CN113709450A - 数据测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了数据测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质，其中，上述数据测试方法包括：获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。与现有技术相比，本发明方案有利于提升测试效率、提高测试结果的准确性且避免待测设备的损坏。

Description

数据测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及设备测试技术领域，尤其涉及的是一种数据测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质。

背景技术

电子设备(如液晶电视机)在出售或出厂之前需要进行数据测试，以判断电子设备在不同条件下的各项数据是否合格等。例如，对电视机产品进行安规温度过载实验测试，从而获得电视机在不同负载下的电流值、温度值等数据，根据各项数据判断产品是否符合安全规范，保证产品的可靠性。

现有技术中，在对电子设备进行数据测试时，通常使用人工调整负载的拉载方式，在测试过程中花费时间过长，且容易因电路过载烧坏电子设备的电路，影响测试效率、测试结果的准确性甚至损坏电子设备。

因此，现有技术还有待改进和发展。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种数据测试方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中在对电子设备进行数据测试时使用人工调整负载的方式影响测试效率、测试结果的准确性甚至引起电子设备损坏的问题。

为了实现上述目的，本发明第一方面提供一种数据测试方法，其中，上述方法包括：

获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；

基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；

在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；

当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

可选的，在上述当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试之后，上述方法还包括：

输出所有上述测试数据。

可选的，上述待测设备为电视机，上述测试数据还包括上述电视机的输入电压、耗散电流、功率以及频率。

可选的，上述待测设备对应的温度阈值包括上述电视机的变压器对应的温度阈值以及上述变压器中各MOS管对应的温度阈值，上述待测设备对应的电流阈值包括上述电视机的变压器对应的电流阈值。

可选的，上述在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据，包括：

在每次调节上述电子负载后对上述电视机进行温度测试和电路信息测试；

分别获取在每次调节之后对应的当前电子负载下，上述电视机的输入电压、耗散电流、功率、频率，上述变压器的温度值和电流值以及上述变压器中各MOS管的温度值，并分别将每次调节之后测试获得的所有数据作为一组测试数据进行记录。

可选的，上述当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试，包括：

当上述变压器的温度值超过上述变压器的温度阈值、或上述变压器的电流值超过上述变压器的电流阈值、或上述变压器中任意一个MOS管的温度值超过该MOS管的电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

可选的，上述输出所有上述测试数据，包括：

基于所有上述测试数据生成测试报告；

将上述测试报告自动传输至预设的目标对象。

本发明第二方面提供一种数据测试装置，其中，上述装置包括：

阈值获取模块，用于获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；

电子负载调节模块，用于基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；

测试模块，用于在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；

异常状态控制模块，用于当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

本发明第三方面提供一种智能终端，上述智能终端包括存储器、处理器以及存储在上述存储器上并可在上述处理器上运行的数据测试程序，上述数据测试程序被上述处理器执行时实现任意一项上述数据测试方法的步骤。

本发明第四方面提供一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质上存储有数据测试程序，上述数据测试程序被处理器执行时实现任意一项上述数据测试方法的步骤。

由上可见，本发明方案中，获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。与现有技术中使用人工调整负载的拉载方式相比，本发明方案可以基于预设的调节步长自动调节电子负载并自动进行数据测试，有利于提升测试效率。且可以监测待测设备的温度阈值和电流阈值，在待测设备的温度数据或电流数据超过对应阈值时立即停止调节电子负载并停止测试，从而避免因电路过载导致电流过大或温度过高而烧坏待测设备，有利于提高测试结果的准确性且避免待测设备的损坏。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本发明实施例提供的一种数据测试方法的流程示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种数据测试方法的流程示意图；

图3是本发明实施例图2中步骤S300的具体流程示意图；

图4是本发明实施例图2中步骤S500的具体流程示意图；

图5是本发明实施例提供的一种数据测试装置的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的一种根据数据测试系统对待测设备进行测试的示意图；

图7是本发明实施例提供的一种对电视机进行数据测试的具体流程示意图；

图8是本发明实施例提供的一种智能终端的内部结构原理框图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况下，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当…时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似的，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述的条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

下面结合本发明实施例的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其它不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

