CN113589025A - 电气试验计算方法、装置、设备和介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电气试验的计算方法，该方法包括：通过获取的电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，并与电气允许误差进行比较判断来判定电气测试结果，这样可以减少现场工作人员的计算量和失误的可能性，能实现对电气数据的计算和误差的判断，为工作人员后续作出正确判断奠定良好基础。此外，还提出了电气试验的计算装置、设备和存储介质。
Description
技术领域
本发明涉及电气试验技术领域，尤其是涉及电气试验计算方法、装置、设备和介质。
背景技术
电力行业的从业者，经常需要对电气设备进行各种试验。然而每种试验的方法、得到的数据、采用的及格标准都不一样。有些是相对简单且容易作出判断的，如耐压试验、绝缘电阻试验等，而有些则要经过一定的公式计算，并且结果正确与否也不是那么明显，如三相直流电阻测试、介损因素测试等。
这些相对复杂一些的计算需要试验人员记住各个对应的公式，并在现场就作出是否符合标准的判断，如果未能作为正确的判断，将错误的数据误当成正常的数据，严重时可能引发设备损坏或停电事故；没引发事故也需要重新试验，就要重新搬运仪器、申请手续，这会造成无必要的资源浪费。所以一个能当场供试验人员进行试验数据计算并判断是否正确的方案对现场的工作有很大的帮助。
发明内容
基于此，有必要针对上述问题，提供可现场进行计算，提高试验效率的电气试验的计算方法、装置、设备和介质。
一种电气试验的计算方法，所述方法包括：
获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差；
获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果。
在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：
获取温度历史值、温度测量值和电阻温度常数，根据所述温度历史值、所述温度测量值和所述电阻温度常数计算电阻折算率；
获取至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，根据所述至少一个的测量电阻值和所述电阻折算率计算至少一个单相的折算电阻值，根据所述折算电阻值及所述历史电阻值计算所述至少一个单相的单相偏差值；
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取预设的单相允许偏差，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于所述单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于所述单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。
在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，还包括：
获取三相的测量电阻值，根据所述三相的测量电阻值计算三相偏差；
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取预设的三相允许偏差，判断所述三相偏差是否小于或等于所述三相允许偏差，若所述三相偏差小于或等于所述三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。
在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：
获取第一电容测量值和第二电容测量值，根据所述第一电容测量值和所述第二电容测量值计算串联电容测量值；
获取电容铭牌值，根据所述串联电容测量值和所述电容铭牌值计算电容实际偏差；
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取电容允许偏差，判断所述电容实际偏差是否小于或等于所述电容允许偏差，若所述电容实际偏差小于或等于所述电容允许偏差，则判定电容为合格电容。
在其中一个实施例中，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：
获取实际测量温度，根据所述实际测量温度确定目标介质材料的介损值折算率；
获取测量介损值，根据所述测量介损值及所述介损值折算率计算折算介损值。
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取介损铭牌值及介损允许偏差，根据所述折算介损值及所述介损铭牌值计算介损测试偏差，判断所述介损测试偏差是否小于或等于所述介损允许偏差，若所述介损测试偏差小于或等于所述介损允许偏差，则判定介损测试为合格。
在其中一个实施例中，所述计算方法还包括：
获取变压器的容量铭牌值和电压铭牌值，根据所述容量铭牌值和所述电压铭牌值计算一次侧基准值和二次侧基准值；
