CN113447750B - 光器件测试电路 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种光器件测试电路，该光器件测试电路包括:通用串行总线USB接口单元、控制单元、电流测试单元、光功率测试单元、第一驱动单元和第一光器件接口单元；其中，第一驱动单元分别与控制单元和第一光器件接口单元连接；电流测试单元和光功率测试单元均与第一光器件接口单元连接；电流测试单元用于获取待测试光器件的电流参数对应的电压信号；光功率测试单元用于获取待测试光器件的光功率值对应的电压信号；USB接口单元、电流测试单元和光功率测试单元均与控制单元连接。这样可以通过控制单元同时获取电流参数对应的电压信号和光功率值对应的电压信号，对待测试光器件的电流参数和光功率值同时进行测试，由此提高光器件的测试效率。

Description

光器件测试电路

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光器件测试电路。

背景技术

目前光通信市场的前景比较好，市场上对光器件的需求非常大，光器件生产厂家的光器件的产量也非常大。在光器件生产过程中，需要对光器件的各项指标进行测试，只有各项指标均测试合格的情况下，才可以流入市场。现有的光器件测试方式需要使用多种测试仪器分别对光器件的各项指标进行测试，这样使得光器件的测试效率低下。

发明内容

本申请提供了一种光器件测试电路，以解决现有的光器件的测试效率低下的问题。

第一方面，本申请提供了一种光器件测试电路，所述光器件测试电路包括: 通用串行总线USB接口单元、控制单元、电流测试单元、光功率测试单元、第一驱动单元和第一光器件接口单元；

其中，所述第一驱动单元分别与所述控制单元和所述第一光器件接口单元连接；所述第一驱动单元用于根据所述控制单元输出的控制信号产生驱动电压，通过所述驱动电压控制与所述第一光器件接口单元连接的待测试光器件的雪崩增益；

所述电流测试单元和所述光功率测试单元均与所述第一光器件接口单元连接；所述电流测试单元用于获取所述待测试光器件的电流参数对应的电压信号；所述光功率测试单元用于获取所述待测试光器件的光功率值对应的电压信号；

所述USB接口单元、所述电流测试单元和所述光功率测试单元均与所述控制单元连接；所述控制单元用于根据接收到的所述电流参数对应的电压信号和所述光功率值对应的电压信号，确定所述待测试光器件的电流参数和光功率值，并将所述电流参数和所述光功率值传输至所述USB接口单元，以通过所述USB接口单元传输至外部设备进行查看。

可选地，所述第一驱动单元包括数模转换电路和电压放大电路；

其中，所述数模转换电路的输入端与所述控制单元的第一输出端连接，所述数模转换电路的输出端与所述电压放大电路的输入端连接，所述电压放大电路的输出端与所述第一光器件接口单元的输入端连接；

所述控制单元的第一输出端为串行数据输出端，所述控制单元的第一输出端用于输出第一控制信号，所述第一控制信号为数字信号；所述数模转换电路用于根据所述第一控制信号生成可调节电压，所述电压放大电路用于对所述可调节电压进行直流-直流转换，得到可调节的驱动电压，所述驱动电压的电压值大于所述可调节电压的电压值。

可选地，所述数模转换电路包括第一芯片，所述第一芯片用于将所述第一控制信号对应的数字信号转化为模拟信号，所述模拟信号为所述可调节电压。

可选地，所述电压放大电路包括第二芯片、第一电阻和第二电阻；

其中，所述第一电阻和所述第二电阻构成所述第二芯片的反馈回路，所述第一电阻的第一端与所述反馈回路的输出端连接，所述第一电阻的第二端分别与所述第二电阻的第一端和所述反馈回路的输入端连接，所述第二电阻的第二端与接地端连接。

可选地，所述电流测试单元包括至少一路电流测试通道，所述至少一路电流测试通道的输入端与所述第一光器件接口单元的至少一路输出端连接；所述至少一路电流测试通道的输出端与所述控制单元的至少一路输入端连接。

