CN113484638A - 基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜 - Google Patents

基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜 Download PDF

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CN113484638A CN202110738522.1A CN202110738522A CN113484638A CN 113484638 A CN113484638 A CN 113484638A CN 202110738522 A CN202110738522 A CN 202110738522A CN 113484638 A CN113484638 A CN 113484638A
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Abstract

本申请公开了一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜。本申请的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,量化了测试过程中的测试时间、充放电容量等参数,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。

Description

基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜
技术领域
本申请涉及充电盒测试领域,尤其涉及一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜。
背景技术
随着移动电子设备的快速发展,TWS(Ture Wireless Stereo)真无线立体声耳机凭借其便捷性与其媲美有线耳机的出色性能,越来越受到消费者的喜爱。
由于现有电池技术的限制,以及TWS耳机本身体积较小,造成耳机本身的续航能力不强,需要搭配TWS充电盒使用,达到一个长达几十小时的续航。
TWS充电盒老化测试是模拟客户实际使用环境,并加强环境应力对TWS充电盒进行测试的一种过程,目的是在TWS充电盒出厂前,发现TWS充电盒的缺陷与故障,提高产品在进入市场后的可靠性。
相关技术中,存在两种主流的TWS充电盒,一种是带API功能的充电盒,一种是不带API功能的充电盒,两种方案目前没有通用的老化测试方法。而且目前老化测试不能进行全自动测试,需要人工手动切换模式,需要人工去检查充电盒的状态,容易造成错判,误判。
发明内容
本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本申请提出一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法,能够实现对不同类型的充电盒进行测试,并且能够自动判断并拦截不合格品,提高了产品进入市场后的可靠性。
本申请还提出一种上位机。
本申请还提出一种老化柜。
根据本申请的第一方面实施例的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,应用于上位机,所述方法包括:
获取充电盒的类型;
若所述充电盒为支持串口通讯的类型,通过所述充电盒的通讯串口读取所述充电盒的第一运行参数;
若所述充电盒为不支持串口通讯的类型,发送预设运行参数至老化柜,以使所述老化柜根据所述预设运行参数对所述充电盒进行充电或放电,并读取所述老化柜采集所述充电盒在充电或放电过程的第二运行参数。
根据本申请实施例的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,至少具有如下有益效果:针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。
根据本申请的一些实施例,所述方法还包括:
根据所述预设运行参数和预设映射规则确定预设参数区间,所述预设映射规则包括:所述预设运行参数与所述预设参数区间的对应关系;
根据所述第二运行参数和所述预设参数区间确定测试结果,并根据所述测试结果输出控制指令。
根据本申请的一些实施例,所述第二运行参数包括:充电过程中的第一电池容量、放电过程中的第二电池容量。
根据本申请的一些实施例,所述控制指令包括拦截指令和继续指令,所述测试结果包括:测试合格和测试不合格;
所述根据所述第二运行参数和所述预设参数区间确定测试结果,并根据所述测试结果输出控制指令,包括:
若所述第一电池容量位于所述预设参数区间内,所述测试结果为测试合格,输出所述继续指令;
若所述第一电池容量不位于所述预设参数区间内,所述测试结果为测试不合格,输出所述拦截指令。
根据本申请的第二方面实施例的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,应用于老化柜,所述方法包括:
接收预设运行参数,根据所述预设运行参数对所述充电盒进行充电或放电;
采集所述充电盒进行充电或放电过程中的运行参数,以得到第二运行参数,并将所述第二运行参数发送至上位机。
根据本申请实施例的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,至少具有如下有益效果:针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。
根据本申请的一些实施例,所述预设运行参数包括:预设放电参数、预设充电参数;所述预设充电参数包括:预设充电时间和预设充电电流,所述预设放电参数:预设放电时间和预设放电电流;
所述接收预设运行参数,根据所述预设运行参数对所述充电盒进行充电或放电,包括:
对所述充电盒进行预操作放电;
在所述预设充电时间的期间内以所述预设充电电流对所述充电盒进行充电;
在所述预设放电时间的期间内以所述预设放电电流对所述充电盒进行放电。
根据本申请的一些实施例,所述测试方法还包括:
接收所述上位机反馈的控制指令,根据所述控制指令确定所述充电盒的操作。
根据本申请的一些实施例,所述根据所述控制指令控制所述充电盒的操作,包括:
若所述控制指令为继续指令,在所述充电盒完成充电后对所述充电盒进行放电;
若所述控制指令为拦截指令,在所述充电盒完成充电后停止所述充电盒的操作。
根据本申请第三方面实施例的上位机,所述上位机执行第一方面实施例中任意一项所述的测试方法。
根据本申请第四方面实施例的老化柜,所述老化柜执行第一方面实施例中任意一项所述的测试方法。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
下面结合附图和实施例对本申请做进一步的说明,其中:
图1为本申请实施例提供的基于无线耳机充电盒的老化测试方法的流程图;
图2为本申请实施例提供的基于无线耳机充电盒的老化测试方法的流程图;
图3为本申请实施例提供的基于无线耳机充电盒的老化测试方法的流程图;
图4为本申请实施例提供的基于无线耳机充电盒的老化测试方法的流程图;
图5为本申请实施例提供的基于无线耳机充电盒的老化测试方法的流程图;
图6为本申请实施例提供的基于无线耳机充电盒的老化测试方法的流程图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。
在本申请的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请的描述中,若干的含义是一个以上,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本申请的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本申请中的具体含义。
本申请的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
参照图1,第一方面,本申请的一些实施例提出了一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法,应用于上位机,老化测试方法包括但不限于步骤S100、步骤S200和步骤S300。
步骤S100:获取充电盒的类型;
步骤S200:若充电盒为支持串口通讯的类型,通过充电盒的通讯串口读取充电盒的第一运行参数;
步骤S300:若充电盒为不支持串口通讯的类型,发送预设运行参数至老化柜,以使老化柜根据运行参数对充电盒进行充电或放电,并读取老化柜采集充电盒在充电或放电过程的第二运行参数。
上位机判断充电盒的类型,当充电盒为支持串口通讯的类型时,上位机可以直接通过老化柜的串口直接读取充电盒的参数,得到第一运行参数,第一运行参数包括充电盒充放电时的电流、电压、电池容量等,即,在这种情况下,上位机可以通过API(ApplicationProgramming Interface,应用程序接口)接口与充电盒进行通信,能够输出相应的指令,以控制充电盒进入指定的模式,也能够直接读取充电盒测试过程中的相关参数。当充电盒为不支持串口通讯的类型时,需要借助老化柜来控制充电盒进行充电和放电,并通过老化柜来读取充电盒的运行参数,老化柜读取充电盒的参数以后,通过老化柜的串口将参数发送至上位机,上位机接收以后得到第二运行参数。
本申请实施例的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。
需要说明的是,对于不支持串口通讯的充电盒,需要借助老化柜的充放电模块来进行充放电并分析读取充放电时的数据。老化柜在接收到上位机的指令后,老化柜MCU控制自身充放模块,进行充电盒充放电动作,每次控制指令都由上位机发送给老化柜,老化柜根据指令来切换充放电模块。上位机采集老化柜收集到的数据显示出来,并自动对比判断不良。