获取差动电流标幺值和制动电流标幺值，根据所述一次侧基准值、所述二次侧基准值、所述差动电流标幺值和所述制动电流标幺值计算一次侧电流标幺值、二次侧电流标幺值、一次侧电流有名值、二次侧电流有名值、二次侧电流平衡值。
在其中一个实施例中，所述计算方法还包括：
获取输入的最大值和最小值，随机生成一个在所述最大值和所述最小值之间的随机数；
获取输入角度，将所述输入角度换算为对应的弦值；
获取输入弦值，将所述输入弦值换算为对应的角度。
一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：
获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差；
获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果。
一种终端设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：
获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差；
获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果。
本发明提供了电气试验的计算方法、装置、设备和介质，通过获取的电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，并与电气允许误差进行比较判断来判定电气测试结果，这样可以减少现场工作人员的计算量和失误的可能性，能实现对电气数据的计算和误差的判断，为工作人员后续作出正确判断奠定良好基础。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
其中：
图1为一个实施例中电气试验的计算方法的流程示意图；
图2为一个实施例中测试直流电阻的示意图；
图3为一个实施例中测试串联电容的示意图；
图4为一个实施例中介损测试的示意图；
图5为一个实施例中测试差动电流的示意图；
图6为一个实施例中生成随机数的示意图；
图7为一个实施例中角度与弦值换算的示意图；
图8为一个实施例中电气试验的计算装置的结构示意图；
图9为一个实施例中终端设备的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，图1为一个实施例中电气试验计算方法的流程示意图，本实施例中电气试验计算方法提供的步骤包括：
步骤102，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差。
其中，电气测量值是试验人员现场对电气设备进行试验获取到的检测数据，根据电气设备、试验项目的不同、电气测量值包括温度测量值、测量电阻值、电容测量值等。电气试验值为预先设置或存储的，用于辅助进行试验计算的数据，包括各种历史值、铭牌值、常数等。电气实际误差为电气设备实际存在的当前误差，可用于判断电气设备的当前使用状况，相应的包括电阻实际误差、电流实际误差等。
步骤104，获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果。
电气允许误差为电气设备可能出现损坏或停电事故的临界值，通常若电气实际误差小于或等于电气允许误差则判定电气测试结果为合格，若电气实际误差大于电气允许误差则判定电气测试结果为不合格。通过与电气允许误差的比较判断，可确定电气设备是否存在安全隐患。
上述电气试验计算方法，通过获取的电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，并与电气允许误差进行比较判断来判定电气测试结果，这样可以减少现场工作人员的计算量和失误的可能性，能实现对电气数据的计算和误差的判断，为工作人员后续作出正确判断奠定良好基础。
在其中一个具体实施例中，测量的电气设备为三相异步电动机，测量其直流电阻的单相允许偏差是否合格。参见图2，为完成试验，本实施例中要求实验人员输入的数据包括温度测量值t1(测量值)、温度历史值t2(历史值)、至少一个单相(例如A相)的测量电阻值(测量值)、历史电阻值(历史值)以及预设的单相允许偏差。
在进行计算时，在获取到输入的温度测量值t1、温度历史值t2后，还获取不同电阻材料的电阻温度常数T，例如铜线取235，铝线取225。再由温度测量值t1、温度历史值t2及电阻温度常数T计算电阻折算率，其计算公式为，电阻折算率＝(T+t2)/(T+t1)。
然后获取输入的至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，例如获取输入的A相的历史电阻值为R0，A相的测量电阻值为R1。再根据测量电阻值R1和电阻折算率计算A相的折算电阻值R2，其计算公式为，R2＝R1*(T+t2)/(T+t1)。
进一步的，由折算电阻值R2及历史电阻值R0计算A相的单相偏差值的公式为，A相单相偏差值＝R2-R0/R0*100％。