可选地，所述电流测试单元包括第三芯片，所述第三芯片具有多路电流测试通道。

可选地，所述光功率测试单元包括第四芯片，所述第四芯片用于采集所述待测试光器件的光电流，并将所述光电流转化为所述光功率值对应的电压信号。

可选地，所述光功率测试单元还包括: 电压跟随单元；

其中，所述电压跟随单元串联在所述第四芯片和所述控制单元之间，所述电压跟随单元用于匹配所述第四芯片和所述控制单元的阻抗。

可选地，所述光器件测试电路还包括：第二驱动单元和第二光器件接口单元；

其中，所述第二驱动单元的输入端与所述控制单元的第二输出端连接，所述第二驱动单元的输出端与所述第二光器件接口单元的输入端连接；

所述控制单元的第二输出端为串行数据输出端，所述控制单元的第二输出端用于输出第二控制信号，所述第二控制信号用于调节所述第二驱动单元的输出电压，所述输出电压用于驱动与所述第二光器件接口单元连接的待测试光器件发光。

可选地，所述光器件测试电路还包括：供电单元；

所述供电单元包括电源接入电路和多个直流-直流转换电路；

所述电源接入电路的输出端分别与多个所述直流-直流转换电路的输入端连接，所述直流-直流转换电路的输出端与所述USB接口单元的供电端、所述控制单元的供电端、所述电流测试单元的供电端、所述光功率测试单元的供电端、所述第一驱动单元的供电端、所述第一光器件接口单元的供电端、所述第二驱动单元的供电端和所述第二光器件接口单元的供电端连接；

多个所述直流-直流转换电路用于输出多个直流电源，每个所述直流电源用于独立为所述USB接口单元、所述控制单元、所述电流测试单元、所述光功率测试单元、所述第一驱动单元、所述第一光器件接口单元、所述第二驱动单元和所述第二光器件接口单元提供工作电压。

在本申请实施例中，光器件测试电路包括: 通用串行总线USB接口单元、控制单元、电流测试单元、光功率测试单元、第一驱动单元和第一光器件接口单元；其中，所述第一驱动单元分别与所述控制单元和所述第一光器件接口单元连接；所述第一驱动单元用于根据所述控制单元输出的控制信号产生驱动电压，通过所述驱动电压控制与所述第一光器件接口单元连接的待测试光器件的雪崩增益；所述电流测试单元和所述光功率测试单元均与所述第一光器件接口单元连接；所述电流测试单元用于获取所述待测试光器件的电流参数对应的电压信号；所述光功率测试单元用于获取所述待测试光器件的光功率值对应的电压信号；所述USB接口单元、所述电流测试单元和所述光功率测试单元均与所述控制单元连接；所述控制单元用于根据接收到的所述电流参数对应的电压信号和所述光功率值对应的电压信号，确定所述待测试光器件的电流参数和光功率值，并将所述电流参数和所述光功率值传输至所述USB接口单元，以通过所述USB接口单元传输至外部设备进行查看。由此，可以通过控制单元同时获取电流参数对应的电压信号和光功率值对应的电压信号，对待测试光器件的电流参数和光功率值同时进行测试，由此提高光器件的测试效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的光器件测试电路的结构示意图之一；

图2为本申请实施例提供的USB接口单元与控制单元的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的数模转换电路的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的电压放大电路的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的电流测试单元的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的光功率测试单元的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的光器件测试电路的结构示意图之二；

图8为本申请实施例提供的第二驱动单元和第二光器件接口单元的结构示意图；

图9为本申请实施例提供的供电单元的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

参见图1，图1为本申请实施例提供的光器件测试电路的结构示意图之一。如图1所示，该光器件测试电路包括：通用串行总线USB接口单元100、控制单元200、电流测试单元300、光功率测试单元400、第一驱动单元500和第一光器件接口单元600；

其中，第一驱动单元500分别与控制单元200和第一光器件接口单元600连接；第一驱动单元500用于根据控制单元200输出的控制信号产生驱动电压，通过驱动电压控制与第一光器件接口单元600连接的待测试光器件的雪崩增益；

电流测试单元300和光功率测试单元400均与第一光器件接口单元600连接；电流测试单元300用于获取待测试光器件的电流参数对应的电压信号；光功率测试单元400用于获取待测试光器件的光功率值对应的电压信号；