对于支持串口通讯的充电盒,上位机可以直接通过API来读取充电盒的参数。这种类型的充电盒只需使用老化柜的放电模块的放电电路,所有数据均由上位机直接与充电盒直接沟通,上位机通过API接口发送对应指令到充电盒进入指定模式。对于这种类型的充电盒,老化柜MCU只提供2个功能,一是控制放电电路的开闭,二是充当一个中转作用,实现充电盒充放电模式的切换。充电盒充电时,仅使用老化柜的串口,无需其他模块;充电盒放电时,使用老化柜的串口的同时,需要用到老化柜的放电电路来实现放电。对于支持串口通讯的充电盒来说,其也可以采取与不支持串口通讯的充电盒的方式进行充电或放电测试,上位机直接与充电盒沟通的方式,由于参数数据没有经过中转站,数据更加精确,不需要老化柜启动相关的流程进行操作,因此,一般情况下,采取上位机与充电盒直接沟通的方式。
参照图2,在本申请的一些实施例中,老化测试方法,还包括但不限于步骤S400和步骤S500。
步骤S400:根据预设运行参数和预设映射规则确定预设参数区间,预设映射规则包括:预设运行参数与预设参数区间的对应关系;
步骤S500:根据第二运行参数和预设参数区间确定测试结果,并根据测试结果输出控制指令。
上位机下发相关的预设运行参数至充电盒启动测试,并根据下发的预设运行参数和预设映射规则确定预设参数区间,其中,预设映射规则包括:预设运行参数与预设参数区间的对应关系。根据第二运行参数和预设参数区间确定测试结果,并根据测试结果输出控制指令,以控制老化柜或者充电盒的下一步操作。
通过这样设置,上位机能够自动判断充电盒是否合格,不需要人工进行辨别,并且,将结果的判断区间与下发的预设运行参数联系起来,能够增强判断的准确性,提高了老化测试方法的准确性,提高了产品进入市场后的可靠性。
具体地,在本实施例中,上位机下发的预设运行参数包括:预设充电电流参数和预设充电时间参数。例如:预设充电电流参数为50mA,充电时间为30分钟,则理论上充电容量为25mAh。假设预设映射规则确定的预设参数区间为理论值的上下5%,则预设参数区间为[23.75mAh,26.25mAh],再根据第二运行参数和预设参数区间对充电盒进行分析,判断其是否合格,若实际充电容量处于预设参数区间内,则认为充电盒为合格品,否则,该充电盒为不良品。
需要说明的是,在本实施例中仅仅给出了不支持串口通讯类型的充电盒的判断方式,对于支持串口通讯类型的充电盒来说,预设运行参数是直接由上位机下发至充电盒中,其运行参数由上位机直接读取,不需要通过老化柜,其判断方式类似。即两种类型的充电盒仅仅只是参数下发、读取、模式切换等方式不一致,其判断方式相同。也可以选择充放电过程中任意一段时间内的充进或放出的电池容量,判断其是否在预设参数区间(这种情况下,预设参数区间应该随着时间进行更改)内。
参照图3,在本申请的一些实施例中,第二运行参数包括:充电过程中的第一电池容量和放电过程中的第二电池容量。控制指令包括拦截指令和继续指令,测试结果包括测试合格和测试不合格。
步骤S500包括但不限于步骤S510和步骤S520。
步骤S510:若第一电池容量位于预设参数区间内,测试结果为测试合格,输出继续指令;
步骤S520:若第一电池容量不位于预设参数区间内,测试结果为测试不合格,输出拦截指令。
在本实施例中,在充电过程中,老化柜直接读取充电盒在充电时的充电容量,得到第一电池容量,并将第一电池容量发送至上位机,当上位机判断第一电池容量处于预设参数区间内时,此次测试结果为测试合格,输出继续指令,以控制老化柜对充电盒进行放电测试;当上位机判断第一电池容量不位于预设参数区间内时,此次测试结果为测试不合格,输出拦截指令,停止下一步的测试,并将该充电盒锁定为不良品。
通过这样设置,能够自动对不良品进行锁定,防止其进入市场,能够提高产品的可靠性,并且,一旦为不良品,则不参与下一步测试,提高了测试效率。
可以理解的是,在放电过程中,其测试方式与充电过程类似。老化柜直接读取充电盒在放电时的放电容量,得到第二电池容量,并将第二电池容量发送至上位机,当上位机判断第二电池容量处于预设参数区间内时,此次测试结果为测试合格,输出继续指令,以控制老化柜对充电盒进行第二次充电测试或直接判断其为合格,将充电盒电量充满;当上位机判断第二电池容量不位于预设参数区间内时,此次测试结果为测试不合格,输出拦截指令,停止下一步的测试,并将该充电盒锁定为不良品。
需要说明的是,对于支持串口通讯的充电盒来说,充放电过程中的控制方式与不支持串口通讯的充电盒类似,在此不再赘述。
参照图4,第二方面,本申请的一些实施例还提供了一种基于无线耳机充电盒的老化测试方法,应用于老化柜,老化测试方法包括但不限于步骤S600、步骤S700。
步骤S600:接收预设运行参数,根据预设运行参数对充电盒进行充电或放电;
步骤S700:采集充电盒进行充电或放电过程中的运行参数,以得到第二运行参数,并将第二运行参数发送至上位机。
老化柜接收上位机下发的预设运行参数,并根据预设运行参数对充电盒进行充电或放电,并且采集充电盒进行充电或放电过程中的运行参数,以得到第二运行参数,并将第二运行参数发送至上位机,以便于上位机判断充电盒在充电或放电过程是否正常。