最后获取预设的单相允许偏差，例如1％，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于该单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于该单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。若存在任意一个单相的单相偏差值大于该单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为不合格。
在上述实施例中，可实现对直流电阻的单相允许偏差是否合格进行检测。
在其中一个具体实施例中，测量直流电阻的三相允许偏差是否合格。参见图2，本实施例中要求实验人员输入的数据包括三相(A相、B相和C相)的测量电阻值和预设的三相允许偏差。
在进行计算时，获取输入的三相的测量电阻值，再根据三相的测量电阻值计算三相偏差，其计算公式为，三相偏差＝(最大的测量电阻值—最小的测量电阻值)/测量电阻值的均值*100％。
最后获取预设的三相允许偏差，例如1％，判断三相偏差是否小于或等于三相允许偏差，若三相偏差小于或等于三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。若三相偏差大于三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为不合格。
在上述实施例中，可实现对直流电阻的三相允许偏差是否合格进行检测。
在其中一个具体实施例中，测量串联电容是否为合格电容，参见图3，本实施例中要求实验人员输入的数据包括第一电容测量值C1(测量值C1)、第二电容测量值C2(测量值C2)、电容铭牌值Cn(铭牌值Cn)、电容允许偏差(允许误差)。
在进行计算时，获取输入的第一电容测量值C1和第二电容测量值C2，再根据第一电容测量值C1和第二电容测量值C2计算串联电容测量值C(测量值C)，其公式为，C＝C1*C2/(C1+C2)。
然后获取输入的电容铭牌值Cn，再根据串联电容测量值和电容铭牌值计算电容实际偏差(电容偏差)，公式为，电容实际偏差＝(C—Cn)/Cn*100％。
获取输入的电容允许偏差，判断电容实际偏差是否小于或等于电容允许偏差，若电容实际偏差小于或等于电容允许偏差，则判定电容为合格电容。若电容实际偏差大于电容允许偏差，则判定电容为不合格电容。
在上述实施例中，可实现对串联电容是否为合格电容进行检测。
在其中一个具体实施例中，要将不同温度测量的介质损耗因素(介损值)换算到20度的值，其中介质材料类型主要包括绝缘油、电容型套管、混合物填充型套管、充油型套管、油浸式电压互感器及电力变压器。各个类型的介质材料都有对应的介损值折算率表格，以方便计算。
以绝缘油为例：
如果(温度)>＝0且(温度)<1.5则
折算值＝(1.54*测量值)
如果(温度)>＝1.5且(温度)<2.5则
折算值＝(1.52*测量值)
如果(温度)>＝2.5且(温度)<3.5则
折算值＝(1.50*测量值)
如果(温度)>＝3.5且(温度)<4.5则
折算值＝(1.48*测量值)
如果(温度)>＝4.5且(温度)<5.5则
折算值＝(1.46*测量值)
如果(温度)>＝5.5且(温度)<6.5则
折算值＝(1.45*测量值)
如果(温度)>＝6.5且(温度)<7.5则
折算值＝(1.44*测量值)
如果(温度)>＝7.5且(温度)<8.5则
折算值＝(1.43*测量值)
如果(温度)>＝8.5且(温度)<9.5则
折算值＝(1.41*测量值)
如果(温度)>＝9.5且(温度)<10.5则
折算值＝(1.38*测量值)
参见图4，本实施例中要求实验人员输入的数据包括实际测量温度(测量温度)、测量介损值(测量介质损耗因素)、
从该表格中可确定绝缘油在不同实际测量温度下的介损值折算率，然后根据测量得到的测量介损值及确定的介损值折算率计算折算介损值(换算到20度的值)，公式为折算介损值＝介损值折算率*测量介损值。示例性的，假如绝缘油的实际测量温度为10，测量介损值为32，则折算介损值＝1.38*32＝44.16。
最后获取输入的介损铭牌值(铭牌值)及介损允许偏差(允许误差)，计算介损测试偏差，公式为，介损测试偏差＝(介损铭牌值-折算介损值)/介损铭牌值。判断介损测试偏差是否小于或等于介损允许偏差，若介损测试偏差小于或等于介损允许偏差，则判定介损测试为合格。若介损测试偏差大于介损允许偏差，则判定介损测试为不合格。
在上述实施例中，可实现对介质材料的介损测试是否合格进行检测。
在其中一个具体实施例中，进行变压器的差动电流的计算。参见图5，本实施例中要求实验人员输入的数据包括容量铭牌值(变压器额定容量)和电压铭牌值(一次侧额定电压、一次侧额定变比、二次侧额定电压、二次侧额定变比)、差动电流标幺值和制动电流标幺值。
在进行计算时，获取输入的容量铭牌值和电压铭牌值，根据容量铭牌值和电压铭牌值计算一次侧基准值和二次侧基准值，计算公式为，
再获取输入的差动电流标幺值和制动电流标幺值，根据一次侧基准值、二次侧基准值、差动电流标幺值和制动电流标幺值计算一次侧电流标幺值、二次侧电流标幺值、一次侧电流有名值、二次侧电流有名值、二次侧电流平衡值，计算公式为：
一次侧电流标幺值-二次侧电流标幺值＝差动电流标幺值
(一次侧电流标幺值+二次侧电流标幺值)/2＝制动电流标幺值
一次侧电流有名值＝一次侧电流标幺值*一次侧基准值
二次侧电流有名值＝二次侧电流标幺值*二次侧基准值