电子设备(如液晶电视机)在出售或出厂之前需要进行数据测试，以判断电子设备在不同条件下的各项数据是否合格等。例如，对电视机产品进行安规温度过载实验测试，从而获得电视机在不同负载下的电流值、温度值等数据，根据各项数据判断产品是否符合安全规范，保证产品的可靠性。

现有技术中，在对电子设备进行数据测试时，通常使用人工调整负载的拉载方式，在测试过程中花费时间过长，且测试过程中容易因电路过载导致电流过大或温度过高而烧坏电子设备的电路，影响测试效率、测试结果的准确性甚至损坏电子设备。且需要对电子设备的电路进行维修后重新进行测试，耽误测试时间，影响测试效率。

为了解决现有技术的问题，本发明方案中，获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。与现有技术中使用人工调整负载的拉载方式相比，本发明方案可以基于预设的调节步长自动调节电子负载并自动进行数据测试，有利于提升测试效率。且可以监测待测设备的温度阈值和电流阈值，在待测设备的温度数据或电流数据超过对应阈值时立即停止调节电子负载并停止测试，从而避免因电路过载导致电流过大或温度过高而烧坏待测设备，有利于提高测试结果的准确性且避免待测设备的损坏。

示例性方法

如图1所示，本发明实施例提供一种数据测试方法，具体的，上述方法包括如下步骤：

步骤S100，获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值。

其中，上述待测设备是需要进行数据测试的设备，例如，可以是电视机、电脑等电子设备，本实施例中，以电视机作为待测设备为例进行说明，但不作具体限定。具体的，上述温度阈值和电流阈值是预先设定的待测设备(或待测设备中的器件)在使用过程中能承受的最大电流值和最大温度值，可以根据具体的待测设备及待测设备的具体电路进行确定。在一种应用场景中，还可以由待测设备的设计工程师给出对应的温度阈值和电流阈值。当待测设备的工作电流值超过对应的电流阈值时代表工作电流超出待测设备的最大承受范围，存在烧坏风险。

步骤S200，基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载。

其中，上述电子负载与上述待测设备的待测电路或器件(例如，电视机的变压器)并联，通过调节上述电子负载可以控制对应待测电路或器件的电流值。上述调节步长是预先设置的每次对电子负载进行调节的步长，可以根据实际需求进行设置和调整，在此不作具体限定。本实施例中，根据预设的调节步长逐步拉载，使得待测设备对应的电流值逐渐增大，上述调节步长可以根据过载电流值、按时间来设定，例如设置成50mA/ms。

步骤S300，在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据。

具体的，在每一次调节上述电子负载后，对应待测设备的电路工作状态会发生变化，待测设备对应的电流值、温度值、功率、耗散电流等也会发生变化。本实施例中，在每一次调节上述电子负载后，对待测设备进行测试，获取待测设备的一组测试数据并进行记录，其中，上述测试数据是需要进行测试获得的数据，可以根据实际需求预先设定需要测试的数据，还可以根据实际需求进行调整，在此不作具体限定。如此，随着电子负载的逐步调节，可以获得待测设备(如电视机)对应的多组测试数据，反映待测设备的不同工作状态，从而可以根据获得的多组测试数据，判断待测设备在不同条件下的各项数据是否符合安全规范，保证待测设备的可靠性。

步骤S400，当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

随着电子负载的调节，待测设备的实际工作温度值和电流值都会逐渐增大，此时可能会出现过载的情况。因此本实施例中，在获得每一组测试数据之后，都会将测试数据与对应的温度阈值和电流数据进行对比，当测试数据中的温度数据超过上述温度阈值或电流数据超过上述电流阈值时，说明待测设备可能存在过载风险，此时停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

在一种应用场景中，为了得到更多的测试数据，可以根据需求设置成同时满足温度数据超过温度阈值和电流数据超过电流阈值时才停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。在另一种应用场景中，为了更好地保护待测设备，可以在满足温度数据超过温度阈值和电流数据超过电流阈值两个条件中的任意一个条件时就停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试，避免待测设备被烧坏。