USB接口单元100、电流测试单元300和光功率测试单元400均与控制单元200连接；控制单元200用于根据接收到的电流参数对应的电压信号和光功率值对应的电压信号，确定待测试光器件的电流参数和光功率值，并将电流参数和光功率值传输至USB接口单元100，以通过USB接口单元100传输至外部设备进行查看。

需要说明的是，上述控制单元200包括控制芯片，该控制芯片包括但不限于C8051F380芯片，本申请不做具体限定。控制芯片可以分别向第一驱动单元500、电流测试单元300和光功率测试单元400发送控制信号，由此使得第一驱动单元500在控制信号的作用下，产生驱动电压，以控制与第一光器件接口单元600连接的待测试光器件的雪崩增益，该待测试光器件可以为光电探测器，如雪崩光电二极管（Avalanche Photodiode，简称APD）。并在待测试光器件处于合适的雪崩增益下，电流测试单元300采集待测试光器件的电流参数，如ICC电流、RSSI电流、APD电流等，光功率测试单元400采集待测试光器件的光电流。最后，电流测试单元300将获取的电流参数对应的电压信号传输至控制芯片，光功率测试单元400将获取的光电流对应的电压信号传输至控制芯片，由控制芯片确定待测试光器件的电流参数和光功率值。

上述通用串行总线（Universal Serial Bus，简称USB）接口单元与上述控制单元200连接，可以通过USB接口单元100将控制单元200获取到的待测试光器件的电流参数和光功率值传输至外部设备。在一实施例中，USB接口单元100与控制单元200之间还可以设置防雷击单元E1，如图2所示。该防雷击单元E1可以采用SP0503BAHTG芯片来实现，该SP0503BAHTG芯片具有3通道瞬态抑制（Transient Voltage Suppressor，简称TVS）二极管，具有极快的响应时间（亚纳秒级）和相当高的浪涌吸收能力。当它的两端经受瞬间的高能量冲击时，TVS二极管能以极高的速度把两端间的阻抗值由高阻抗变为低阻抗，以吸收一个瞬间大电流，把它的两端电压箝制在一个预定的数值上，从而保护后面的电路元件不受瞬态高压尖峰脉冲的冲击，起到防雷击的作用。

在本实施例中，可以通过控制单元200同时获取电流参数对应的电压信号和光功率值对应的电压信号，对待测试光器件的电流参数和光功率值同时进行测试，由此提高光器件的测试效率。

进一步地，第一驱动单元500包括数模转换电路510和电压放大电路520；

其中，数模转换电路510的输入端与控制单元200的第一输出端连接，数模转换电路510的输出端与电压放大电路520的输入端连接，电压放大电路520的输出端与第一光器件接口单元600的输入端连接；

控制单元200的第一输出端为串行数据输出端，控制单元200的第一输出端用于输出第一控制信号，第一控制信号为数字信号；数模转换电路510用于根据第一控制信号生成可调节电压，电压放大电路520用于对可调节电压进行直流-直流转换，得到可调节的驱动电压，驱动电压的电压值大于可调节电压的电压值。

具体地，由于第一光器件接口单元600用于连接外部的ROSA（Receiver OpticalSubassembly）光器件，第一光器件接口需要较高的APD电压来提高ROSA光器件的灵敏度，因而需要第一驱动单元500输出高压的APD电压给第一光器件接口单元600。

在本实施例中，可以通过数模转换电路510对控制单元200输出的第一控制信号进行数模转换，生成可调节电压，再通过电压放大电路520对可调节电压进行直流-直流转换，得到高压的可调节的驱动电压，提供给第一光器件接口单元600，以此提高外部的ROSA光器件的灵敏度。

进一步地，参见图3，图3为本申请实施例提供的数模转换电路的结构示意图。如图3所示，数模转换电路510包括第一芯片U7，第一芯片U7用于将第一控制信号对应的数字信号转化为模拟信号，模拟信号为可调节电压。

具体地，该第一芯片U7可以采用MCP4726芯片或者其他具有数模转换功能的芯片。其中，该第一芯片U7的输入端与上述控制芯片的第一输出端（即第23引脚和第24引脚）连接，可以通过第一芯片U7的输入端接收控制芯片输出的串行时钟信号SCL1和串行数据信号SDA1，再通过该第一芯片U7对串行数据信号SDA1进行数模转换，从第一芯片U7的输出端（即第1引脚）输出可调节电压APDCTRL。