二次侧电流平衡值＝一次侧电流有名值*二次侧基准值/一次侧基准值。
在上述实施例中，可实现对变压器的差动电流进行检测。
在其中一个具体实施例中，本方案还能实现取随机数和“角度与弦值”的转换。参见图6，获取输入的最大值和最小值，随机生成一个在最大值和最小值之间的随机数。参加图7，获取输入角度，将输入角度换算为对应的弦值；获取输入弦值，将输入弦值换算为对应的角度。当数据数据超出计算范围时，不进行计算，会弹出提示“数据有误”。
在上述实施例中，可实现快速生成随机数及进行角度与弦值之间的换算。
在一个实施例中，如图8所示，提出了一种电气试验的计算装置，该装置包括：
计算模块，用于获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差；
判定模块，用于获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果。
上述电气试验的计算装置，通过获取的电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，并与电气允许误差进行比较判断来判定电气测试结果，这样可以减少现场工作人员的计算量和失误的可能性，能实现对电气数据的计算和误差的判断，为工作人员后续作出正确判断奠定良好基础。
在一个实施例中，计算模块，具体用于：获取温度历史值、温度测量值和电阻温度常数，根据温度历史值、温度测量值和电阻温度常数计算电阻折算率；获取至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，根据至少一个的测量电阻值和电阻折算率计算至少一个单相的折算电阻值，根据折算电阻值及历史电阻值计算至少一个单相的单相偏差值；判定模块，具体用于：获取预设的单相允许偏差，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。
在一个实施例中，计算模块，还具体用于：获取三相的测量电阻值，根据三相的测量电阻值计算三相偏差；判定模块，还具体用于：获取预设的三相允许偏差，判断三相偏差是否小于或等于三相允许偏差，若三相偏差小于或等于三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。
在一个实施例中，计算模块，还具体用于：获取第一电容测量值和第二电容测量值，根据第一电容测量值和第二电容测量值计算串联电容测量值；获取电容铭牌值，根据串联电容测量值和电容铭牌值计算电容实际偏差；判定模块，还具体用于：获取电容允许偏差，判断电容实际偏差是否小于或等于电容允许偏差，若电容实际偏差小于或等于电容允许偏差，则判定电容为合格电容。
在一个实施例中，计算模块，还具体用于：获取实际测量温度，根据实际测量温度确定目标介质材料的介损值折算率；获取测量介损值，根据测量介损值及介损值折算率计算折算介损值。判定模块，还具体用于：获取介损铭牌值及介损允许偏差，根据折算介损值及介损铭牌值计算介损测试偏差，判断介损测试偏差是否小于或等于介损允许偏差，若介损测试偏差小于或等于介损允许偏差，则判定介损测试为合格。
在一个实施例中，电气试验计算装置还包括：差动电流计算模块，用于获取变压器的容量铭牌值和电压铭牌值，根据容量铭牌值和电压铭牌值计算一次侧基准值和二次侧基准值；获取差动电流标幺值和制动电流标幺值，根据一次侧基准值、二次侧基准值、差动电流标幺值和制动电流标幺值计算一次侧电流标幺值、二次侧电流标幺值、一次侧电流有名值、二次侧电流有名值、二次侧电流平衡值。
在一个实施例中，电气试验计算装置还包括：随机及换算模块，用于获取输入的最大值和最小值，随机生成一个在最大值和最小值之间的随机数；获取输入角度，将输入角度换算为对应的弦值；获取输入弦值，将输入弦值换算为对应的角度。
图9示出了一个实施例中终端设备的内部结构图。如图9所示，该终端设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该终端设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现电气试验的计算方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行电气试验的计算方法。本领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的终端设备的限定，具体的终端设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上执行的计算机程序，该处理器执行该计算机程序时实现如下步骤：获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，包括：获取温度历史值、温度测量值和电阻温度常数，根据温度历史值、温度测量值和电阻温度常数计算电阻折算率；获取至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，根据至少一个的测量电阻值和电阻折算率计算至少一个单相的折算电阻值，根据折算电阻值及历史电阻值计算至少一个单相的单相偏差值