本申请实施例的基于无线耳机充电盒的老化测试方法,针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。参照图5,在本申请的一些实施例中,预设运行参数包括:预设放电参数、预设充电参数;预设充电参数包括:预设充电时间和预设充电电流,预设放电参数:预设放电时间和预设放电电流。
步骤S600包括但不限于步骤S610、步骤S620和步骤S630。
步骤S610:对充电盒进行预操作放电;
步骤S620:在预设充电时间的期间内以预设充电电流对充电盒进行充电;
步骤S630:在预设放电时间的期间内以预设放电电流对充电盒进行放电。
在本实施例中,充放电测试前,需要对充电盒进行预操作,将充电盒中原本存在的电量释放出去,以便于进入充放电循环老化测试。在预操作结束以后,老化柜根据预设充电时间和预设充电电流对充电盒进行充电测试,当充电过程的测试结果为合格,再根据预设放电时间和预设放电电流对充电盒进行放电测试。
预设运行参数有上位机控制老化柜进行确定,其确定方式如下:
预设充电电流和预设充电时间的设定:取一部分的充电盒样品,检测充电盒样品从过放保护状态放电到过充保护状态时充进的电池容量和充电时间,以此数值再偏小一个值(略微小于)作为合理的最大充电电池容量,以此充电时间偏长一个值(略微大于)作为合理的最大充电时间,再根据最大充电电池容量和最大充电时间确定预设充电电流和预设充电时间。可以理解的是,预设充电时间应当处于最大充电时间内,根据预设充电电流和预设充电时间得到的理论充电电池容量应该处于最大充电电池容量内,以防止测试时,采取到的测试结果为最大充电电池容量,导致老化柜获取的运行参数失去测试的意义,保证了测试的准确性和可靠性。
预设放电电流和预设放电时间的设定:小批量验证样品,检测充电盒从过充保护状态放电到过放保护状态时放出的电池容量,以此数值再偏小一个值(略微小于)作为一个合理的最大放电电池容量,以此时间偏长一个值(略微大于)作为一个合理的最大放电时间,再根据最大放电电池容量和最大放电时间确定预设放电电流和预设放电时间。可以理解的是,预设放电时间应当处于最大放电时间内,根据预设放电电流和预设放电时间得到的理论放电电池容量应该处于最大放电电池容量内,以防止测试时,采取到的测试结果为最大充电电池容量,导致老化柜获取的运行参数失去测试的意义,保证了测试的准确性和可靠性。
在本申请的一些实施例中,老化测试方法还包括但不限于步骤S800。
步骤S800:接收上位机反馈的控制指令,根据控制指令确定充电盒的操作;
参照图6,在本申请的一些实施例中,步骤“根据控制指令控制充电盒的操作”包括但不限于步骤S810和步骤S820。
步骤S810:若控制指令为继续指令,在充电盒完成充电后对充电盒进行放电;
步骤S820:若控制指令为拦截指令,在充电盒完成充电后停止充电盒的操作。
当上位机反馈的指令为继续指令,则说明充电盒的充电测试为合格,老化柜控制充电盒进行放电测试;当上位机反馈的指令为拦截指令,则说明充电盒的充电测试为不合格,老化柜控制充电盒停止测试,并将该充电盒锁定为不良,防止其流入市场。
具体地,在本实施例中,第二运行参数包括实际充电容量和实际放电容量。上位机下发预设运行参数至老化柜,其中预设运行参数包括:预设放电参数、预设充电参数;预设充电参数包括:预设充电时间和预设充电电流,预设放电参数:预设放电时间和预设放电电流。老化柜首先根据预设运行参数对充电盒进行预操作放电,以将充电盒中原有的电量释放出去。预操作结束后,静置一段时间(如30秒),以保证老化柜从放电模式切换到充电模式。根据预设充电时间和预设充电电流对充电盒进行充电操作,并获取充电盒在充电过程中的实际充电电池容量,并将获取的实际充电容量上传至上位机。上位机接收老化柜上传的实际充电容量,并判断实际充电容量是否位于预设参数区间内,如果实际充电容量处于预设参数区间内,则判断此次充电测试的结果为合格,输出继续指令,以使老化柜在充电盒完成充电测试,并静置一段时间(如静置30S)后,对充电盒进行放电测试;如果实际充电容量不位于预设参数区间内,则判断此次充电测试的结果为不合格,输出拦截指令,以使老化柜停止对该充电盒进行下一步的测试,老化柜将该充电盒锁定为不良品,防止其流入到市场。
当充电测试结果为合格,静置一段时间后,确保老化柜从充电模式切换到了放电模式。老化柜根据预设放电时间和预设放电电流对充电盒进行放电操作,并获取充电盒在放电时的实际放电容量,并将获取的实际放电容量上传至上位机。上位机接收老化柜上传的实际放电容量,并判断实际放电容量是否位于预设参数区间内,如果实际放电容量处于预设参数区间内,则判断此次放电测试的结果为合格,输出继续指令,以使老化柜在充电盒完成放电测试,并静置一段时间后,对充电盒进行第二轮的充电测试或对充电盒进行充电以完成测试。