进一步地，参见图4，图4为本申请实施例提供的电压放大电路的结构示意图。如图4所示，电压放大电路520包括第二芯片U5、第一电阻R7和第二电阻R6；

其中，第一电阻R7和第二电阻R6构成第二芯片U5的反馈回路，第一电阻R7的第一端与反馈回路的输出端连接，第一电阻R7的第二端分别与第二电阻R6的第一端和反馈回路的输入端连接，第二电阻R6的第二端与接地端连接。

具体地，该第二芯片U5可以采用MAX15059芯片来实现。该第二芯片U5的输入端（即第6引脚）与第一芯片U7的输出端（即第1引脚）连接，用于接收从第一芯片U7的输出端输出的可调节电压APDCTRL。该第二芯片U5的输出端（即第12引脚）用于输出驱动电压VAPD，以及第二芯片U5的输出端（即第10引脚）用于输出APD电流IAPD。此处的驱动电压VAPD用于控制与第一光器件接口单元600连接的待测试光器件APD的雪崩增益,优化光纤接收器的灵敏度特性；此处的APD电流IAPD用于作为待测试光器件的电流参数之一。

需要说明的是，该电压放大电路520还包括第二芯片U5的反馈回路，该反馈回路的输出端为第二芯片U5的第13引脚，该反馈回路的输入端为第二芯片U5的第5引脚。第二芯片U5的第5引脚分别与第一电阻R7的第二端和第二电阻R6的第一端连接，第5引脚为反馈输入，利用第一电阻R7和第二电阻R6实现直流-直流的升压功能。由此可见，第二芯片U5的第12引脚的电压值VAPD与第二芯片U5的第5引脚的电压值VFB 之间的关系为：

VAPD=VFB*（R7+R6）/R6；

由于在第二芯片U5中，第二芯片U5的第5引脚的电压值VFB与第二芯片U5的第6引脚的电压值VCNTRL存在如下关系：

在VCNTRL＞1.3V的情况下，VFB=1.23V；

在VCNTRL＜1.2V的情况下，VFB=VCNTRL。

由此可见，当第一芯片U7的输出端（即第1引脚）输出的可调节电压APDCTRL小于1.2V时，第二芯片U5的第5引脚的电压值VFB会随着第二芯片U5的第6引脚的电压值（即可调节电压APDCTRL）的变化而变化，进而导致第二芯片U5的输出端（即第12引脚）的电压值VAPD发生变化，且第二芯片U5的输出端（即第12引脚）的电压值要大于第二芯片U5的第5引脚的电压值VFB。在实际应用中，第一电阻R7的电阻值R7要远远大于第二电阻R6的电阻值R6，因而可以通过电压放大电路520对可调节电压APDCTRL进行电压放大，提供5V至76V的APD电压，以满足待测试ROSA光器件的要求。

进一步地，电流测试单元300包括至少一路电流测试通道，至少一路电流测试通道的输入端与第一光器件接口单元600的至少一路输出端连接；至少一路电流测试通道的输出端与控制单元200的至少一路输入端连接。

在一实施例中，该电流测试单元300可以包括一个或多个电流测试通道，每个电流测试通道可以采集第一光器件接口单元600的不同输出端的电流参数，由此可以实现对一个或者多个电流参数进行测试。