由上可见，本发明实施例提供的数据测试方法中，获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。与现有技术中使用人工调整负载的拉载方式相比，本发明方案可以基于预设的调节步长自动调节电子负载并自动进行数据测试，有利于提升测试效率。且可以监测待测设备的温度阈值和电流阈值，在待测设备的温度数据或电流数据超过对应阈值时立即停止调节电子负载并停止测试，从而避免因电路过载导致电流过大或温度过高而烧坏待测设备，有利于提高测试结果的准确性且避免待测设备的损坏。

进一步的，当测试数据中的温度数据超过上述温度阈值或电流数据超过上述电流阈值时，还可以控制上述待测设备进入待机模式，防止待测设备因持续发热或高电流工作而烧坏，且可以使待测设备准备下一步测试工作(例如对电视机的其它器件、或电视机变压器的其它绕组进行过载测试)。具体的，本实施例中，如图2所示，在上述步骤S400之后，上述方法还包括：步骤S500，输出所有上述测试数据。

如此，将测试获得的待测设备对应的所有测试数据进行自动输出，有利于测试人员获知待测设备的相关测试数据，对待测设备的安全性、可靠性等进行评判。

需要说明的是，本实施例中，上述待测设备为电视机，上述测试数据还包括上述电视机的输入电压、耗散电流、功率以及频率。其中，上述电视机的输入电压是当前时刻电视机输入端的供电电压，上述耗散电流是当前时刻电网对电视机的输入电流，上述功率是当前时刻电视机的工作功率，上述频率是输入电压的频率，例如220V的电压对应的频率为50Hz。

本实施例中，主要对电视机的待测器件进行测试，上述待测器件为电视机的变压器以及变压器中的MOS管。具体的，上述待测设备对应的温度阈值包括上述电视机的变压器对应的温度阈值以及上述变压器中各MOS管对应的温度阈值，上述待测设备对应的电流阈值包括上述电视机的变压器对应的电流阈值。

变压器的温度阈值是变压器正常工作时的最大温度限值；各MOS管对应的温度阈值是各MOS管的器件最大工作温度，与各MOS管的型号相关；变压器电流阈值是变压器正常工作时的最大电流限值。进一步的，本实施例中，上述待测数据还可以包括变压器的电压值、功率等，对应的还获取变压器的电压阈值、功率阈值，在变压器的电压值超过对应的电压阈值或功率超过对应的功率阈值时，同样可以停止调节上述电子负载，控制待测设备进入待机状态，以更好地保护待测设备。

需要说明的是，可以不对变压器中所有的MOS管都进行测试和判断，而只获取变压器中容易产生高温的MOS管作为目标MOS管，获取各目标MOS管的温度阈值并对各目标MOS管进行测试和判断测试获得的温度值是否超出对应的温度阈值即可，以进一步提高数据测试的效率。具体的，可以对变压器中的电路进行分析(测试变压器过载端的电路回路)获得对应的容易产生高温的MOS管。在一种应用场景中，还可以对待测设备(如电视机)中的其它器件进行测试和判断，以更好的保护待测设备不被烧坏，并获得待测设备对应的更多测试数据，更全面的分析待测设备的工作状态，判断待测设备是否符合规范，在此不作具体限定。

具体的，本实施例中，如图3所示，上述步骤S300包括：

步骤S301，在每次调节上述电子负载后对上述电视机进行温度测试和电路信息测试。

步骤S302，分别获取在每次调节之后对应的当前电子负载下，上述电视机的输入电压、耗散电流、功率、频率，上述变压器的温度值和电流值以及上述变压器中各MOS管的温度值，并分别将每次调节之后测试获得的所有数据作为一组测试数据进行记录。

具体的，在每一次对电子负载进行调节之后，对电视机(即待测设备)进行温度测试和电路信息测试，获取在调节电子负载之后，当前电子负载对应的电流值下，电视机对应的测试数据。其中，电视机对应的测试数据包括电视机的输入电压、耗散电流、功率、频率，电视机中变压器的温度值和电流值，以及变压器中各MOS管(或目标MOS管)的温度值，并将每一次调节之后测试获得的所有上述数据作为一组测试数据进行记录。如此，可以在对电子负载进行逐步调节的过程中获取电视机对应的不同条件下的多组测试数据，提高获取测试数据的效率。

