CN113552465A

CN113552465A - 图像处理芯片测试方法

Info

Publication number: CN113552465A
Application number: CN202010339513.0A
Authority: CN
Inventors: 黄棕达; 杨景岚
Original assignee: Realtek Semiconductor Corp
Current assignee: Realtek Semiconductor Corp
Priority date: 2020-04-26
Filing date: 2020-04-26
Publication date: 2021-10-26
Anticipated expiration: 2040-04-26
Also published as: CN113552465B

Abstract

本公开的实施例涉及一种图像处理芯片测试方法，该方法包括：控制电源供应电路来提供第一操作电压给包含存储装置的图像处理芯片；在从存储装置读取被写入的第一图像数据时，测试装置接收对应于第一图像数据的第一错误检测码并且确定第一错误检测码是否代表错误发生；如果错误发生，则将第一操作电压记录为错误操作电压；如果错误未发生，则提供第二操作电压给图像处理芯片。而且，在从存储装置读取被写入的第二图像数据时，测试装置接收对应于第二图像数据的第二错误检测码并且确定第二错误检测码是否代表错误发生。

Description

图像处理芯片测试方法

技术领域

本发明涉及图像处理芯片测试方法，特别地涉及可自动测试图像处理芯片的错误操作电压的图像处理芯片测试方法。

背景技术

传统上对图像处理芯片进行测试时，会以手动方式调整提供给图像处理芯片的操作电压，并观察连接到图像处理芯片的显示器上是否有显示问题(例如闪烁或拉丝)，来确定操作电压是否为适当的操作电压。

然而，这样的操作方式仅能发现会造成较严重显示问题的操作电压，当显示问题较轻微时，观察者可能因有问题的图像仅在极短时间内显现出来或是较不明显而无法发现相对应的错误操作电压。

发明内容

因此，本发明一个目的为提供一种可自动且精确测试错误操作电压的图像处理芯片测试方法。

本发明一实施例提供了一种图像处理芯片测试方法，通过在测试装置上执行至少一个程序来实现，包括：控制电源供应电路来提供第一操作电压给图像处理芯片，该图像处理芯片包含至少一个存储装置；写入第一图像数据至该存储装置；在从该存储装置读取该第一图像数据时，该测试装置接收对应于该第一图像数据的第一错误检测码并且确定该第一错误检测码是否代表错误发生；如果该第一错误检测码代表该错误发生，则将该第一操作电压记录为错误操作电压；如果该第一错误检测码代表该错误未发生，则提供第二操作电压给该图像处理芯片，写入第二图像数据至该存储装置，并且在从该存储装置读取该第二图像数据时，该测试装置接收对应于该第二图像数据的第二错误检测码并且确定该第二错误检测码是否代表错误发生。

根据前述实施例，可自动且精准的检测图像芯片，因此可克服现有技术中无法自动且难以精准的检测到错误操作电压的问题。

附图说明

图1绘示了根据本发明一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。

图2绘示了根据本发明另一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。

图3绘示了根据本发明又一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。

图4绘示了根据本发明一实施例的图像处理芯片测试方法的流程图。

具体实施方式

以下将以多个实施例来描述本发明的内容，还请留意，各实施例中的组件可通过硬件(例如装置或电路)或是固件(例如微处理器中写入至少一个程序)来实施。此外，以下描述中的“第一”、“第二”以及类似描述仅用来定义不同的组件、参数、数据、信号或步骤，并非用以限定其次序。

图1绘示了根据本发明一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统100的框图。如图1所示，图像芯片测试系统100包含测试装置101、电源供应电路103以及图像处理芯片105。电源供应电路103和图像处理芯片105可位于同电路板上且图像处理芯片105包含存储装置107。测试装置101用以执行至少一个程序来执行本发明所提供的图像处理芯片测试方法。根据本发明所提供的图像处理芯片测试方法，测试装置101会控制电源供应电路103来依序提供至少一个个操作电压给图像处理芯片105。测试装置101会在图像数据从接收存储装置107被读取时接收对应于图像数据的错误检测码并且确定错误检测码是否代表着图像数据在从存储装置109读出时发生错误。如果错误检测码代表着未发生错误则继续提供下一个操作电压来进行测试，如果错误检测码EC代表着发生错误则将当前的操作电压记录为错误操作电压。