进一步地，参见图5，图5为本申请实施例提供的电流测试单元的结构示意图。如图5所示，电流测试单元300包括第三芯片U3，第三芯片U3具有多路电流测试通道。

具体地，该第三芯片U3可以采用INA4180A2芯片，该INA4180A2芯片具有4路高精度的电流测试通道。在实际应用时，可以采用这4路电流测试通道中的部分或者全部电流测试通道，对多个电流参数进行测试。在一实施例中，可以通过其中一路电流测试通道对待测试光器件的ICC电流进行测试，ICC电流用于评估待测试光器件的工作电流是否在光器件的电流测试范围内；通过其中一路电流测试通道对待测试光器件的RSSI电流进行测试，该RSSI电流用于评估待测试PIN光器件的返回电流是否在测试范围内；通过其中一路电流测试通道对待测试光器件的APD电流进行测试，该APD电流用于评估APD光器件的IAPD是否在测试范围内。具体地，可以将第三芯片U3的第5引脚和第6引脚与第一光器件接口单元600的第2引脚连接，用于采集第一光器件接口单元600的第2引脚的ICC电流，并从第三芯片U3的第7引脚输出ICC电流对应的电压信号ICCTIA；可以将第三芯片U3的第12引脚和第13引脚与第一光器件接口单元600的第4引脚连接，用于采集第一光器件接口单元600的第4引脚的RSSI电流，并从第三芯片U3的第14引脚输出RSSI电流对应的电压信号IPD-SINK；当然，还可以将第三芯片U3的第10引脚与第二芯片U5的输出端（即第10引脚）连接，用于采集第二芯片U5的输出端（即第10引脚）的APD电流IAPD，并从第三芯片U3的第8引脚输出APD电流对应的电压信号VAPD。这样，ICC电流对应的电压信号ICCTIA、RSSI电流对应的电压信号IPD-SINK和APD电流对应的电压信号VAPD输入至控制芯片中，通过控制芯片对各电压信号进行分析，确定待测试光器件的ICC电流、RSSI电流以及第一驱动电路的APD电流。需要说明的是，图5中的芯片U1为具有直流-直流转换功能的TLV75733PDRVR芯片，用于为第三芯片U3提供工作电压。

进一步地，参见图6，图6为本申请实施例提供的光功率测试单元的结构示意图。如图6所示，光功率测试单元400包括第四芯片U4，第四芯片U4用于采集待测试光器件的光电流，并将光电流转化为光功率值对应的电压信号。

具体地，该第四芯片U4可以采用ADL5303芯片，该第四芯片U4的输入端（即第3引脚）与第一光器件接口单元600的第5引脚连接，用于接收待测试光器件产出的光电流。该第四芯片U4用于对光电流进行对数放大，并从第四芯片U4的输出端（即第11引脚）输出经过电流对数放大后的电压信号。需要说明的是，该ADL5303芯片利用双极性晶体管的基极-射级电压与集电极电流之间的对数关系。借助这些原理，施加于第四芯片U4的输入端（即第3引脚）的输入电流I_PD与第四芯片U4的第8引脚的电压值V_LOG之间的关系为：

V_LOG=V_Ylog10(I_PD/ I_Z)；

其中，V_LOG为第四芯片U4的第8引脚的电压值，I_PD为第四芯片U4的第3引脚的光电流的电流值，V_Y为电压斜率（对于以10为底的对数，它也等于每10倍的电压V值），I_Z是对数公式中的固定电流，称为截点。

由于电阻R16和电阻R17组成电压放大电路520，第四芯片U4的输出端（即第11引脚）与第8引脚的电压之间的关系为：

V_out= V_LOG*（1+R16/R17）

其中，V_out为第四芯片U4的第11引脚的电压值，V_LOG为第四芯片U4的第8引脚的电压值，R16表示电阻R16的电阻值，R17表示电阻R17的电阻值。由此可以将采集到的光电流放大到合适的电压采集区间，对第四芯片U4的第11引脚的电压值进行调节。

需要说明的是，光功率测试单元400还包括滤波电路，该滤波电路设置在第四芯片U4的输入端（即第3引脚）与第一光器件接口单元600的第5引脚之间。该滤波电路由电容C32和电阻R13构成。具体地，该电容C32的第一端分别与第四芯片U4的输入端（即第3引脚）和第一光器件接口单元600的第5引脚连接，该电容C32的第二端与电阻R13的第一端连接，电阻R13的第二端与接地端连接。该滤波电路用于对输入至第四芯片U4的光电流进行滤波处理。需要说明的是，图6中的芯片U8为具有直流-直流转换功能的TLV75733PDRVR芯片，用于为第四芯片U4提供工作电压。