具体的，本实施例中，上述步骤S400包括：当上述变压器的温度值超过上述变压器的温度阈值、或上述变压器的电流值超过上述变压器的电流阈值、或上述变压器中任意一个MOS管的温度值超过该MOS管的电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。需要说明的，上述各种异常状态(即温度值超过温度阈值或电流值超过电流阈值)在测试过程中可以自动进行检测，存在任何一种异常状态(即满足上述任意一种条件)时都可以启动判定动作，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试，同时控制上述待测设备进入待机状态。

具体的，本实施例中，如图4所示，上述步骤S500包括：

步骤S501，基于所有上述测试数据生成测试报告。

步骤S502，将上述测试报告自动传输至预设的目标对象。

具体的，将所有测试数据按组进行记录，然后结合每一组测试数据生成测试报告。上述测试报告是对待测设备进行测试得到的报告，且上述测试报告中包括各组测试数据，可以体现待测设备及其各个待测器件(如变压器或变压器中的MOS管)在不同的负载值(即电子负载的不同取值)的情况下的测试数据，例如不同的负载值(即电子负载的不同取值)的情况下的电视机的输入电压、耗散电流、功率、频率，变压器的温度值和电流值，变压器中MOS管的温度值和电流值等。进一步的，将上述测试报告自动传输至预设的而目标对象。其中，上述目标对象是需要获得待测设备的各项测试数据以对待测设备进行评价的测试人员或其移动终端。具体的，可以通过预先设定的数据传输方式将上述测试报告发送到对应的目标对象，例如通过邮件、短信等方式将测试报告发给测试人员，或通过打印输出的方式将测试报告传输给测试人员，具体的数据传输方式在此不作具体限定。

在一种应用场景中，还可以通过语音输入的方式获取待测设备的温度阈值、电流阈值、调节步长等参数。具体的，可以获取目标对象的语音信息，并对上述语音信息进行分析，从而获得对应的参数。进一步的，还可以基于目标对象的语音信息获取操作指令，从而根据操作指令控制待测设备的测试过程。以实现用户可以通过语音输入相关参数并通过语音控制测试过程(例如用户语音控制测试开始、暂停测试和停止测试等)。更方便用户进行测试，提升用户体验。

示例性设备

如图5中所示，对应于上述数据测试方法，本发明实施例还提供一种数据测试装置，上述数据测试装置包括：

阈值获取模块610，用于获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值。

其中，上述待测设备是需要进行数据测试的设备，例如，可以是电视机、电脑等电子设备，本实施例中，以电视机作为待测设备为例进行说明，但不作具体限定。具体的，上述温度阈值和电流阈值是预先设定的待测设备(或待测设备中的器件)在使用过程中能承受的最大电流值和最大温度值，可以根据具体的待测设备及待测设备的具体电路进行确定。在一种应用场景中，还可以由待测设备的设计工程师给出对应的温度阈值和电流阈值。当待测设备的工作电流值超过对应的电流阈值时代表工作电流超出待测设备的最大承受范围，存在烧坏风险。

电子负载调节模块620，用于基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载。

其中，上述电子负载与上述待测设备的待测电路或器件(例如，电视机的变压器)并联，通过调节上述电子负载可以控制对应待测电路或器件的电流值。上述调节步长是预先设置的每次对电子负载进行调节的步长，可以根据实际需求进行设置和调整，在此不作具体限定。本实施例中，根据预设的调节步长逐步拉载，使得待测设备对应的电流值逐渐增大，上述调节步长可以根据过载电流值、按时间来设定，例如设置成50mA/ms。

测试模块630，用于在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据。

具体的，在每一次调节上述电子负载后，对应待测设备的电路工作状态会发生变化，待测设备对应的电流值、温度值、功率、耗散电流等也会发生变化。本实施例中，在每一次调节上述电子负载后，对待测设备进行测试，获取待测设备的一组测试数据并进行记录，其中，上述测试数据是需要进行测试获得的数据，可以根据实际需求预先设定需要测试的数据，还可以根据实际需求进行调整，在此不作具体限定。如此，随着电子负载的逐步调节，可以获得待测设备(如电视机)对应的多组测试数据，反映待测设备的不同工作状态，从而可以根据获得的多组测试数据，判断待测设备在不同条件下的各项数据是否符合安全规范，保证待测设备的可靠性。