举例来说，如图1所示，测试装置101会控制电源供应电路103来提供第一操作电压V1给图像处理芯片105，其包含存储装置107。第一图像数据Im1会被写入至存储装置107，并且在从存储装置107读取第一图像数据Img1时，测试装置101会接收对应于第一图像数据Img1的第一错误检测码EC1并且确定第一错误检测码EC1是否代表错误发生。如果第一错误检测码EC1代表错误发生，则将第一操作电压V1记录为错误操作电压。如果第一错误检测码EC1代表错误未发生，则提供第二操作电压V2给图像处理芯片105，并写入第二图像数据Img2至存储装置107。而且，在从存储装置107读取第二图像数据Img2时，测试装置101接收对应于第二图像数据Img2的第二错误检测码EC2并且确定第二错误检测码EC2是否代表错误发生。

同样地，如果第二错误检测码EC2代表错误发生，则将第二操作电压V2记录为错误操作电压。如果第二错误检测码EC2代表错误未发生，则提供第三操作电压V3给图像处理芯片105。然后第三图像数据Img3会被存储至存储装置107，并且在从存储装置107读取第三图像数据Img3时，测试装置101会接收对应于第三图像数据Img3的第三错误检测码EC3并且确定第三错误检测码EC3是否代表错误发生。前述第一操作电压V1、第二操作电压V2以及第三操作电压V3的动作可一直重复进行直到满足预定条件。此预定条件可以是测试到预定数目的错误操作电压(例如测试到一个错误操作电压或是五个错误操作电压)。或者，也可以一直重复进行直到操作电压达预定次数，举例来说，可以预设成测试20个操作电压V1-V20。而且，前述的第一图像数据Img1、第二图像数据Img2以及第三图像数据Img3可以包含相同的图像内容，也可以包含不同的图像内容。

在一实施例中，第三操作电压V3小于第二操作电压V2，且第二操作电压V2小于第一操作电压V1。也就是说，测试装置101控制电源供应电路103所提供的操作电压将逐次降低。以此方式检测到的第一个错误操作电压的上一个操作电压，就是图像处理芯片105可运作的最低操作电压。举例来说，测试装置101依序提供操作电压V1,V2…Vn给图像处理芯片105，操作电压V1最高，然后操作电压V2…Vn逐渐降低。对应于操作电压V1,V2…Vn-1的错误检测码均未指示发生错误，而对应于操作电压Vn的错误检测码指示发生错误。在此例中，会将操作电压Vn记录为错误操作电压，而操作电压Vn-1记录为最低操作电压。在一实施例中，如果图像处理芯片105运作在操作电压Vn虽有错误，但此错误相当微小，仍可将操作电压Vn记录为最低操作电压。

在一实施例中，第三操作电压V3高于第二操作电压V2，且第二操作电压V2高于第一操作电压V1。也就是说，测试装置101所给予的操作电压会逐次增加，以此检测到的第一个错误操作电压的上一个操作电压，就是图像处理芯片105所能承受的最大操作电压。举例来说，测试装置101依序提供操作电压V1,V2…Vn给图像处理芯片105，操作电压V1最低(可为前述的最低操作电压)然后操作电压V2…Vn逐渐增加。对应于操作电压V1或V2…Vn-1的错误检测码均未指示发生错误，而对应于操作电压Vn的错误检测码指示发生错误。在此例中，会将操作电压Vn记录为错误操作电压，而操作电压Vn-1记录为最高操作电压。在一实施例中，如果图像处理芯片105运作在操作电压Vn虽有错误，但此错误相当微小，仍可将操作电压Vn记录为最高操作电压。

图1所示的各组件可以用各种装置或电路来实施。测试装置101可以是计算机或是其他可以控制电源供应电路103的装置。在一实施例中，存储装置107为双倍数据率(DoubleData Rate，DDR)存储器。错误检测码可以是各种能够用来确认存储装置读出的数据是否正确的码。在一实施例中，错误检测码为循环冗余校验码(Cyclical Redundancy Check，CRC)。测试装置101可以取得根据未输入前的图像数据所产生的参考错误检测码，然后比对图像数据从存储装置107读出时所产生的错误检测码，来确定读出的图像数据是否有错误。然而，请留意的是，对应不同的错误检测码，测试装置101可以有不同的确定机制。此类变化均应