进一步地，光功率测试单元400还包括: 电压跟随单元；

其中，电压跟随单元串联在第四芯片U4和控制单元200之间，电压跟随单元用于匹配第四芯片U4和控制单元200的阻抗。

具体地，该电压跟随电路410包括MAX4231AXT+T芯片，以及MAX4231AXT+T芯片外围的电阻和电容。其中，MAX4231AXT+T芯片的输入端（即第1引脚）与第四芯片U4的输出端（即第11引脚）连接，用于接收第四芯片U4输出的电压信号。MAX4231AXT+T芯片的第4引脚与控制单元200连接，用于将输出的电压信号传输至控制单元200进行分析。由于电压跟随电路410具有输入阻抗高，输出阻抗低的特点，使得它对上一级电路呈现高阻状态，而对下一级电路呈现低阻状态，起到隔离前后级电路的作用，有利于得到稳定的电压信号。

进一步地，参见图7，图7为本申请实施例提供的光器件测试电路的结构示意图之二。如图7所示，光器件测试电路还包括：第二驱动单元700和第二光器件接口单元800；

其中，第二驱动单元700的输入端与控制单元200的第二输出端连接，第二驱动单元700的输出端与第二光器件接口单元800的输入端连接；

控制单元200的第二输出端为串行数据输出端，控制单元200的第二输出端用于输出第二控制信号，第二控制信号用于调节第二驱动单元700的输出电压，输出电压用于驱动与第二光器件接口单元800连接的待测试光器件发光。

具体地，参见图8，第二驱动单元700可以采用M02194芯片。第二驱动单元700的输入端（即第6引脚和第7引脚）与控制单元200的第二输出端（即第44引脚和第45引脚）连接，分别用于传输串行时钟信号和串行数字信号，也即第二驱动单元700通过I2C通信与控制单元200连接，通过控制单元200传输的控制信号调节第二驱动单元700的输出电压，进而控制发光数码管（LDD）的发光状态。发光数码管（LDD）的发光原理是：当第二光器件接口单元800的第1引脚和第二光器件接口单元800的第2引脚之间电流值达到预设电流值时，就可以驱动LDD发光。

在LDD发光时，第二光器件接口单元800的第4引脚输出LDD的光电流至M02194芯片，M02194芯片可以根据光电流的大小和控制单元200的控制信号，控制第二光器件接口单元800的第2引脚的输出电压，从而控制LDD的发光功率。这样该光器件测试电路可以作为光发射端，为其他光器件的测试提供可调光源。

进一步地，参见图9，图9为本申请实施例提供的供电单元的结构示意图。如图9所示，光器件测试电路还包括：供电单元900；

供电单元900包括电源接入电路910和多个直流-直流转换电路920；

电源接入电路910的输出端分别与多个直流-直流转换电路920的输入端连接，直流-直流转换电路920的输出端与USB接口单元100的供电端、控制单元200的供电端、电流测试单元300的供电端、光功率测试单元400的供电端、第一驱动单元500的供电端、第一光器件接口单元600的供电端、第二驱动单元700的供电端和第二光器件接口单元800的供电端连接；

多个直流-直流转换电路920用于输出多个直流电源，每个直流电源用于独立为USB接口单元100、控制单元200、电流测试单元300、光功率测试单元400、第一驱动单元500、第一光器件接口单元600、第二驱动单元700和第二光器件接口单元800提供工作电压。

具体地，该电源接入电路910用于从外部接入+5V电源。该直流-直流转换电路920可以采用TLV75733芯片或者具有直流-直流转换功能的其他芯片。该直流-直流转换电路920用于将+5V电源转化为3.3V电源，用于给USB接口单元100、控制单元200、电流测试单元300、光功率测试单元400、第一驱动单元500、第一光器件接口单元600、第二驱动单元700或第二光器件接口单元800提供工作电压。这里设置多个直流-直流转换电路920的目的是，可以为各单元提供独立的工作电源，减低噪声干扰。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (6)

1.一种光器件测试电路，其特征在于，所述光器件测试电路包括: 通用串行总线USB接口单元、控制单元、电流测试单元、光功率测试单元、第一驱动单元和第一光器件接口单元；

其中，所述第一驱动单元分别与所述控制单元和所述第一光器件接口单元连接；所述第一驱动单元用于根据所述控制单元输出的控制信号产生驱动电压，通过所述驱动电压控制与所述第一光器件接口单元连接的待测试光器件的雪崩增益；