异常状态控制模块640，用于当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

随着电子负载的调节，待测设备的实际工作温度值和电流值都会逐渐增大，此时可能会出现过载的情况。因此本实施例中，在获得每一组测试数据之后，都会将测试数据与对应的温度阈值和电流数据进行对比，当测试数据中的温度数据超过上述温度阈值或电流数据超过上述电流阈值时，说明待测设备可能存在过载风险，此时停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

在一种应用场景中，为了得到更多的测试数据，可以根据需求设置成同时满足温度数据超过温度阈值和电流数据超过电流阈值时才停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。在另一种应用场景中，为了更好地保护待测设备，可以在满足温度数据超过温度阈值和电流数据超过电流阈值两个条件中的任意一个条件时就停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试，避免待测设备被烧坏。

由上可见，本发明实施例提供的数据测试装置通过阈值获取模块610获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；通过电子负载调节模块620基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；通过测试模块630在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；通过异常状态控制模块640在测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。与现有技术中使用人工调整负载的拉载方式相比，本发明方案可以基于预设的调节步长自动调节电子负载并自动进行数据测试，有利于提升测试效率。且可以监测待测设备的温度阈值和电流阈值，在待测设备的温度数据或电流数据超过对应阈值时立即停止调节电子负载并停止测试，从而避免因电路过载导致电流过大或温度过高而烧坏待测设备，有利于提高测试结果的准确性且避免待测设备的损坏。

进一步的，当测试数据中的温度数据超过上述温度阈值或电流数据超过上述电流阈值时，还可以控制上述待测设备进入待机模式，防止待测设备因持续发热或高电流工作而烧坏，且可以使待测设备准备下一步测试工作(例如对电视机的其它器件、或电视机变压器的其它绕组进行过载测试)。

具体的，本实施例中，上述数据测试装置还包括数据输出模块，用于输出所有上述测试数据。如此，将测试获得的待测设备对应的所有测试数据进行自动输出，有利于测试人员获知待测设备的相关测试数据，对待测设备的安全性、可靠性等进行评判。

需要说明的是，本实施例中，上述待测设备为电视机，上述测试数据还包括上述电视机的输入电压、耗散电流、功率以及频率。其中，上述电视机的输入电压是当前时刻电视机输入端的供电电压，上述耗散电流是当前时刻电网对电视机的输入电流，上述功率是当前时刻电视机的工作功率，上述频率是输入电压的频率，例如220V的电压对应的频率为50Hz。

在一种应用场景中，上述测试模块可以包括温度数据采集单元、电压电流检测单元和功率计。上述温度数据采集单元用于检测电视机变压器及变压器中各MOS管的温度；上述电压电流检测单元用于检测电视机的输入电压、耗散电流、变压器的电流值等；上述功率计用于记录电视机所耗散的功率、频率值等。

具体的，本实施例中，上述数据测试装置的各模块的具体功能可以参照上述数据测试方法中的对应描述，在此不再赘述。

本发明实施例中，还基于一种实际应用场景进行具体说明，具体的，可以通过一个数据测试系统对待测设备进行数据测试，上述数据测试系统可以在通用测试自动化框架上集成温度数据采集、总线控制、自动编程交流稳压电源、功率测量、电压电流检测、遥控、电子负载等模块或功能。图6是本发明实施例提供的一种根据数据测试系统对待测设备进行测试的示意图，如图6所示，上述数据测试系统包括温度数据采集模块、温度自动化测试模块、自动编程交流稳压电源模块、功率计模块、电压电流检测模块、遥控模块和电子负载。其中，上述通用测试自动化框架可以是一种温度测试装置或软件。上述自动编程交流稳压电源模块用于提供电视机所需要的可编程电压。上述温度自动化测试模块用于搭建测试环境、全程监测数据并对电路异常进行监测。上述数据采集模块主要用于检测电视机及其电路器件(如变压器、变压器中的MOS管)的温度数据。上述电流电压检测模块用于检测电视机中电路的电流电压数据(指的是经变压器输出端电路的电压、电流)。上述功率计模块用于记录电视机所耗散的功率、电压、电流和频率值，即电视机输入端供电电压、耗散电流和输入端供电电网频率。上述遥控模块用于控制电视机开机、待机、信号源切换等。上述电子负载用于作为电视机(待测设备)的输出带载，可并联连接在电视机变压器的输出端(或USB输出端等输出端)。如此，在通用测试自动化框架上集成上述各模块，对电视机进行数据测试，能有效解决长时间温度测试、测试过程异常使电视机损坏的问题，且能够自动记录测试数据，导出测试报告，可有效解放人力、保证数据准确性、提高测试效率，同时，还可以满足宽电压、频率测试范围，可以适用不同类别电子产品温度测试。