需要说明的是,在申请中,可能对于某些充电盒需要进行循环测试,循环测试时的充电测试或放电测试与上述充电或放电测试的流程一致,循环次数由预设运行参数决定,循环结束时将充电盒的电量充至指定状态,其中指定状态也由预设运行参数决定。在本实施例中,仅仅给出了不支持串口通讯类型的充电盒的测试流程,对于支持串口通讯类型的充电盒来说,预设运行参数是直接由上位机下发至充电盒中,其运行参数由上位机直接读取,不需要通过老化柜,其测试流程与不支持串口通讯类型的充电盒的测试流程类似。即两种类型的充电盒仅仅只是参数下发、读取、模式切换等方式不一致,其判断方式相同。在充电盒进行放电操作时,需要在充电盒内连接一个假耳机负载,以实现放电操作。
第三方面,本申请的一些实施例还提出一种上位机,该上位机用于执行第一方面实施例中任意一项实施例的老化测试方法。
本申请实施例的上位机,针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。
本申请实施例的上位机,其具体的操作与前述第一方面中的老化测试方法一致,具体的操作请参照前述的老化测试方法,在此不再赘述。
第四方面,本申请的一些实施例还提出一种老化柜,该老化柜用于执行第二方面实施例中任意一项实施例的老化测试方法。
本申请实施例的老化柜,针对不同类型的充电盒设计了通用的测试方法,并且整个测试过程不需要人工进行模式的切换与检测,提高了测试的准确性,能够有效的拦截不良品,提高了产品进入市场后的可靠性。
本申请实施例的老化柜,其具体的操作与前述第二方面中的老化测试方法一致,具体的操作请参照前述的老化测试方法,在此不再赘述。
上面结合附图对本申请实施例作了详细说明,但是本申请不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本申请宗旨的前提下作出各种变化。此外,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

Claims (10)

1.基于无线耳机充电盒的老化测试方法,其特征在于,应用于上位机,所述方法包括:
获取充电盒的类型;
若所述充电盒为支持串口通讯的类型,通过所述充电盒的通讯串口读取所述充电盒的第一运行参数;
若所述充电盒为不支持串口通讯的类型,发送预设运行参数至老化柜,以使所述老化柜根据所述预设运行参数对所述充电盒进行充电或放电,并读取所述老化柜采集所述充电盒在充电或放电过程的第二运行参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述预设运行参数和预设映射规则确定预设参数区间,所述预设映射规则包括:所述预设运行参数与所述预设参数区间的对应关系;
根据所述第二运行参数和所述预设参数区间确定测试结果,并根据所述测试结果输出控制指令。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第二运行参数包括:充电过程中的第一电池容量、放电过程中的第二电池容量。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述控制指令包括拦截指令和继续指令,所述测试结果包括:测试合格和测试不合格;
所述根据所述第二运行参数和所述预设参数区间确定测试结果,并根据所述测试结果输出控制指令,包括:
若所述第一电池容量位于所述预设参数区间内,所述测试结果为测试合格,输出所述继续指令;
若所述第一电池容量不位于所述预设参数区间内,所述测试结果为测试不合格,输出所述拦截指令。
5.基于无线耳机充电盒的老化测试方法,其特征在于,应用于老化柜,所述方法包括:
接收预设运行参数,根据所述预设运行参数对所述充电盒进行充电或放电;
采集所述充电盒进行充电或放电过程中的运行参数,以得到第二运行参数,并将所述第二运行参数发送至上位机。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述预设运行参数包括:预设放电参数、预设充电参数;所述预设充电参数包括:预设充电时间和预设充电电流,所述预设放电参数:预设放电时间和预设放电电流;
所述接收预设运行参数,根据所述预设运行参数对所述充电盒进行充电或放电,包括:
对所述充电盒进行预操作放电;
在所述预设充电时间的期间内以所述预设充电电流对所述充电盒进行充电;
在所述预设放电时间的期间内以所述预设放电电流对所述充电盒进行放电。
7.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,所述测试方法还包括:
接收所述上位机反馈的控制指令,根据所述控制指令确定所述充电盒的操作。
8.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述根据所述控制指令控制所述充电盒的操作,包括:
若所述控制指令为继续指令,在所述充电盒完成充电后对所述充电盒进行放电;
若所述控制指令为拦截指令,在所述充电盒完成充电盒后停止所述充电盒的操作。
9.上位机,其特征在于,所述上位机执行如权利要求1至4中任意一项所述的测试方法。
10.老化柜,其特征在于,所述老化柜执行如权利要求5至8中任意一项所述的测试方法。
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