所述电流测试单元和所述光功率测试单元均与所述第一光器件接口单元连接；所述电流测试单元包括第三芯片，所述第三芯片具有多路电流测试通道；所述电流测试单元用于获取所述待测试光器件的多个电流参数对应的电压信号；所述光功率测试单元用于获取所述待测试光器件的光功率值对应的电压信号；

所述USB接口单元、所述电流测试单元和所述光功率测试单元均与所述控制单元连接；所述控制单元用于根据接收到的所述电流参数对应的电压信号和所述光功率值对应的电压信号，确定所述待测试光器件的电流参数和光功率值，并将所述电流参数和所述光功率值传输至所述USB接口单元，以通过所述USB接口单元传输至外部设备进行查看；

其中，所述第一驱动单元包括数模转换电路和电压放大电路；所述数模转换电路的输入端与所述控制单元的第一输出端连接，所述数模转换电路的输出端与所述电压放大电路的输入端连接，所述电压放大电路的输出端与所述第一光器件接口单元的输入端连接；所述控制单元的第一输出端为串行数据输出端，所述控制单元的第一输出端用于输出第一控制信号，所述第一控制信号为数字信号；所述数模转换电路用于根据所述第一控制信号生成可调节电压，所述电压放大电路用于对所述可调节电压进行直流-直流转换，得到可调节的驱动电压，所述驱动电压的电压值大于所述可调节电压的电压值；

其中，所述电压放大电路包括第二芯片、第一电阻和第二电阻；所述第一电阻和所述第二电阻构成所述第二芯片的反馈回路，所述第一电阻的第一端与所述反馈回路的输出端连接，所述第一电阻的第二端分别与所述第二电阻的第一端和所述反馈回路的输入端连接，所述第二电阻的第二端与接地端连接；

其中，所述光器件测试电路还包括：第二驱动单元和第二光器件接口单元；所述第二驱动单元的输入端与所述控制单元的第二输出端连接，所述第二驱动单元的输出端与所述第二光器件接口单元的输入端连接；所述控制单元的第二输出端为串行数据输出端，所述控制单元的第二输出端用于输出第二控制信号，所述第二控制信号用于调节所述第二驱动单元的输出电压，所述输出电压用于控制与所述第二光器件接口单元连接的待测试光器件的雪崩增益。

2.根据权利要求1所述的光器件测试电路，其特征在于，所述数模转换电路包括第一芯片，所述第一芯片用于将所述第一控制信号对应的数字信号转化为模拟信号，所述模拟信号为所述可调节电压。

3.根据权利要求1所述的光器件测试电路，其特征在于，所述电流测试单元包括至少一路电流测试通道，所述至少一路电流测试通道的输入端与所述第一光器件接口单元的至少一路输出端连接；所述至少一路电流测试通道的输出端与所述控制单元的至少一路输入端连接。

4.根据权利要求1所述的光器件测试电路，其特征在于，所述光功率测试单元包括第四芯片，所述第四芯片用于采集所述待测试光器件的光电流，并将所述光电流转化为所述光功率值对应的电压信号。

5.根据权利要求4所述的光器件测试电路，其特征在于，所述光功率测试单元还包括:电压跟随单元；

其中，所述电压跟随单元串联在所述第四芯片和所述控制单元之间，所述电压跟随单元用于匹配所述第四芯片和所述控制单元的阻抗。

6.根据权利要求1所述的光器件测试电路，其特征在于，所述光器件测试电路还包括：供电单元；

所述供电单元包括电源接入电路和多个直流-直流转换电路；

所述电源接入电路的输出端分别与多个所述直流-直流转换电路的输入端连接，所述直流-直流转换电路的输出端与所述USB接口单元的供电端、所述控制单元的供电端、所述电流测试单元的供电端、所述光功率测试单元的供电端、所述第一驱动单元的供电端、所述第一光器件接口单元的供电端、所述第二驱动单元的供电端和所述第二光器件接口单元的供电端连接；

多个所述直流-直流转换电路用于输出多个直流电源，每个所述直流电源用于独立为所述USB接口单元、所述控制单元、所述电流测试单元、所述光功率测试单元、所述第一驱动单元、所述第一光器件接口单元、所述第二驱动单元和所述第二光器件接口单元提供工作电压。

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