图7是本发明实施例提供的一种对电视机进行数据测试的具体流程示意图。基于本实施例中提供的数据测试系统，可以兼容对多种待测产品进行温度测试，本实施例中，以对电视机变压器进行过载测试为例进行说明。实际使用过程中，还可以结合上述数据测试系统(或装置、方法)与各仪器(即待测设备)的上位机协议来实现对第三方仪器进行控制和测试，兼容更多电子产品安全温度测试，不限于电视机温度测试，在此不作具体限定。本实施例中，根据测试项目搭建测试环境，具体的，根据需要测试的电视机，确定其变压器输出电流过载值(变压器的电流阈值)，根据变压器的输出电流过载值在系统上设置电子负载最大的过载电流数据(例如，可以设置电子负载最大的过载电流数据等于或小于变压器输出电流过载值)；分析电视机的电路，选出变压器中(或电视机中)工作时容易产生高温的MOS管(即目标MOS管)，查找获取各MOS管的温度阈值(即能承受的最大温度值)，在系统上输入各MOS管的温度阈值，以与测试数据进行比较；根据电视机所适用的电压、频率范围在系统上进行参数设置；根据实际需求设置对应的电子负载调节步长。所有的设置完成后，即测试环境搭建完成，可以进行温度测试并记录测试数据。在测试过程中，电子负载按照设定好的调节步长进行拉载(逐步增大变压器对应的输出电流)，记录电视机、变压器及MOS管的温度，同时记录电视机所耗散的功率、电流、电压、频率值等，作为测试数据，以便生成测试报告并进行温度限值判断。需要说明的是，如图7所示，在测试过程中还要进行监控，监控是否发生异常，如果未发生异常则及时控制电视机进入待机状态并停止测试，如果未发生异常则可以正常进行测试直到测试完成。具体的，在测试过程中系统进行两种异常状态的判定，从而保护变压器和MOS管，防止烧坏。第一种异常状态的判定通过监控变压器的温度及变压器的拉载电流实现，系统将测试获得的变压器电流值和温度值与对应的阈值比较，如果测试过程中变压器的温度超过所设置的温度阈值或电流超过所设定的电流阈值，则发出指令给遥控模块，遥控模块控制电视机待机，记录测试数据，以便进行下一步测试(如变压器其他绕组过载测试)。第二种异常状态的判定通过监控电路中主MOS管的温度实现，系统将测试获得的MOS管电流值与对应的阈值比较，如果测试过程中MOS管的温度超过所设置的温度阈值，则发出指令给遥控模块，遥控模块控制电视机待机，记录测试数据，以便进行下一步测试。以上两种异常状态判定在数据测试过程中都可以自动实现并进行对应操作。且除了温度异常测试外，还可以满足正常条件下的其它温度测试要求(如在某个正常温度值的情况下进行数据测试)。如此，通过对两种异常状态的判定和对应的控制操作，可以防止器件损坏，从而不需要在器件损坏时进行维修，可以快速进行其它项目的数据测试，节省测试时间。如此，解决电视机温度测试长周期消耗人力资源和待测物电路异常损坏需要再次维修影响测试效率问题，能自动判定并生成测试报告，减少人工拉载、记录数据产生误差，保证测试数据的准确性。

基于上述实施例，本发明还提供了一种智能终端，其原理框图可以如图8所示。上述智能终端包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口以及显示屏。其中，该智能终端的处理器用于提供计算和控制能力。该智能终端的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和数据测试程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和数据测试程序的运行提供环境。该智能终端的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该数据测试程序被处理器执行时实现上述任意一种数据测试方法的步骤。该智能终端的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏。

本领域技术人员可以理解，图8中示出的原理框图，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的智能终端的限定，具体的智能终端可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种智能终端，上述智能终端包括存储器、处理器以及存储在上述存储器上并可在上述处理器上运行的数据测试程序，上述数据测试程序被上述处理器执行时进行以下操作指令：