；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取预设的单相允许偏差，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，还包括：获取三相的测量电阻值，根据三相的测量电阻值计算三相偏差；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取预设的三相允许偏差，判断三相偏差是否小于或等于三相允许偏差，若三相偏差小于或等于三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，包括：获取第一电容测量值和第二电容测量值，根据第一电容测量值和第二电容测量值计算串联电容测量值；获取电容铭牌值，根据串联电容测量值和电容铭牌值计算电容实际偏差；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取电容允许偏差，判断电容实际偏差是否小于或等于电容允许偏差，若电容实际偏差小于或等于电容允许偏差，则判定电容为合格电容。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，包括：获取实际测量温度，根据实际测量温度确定目标介质材料的介损值折算率；获取测量介损值，根据测量介损值及介损值折算率计算折算介损值。获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取介损铭牌值及介损允许偏差，根据折算介损值及介损铭牌值计算介损测试偏差，判断介损测试偏差是否小于或等于介损允许偏差，若介损测试偏差小于或等于介损允许偏差，则判定介损测试为合格。
在一个实施例中，计算方法还包括：获取变压器的容量铭牌值和电压铭牌值，根据容量铭牌值和电压铭牌值计算一次侧基准值和二次侧基准值；获取差动电流标幺值和制动电流标幺值，根据一次侧基准值、二次侧基准值、差动电流标幺值和制动电流标幺值计算一次侧电流标幺值、二次侧电流标幺值、一次侧电流有名值、二次侧电流有名值、二次侧电流平衡值。
在一个实施例中，计算方法还包括：获取输入的最大值和最小值，随机生成一个在最大值和最小值之间的随机数；获取输入角度，将输入角度换算为对应的弦值；获取输入弦值，将输入弦值换算为对应的角度。
一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，包括：获取温度历史值、温度测量值和电阻温度常数，根据温度历史值、温度测量值和电阻温度常数计算电阻折算率；获取至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，根据至少一个的测量电阻值和电阻折算率计算至少一个单相的折算电阻值，根据折算电阻值及历史电阻值计算至少一个单相的单相偏差值；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取预设的单相允许偏差，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，还包括：获取三相的测量电阻值，根据三相的测量电阻值计算三相偏差；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取预设的三相允许偏差，判断三相偏差是否小于或等于三相允许偏差，若三相偏差小于或等于三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，包括：获取第一电容测量值和第二电容测量值，根据第一电容测量值和第二电容测量值计算串联电容测量值；获取电容铭牌值，根据串联电容测量值和电容铭牌值计算电容实际偏差；获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取电容允许偏差，判断电容实际偏差是否小于或等于电容允许偏差，若电容实际偏差小于或等于电容允许偏差，则判定电容为合格电容。
在一个实施例中，获取电气测量值和电气试验值，根据电气测量值和电气试验值计算电气实际误差，包括：获取实际测量温度，根据实际测量温度确定目标介质材料的介损值折算率；获取测量介损值，根据测量介损值及介损值折算率计算折算介损值。获取电气允许误差，根据电气允许误差和电气实际误差判定电气测试结果，包括：获取介损铭牌值及介损允许偏差，根据折算介损值及介损铭牌值计算介损测试偏差，判断介损测试偏差是否小于或等于介损允许偏差，若介损测试偏差小于或等于介损允许偏差，则判定介损测试为合格。
在一个实施例中，计算方法还包括：获取变压器的容量铭牌值和电压铭牌值，根据容量铭牌值和电压铭牌值计算一次侧基准值和二次侧基准值；获取差动电流标幺值和制动电流标幺值，根据一次侧基准值、二次侧基准值、差动电流标幺值和制动电流标幺值计算一次侧电流标幺值、二次侧电流标幺值、一次侧电流有名值、二次侧电流有名值、二次侧电流平衡值。
在一个实施例中，计算方法还包括：获取输入的最大值和最小值，随机生成一个在最大值和最小值之间的随机数；获取输入角度，将输入角度换算为对应的弦值；获取输入弦值，将输入弦值换算为对应的角度。