图2绘示了根据本发明另一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。在此实施例中，图像处理芯片105耦接到显示器203，当错误检测码代表错误发生时，显示器203会显示相对应的错误画面(例如闪烁或拉丝)。在前述说明中，提及了如果图像处理芯片105运作在操作电压Vn虽有错误，但此错误相当微小，仍可将操作电压Vn记录为最低操作电压。此处的微小错误可指显示器203会显示相对应的错误画面，但错误之处相当小(例如只有一两个像素)或是错误画面只有极短的时间，但不影响用户欣赏影片的感受。请再参阅图2，在图2的实施例中，图像处理芯片105还包含耦接存储装置107的显示器驱动电路201。显示器驱动电路201耦接存储装置107以及显示器203以控制显示器203来显示从存储装置107读出的图像数据。图像处理芯片105可以还包含其他组件，例如存储装置控制电路等。此外，显示器驱动电路201不限于包含在图像处理芯片105中。如图3所示，显示器驱动电路201是独立于图像处理芯片105的电路而不包含在图像处理芯片105中。

图4绘示了根据本发明一实施例的图像处理芯片测试方法的流程图，其可通过测试装置101执行至少一个程序而执行，包含下列步骤：

步骤401

控制电源供应电路103来提供操作电压给图像处理芯片105，并写入图像数据至图像处理芯片105中的存储装置107。

步骤403

在从存储装置107读取图像数据时，确定对应于图像数据的错误检测码是否代表错误发生。如果错误发生则进行到步骤405，如果错误未发生则进行到步骤407。

步骤405

将此操作电压记录为错误操作电压。

步骤407

提供下一操作电压并回到步骤401。

根据前述实施例，可自动且精准的检测图像芯片，因此可以克服现有技术中无法自动且难以精准的检测到错误操作电压的问题。

以上所述仅为本发明之较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做之均等变化与修饰，皆应属本发明之涵盖范围。

附图标记说明

100 图像芯片测试系统

101 测试装置

103 电源供应电路

105 图像处理芯片

107 存储装置

201 显示器驱动电路

203 显示器

Claims

1.一种图像处理芯片测试方法，通过在测试装置上执行至少一个程序而实现，包括：

控制电源供应电路来提供第一操作电压给图像处理芯片，所述图像处理芯片包含至少一个存储装置；

写入第一图像数据至所述存储装置；

在从所述存储装置读取所述第一图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第一图像数据的第一错误检测码并且确定所述第一错误检测码是否代表错误发生；

如果所述第一错误检测码代表所述错误发生，则将所述第一操作电压记录为错误操作电压；

如果所述第一错误检测码代表所述错误未发生，则提供第二操作电压给所述图像处理芯片，写入第二图像数据至所述存储装置，并且在从所述存储装置读取所述第二图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第二图像数据的第二错误检测码并且确定所述第二错误检测码是否代表错误发生。

2.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述第二操作电压小于所述第一操作电压。

3.根据权利要求2所述的图像处理芯片测试方法，还包括：

如果所述第二错误检测码代表所述错误发生，则将所述第二操作电压记录为所述错误操作电压；

如果所述第二错误检测码代表所述错误未发生，则提供第三操作电压给所述图像处理芯片，存储第三图像数据至所述存储装置，并且在从所述存储装置读取所述第三图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第三图像数据的第三错误检测码并且确定所述第三错误检测码是否代表错误发生；

其中所述第三操作电压小于所述第二操作电压。

4.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述第二操作电压高于所述第一操作电压，且所述第一操作电压是所述图像处理芯片可正常运作的最低电压。

5.根据权利要求4所述的图像处理芯片测试方法，还包括：

其中所述第三操作电压高于所述第二操作电压。

6.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述错误检测码为循环冗余校验码。

7.根据权利要求6所述的图像处理芯片测试方法，其中所述存储装置为双倍数据率存储器。

8.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述图像处理芯片还包括耦接所述存储装置的显示器驱动电路，所述显示器驱动电路耦接显示器以控制所述显示器来显示从所述存储装置读出的图像数据，当所述错误检测码代表所述错误发生时，所述显示器显示相对应的错误画面。

9.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，还包括独立于所述图像处理芯片并且耦接所述存储装置的显示器驱动电路，所述显示器驱动电路耦接显示器以控制所述显示器来显示从所述存储装置读出的图像数据，当所述错误检测码代表所述错误发生时，所述显示器显示相对应的错误画面。

10.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述第一图像数据以及所述第二图像数据包含相同的图像内容。