获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；

基于预设的调节步长自动调节与上述待测设备连接的电子负载；

在每次调节上述电子负载后对上述待测设备进行测试，获取上述待测设备的一组测试数据并记录，其中，上述测试数据包括温度数据和电流数据；

当测试获得的温度数据超过上述温度阈值或测试获得的电流数据超过上述电流阈值时，停止调节上述电子负载并停止对上述待测设备进行测试。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质上存储有数据测试程序，上述数据测试程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的任意一种数据测试方法的步骤。

应理解，上述实施例中各步骤的序号大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将上述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各实例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟是以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，上述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以由另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。

上述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，上述计算机程序包括计算机程序代码，上述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。上述计算机可读介质可以包括：能够携带上述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，上述计算机可读存储介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减。

以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解；其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不是相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种数据测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；

基于预设的调节步长自动调节与所述待测设备连接的电子负载；

在每次调节所述电子负载后对所述待测设备进行测试，获取所述待测设备的一组测试数据并记录，其中，所述测试数据包括温度数据和电流数据；

当测试获得的温度数据超过所述温度阈值或测试获得的电流数据超过所述电流阈值时，停止调节所述电子负载并停止对所述待测设备进行测试。

2.根据权利要求1所述的数据测试方法，其特征在于，在所述当测试获得的温度数据超过所述温度阈值或测试获得的电流数据超过所述电流阈值时，停止调节所述电子负载并停止对所述待测设备进行测试之后，所述方法还包括：

输出所有所述测试数据。

3.根据权利要求1所述的数据测试方法，其特征在于，所述待测设备为电视机，所述测试数据还包括所述电视机的输入电压、耗散电流、功率以及频率。

4.根据权利要求3所述的数据测试方法，其特征在于，所述待测设备对应的温度阈值包括所述电视机的变压器对应的温度阈值以及所述变压器中各MOS管对应的温度阈值，所述待测设备对应的电流阈值包括所述电视机的变压器对应的电流阈值。

5.根据权利要求4所述的数据测试方法，其特征在于，所述在每次调节所述电子负载后对所述待测设备进行测试，获取所述待测设备的一组测试数据并记录，其中，所述测试数据包括温度数据和电流数据，包括：

在每次调节所述电子负载后对所述电视机进行温度测试和电路信息测试；

分别获取在每次调节之后对应的当前电子负载下，所述电视机的输入电压、耗散电流、功率、频率，所述变压器的温度值和电流值以及所述变压器中各MOS管的温度值，并分别将每次调节之后测试获得的所有数据作为一组测试数据进行记录。

6.根据权利要求5所述的数据测试方法，其特征在于，所述当测试获得的温度数据超过所述温度阈值或测试获得的电流数据超过所述电流阈值时，停止调节所述电子负载并停止对所述待测设备进行测试，包括：

当所述变压器的温度值超过所述变压器的温度阈值、或所述变压器的电流值超过所述变压器的电流阈值、或所述变压器中任意一个MOS管的温度值超过该MOS管的电流阈值时，停止调节所述电子负载并停止对所述待测设备进行测试。

7.根据权利要求2所述的数据测试方法，其特征在于，所述输出所有所述测试数据，包括：

基于所有所述测试数据生成测试报告；

将所述测试报告自动传输至预设的目标对象。

8.一种数据测试装置，其特征在于，所述装置包括：

阈值获取模块，用于获取待测设备对应的温度阈值和电流阈值；

电子负载调节模块，用于基于预设的调节步长自动调节与所述待测设备连接的电子负载；

测试模块，用于在每次调节所述电子负载后对所述待测设备进行测试，获取所述待测设备的一组测试数据并记录，其中，所述测试数据包括温度数据和电流数据；

异常状态控制模块，用于当测试获得的温度数据超过所述温度阈值或测试获得的电流数据超过所述电流阈值时，停止调节所述电子负载并停止对所述待测设备进行测试。

9.一种智能终端，其特征在于，所述智能终端包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的数据测试程序，所述数据测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述数据测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有数据测试程序，所述数据测试程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述数据测试方法的步骤。

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