需要说明的是，上述电气试验的计算方法、装置、设备及计算机可读存储介质属于一个总的发明构思，电气试验的计算方法、装置、设备及计算机可读存储介质实施例中的内容可相互适用。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，该程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种电气试验的计算方法，其特征在于，所述方法包括：
获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差；
获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果。
2.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：
获取温度历史值、温度测量值和电阻温度常数，根据所述温度历史值、所述温度测量值和所述电阻温度常数计算电阻折算率；
获取至少一个单相的测量电阻值和历史电阻值，根据所述至少一个的测量电阻值和所述电阻折算率计算至少一个单相的折算电阻值，根据所述折算电阻值及所述历史电阻值计算所述至少一个单相的单相偏差值；
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取预设的单相允许偏差，判断所有单相的单相偏差值是否都小于或等于所述单相允许偏差，若所有单相的单相偏差值都小于或等于所述单相允许偏差，则判定直流电阻的第一测试结果为合格。
3.根据权利要求2所述的计算方法，其特征在于，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，还包括：
获取三相的测量电阻值，根据所述三相的测量电阻值计算三相偏差；
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取预设的三相允许偏差，判断所述三相偏差是否小于或等于所述三相允许偏差，若所述三相偏差小于或等于所述三相允许偏差，则判定直流电阻的第二测试结果为合格。
4.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：
获取第一电容测量值和第二电容测量值，根据所述第一电容测量值和所述第二电容测量值计算串联电容测量值；
获取电容铭牌值，根据所述串联电容测量值和所述电容铭牌值计算电容实际偏差；
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取电容允许偏差，判断所述电容实际偏差是否小于或等于所述电容允许偏差，若所述电容实际偏差小于或等于所述电容允许偏差，则判定电容为合格电容。
5.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差，包括：
获取实际测量温度，根据所述实际测量温度确定目标介质材料的介损值折算率；
获取测量介损值，根据所述测量介损值及所述介损值折算率计算折算介损值。
所述获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果，包括：
获取介损铭牌值及介损允许偏差，根据所述折算介损值及所述介损铭牌值计算介损测试偏差，判断所述介损测试偏差是否小于或等于所述介损允许偏差，若所述介损测试偏差小于或等于所述介损允许偏差，则判定介损测试为合格。
6.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述计算方法还包括：
获取变压器的容量铭牌值和电压铭牌值，根据所述容量铭牌值和所述电压铭牌值计算一次侧基准值和二次侧基准值；
获取差动电流标幺值和制动电流标幺值，根据所述一次侧基准值、所述二次侧基准值、所述差动电流标幺值和所述制动电流标幺值计算一次侧电流标幺值、二次侧电流标幺值、一次侧电流有名值、二次侧电流有名值、二次侧电流平衡值。
7.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述计算方法还包括：
获取输入的最大值和最小值，随机生成一个在所述最大值和所述最小值之间的随机数；
获取输入角度，将所述输入角度换算为对应的弦值；
获取输入弦值，将所述输入弦值换算为对应的角度。
8.一种电气试验计算装置，其特征在于，所述装置包括：
计算模块，用于获取电气测量值和电气试验值，根据所述电气测量值和所述电气试验值计算电气实际误差；
判定模块，用于获取电气允许误差，根据所述电气允许误差和所述电气实际误差判定电气测试结果。
9.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
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| CN202110770527.2A CN113589025A (zh) | 2021-07-07 | 2021-07-07 | 电气试验计算方法、装置、设备和介质 |
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