡执行大功率运算操作的命令，非接触读卡器模块(3)对该命令进行编码调制发送给被测非接触智能卡，启动智能卡执行大功率运算的操作。
4.如权利要求1所述的一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述非接触读卡器模块(3)可对被测非接触智能卡执行大功率运算期间产生的13.56Mhz载波异常调制进行检测。
5.如权利要求1所述的一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述嵌入式处理器(2)可接收非接触读卡器模块(3)的检测结果，并根据检测结果判断被测非接触智能卡在大功率运算期间产生的13.56Mhz载波异常调制在所述配置接收解调灵敏度挡位下是否引起非接触读卡器模块(3)的异常解调。
6.一种非接触智能卡测试方法，应用权利要求1所述的一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，该测试方法为嵌入式处理器(2)配置接收灵敏度配置模块(4)的解调灵敏度挡位，并向非接触读卡器模块(3)发送启动智能卡执行大功率运算操作命令，非接触读卡器模块(3)对该命令进行编码调制发送给被测非接触智能卡，非接触智能卡根据该命令启动智能卡执行大功率运算操作，非接触读卡器模块(3)对被测非接触智能卡执行大功率运算期间产生的13.56Mhz载波异常调制进行检测，嵌入式处理器(2)接收非接触读卡器模块(3)返回的检测结果，并根据该结果判断被测非接触智能卡在大功率运算期间产生的13.56Mhz载波异常调制在该配置接收解调灵敏度挡位下是否引起非接触读卡器模块(3)的异常解调，从而判断是否可以通过该接收灵敏度挡位条件下的非接触智能卡产生的13.56Mhz载波异常扰动对读卡器接收影响的测试。
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US20110011934A1 (en) * 2009-07-17 2011-01-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Contactless ic card and wireless system
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